Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 6749-8-1:2017 về Tụ điện không đổi - Phần 8-1: điện môi gốm

• Số hiệu: TCVN6749-8-1:2017
• Loại văn bản: Tiêu chuẩn Việt Nam
• Nơi ban hành: ***
• Người ký: ***
• Ngày ban hành: Năm 2017

[1]	TCVN 6749-8-1 (IEC 60384-8-1-XXX QC 300601-XXX                        [2]
LINH KIỆN ĐIỆN TỬ CÓ CHẤT LƯỢNG ĐƯỢC ĐÁNH GIÁ PHÙ HỢP VỚI: [3]	IEC 60384-8-1 QC 300601                               [4]
	TỤ ĐIỆN KHÔNG ĐỔI CHẤT ĐIỆN GỐM, CẤP 1                                                   [5]
Bản vẽ hình bao (xem Bảng 1) (Hình chiếu góc đầu tiên) [7] (Các hình dạng khác được cho phép trong kích thước đã cho)
	[6]
	(Các) mức đánh giá                   [8]

Thông tin về có các linh kiện phù hợp với quy định kỹ thuật cụ thể này được cho trong IEC QC 001005

                                 [9]

TỤ ĐIỆN KHÔNG ĐỔI DÙNG TRONG THIẾT BỊ ĐIỆN TỬ - PHẦN 8-1: QUY ĐỊNH KỸ THUẬT CỤ THỂ CÒN ĐỂ TRỐNG: TỤ ĐIỆN KHÔNG ĐỔI ĐIỆN MÔI GỐM, CẤP 1 - MỨC ĐÁNH GIÁ EZ

Fixed capacitors for use in electronic equipment - Part 8-1: Blank detail specification: Fixed capacitors of ceramic dielectric, Class 1 - Assessment level EZ

1  Yêu cầu chung

...

...

...

Tiêu chuẩn này đưa ra mức đánh giá EZ cho tụ điện không đổi điện môi gốm có hệ số nhiệt xác định (điện môi Cấp 1), để dùng trong thiết bị điện tử, kể cả tụ không chân nhưng không bao gồm tụ điện môi gốm nhiều lớp gắn kết bề mặt cố định điện môi gốm, được đề cập trong IEC 60384-21 (Cấp 1)

Các tụ điện để triệt nhiễu điện từ không thuộc phạm vi áp dụng của tiêu chuẩn này, nhưng được đề cập tương ứng trong TCVN 6749-14 (IEC 60384-14).

1.2  Tài liệu viện dẫn

Các tài liệu viện dẫn sau đây là cần thiết cho việc áp dụng tiêu chuẩn này. Đối với các tài liệu viện dẫn ghi năm công bố thì áp dụng phiên bản được nêu. Đối với các tài liệu viện dẫn không ghi năm công bố thì áp dụng phiên bản mới nhất (kể cả các sửa đổi).

TCVN 6749-1 (IEC 60384-1), Tụ điện không đổi dùng trong thiết bị điện tử - Phần 1: Yêu cầu kỹ thuật chung

TCVN 6749-8 (IEC 60384-8), Tụ điện không đổi dùng trong thiết bị điện tử - Phần 8: Quy định kỹ thuật từng phần - Tụ điện không đổi điện môi gốm, Cấp 1.

IEC 60410:1973, Sampling plans and procedures for inspection by attributes (Phương án lấy mẫu và quy trình thử nghiệm bởi các thuộc tính)

1.3  Phương pháp gắn kết khuyến cáo

Xem 1.4.2 của TCVN 6749-2 (IEC 60384-2).

...

...

...

Bảng 1 - Tham chiếu cỡ của vỏ hộp và các kích thước

Tham chiếu cỡ của vỏ hộp

Kích thước (tính bằng mm)

Ø

L

H

d

…

...

...

...

...

...

...

...

...

...

Trường hợp không có tham chiếu cỡ của vỏ hộp, có thể bỏ qua Bảng 1 và các kích thước phải được cho trong Bảng 2, khi đó Bảng 2 trở thành Bảng 1.

Phải cho các kích thước lớn nhất hoặc các kích thước danh nghĩa cùng với dung sai.

Dải điện dung (xem Bảng 2)

Dung sai của điện dung danh định

Điện áp danh định

...

...

...

Loại khí hậu

Nhiệt độ danh định

Tang của góc tổn hao

Điện trở cách điện

Hệ số nhiệt α: ... 10^-6/K

Bảng 2 - Giá trị của điện dung và của điện áp liên quan với cỡ của vỏ hộp

Điện áp danh định

...

...

...

Hệ số nhiệt α

Điện dung danh định (tính bằng pF và/hoặc nF)

Dung sai %

Cỡ của vỏ hộp

...

...

...

Cỡ của vỏ hộp

Cỡ của vỏ hộp

Bảng 3 - Hệ số nhiệt, thay đổi điện dung và thay đổi chu kỳ được chấp nhận

Hệ số nhiệt độ
(giá trị danh nghĩa) và các dung sai

Thay đổi điện dung ở:

...

...

...

Nhiệt độ dưới của chủng loại

85 °C

Nhiệt độ trên của chủng loại

Hệ số nhiệt gần nhất đến zero

Dung sai nhỏ nhất

...

...

...

Dung sai nhỏ nhất

...

...

...

Dung sai lớn nhất

Hệ số nhiệt xa nhất đến zero

Dung sai nhỏ nhất

...

...

...

Dung sai lớn nhất

Các con số của bảng này phải được ghi chép mà không có bất kỳ sai lệch nào từ IEC 60384-8, Bảng 3.

Bảng 4 - Hệ số nhân của dung sai nhiệt độ đối với các giá trị điện dung thấp (nếu áp dụng)

Điện dung

...

...

...

Hệ số nhân

1.5  Ghi nhãn

Việc ghi nhãn và đóng gói tụ điện phải phù hợp với các yêu cầu trong 1.6 của TCVN 6749-8 (IEC60384-8).

Quy định cụ thể về việc ghi nhãn và đóng gói linh kiện phải được đưa ra đầy đủ trong quy định kỹ thuật cụ thể.

...

...

...

Đơn đặt hàng các tụ điện thuộc quy định kỹ thuật này phải chứa, ở dạng rõ ràng hoặc ở dạng mã hóa, các thông tin tối thiểu sau đây:

a) Điện dung danh định;

b) Dung sai của điện dung danh định;

c) Điện áp một chiều danh định;

d) Hệ số nhiệt và dung sai;

e) Số hiệu và số phát hành của quy định kỹ thuật cụ thể và tham chiếu về kiểu.

1.7  Các hồ sơ chứng nhận của lô xuất xưởng

Yêu cầu/không yêu cầu.

1.8  Thông tin bổ sung

...

...

...

1.9  Mức khắc nghiệt hoặc yêu cầu bổ sung hoặc tăng cao cho các quy định trong quy định kỹ thuật chung và/hoặc quy định kỹ thuật từng phần

CHÚ THÍCH: Yêu cầu bổ sung hoặc yêu cầu tăng cao chỉ nên quy định khi nhất thiết.

Bảng 5 - Các đặc tính khác

Bảng này được sử dụng để xác định các đặc tính bổ sung hoặc khắc nghiệt hơn so với các đặc tính quy định trong quy định kỹ thuật từng phần

2  Yêu cầu kiểm tra

2.1  Quy trình

2.1.1  Khi chấp nhận chất lượng, các quy trình phải phù hợp với quy định kỹ thuật từng phần tại 3.4 của TCVN 6749-8 (IEC 60384-8).

2.1.2  Khi kiểm tra về phù hợp về chất lượng, bảng kê các thử nghiệm (Bảng 6) bao gồm việc lấy mẫu, định kỳ, mức khắc nghiệt và các yêu cầu. Việc tạo thành các lô kiểm tra được nêu trong Điều 3.5.1 của TCVN 6749-8 (IEC 60384-8).

Bảng 6 - Bảng kê kiểm tra sự phù hợp về chất lượng

...

...

...

D
hoặc
ND

Điều kiện thử nghiệm

Số mẫu và số hạng mục không phù hợp

^b

Yêu cầu về tính năng^a)

IL

n

c

Kiểm tra nhóm A
(theo lô)

...

...

...

4.2.1  Điện dung

Tần số:... Hz

100 % ^c

Trong phạm vi dung sai quy định

...

...

...

Tần số:... Hz

Như trong 4.2.2

4.2.3  Điện trở cách điện (Thử nghiệm A)

Phương pháp:...

Như trong 4.2.3

...

...

...

Phương pháp:...

Không có phóng điện đánh thủng hoặc phóng điện bề mặt

Phân nhóm A1

4.1 Kiểm tra bằng mắt

ND

S-4

...

...

...

0

Như ở 4.1

Ghi nhãn rõ ràng và như quy định ở 1.5 của quy định kỹ thuật này

Phân nhóm A2

4.1  Kích thước (đo)^c

S-3

...

...

...

0

Như quy định trong Bảng 1 của quy định kỹ thuật này

Kiểm tra nhóm B1
(theo lô)

...

...

...

Phân nhóm B1

D

S

^d

0

4.6  Khả năng hàn

...

...

...

Phương pháp:..

...

...

...

Độ bám thiếc tốt với bằng chứng là dòng thiếc hàn chảy tự do bám thiếc các đầu nối hoặc hợp kim hàn phải chảy trong... s, nếu áp dụng

4.15  Khả năng chịu dung môi của ghi nhãn (nếu áp dụng)

Dung môi:...

Nhiệt độ dung môi:...

Phương pháp 1

Vật liệu chà sát: vải bông

Thời gian phục hồi:...

...

...

...

Ghi nhãn rõ ràng.

Phân nhóm B2 ^g

D

S

^d

0

...

...

...

Làm khô trước từ 16 h đến 24 h

Như ở 4.3

Kiểm tra nhóm C
(định kỳ)

...

...

...

Phân nhóm C1A

Phần của bộ mẫu thuộc Phân nhóm C1

...

...

...

4.1  Kích thước (chi tiết)

Xem quy định kỹ thuật cụ thể.

4.4  Độ vững chắc của các chân

...

...

...

Không có hư hại nhìn thấy được

4.5.1  Phép đo ban đầu

Điện dung

...

...

...

4.5  Khả năng chịu nhiệt hàn

Không làm khô trước

...

...

...

Phương pháp:...

Không có hư hại nhìn thấy được Ghi nhãn rõ ràng

4.14  Khả năng chịu dung môi của linh kiện (nếu áp dụng)

Điện dung

...

...

...

Nhiệt độ dung môi:...

Phương pháp 2

Thời gian phục hồi:...

ΔC/C như ở 4.5.3

Xem quy định kỹ thuật cụ thể.

Phân nhóm C1B

...

...

...

D

6

10

0^f

4.7.1  Phép đo ban đầu

Điện dung

...

...

...

4.7  Thay đổi nhanh nhiệt độ

T_A = Nhiệt độ dưới của chủng loại

T_B = Nhiệt độ trên của chủng loại

5 chu kỳ

Thời gian t = 30 min

...

...

...

Kiểm tra bằng mắt

...

...

...

Không có hư hại nhìn thấy được

4.8 Rung

Phương pháp gắn kết: Xem 1.1 của quy định kỹ thuật này

Dải tần số:

... Hz đến... Hz

Biên độ 0,75 mm hoặc gia tốc 100 m/s^2 (chọn phương án ít khắc nghiệt hơn)

Thời gian tổng: 6 h

...

...

...

4.8.2  Kiểm tra trung gian

Kiểm tra bằng mắt

Không có hư hại nhìn thấy được

...

...

...

Phương pháp gắn kết: xem 1.1 của quy định kỹ thuật này

Gia tốc:... m/s^2

Thời gian của xung:... ms

4.10  Xóc (hoặc va đập, xem 4.9)

...

...

...

Phương pháp gắn kết: xem 1.1 của quy định kỹ thuật này

Gia tốc:... m/s^2

Thời gian của xung:... ms

4.9.3  Phép đo kết thúc hoặc 4.10.3

...

...

...

Không có hư hại nhìn thấy được Ghi nhãn rõ ràng

Phân nhóm C1

D

6

27

...

...

...

Bộ mẫu kết hợp các mẫu của các phân nhóm C1A và C1B

4.11  Trình tự khí hậu

...

...

...

4.11.2  Nóng khô

Nhiệt độ: Nhiệt độ trên của chủng loại

Thời gian: 16 h

...

...

...

4.11.3  Nóng ẩm, chu kỳ, Thử nghiệm Db, chu kỳ đầu tiên

...

...

...

4.11.4  Lạnh

Nhiệt độ: Nhiệt độ dưới của chủng loại

Thời gian: 2 h

...

...

...

Kiểm tra bằng mắt

Không có hư hại nhìn thấy được

4.11.5  Áp suất không khí thấp (nếu yêu cầu bởi quy định kỹ thuật cụ thể yêu cầu)

Áp suất không khí: 8 kPa

...

...

...

4.11.5.3  Phép đo trung gian

Kiểm tra bằng mắt

Không có phóng điện đánh thủng vĩnh viễn, phóng điện bề mặt

...

...

...

Phục hồi: từ 6 h đến 24 h

4.11.6.3  Phép đo kết thúc

Kiểm tra bằng mắt

...

...

...

Không có hư hại nhìn thấy được Ghi nhãn rõ ràng

Điện dung

...

...

...

Tang của góc tổn hao

Như ở 4.11.6.3

...

...

...

Như ở 4.11.6.3

Phân nhóm C2

D

6

15

...

...

...

4.12  Nóng ẩm, không đổi

4.12.1  Phép đo ban đầu

...

...

...

Điện dung

Phục hồi: từ 6 h đến 24 h

4.12.5  Phép đo kết thúc

Kiểm tra bằng mắt

...

...

...

Không có hư hại nhìn thấy được Ghi nhãn rõ ràng

Điện dung

...

...

...

Tang của góc tổn hao

Như ở 4.12.5

...

...

...

Như ở 4.12.5

Phân nhóm C3

D

3

15

...

...

...

4.12  Chịu điện áp

Điện áp: V

Khoảng thời gian: h

...

...

...

Tụ điện

Phục hồi: từ 6 h đến 24 h

4.12.5  Phép đo kết thúc

...

...

...

Không có hư hại nhìn thấy được Ghi nhãn rõ ràng

Điện dung

...

...

...

ΔC/C như ở 4.13.4

Tang của góc tổn hao

Như ở 4.13.4

...

...

...

Điện trở cách điện

Như ở 4.13.4

Phân nhóm C4

D

...

...

...

9

0^f

4.3  Hệ số nhiệt và thay đổi chu kỳ

Ổn định trước: Làm khô trước từ 16 h đến 24 h

...

...

...

^a Số điều của các thử nghiệm và của các yêu cầu tính năng tham khảo quy định kỹ thuật từng phần TCVN 6749-8 (IEC 60384-8) và Điều 1 của quy định kỹ thuật này.

^b Trong bảng này: p là định kỳ (tính bằng tháng); n là cỡ mẫu; c là tiêu chí chấp nhận (số lượng cho phép các khuyết tật); D là phá hủy; ND là không phá hủy; IL là mức kiểm tra;

^c Thử nghiệm 100 % phải được tiếp tục bằng cách kiểm tra lại bằng cách lấy mẫu để theo dõi mức chất lượng đầu ra, tính bằng số các hạng mục không phù hợp trên một triệu (10^-6). Mức lấy mẫu do nhà chế tạo xác định. Để tính toán các giá trị 10^-^6, bất kỳ trường hợp tham số không đạt nào đều được tính như là một hạng mục không phù hợp. Trường hợp một hoặc nhiều hạng mục không phù hợp xảy ra trên một bộ mẫu, thì lô này phải bị loại bỏ.

^d Mức kiểm tra được lựa chọn từ IEC 60410: Phương án lấy mẫu và quy trình thử nghiệm bởi các thuộc tính.

^e Thử nghiệm này có thể được thay thế bởi thử nghiệm trong sản phẩm nếu nhà chế tạo lắp đặt kiểm tra quy trình thống kê (SPC) trên phép đo kích thước hoặc đặc tính khác để tránh phần vượt quá giới hạn.

^f) Nếu một hạng mục không phù hợp đạt được, tất cả các thử nghiệm của phân nhóm phải được lặp lại trên mẫu mới và sau đó không có hạng mục không phù hợp nào cho phép. Loại bỏ sản phẩm có thể tiếp tục trong quá trình thử nghiệm lại.

^g Phân nhóm có thể loại bỏ nếu thử nghiệm tương ứng được thực hiện trên mỗi lô chế tạo của vật liệu điện môi.

...

...

...