Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 6749-2:2017 về Tụ điện không đổi - Phần 2: kỹ thuật từng phần

• Số hiệu: TCVN6749-2:2017
• Loại văn bản: Tiêu chuẩn Việt Nam
• Nơi ban hành: ***
• Người ký: ***
• Ngày ban hành: Năm 2017

50 Hz:	20 %
100 Hz:	15 %
1 000 Hz	3 %
10 000 Hz	1 %

trừ khi có quy định khác trong quy định kỹ thuật cụ thể.

1.6  Ghi nhãn

Xem 2.4 của TCVN 6749-1 (IEC 60384-1) cùng với các nội dung sau.

1.6.1  Yêu cầu chung

Thông tin ghi nhãn thường được lựa chọn từ danh mục sau; tầm quan trọng tương đối của mỗi hạng mục được chỉ ra bởi vị trí trong danh mục:

- điện dung danh nghĩa;

- điện áp danh định (điện áp một chiều có thể được nêu bằng ký hiệu  hoặc );

- dung sai của điện dung danh nghĩa;

- loại điện áp;

...

...

...

- tên hoặc nhãn hiệu của nhà chế tạo;

- loại khí hậu;

- nhận dạng kiểu của nhà chế tạo;

- số hiệu tham chiếu của quy định kỹ thuật cụ thể.

1.6.2  Ghi nhãn trên tụ điện

Tụ điện phải được ghi nhãn rõ ràng với các hạng mục a), b), và c) ở trên và với càng nhiều càng tốt các hạng mục còn lại khi được coi là cần thiết. Tránh trùng lặp thông tin khi ghi nhãn trên tụ điện.

1.6.3  Ghi nhãn bao gói

Bao gói chứa các tụ điện phải được ghi nhãn rõ ràng với tất cả các thông tin được liệt kê ở 1.6.1.

1.6.4  Ghi nhãn bổ sung

...

...

...

2  Thông số đặc trưng và đặc tính ưu tiên

2.1  Đặc tính ưu tiên

Các giá trị được nêu trong quy định kỹ thuật cụ thể phải được ưu tiên lựa chọn như sau:

2.1.1  Loại khí hậu ưu tiên

Các tụ điện thuộc tiêu chuẩn này được phân loại theo các loại khí hậu theo các quy tắc chung được cho trong TCVN 6749-1 (IEC 60384-1).

Nhiệt độ dưới và trên của loại khí hậu và khoảng thời gian thử nghiệm nóng ẩm, không đổi phải được lựa chọn như sau

Nhiệt độ dưới của loại:                                                  -55 °C, -40 °C và -25 °C

Nhiệt độ trên của loại:                                                    +85 °C, +100 °C, +105 °C và +125 °C

Khoảng thời gian thử nghiệm nóng ẩm, không đổi:         4, 10, 21 và 56 ngày.

...

...

...

Độ khắc nghiệt đối với các thử nghiệm lạnh và nóng khô tương ứng với các nhiệt độ dưới và trên của chủng loại.

2.2  Giá trị ưu tiên của các thông số đặc trưng

2.2.1  Điện dung danh nghĩa (C_N)

Các giá trị ưu tiên của điện dung danh nghĩa là: 1; 1,5; 2,2; 3,3; 4,7 và 6,8 và các bội số thập phân của chúng.

Các giá trị này phù hợp với dãy E6 của các giá trị ưu tiên cho trong IEC 60063.

2.2.2  Dung sai điện dung danh nghĩa

Các dung sai ưu tiên của điện dung danh nghĩa là: ±5 %, ±10 %; ±20 %.

2.2.3  Điện áp danh định (U_R)

Giá trị ưu tiên của điện áp danh định là 40 V - 50 V - 63 V - 100 V - 160 V - 200 V - 250 V - 400 V - 630 V - 1 000 V - 1 600 V. Các giá trị này phù hợp với dãy cơ sở các giá trị ưu tiên R5 và R10 được nêu ở ISO 3.

...

...

...

Điện áp loại bằng điện áp danh định đối với T ≤ 85 °C.

Đối với nhiệt độ trên của loại là 100 °C, điện áp loại là 0,8 U_R.

Đối với nhiệt độ trên của loại là 105 °C, điện áp loại là 0,75 U_R.

Đối với nhiệt độ trên của loại là 125 °C, điện áp loại là 0,5 U_R.

2.2.5  Nhiệt độ danh nghĩa

Giá trị tiêu chuẩn của nhiệt độ danh nghĩa là 85 °C.

3  Quy trình đánh giá chất lượng

3.1  Giai đoạn đầu của quá trình chế tạo

Giai đoạn đầu của quá trình chế tạo là quấn phần tử tụ điện hoặc thao tác tương đương.

...

...

...

Các tụ điện được coi là tương tự về cấu trúc là các tụ điện được chế tạo với các quy trình và vật liệu tương tự, mặc dù chúng có thể có kích cỡ vỏ hộp và các giá trị khác nhau.

3.3  Ghi chép được xác nhận của các lô đã xuất xưởng

Thông tin yêu cầu trong Điều Q.9 của TCVN 6749-1 (IEC 60384-1) phải được cung cấp khi được quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể và khi được yêu cầu bởi khách hàng. Sau thử nghiệm độ bền, các tham số đòi hỏi có thông tin về các biến số là sự thay đổi điện dung, tang δ và điện trở cách điện.

3.4  Chấp nhận chất lượng

Quy trình thử nghiệm đánh giá chất lượng được nêu trong Điều Q.5 của quy định kỹ thuật chung TCVN 6749-1 (IEC 60384-1).

Bảng kê được sử dụng để thử nghiệm chấp nhận chất lượng trên cơ sở thử nghiệm theo lô và thử nghiệm định kỳ được nêu trong Điều Q.5 trong quy định kỹ thuật chung đó. Quy trình sử dụng một bảng kê có cỡ mẫu không đổi được cho ở 3.4.1 và 3.4.2 dưới đây.

3.4.1  Chấp nhận chất lượng trên cơ sở quy trình cỡ mẫu không đổi

Quy trình cỡ mẫu không đổi được mô tả trong điều b), Q.5.3 của TCVN 6749-1 (IEC 60384-1). Bộ mẫu phải đại diện cho dải các tụ điện cần được chấp nhận chất lượng. Dải này có thể là hoặc có thể không phải là dải đầy đủ thuộc phạm vi quy định kỹ thuật cụ thể.

Bộ mẫu phải bao gồm các mẫu có điện áp thấp nhất và cao nhất, và đối với các điện áp này phải có điện dung thấp nhất và cao nhất. Khi có nhiều hơn bốn điện áp danh định, điện áp trung gian cũng phải thử nghiệm. Do đó, để chấp nhận chất lượng một dải, cần phải thử nghiệm bốn hoặc sáu giá trị (các kết hợp điện dung/điện áp). Khi dải bao gồm dưới bốn giá trị, số lượng mẫu cần thử nghiệm phải là số lượng yêu cầu đối với bốn giá trị.

...

...

...

Các số lượng đưa ra trong Nhóm 0 giả định rằng tất cả các nhóm đều áp dụng. Nếu không phải như vậy, các số lượng này được phép giảm xuống tương ứng.

Khi đưa các nhóm bổ sung vào bảng kê các thử nghiệm đánh giá chất lượng, số lượng mẫu yêu cầu đối với Nhóm “0” phải được tăng lên một lượng bằng số lượng mẫu yêu cầu đối với nhóm bổ sung.

Bảng 1 nêu số lượng bộ mẫu cần được thử nghiệm trong mỗi nhóm hoặc nhóm phụ cùng với số lượng cho phép các hạng mục không đạt đối với các thử nghiệm đánh giá chất lượng.

3.4.2  Thử nghiệm

Để đánh giá chất lượng các tụ điện thuộc phạm vi một quy định kỹ thuật cụ thể, phải thực hiện chuỗi đầy đủ các thử nghiệm quy định trong Bảng 1 và Bảng 2. Các thử nghiệm của mỗi nhóm phải được thực hiện theo thứ tự đã cho.

Toàn bộ bộ mẫu phải chịu các thử nghiệm của Nhóm "0" và sau đó được chia ra cho các nhóm khác.

Các mẫu được xác định không đạt trong các thử nghiệm của Nhóm "0" sẽ không được sử dụng cho các nhóm khác.

"Một lần không đạt" được tính khi một tụ điện không thỏa mãn toàn bộ hoặc một phần của các thử nghiệm của một nhóm.

Đánh giá chất lượng được cấp khi số lượng không đạt không lớn hơn số lượng quy định không đạt cho phép đối với mỗi nhóm hoặc phân nhóm và tổng số các không đạt cho phép.

...

...

...

Các điều kiện thử nghiệm và yêu cầu tính năng đối với bảng kê các thử nghiệm cỡ mẫu không đổi phải đồng nhất với các điều kiện và tính năng quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể đối với kiểm tra sự phù hợp về chất lượng.

Bảng 1 - Kế hoạch lấy mẫu và số lượng không đạt cho phép đối với thử nghiệm đánh giá chất lượng

Nhóm số

Thử nghiệm

Điều của tiêu chuẩn này

Số lượng mẫu (n)

Số không đạt cho phép (c)^b

0

Kiểm tra bằng mắt

...

...

...

Kích thước

4.1

Điện dung

...

...

...

Tang của góc tổn hao

4.2.3

120

0

Chịu điện áp

...

...

...

Điện trở cách điện

4.2.4

Mẫu dự phòng

...

...

...

12

0

1 A

Độ vững chắc của các chân

4.3

...

...

...

Khả năng chịu nhiệt hàn

4.4

12

0

Khả năng chịu dung môi của linh kiện

4.14

...

...

...

1 B

Khả năng hàn

4.5

Khả năng chịu dung môi của nhãn

...

...

...

Thay đổi nhanh nhiệt độ

4.6

24

0

...

...

...

Rung

4.7

Va đập hoặc xóc ^a

4.8 hoặc 4.9

...

...

...

1

Trình tự khí hậu

4.10

36

0

2

Nóng ẩm, không đổi

4.11

24

...

...

...

3

Độ bền

4.12

36

0

4

Nạp điện và phóng điện

4.13

24

...

...

...

^a Như yêu cầu trong quy định kỹ thuật cụ thể.

^b Cho phép không nhiều hơn một không đạt từ bất kỳ giá trị nào.

Bảng 2 - Bảng kê các thử nghiệm đánh giá chất lượng

Số điều và thử nghiệm^a

D hoặc ND^b

Điều kiện thử nghiệm

Số lượng mẫu (n) và số lượng không đạt cho phép (c)

Yêu cầu tính năng

...

...

...

ND

Xem Bảng 1

4.1  Kiểm tra bằng mắt

Như ở 4.1

...

...

...

Nhãn phải rõ ràng và như quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể

4.1  Kích thước (chi tiết)

Xem quy định kỹ thuật cụ thể

...

...

...

Tần số 1 kHz

Trong khoảng dung sai quy định

4.2.3  Tang của góc tổn hao (tang δ)

...

...

...

Xem quy định kỹ thuật cụ thể đối với phương pháp

Như ở 4.2.3.2

4.2.4  Điện trở cách điện

Xem quy định kỹ thuật cụ thể đối với phương pháp

Như ở 4.2.4.2

...

...

...

D

Xem Bảng 1

4.3.1  Các phép đo ban đầu

Điện dung

...

...

...

Tang của góc tổn hao

Đối với C_N > 1 μF; ở 1 kHz

             C_{N ≤} 1 μF; ở 10 kHz

4.3  Độ vững chắc của các chân

Kiểm tra bằng mắt

...

...

...

Không có hư hại nhìn thấy được

4.4  Khả năng chịu nhiệt hàn

Không làm khô trước

Xem quy định kỹ thuật cụ thể cho phương pháp (1A hoặc 1B)

4.14  Khả năng chịu dung môi của linh kiện (nếu áp dụng)

...

...

...

Nhiệt độ dung môi:...

Phương pháp 2

Thời gian phục hồi:...

Xem quy định kỹ thuật cụ thể

4.4.2  Phép đo kết thúc

Kiểm tra bằng mắt

...

...

...

Nhãn phải rõ ràng

Điện dung

|ΔC / C| ≤ 2% của giá trị đo được ở 4.3.1

Tang của góc tổn hao

...

...

...

Độ tăng của tang δ

≤ 0,003 với C_N ≤ 1 μF Cấp 1

≤ 0,003 với C_N > 1 μF Cấp 1

≤ 0,005 với C_N ≤ 1 μF Cấp 2

≤ 0,003 với C_N > 1 μF Cấp 2

So với các giá trị đo được ở 4.3.1

Nhóm 1B

D

...

...

...

4.5 Khả năng hàn

Không lão hóa

Xem quy định kỹ thuật cụ thể đối với phương pháp.

Độ bám thiếc tốt với bằng chứng là dòng thiếc hàn chảy tự do bám thiếc các đầu nối hoặc chất hàn chảy trong... s, nếu áp dụng

4.15  Khả năng chịu dung môi của nhãn (nếu áp dụng)

...

...

...

Nhiệt độ dung môi:...

Phương pháp 2

Phục hồi

Xem quy định kỹ thuật cụ thể

4.6.1  Phép đo ban đầu

Điện dung

Tang của góc tổn hao

...

...

...

C_N ≤ 1μF ở 10 kHz

4.6  Thay đổi nhanh nhiệt độ

T_A = Nhiệt độ dưới của loại

T_B = Nhiệt độ trên của loại

5 chu kỳ

Khoảng thời gian t = 30 min

...

...

...

4.7  Rung

Kiểm tra bằng mắt

Không có hư hại nhìn thấy được

Về phương pháp lắp, xem quy định kỹ thuật cụ thể

...

...

...

Biên độ: 0,75 mm hoặc

Gia tốc 100 m/s^2:

...chọn giá trị ít khắc nghiệt hơn

Thời gian tổng: 6 h

4.7.2  Kiểm tra cuối cùng

Kiểm tra bằng mắt

...

...

...

Không có hư hại nhìn thấy được

4.8  Va đập (hoặc xóc, xem 4.9)

Đối với phương pháp lắp, xem quy định kỹ thuật cụ thể

Số va đập:...

Gia tốc:... m/s^2

Khoảng thời gian xung:... ms

...

...

...

Đối với phương pháp lắp, xem quy định kỹ thuật cụ thể

Số va đập:...

Gia tốc:... m/s^2

Khoảng thời gian xung:... ms

4.8.3 hoặc 4.9.3 Các phép đo kết thúc

...

...

...

Không có hư hại nhìn thấy. Nhãn phải rõ ràng.

Điện dung

|ΔC/C| ≤ 5% của giá trị phép đo ở 4.3.1

...

...

...

Độ tăng của tang δ

≤ 0,003 với C_N ≤ 1 μF Cấp 1

≤ 0,003 với C_N > 1 μF Cấp 1

≤ 0,005 với C_N ≤ 1 μF Cấp 2

≤ 0,003 với C_N > 1 μF Cấp 2

So với các giá trị đo được ở 4.3.1 hoặc 4.6.1

...

...

...

≥ 50 % các giá trị ở 4.2.4.2

Nhóm 1

D

Xem Bảng 1

4.10  Quy trình khí hậu

...

...

...

4.10.2  Nóng khô

Nhiệt độ: Nhiệt độ trên của loại

Khoảng thời gian: 16 h

4.10.3  Nóng ẩm, chu kỳ, Thử nghiệm Db, chu kỳ đầu tiên

...

...

...

4.10.4  Lạnh

Nhiệt độ: Nhiệt độ dưới của loại

Khoảng thời gian: 2 h

...

...

...

Áp suất không khí: 8 kPa

4.10.5.2  Kiểm tra cuối cùng

Kiểm tra bằng mắt

Không có phóng điện đánh thủng vĩnh viễn hoặc biến dạng có hại của vỏ

...

...

...

4.10.6.2  Phép đo kết thúc

Kiểm tra bằng mắt

Không có hư hại nhìn thấy được.

...

...

...

Điện dung

|ΔC/C| ≤ 5% của giá trị đo được ở 4.4.2, 4.8.3, 4.9.3 như áp dụng 2

Tang của góc tổn hao

Độ tăng của tang δ

...

...

...

≤ 0,003 với C_N > 1 μF Cấp 1

≤ 0,005 với C_N ≤ 1 μF Cấp 2

≤ 0,003 với C_N > 1 μF Cấp 2

So với các giá trị đo được ở 4.3.1 hoặc 4.6.1 tùy theo áp dụng

Điện trở cách điện

≥ 50 % các giá trị ở 4.2.4.2

...

...

...

D

Xem Bảng 1

4.11  Nóng ẩm, không đổi

...

...

...

Điện dung

Tang của góc tổn hao

4.10.6.2  Phép đo kết thúc

Kiểm tra bằng mắt

...

...

...

Ghi nhãn rõ ràng

Điện dung

|ΔC/C| ≤ 5% của giá trị đo được ở 4.11.1

Tang của góc tổn hao

...

...

...

Tang δ tăng lên ≤0,005 so với các giá trị đo được ở 4.11.1

Điện trở cách điện

≥ 50 % các giá trị ở 4.2.4.2

Nhóm 3

D

...

...

...

4.12  Độ bền

Khoảng thời gian:

Cấp 1: 2 000 h

Cấp 2: 1 000 h

4.12.1  Phép đo ban đầu

...

...

...

Điện dung

Tang của góc tổn hao:

Đối với C_N > 1μF ở 1kHz

C_N ≤ 1μF ở 10 kHz

4.12.3  Phép đo kết thúc

Kiểm tra bằng mắt

...

...

...

Không có hư hại nhìn thấy

Ghi nhãn rõ ràng

Điện dung

|ΔC/C| ≤ 5% đối với Cấp 1

≤ 8% đối với Cấp 2 của các giá trị đo được ở 4.12.1

...

...

...

Tang của góc tổn hao

Độ tăng của tang δ

≤ 0,003 với C_N ≤ 1 μF Cấp 1

≤ 0,003 với C_N > 1 μF Cấp 1

≤ 0,005 với C_N ≤ 1 μF Cấp 2

≤ 0,003 với C_N > 1 μF Cấp 2

So với các giá trị đo được ở 4.12.1

...

...

...

Điện trở cách điện

≥ 50 % các giá trị ở 4.2.4.2

Nhóm 4

D

Xem Bảng 1

4.13  Nạp điện và phóng điện

...

...

...

4.13.1  Phép đo ban đầu

Điện dung

Tang của góc tổn hao:

Đối với C_N > 1μF ở 1 kHz

C_N ≤ 1μF ở 10 kHz

...

...

...

Thời gian phóng điện:...s

4.13.3  Phép đo kết thúc

Điện dung

|ΔC/C| ≤ 3% đối với Cấp 1 và ≤ 5% đối với Cấp 2 của các giá trị đo được ở 4.13.1

...

...

...

Tang của góc tổn hao

Độ tăng của tang δ

≤ 0,003 với C_N ≤ 1 μF Cấp 1

≤ 0,003 với C_N > 1 μF Cấp 1

≤ 0,005 với C_N ≤ 1 μF Cấp 2

≤ 0,003 với C_N > 1 μF Cấp 2

so với các giá trị đo được ở 4.13.1

...

...

...

Điện trở cách điện

≥ 50 % các giá trị ở 4.2.4.2

^a Số điều của thử nghiệm và các yêu cầu tính năng tham khảo Điều 4 - Quy trình thử nghiệm và đo

^b Trong bảng này: D là phá hủy, ND là không phá hủy

3.5  Kiểm tra sự phù hợp về chất lượng

3.5.1  Hình thành lô kiểm tra

a) Kiểm tra nhóm A và B

Các thử nghiệm này được thực hiện trên cơ sở từng lô.

...

...

...

1) Lô kiểm tra bao gồm các tụ điện tương tự về cấu trúc (xem 3.2).

2a) Mẫu thử nghiệm phải đại diện cho các giá trị và kích thước trong lô kiểm tra:

- liên quan đến số lượng của chúng;

- với tối thiểu là 5 đối với bất kỳ giá trị nào.

2b) Nếu có dưới 5 đối với bất kỳ giá trị nào trong bộ mẫu, cơ sở để vẽ các bộ mẫu phải được thỏa thuận giữa nhà chế tạo và cơ quan chứng nhận (CB).

b) Kiểm tra nhóm C

Các thử nghiệm này phải được tiến hành trên cơ sở định kỳ.

Các bộ mẫu phải đại diện cho sản phẩm hiện nay của các thời kỳ quy định và phải được chia thành các thông số danh định điện áp cao, trung bình và thấp. Để bao quát phạm vi chấp thuận trong bất kỳ giai đoạn nào, một kích thước vỏ hộp phải được thử nghiệm từ mỗi nhóm điện áp. Trong các giai đoạn tiếp theo, các kích cỡ khác và/hoặc các thông số điện áp trong sản phẩm phải được thử nghiệm với mục tiêu bao quát toàn bộ dải.

3.5.2  Bảng kê các thử nghiệm

...

...

...

3.5.3  Giao hàng chậm

Khi, theo các quy trình tại Điều Q.10 của TCVN 6748-1:2009 (IEC 60115-1:2008), phải tiến hành kiểm tra lại, khả năng hàn và điện dung phải được kiểm tra như quy định trong kiểm tra các nhóm A và nhóm B.

3.5.4  Mức đánh giá

(Các) mức đánh giá đưa ra trong quy định kỹ thuật cụ thể còn để trống phải ưu tiên lựa chọn từ Bảng 3 và Bảng 4 sau đây.

Bảng 3 - Kiểm tra theo lô

Phân nhóm kiểm tra^c

EZ

IL

n

...

...

...

A0

100 % ^a

A1

S-3

^b

0

A2

S-3

^b

...

...

...

B1

S-3

^b

0

IL = mức kiểm tra;

n = cỡ mẫu;

c = số lượng cho phép các hạng mục không đạt.

^a  Việc kiểm tra này phải được thực hiện sau khi loại bỏ các hạng mục không đạt bằng cách thử nghiệm 100 % trong quá trình chế tạo. Dù lô được chấp nhận hay không, tất cả các bộ mẫu dùng cho kiểm tra mẫu phải được kiểm tra để theo dõi mức chất lượng đầu ra theo các hạng mục không đạt tính bằng phần triệu (x 10^6). Mức lấy mẫu phải do nhà chế tạo thiết lập, tốt nhất theo TCVN 10895-2 (IEC 61193-2), Phụ lục A.

Trong trường hợp một hoặc nhiều hạng mục không đạt xảy ra trong một bộ mẫu, lô này phải được loại bỏ nhưng phải đếm tất cả hạng mục không đạt để tính giá trị mức chất lượng.

...

...

...

^b Số lượng cần thử nghiệm: Cỡ mẫu được phân bổ trực tiếp cho mã chữ cái IL của IEC 60410, Bảng II A hoặc phải được xác định theo TCVN 10895-2 (IEC 61193-2), 4.3.2.

^c Nội dung của các phân nhóm kiểm tra được mô tả trong Điều 2 của yêu cầu kỹ thuật cụ thể còn để trống liên quan.

Bảng 4 - Kiểm tra định kỳ

Phân nhóm kiểm tra^a

EZ

p

n

c

C1A

...

...

...

5

0

C1B

6

5

0

C1

6

10

...

...

...

C2

6

10

0

C3

6

10

0

C4

...

...

...

10

0

p là định kỳ tính bằng tháng

n là cỡ mẫu;

c là số lượng cho phép các hạng mục không đạt.

^a Nội dung của các phân nhóm kiểm tra được mô tả trong Điều 2 của yêu cầu kỹ thuật cụ thể còn để trống liên quan.

4  Quy trình thử nghiệm và đo

4.1  Kiểm tra bằng mắt và kiểm tra kích thước

Xem 4.4 của TCVN 6749-1 (IEC 60384-1).

...

...

...

4.2.1  Điện áp chịu thử

Xem 4.6 của TCVN 6749-1 (IEC 60384-1) với các quy định cụ thể như sau:

4.2.1.1  Mạch thử nghiệm

Xóa tụ C₁.

Tích của R₁ và điện dung danh nghĩa (C_N) của tụ điện C_x cần thử nghiệm phải nhỏ hơn hoặc bằng 1 s và lớn hơn 0,01 s.

R₁ bao gồm điện trở trong của nguồn cấp.

R₂ phải giới hạn dòng điện phóng đến giá trị bằng hoặc nhỏ hơn 1 A.

4.2.1.2  Điều kiện thử nghiệm

Các điện áp sau đây (xem Bảng 5) phải được đặt giữa các điểm đo của Bảng 3 ở 4.5.6 của TCVN 6749-1 (IEC 60384-1), trong thời gian 1 min đối với thử nghiệm đánh giá chất lượng và trong thời gian 1 s đối với thử nghiệm sự phù hợp về chất lượng theo lô.

...

...

...

Điểm thử nghiệm

Điện áp thử nghiệm

1 a)

Cấp 1: 1,6 U_R

Cấp 2: 1,4 U_R

1 b), 1 c)

2U_R với điện áp nhỏ nhất 200 V

CHÚ THÍCH: Cho phép xảy ra phóng điện đánh thủng tự phục hồi trong khi đặt điện áp thử nghiệm.

...

...

...

Xem 4.7 của TCVN 6749-1 (IEC 60384-1) với các quy định cụ thể dưới đây:

4.2.2.1  Điều kiện đo

Điện dung phải được đo ở, hoặc hiệu chỉnh về, tần số 1 000 Hz.

Đối với điện dung danh nghĩa, có thể sử dụng các giá trị > 10 μF, 50 Hz đến 120 Hz.

Điện áp đỉnh đặt vào ở 1 000 Hz không được vượt quá 3 % điện áp danh định, và điện áp đỉnh đặt vào ở 50 Hz đến 120 Hz không được vượt quá 20 % điện áp danh định với điện áp lớn nhất 100 V (70 V giá trị hiệu dụng).

4.2.2.2  Yêu cầu

Điện dung phải trong phạm vi dung sai quy định.

4.2.3  Tang của góc tổn hao (tang δ)

Xem 4.8 của TCVN 6749-1 (IEC 60384-1) với các quy định cụ thể như sau:

...

...

...

Tang của góc tổn hao phải được đo như sau:

- tần số: 1 000 Hz

- điện áp đỉnh: ≤ 3 % điện áp danh định

- sai số: ≤ 10 x 10^-4 (giá trị tuyệt đối)

4.2.3.2  Yêu cầu đối với phép đo ở 1 000 Hz

Tang của góc tổn hao không được vượt các giá trị cho trong Bảng 6.

Bảng 6 - Yêu cầu đối với tang của góc tổn hao

Điện dung danh định

Tang δ (giá trị tuyệt đối)

...

...

...

Tụ điện Cấp 1

Tụ điện Cấp 2

≤ 1 μF

0,008

0,01

> 1 μF

0,01

0,01

4.2.3.3  Điều kiện đo đối với phép đo ở 10 kHz

...

...

...

- tần số: 10 kHz

- điện áp: ≤ 1 V giá trị hiệu dụng.

- sai số: ≤ 10 x 10^-4 (giá trị tuyệt đối).

4.2.4  Điện trở cách điện

Xem 4.5 của TCVN 6749-1 (IEC 60384-1) với các quy định cụ thể như sau:

4.2.4.1  Ổn định trước

Trước khi đo, tụ điện phải được phóng điện hoàn toàn. Tích của điện trở của mạch phóng và điện dung danh nghĩa của tụ điện cần thử nghiệm phải ≥ 0,01 s hoặc bất kỳ giá trị nào khác quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.

4.2.4.2  Điều kiện đo

Điện áp đo phải theo 4.5.2 của TCVN 6749-1 (IEC 60384-1).

...

...

...

Tích của điện trở trong và điện dung danh nghĩa của tụ điện phải nhỏ hơn 1 s hoặc bất kỳ giá trị nào khác quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.

4.2.4.3  Yêu cầu

Điện trở cách điện phải đáp ứng các yêu cầu của Bảng 7.

Bảng 7 - Yêu cầu của điện trở cách điện

Điểm đo ^a

Điện dung danh định

Điện áp danh định

Tích RC nhỏ nhất ^b

s

...

...

...

MΩ

Điện trở cách điện nhỏ nhất giữa các đầu nối và vỏ hộp

MΩ

Cấp 1

Cấp 2

Cấp 1

Cấp 2

1 a)

> 0,33 μF

...

...

...

10 000

2 500

-

-

-

≤ 100 V

5 000

1 250

-

...

...

...

-

≤ 0,33 μF

> 100 V

-

-

30 000

7 500

-

≤ 100 V

...

...

...

-

15 000

3 750

-

1b), 1c)

-

-

-

-

...

...

...

30 000

^a Các điểm đo phù hợp với Bảng 3 của TCVN 6749-1 (IEC 60384-1).

^b R = điện trở cách điện giữa các đầu nối

  C = điện dung danh nghĩa

4.2.4.4  Hệ số hiệu chỉnh

Khi tiến hành thử nghiệm ở nhiệt độ khác 20 °C, kết quả, khi cần thiết, phải được hiệu chỉnh về 20 °C bằng cách nhân kết quả của phép đo với hệ số hiệu chỉnh phù hợp. Trường hợp có nghi ngờ, phép đo ở 20 °C là quyết định. Các hệ số hiệu chỉnh sau (xem Bảng 8) có thể được coi là giá trị trung bình đối với các tụ điện màng mỏng polyethylene-terephthalate phủ kim loại.

Bảng 8 - Hệ số hiệu chỉnh

Nhiệt độ
°C

Hệ số hiệu chỉnh

...

...

...

Hệ số hiệu chỉnh

15

0,79

26

1,32

16

0,83

27

1,38

...

...

...

0,87

28

1,45

18

0,91

29

1,52

19

0,95

...

...

...

1,59

20

1,00

31

1,66

21

1,05

32

1,74

...

...

...

1,10

33

1,82

23

1,15

34

1,91

24

1,20

...

...

...

2,00

25

1,26

4.3  Độ vững chắc của các chân

Xem 4.13 của TCVN 6749-1 (IEC 60384-1) với các quy định cụ thể dưới đây.

4.3.1  Phép đo ban đầu

Điện dung phải được đo theo 4.2.2.

...

...

...

4.4  Khả năng chịu nhiệt hàn

Xem 4.14 của TCVN 6749-1 (IEC 60384-1) với các quy định cụ thể dưới đây.

4.4.1  Điều kiện

Không làm khô trước.

4.4.2  Kiểm tra cuối cùng, các phép đo kết thúc và các yêu cầu

Điện dung phải được kiểm tra bằng mắt và được đo và phải đáp ứng các yêu cầu ở Bảng 2.

4.5  Khả năng hàn

Xem 4.15 của TCVN 6749-1 (IEC 60384-1) với các quy định cụ thể như sau.

4.5.1  Điều kiện thử nghiệm

...

...

...

Các yêu cầu đối với phương pháp thử nghiệm giọt thiếc hàn phải được quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.

Khi phương pháp bể hàn cũng như phương pháp giọt thiếc hàn đều không phù hợp, phải sử dụng thử nghiệm mỏ hàn với mỏ hàn cỡ A.

4.5.2  Yêu cầu

Yêu cầu về tính năng được cho ở Bảng 2.

4.6  Thay đổi nhanh nhiệt độ

Xem 4.16 của TCVN 6749-1 (IEC 60384-1) với các quy định cụ thể dưới đây.

4.6.1  Phép đo ban đầu

Phép đo ban đầu phải được thực hiện như quy định ở 4.3.1.

4.6.2  Điều kiện thử nghiệm

...

...

...

Thời gian phơi nhiễm ở các giới hạn nhiệt độ: 30 min.

4.7  Rung

Xem 4.17 của TCVN 6749-1 (IEC 60384-1) với các quy định cụ thể dưới đây.

4.7.1  Điều kiện thử nghiệm

Áp dụng độ khắc nghiệt sau đây của Thử nghiệm Fc: dịch chuyển 0,75 mm hoặc 100 m/s^2, chọn thử nghiệm có biên độ thấp hơn, trên một trong các dải tần số sau: 10 Hz đến 55 Hz, 10 Hz đến 500 Hz hoặc 10 Hz đến 2 000 Hz. Thời gian tổng phải là 6 h.

Quy định kỹ thuật cụ thể phải quy định dải tần số và cũng phải quy định phương pháp lắp được sử dụng. Đối với các tụ điện có dây nối hướng trục và được thiết kế để được lắp chỉ bằng các dây nối, khoảng cách giữa thân và điểm lắp phải là 6 mm ± 1 mm.

4.7.2  Kiểm tra cuối cùng, các phép đo kết thúc và các yêu cầu

Xem Bảng 2.

4.8  Va đập

...

...

...

4.8.1  Phép đo ban đầu

Không yêu cầu.

4.8.2  Điều kiện thử nghiệm

Quy định kỹ thuật cụ thể phải quy định áp dụng mức khắc nghiệt nào trong số các mức khắc nghiệt sau:

Tổng số va đập: 1 000 hoặc 4 000

Tổng số va đập: 1 000 hoặc 4 000

Gia tốc 400m/s^2

hoặc

...

...

...

Quy định kỹ thuật cụ thể cũng phải quy định phương pháp lắp được sử dụng. Đối với tụ điện có dây nối hướng trục và được thiết kế để lắp chỉ bởi các dây nối, khoảng cách giữa thân tụ điện và điểm lắp phải là 6 mm ± 1 mm.

4.8.3  Kiểm tra cuối cùng, các phép đo kết thúc và các yêu cầu

Tụ điện phải được kiểm tra bằng mắt và đo và phải đáp ứng các yêu cầu cho trong Bảng 2.

4.9  Xóc

Xem 4.19 của TCVN 6749-1 (IEC 60384-1) với các quy định cụ thể dưới đây.

Quy định kỹ thuật cụ thể phải nêu áp dụng thử nghiệm va đập hay là thử nghiệm xóc.

4.9.1  Phép đo ban đầu

Không yêu cầu.

...

...

...

Quy định kỹ thuật cụ thể phải nêu rõ ưu tiên áp dụng mức khắc nghiệt nào trong số các mức khắc nghiệt sau, xem Bảng 9.

Dạng xung: nửa hình sin

Bảng 9 - Mức khắc nghiệt ưu tiên

Gia tốc đỉnh

Thời gian tương ứng của xung

m/s^2

ms

300

18

...

...

...

11

1 000

6

Quy định kỹ thuật cụ thể cũng phải quy định phương pháp lắp được sử dụng. Đối với các tụ điện có dây nối hướng trục và được thiết kế để lắp chỉ bằng các chân, khoảng cách giữa thân và điểm lắp phải là 6 mm ± 1 mm.

4.9.3  Kiểm tra cuối cùng, các phép đo kết thúc và các yêu cầu

Tụ điện phải được kiểm tra bằng mắt và được đo và phải đáp ứng các yêu cầu cho trong Bảng 2.

4.10  Trình tự khí hậu

Xem 4.21 của TCVN 6749-1 (IEC 60384-1) với các quy định cụ thể dưới đây.

4.10.1  Phép đo ban đầu

...

...

...

4.10.2  Nóng khô

Xem 4.21.2 của TCVN 6749-1 (IEC 60384-1).

4.10.3  Nóng ẩm, chu kỳ, thử nghiệm Db, chu kỳ đầu tiên

Xem 4.21.3 của TCVN 6749-1 (IEC 60384-1).

4.10.4  Lạnh

Xem 4.21.4 của TCVN 6749-1 (IEC 60384-1).

4.10.5  Áp suất không khí thấp

Xem 4.21.5 của TCVN 6749-1 (IEC 60384-1) với các quy định cụ thể dưới đây.

4.10.5.1  Điều kiện thử nghiệm

...

...

...

Trong khi ở áp suất thấp quy định và trong 5 min cuối cùng của thời gian 1 h, điện áp danh định phải được đặt vào.

Phần của bộ mẫu các tụ điện chịu thử nghiệm này phải được chia ra thành hai hoặc ba phần khi thiết và mỗi phần phải chịu một trong các thử nghiệm quy định ở 4.5.3 và Bảng 3 của TCVN 6749-1 (IEC 60384-1).

4.10.5.2  Kiểm tra cuối cùng và các yêu cầu

Các tụ điện phải được kiểm tra bằng mắt và phải đáp ứng các yêu cầu cho trong Bảng 2.

4.10.6  Nóng ẩm, chu kỳ, thử nghiệm Db, các chu kỳ còn lại

Xem 4.21.6 của TCVN 6749-1 (IEC 60384-1) với các quy định cụ thể dưới đây.

4.10.6.1  Điều kiện thử nghiệm

Trong vòng 15 min sau khi lấy ra từ thử nghiệm nóng ẩm, đặt điện áp danh định trong 1 min tại điểm thử nghiệm A bằng cách sử dụng các điều kiện mạch thử nghiệm như đã cho ở 4.2.1.

4.10.6.2  Kiểm tra cuối cùng, các phép đo kết thúc và các yêu cầu

...

...

...

4.11  Nóng ẩm, không đổi

Xem 4.22 của TCVN 6749-1 (IEC 60384-1) với các quy định cụ thể dưới đây.

4.11.1  Phép đo ban đầu

Đo điện dung theo 4.2.2. Đo tang của góc tổn hao theo 4.2.3.1.

4.11.2  Điều kiện thử nghiệm

Trong vòng 15 min sau khi lấy ra từ thử nghiệm nóng ẩm, tiến hành thử nghiệm điện áp chịu thử theo 4.2.1, nhưng với điện áp danh định đặt vào.

4.11.3  Kiểm tra cuối cùng, các phép đo kết thúc và các yêu cầu

Sau khi phục hồi, các tụ điện phải được kiểm tra bằng mắt và đo và phải đáp ứng các yêu cầu cho trong Bảng 2.

4.12  Độ bền

...

...

...

4.12.1  Phép đo ban đầu

Các phép đo ban đầu phải được thực hiện như quy định ở 4.3.1.

4.12.2  Điều kiện thử nghiệm

Tụ điện Cấp 1 phải được thử nghiệm trong 2 000 h và tụ điện Cấp 2 phải được thử nghiệm trong 1 000 h như sau, xem Bảng 10.

Bảng 10 - Điều kiện thử nghiệm

Loại

-/85/-

-/100/-

-/105/-

...

...

...

Nhiệt độ

85 °C

100 °C

86 °C

105 °C

85 °C

125 °C

85 °C

Điện áp (một chiều)

...

...

...

1,25 U_C

1,25 U_R

1,25 U_C

1,25 U_R

1,25 U_C

1,25 U_R

Phần bộ mẫu được chia thành

1 phần

2 phần

...

...

...

2 phần

Điện áp thử nghiệm phải được đặt vào từng tụ điện riêng rẽ thông qua một điện trở, giá trị của điện trở bằng 0,022/C_N, trong đó C_N là điện dung danh nghĩa tính bằng fara và R là điện trở tính bằng ôm và phải trong phạm vi 30 % giá trị tính được với giá trị lớn nhất là 2 MΩ.

4.12.3  Kiểm tra cuối cùng, các phép đo kết thúc và các yêu cầu

Sau thời gian quy định, để các tụ điện phục hồi và sau đó phóng qua vẫn điện trở R đó như xác định ở 4.12.3.

Tụ điện phải được kiểm tra bằng mắt và đo và phải đáp ứng các yêu cầu cho trong Bảng 2.

4.13  Nạp điện và phóng điện

Xem 4.27 của TCVN 6749-1 (IEC 60384-1) với các quy định cụ thể như sau.

4.13.1  Phép đo ban đầu

Đối với các tụ điện có điện dung danh nghĩa C_N ≤ 1μF, tang δ phải được đo theo phương pháp ở 4.2.3.

...

...

...

Tụ điện phải chịu 10 000 chu kỳ nạp và phóng ở tốc độ từ 0,1 đến 60 chu kỳ trong một giây ở các điều kiện khí quyển tiêu chuẩn đối với thử nghiệm. Tốc độ thử nghiệm không được khiến cho tụ điện nóng lên hơn 10 °C so với nhiệt độ môi trường xung quanh. Mỗi chu kỳ phải bao gồm nạp điện và phóng điện tụ điện. Trong trường hợp tranh cãi, tốc độ tham chiếu là từ 1 đến 2 chu kỳ trong một giây.

Mỗi tụ điện phải được phóng điện riêng rẽ thông qua một điện trở có độ tự cảm thấp R₁ được tính theo công thức

R₁ = U_R /(C_N x dU/dt)

trong đó

U_R là điện áp danh định của tụ điện;

C_N là điện dung danh nghĩa tính bằng microfara;

dU/dt là giá trị thích hợp tính bằng von/micro giây cho trong Bảng 11 dưới đây.

R₁ là giá trị điện trở của toàn mạch phóng điện và phải có giá trị gần nhất với giá trị tính toán trong chuỗi E24 với giá trị nhỏ nhất là 2,2Ω.

Điện áp đặt vào đối với thử nghiệm phải là U_R± 5 %.

...

...

...

Thời gian nạp điện cho phép phải không ngắn hơn 10 x C_N x R₂.

a) Thử nghiệm dU/dt (V/μs) đối với các tụ điện chân hướng tâm.

Bảng 11 - Khoảng cách giữa các chân

Khoảng cách giữa các chân tính bằng bội số của “e”^a, b

Điện áp danh định

2e

3e

4e

6e

...

...

...

11e

15e

17e

40

5

3

3

1,5

1

...

...

...

0,6

0,4

63

10

5

6

3

2

1

...

...

...

0,6

100

20

6

9

5

3

2

1

...

...

...

250

15

20

11

7

5

3

1,2

...

...

...

30

30

20

10

8

6

4

630

...

...

...

40

25

12

10

8

6

^a Trong đó “e” là 2,5 mm hoặc 2,54 mm

Do vậy 2e có nghĩa là 5,0 mm hoặc 5,08 mm, 3e có nghĩa là 7,5 mm hoặc 7,62 mm, v.v.

...

...

...

Khoảng cách gần nhất giữa các dây nối tới chiều dài cuộn phải được sử dụng để xác định thử nghiệm dU/dt.

Các giá trị dU/dt cho trong bảng là chỉ với mục đích thử nghiệm và không nhất thiết bằng các giá trị dU/dt mà tụ điện sẽ chịu trong quá trình làm việc liên tục.

b) Thử nghiệm dU/dt (V/μs) đối với các tụ điện có chân hướng trục

Thử nghiệm dU/dt phải là giá trị dùng cho khoảng cách gần nhất giữa các dây nối đối với các tụ điện hướng tâm so với kích thước (chiều dài thân - 3 mm) trừ khi giá trị này không tương ứng gần đúng với chiều dài cuộn, trong trường hợp đó quy định kỹ thuật cụ thể phải quy định chiều dài cuộn hoặc cách xác định chiều dài cuộn.

4.13.3  Phép đo kết thúc và các yêu cầu

Sau khi phục hồi, các tụ điện phải được đo và phải đáp ứng yêu cầu cho trong Bảng 2.

4.14  Khả năng chịu dung môi của linh kiện

Xem 4.31 của TCVN 6749-1 (IEC 60384-1).

4.15  Khả năng chịu dung môi của nhãn

...

...

...

Thư mục tài liệu tham khảo

[1] TCVN 7699-1 (IEC 60068-1), Thử nghiệm môi trường - Phần 1: Quy định chung và hướng dẫn

[2] TCVN 7699-2-1 (IEC 60384-2-1), Tụ điện không đổi dùng trong thiết bị điện tử - Phần 2-1: Quy định kỹ thuật cụ thể còn để trống - Tụ điện không đổi dòng điện một chiều điện môi màng mỏng polyethylene terephthalate phủ kim loại - Cấp đánh giá E và EZ

[3] IEC 60384-14, Fixed capacitors for use in electronic equipment - Part 14: Sectional specification: Fixed capacitors for electromagnetic interference suppression and connection to the supply mains (Tụ điện không đổi dùng trong thiết bị điện tử - Phần 14: Quy định kỹ thuật từng phần: Tụ điện không đổi dùng để triệt nhiễu điện từ và đấu nối với dây nguồn cung cấp

[4] IEC 60384-19, Fixed capacitors for use in electronic equipment - Part 19: Sectional specification: Fixed metallized polyethylene-terephthalate film dielectric surface mount d.c. capacitors (Tụ điện không đổi dùng trong thiết bị điện tử - Phần 19: Quy định kỹ thuật từng phần: Tụ điện không đổi dòng điện một chiều điện môi màng mỏng polyethylene-terephthalate phủ kim loại lắp trên bề mặt

[5] IEC 60410:1973, Sampling plans and procedures for inspection by attributes (Phương án lấy mẫu và quy trình kiểm tra theo các thuộc tính)

1 Hệ thống tiêu chuẩn quốc gia đã có TCVN 142:2009 về Số ưu tiên và dãy số ưu tiên.