Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 6749-2-1:2017 về Tụ điện không đổi - Phần 2-1: kỹ thuật cụ thể

• Số hiệu: TCVN6749-2-1:2017
• Loại văn bản: Tiêu chuẩn Việt Nam
• Nơi ban hành: ***
• Người ký: ***
• Ngày ban hành: Năm 2017

[1]	TCVN 6749-2-1 (IEC 60384-2-1) QC XXXXXXXXXXX                   [2]
LINH KIỆN ĐIỆN TỬ CÓ CHẤT LƯỢNG ĐƯỢC ĐÁNH GIÁ PHÙ HỢP VỚI: [3]	TCVN 6749-2-1 (IEC 60384-2-1) QC XXXXXX                               [4]
	TỤ ĐIỆN KHÔNG ĐỔI ĐIỆN MỘT CHIỀU ĐIỆN MÔI MÀNG MỎNG POLYETHYLENE TEREPHTHALATE PHỦ KIM LOẠI                                                     [5]
Bản vẽ hình bao (xem Bảng 1) (Hình chiếu góc đầu tiên) [7] (Các hình dạng khác được cho phép trong kích thước đã cho)
	[6]
	(Các) mức đánh giá E và EZ      [8] Cấp tính năng:
CHÚ THÍCH: Đối với [1] đến [9]: xem trang trước.

Thông tin về có các linh kiện phù hợp với quy định kỹ thuật cụ thể này được cho trong IEC QC 001005

                                 [9]

TỤ ĐIỆN KHÔNG ĐỔI DÙNG TRONG THIẾT BỊ ĐIỆN TỬ - PHẦN 2-1: QUY ĐỊNH KỸ THUẬT CỤ THỂ CÒN ĐỂ TRỐNG: TỤ ĐIỆN KHÔNG ĐỔI ĐIỆN MỘT CHIỀU ĐIỆN MÔI MÀNG MỎNG POLYETHYLENE TEREPHTHALATE PHỦ KIM LOẠI - MỨC ĐÁNH GIÁ E VÀ EZ

Fixed capacitors for use in electronic equipment - Part 2-1: Blank detail specification: Fixed metallized polyethylene-terephthalate film dielectric d.c - capacitors - Assessment levels E and EZ

1  Yêu cầu chung

1.1  Phạm vi áp dụng

...

...

...

Các tụ điện này có thể có “thuộc tính tự phục hồi” tùy thuộc vào điều kiện sử dụng. Mục đích chính của chúng là dùng cho các ứng dụng ở đó linh kiện xoay chiều là nhỏ so với điện áp danh định. Hai cấp tính năng của tụ điện được đề cập, cấp 1 dùng cho ứng dụng có tuổi thọ dài và cấp 2 dùng cho ứng dụng chung.

Các tụ điện để triệt nhiễu điện từ và tụ điện không đổi dòng điện một chiều điện môi màng mỏng polyethylene terephthalate phủ kim loại gắn kết bề mặt không thuộc phạm vi áp dụng của tiêu chuẩn này, nhưng được đề cập tương ứng trong IEC 60384-14 và IEC 60384-19.

1.2  Tài liệu viện dẫn

Các tài liệu viện dẫn sau đây là cần thiết cho việc áp dụng tiêu chuẩn này. Đối với các tài liệu viện dẫn ghi năm công bố thì áp dụng phiên bản được nêu. Đối với các tài liệu viện dẫn không ghi năm công bố thì áp dụng phiên bản mới nhất (kể cả các sửa đổi).

TCVN 6749-1 (IEC 60384-1), Tụ điện không đổi dùng trong thiết bị điện tử - Phần 1: Quy định kỹ thuật chung

TCVN 6749-2 (IEC 60384-2), Tụ điện không đổi dùng trong thiết bị điện tử - Phần 2: Quy định kỹ thuật từng phần - Tụ điện không đổi điện một chiều điện môi màng mỏng polyethylene terephthalate phủ kim loại

1.3  Phương pháp gắn kết khuyến cáo

Xem 1.4.2 của TCVN 6749-2 (IEC 60384-2).

1.4  Kích thước và thông số đặc trưng

...

...

...

Tham chiếu cỡ của vỏ bọc

Kích thước

Ø

L

H

d

….

...

...

...

...

...

...

...

...

...

Trường hợp không có tham chiếu cỡ của vỏ bọc, có thể bỏ qua Bảng 1 và các kích thước phải được cho trong Bảng 2, khi đó Bảng 2 trở thành Bảng 1.

Phải cho các kích thước lớn nhất hoặc các kích thước danh nghĩa cùng với dung sai.

Dải điện dung (xem Bảng 2)

Dung sai của điện dung danh định

Điện áp danh định (xem Bảng 2)

Loại điện áp (nếu áp dụng) (xem Bảng 2)

...

...

...

Nhiệt độ danh định

Điện áp xoay chiều lớn nhất (nếu áp dụng)

Tải xung lớn nhất

Tang của góc tổn hao

Điện trở cách điện

Tổn hao tối đa

Bảng 2 - Giá trị của điện dung và của điện áp liên quan với cỡ của vỏ hộp

Điện áp danh định

...

...

...

Điện áp chủng loại *

Điện dung danh định (tính bằng nF và/hoặc μF)

Cỡ của vỏ hộp

...

...

...

Cỡ của vỏ hộp

Cỡ của vỏ hộp

* Nếu khác với điện áp danh định.

1.5  Ghi nhãn

Việc ghi nhãn và đóng gói tụ điện phải phù hợp với các yêu cầu trong 1.6 của TCVN 6749-2 (IEC 60384-2).

...

...

...

1.6  Thông tin đặt hàng

Đơn đặt hàng các tụ điện thuộc quy định kỹ thuật này phải chứa, ở dạng rõ ràng hoặc ở dạng mã hóa, các thông tin tối thiểu sau đây:

a) Điện dung danh định;

b) Dung sai của điện dung danh định;

c) Điện áp một chiều danh định;

d) Số hiệu và số phát hành của quy định kỹ thuật cụ thể và tham chiếu về kiểu.

1.7  Các hồ sơ chứng nhận của lô xuất xưởng

Yêu cầu/không yêu cầu.

1.8  Thông tin bổ sung

...

...

...

1.9  Mức khắc nghiệt hoặc yêu cầu bổ sung hoặc tăng cao cho các quy định trong quy định kỹ thuật chung và/hoặc quy định kỹ thuật từng phần

CHÚ THÍCH: Các yêu cầu bổ sung hoặc tăng cao chỉ cần quy định khi nhất thiết.

Bảng 3 - Các đặc tính khác

Bảng này được sử dụng để xác định các đặc tính bổ sung hoặc khắc nghiệt hơn so với các đặc tính quy định trong quy định kỹ thuật từng phần.

2  Yêu cầu kiểm tra

2.1  Quy trình

2.1.1  Khi chấp nhận chất lượng, các quy trình phải phù hợp với quy định kỹ thuật từng phần trong 3.4 của TCVN 6749-2 (IEC 60384-2).

2.1.2  Khi kiểm tra về phù hợp chất lượng, bảng kê thử nghiệm (Bảng 4) bao gồm việc lấy mẫu, định kỳ, mức khắc nghiệt và các yêu cầu. Việc tạo thành các lô kiểm tra được nêu trong Điều 3.5.1 của TCVN 6749-2 (IEC 60384-2).

Bảng 4 - Bảng kê kiểm tra sự phù hợp về chất lượng

...

...

...

D hoặc ND^c)

Điều kiện thử nghiệm^1^)

IL

Mức E

Mức EZ

Yêu cầu về tính năng^a)

AQL ^c)

...

...

...

c

Kiểm tra nhóm A

(theo lô)

Phân nhóm A0

4.3.2  Điện dung

4.3.3  Tang của góc tổn hao

4.3.1  Chịu điện áp (Thử nghiệm A)

...

...

...

ND

Tần số: 1 kHZ đối với tất cả các giá trị điện dung

Phương pháp:...

...

...

...

Điểm đo 1a

100 %^d^)

...

...

...

Như ở 4.3.3.2

Không có phóng điện đánh thủng hoặc phóng điện bề mặt

Cho phép phóng điện đánh thủng tự phục hồi

Như ở 4.3.4.3

Phân nhóm A1

4.1  Kiểm tra bằng mắt

...

...

...

ND

S-3

2,5 %

^b)

0

Như ở 4.1

Ghi nhãn rõ ràng và như quy định ở 1.5 của quy định kỹ thuật này

...

...

...

Phân nhóm A2

4.2.2  Điện dung

4.2.3  Tang của góc tổn hao

4.2.1  Chịu điện áp (Thử nghiệm A)

4.2.4  Điện trở cách điện (Thử nghiệm A)

ND

S-3

1,0%

...

...

...

0

Trong khoảng dung sai quy định

Như ở 4.2.3.2

Không có phóng điện đánh thủng hoặc phóng điện bề mặt

Như ở 4.2.4.2

Kiểm tra nhóm B

(theo lô)

Phân nhóm B1

...

...

...

4.15  Khả năng chịu dung môi của ghi nhãn (nếu áp dụng)

ND

...

...

...

Không lão hóa Phương pháp:...

Dung môi:...

Nhiệt độ dung môi:... Phương pháp 1

Vật liệu chà sát:...

...

...

...

S-3

2,5 %

^b^)

...

...

...

0

Độ bám thiếc tốt với bằng chứng là dòng thiếc hàn chảy tự do bám thiếc các đầu nối hoặc hợp kim hàn phải chảy trong... s, nếu áp dụng

Ghi nhãn rõ ràng.

Bảng 4 (tiếp theo)

...

...

...

D hoặc ND ^c^)

Điều kiện thử nghiệm^1^)

Cỡ mẫu và tiêu chí chấp nhận ^c)

Yêu cầu về tính năng^a)

E

EZ

p

n

c

...

...

...

n

c

Kiểm tra nhóm C

(định kỳ)

...

...

...

Phân nhóm C1A

Phần của bộ mẫu thuộc Phân nhóm C1

...

...

...

6

9

1

6

5

...

...

...

4.1  Kích thước (chi tiết)

...

...

...

Xem quy định kỹ thuật cụ thể

4.3.1  Phép đo ban đầu

...

...

...

Điện dung

Tang của góc tổn hao:

Đối với C_R > 1 μF: ở 1 kHz

        CR≤1 μF: ở 10 kHz

...

...

...

4.3  Độ vững chắc của các chân

Kiểm tra bằng mắt

...

...

...

Không có hư hại nhìn thấy được

4.4  Khả năng chịu nhiệt hàn

Phương pháp:

...

...

...

4.14  Khả năng chịu dung môi của linh kiện (nếu áp dụng)

...

...

...

Dung môi:...

Nhiệt độ dung môi:... Phương pháp 2

Thời gian phục hồi:...

...

...

...

Xem quy định kỹ thuật cụ thể

4.4.2  Phép đo kết thúc

Kiểm tra bằng mắt

...

...

...

Không có hư hại nhìn thấy được

Ghi nhãn rõ ràng

Điện dung

...

...

...

ΔC/C ≤ 2 % của giá trị đo được ban đầu

Tang của góc tổn hao:

...

...

...

Tang δ tăng lên

≤ 0,003 với C ≤ 1 μF Cấp 1

≤ 0,002 với C > 1 μF Cấp 1

...

...

...

≤ 0,003 với C > 1 μF Cấp 2

so với các giá trị đo được ở 4.3.1

Phân nhóm C1B

Phần còn lại của bộ mẫu thuộc Phân nhóm C1

D

6

18

...

...

...

6

5

0

Không có hư hại nhìn thấy được

4.6.1  Phép đo ban đầu

...

...

...

Điện dung

Tang của góc tổn hao:

Đối với CR > 1 μF: ở 1 kHz

   C_R≤1 μF: ở 10 kHz

...

...

...

4.6  Thay đổi nhanh nhiệt độ

T_A = Nhiệt độ dưới của chủng loại

T_B - Nhiệt độ trên của chủng loại

5 chu kỳ

...

...

...

4.7  Rung

...

...

...

Xem 1.1 của quy định kỹ thuật này

Dải tần số:

... Hz đến... Hz

Biên độ 0,75 mm hoặc gia tốc 100 m/s^2 (chọn phương án ít khắc nghiệt hơn)

Thời gian tổng: 6 h

...

...

...

4.7.2  Kiểm tra cuối cùng

Kiểm tra bằng mắt

...

...

...

Không có hư hại nhìn thấy được

4.8  Va đập (hoặc xóc, xem 4.9)

...

...

...

Phương pháp gắn kết: xem 1.1 của quy định kỹ thuật này

Số lượng va đập: ...

Gia tốc: ... m/s^2

Thời gian của xung:... ms

...

...

...

4.9  Xóc (hoặc va đập, xem 4.8)

...

...

...

Phương pháp gắn kết:

xem 1.1 của quy định kỹ thuật này

Gia tốc: ... m/s^2

Thời gian của xung:... ms

...

...

...

...

...

...

Kiểm tra bằng mắt

...

...

...

Không có hư hại nhìn thấy được

Điện dung

...

...

...

ΔC/C ≤ 5 % giá trị đo được ở 4.6.1

Tang của góc tổn hao

Điện trở cách điện

...

...

...

Tang δ tăng lên

≤ 0,003 với C ≤ 1 μF Cấp 1

≤ 0,002 với C > 1 μF Cấp1

≤ 0,005 với C ≤ 1 μF Cấp 2

≤ 0,003 với C > 1 μF Cấp 2

...

...

...

≥ 50% các giá trị ở 4.2.4.2

Phân nhóm C1

Bộ mẫu kết hợp các mẫu của các phân nhóm C1A và C1B

4.10  Trình tự khí hậu

D

...

...

...

6

27

2

6

10

0

...

...

...

4.10.2  Nhiệt khô

Nhiệt độ: Nhiệt độ trên của chủng loại

Thời gian: 16 h

...

...

...

4.10.3  Nhiệt ẩm, chu kỳ, Thử nghiệm Db, chu kỳ đầu tiên

...

...

...

4.10.4  Lạnh

...

...

...

Nhiệt độ: Nhiệt độ dưới của chủng loại

Thời gian: 2 h

...

...

...

4.10.5  Áp suất không khí thấp (nếu quy định kỹ thuật cụ thể yêu cầu)

Áp suất không khí: 8 kPa

...

...

...

4.10.5.3  Phép đo trung gian

Kiểm tra bằng mắt

...

...

...

Không có phóng điện đánh thủng, phóng điện bề mặt hoặc biến dạng có hại của vỏ

4.10.6  Nhiệt ẩm, chu kỳ, Thử nghiệm dB, các chu kỳ còn lại

...

...

...

4.10.6.2  Phép đo kết thúc

Kiểm tra bằng mắt

...

...

...

Không có hư hại nhìn thấy được

Ghi nhãn rõ ràng.

Điện dung

...

...

...

ΔC/C ≤ 5 % giá trị đo được ở 4.4.2, 4.8.3 hoặc 4.9.3 nếu áp dụng

Tang của góc tổn hao

...

...

...

...

...

...

≤ 0,005 với C ≤ 1 μF Cấp 1

≤ 0,003 với C > 1 μF Cấp1

≤ 0,008 với C ≤ 1 μF Cấp 2

≤ 0,005 với C > 1 μF Cấp 2

so với các giá trị đo được ở 4.3.1 hoặc 4.6.1 nếu áp dụng

Điện trở cách điện

...

...

...

≥ 50% các giá trị ở 4.2.4.2

Phân nhóm C2

4.11  Nóng ẩm. không đổi

D

...

...

...

6

15

1

6

10

0

4.11.1  Phép đo ban đầu

...

...

...

Điện dung

Tang của góc tổn hao ở 1 kHz

...

...

...

4.11.3  Phép đo kết thúc

Kiểm tra bằng mắt

...

...

...

Không có hư hại nhìn thấy được

Ghi nhãn rõ ràng

Điện dung

...

...

...

ΔC/C ≤ 5 % của giá trị đo được ở 4.11.1

Tang của góc tổn hao

...

...

...

Tang δ tang lên:

≤0,005 so với các giá trị đo được ở 4.11.1

Điện trở cách điện

...

...

...

≥ 50 % của giá trị ở 4.2.4.2

Phân nhóm C3

D

3

21

...

...

...

6

10

0

4.12  Chịu điện áp

Thời gian:

...

...

...

Cấp 2: 1 000 h

...

...

...

4.12.1  Phép đo ban đầu

Tụ điện

Tang của góc tổn hao:

Đối với C_R> 1 μF: ở 1 kHz

        C_R≤ 1 μF: ở 10 kHz

...

...

...

4.12.5  Phép đo kết thúc

...

...

...

Không có hư hại nhìn được

Ghi nhãn rõ ràng.

...

...

...

Điện dung

...

...

...

ΔC/C ≤ 5 % đối với Cấp 1

          ≤ 8% đối với Cấp 2

của giá trị đo được ở 4.12.1

Tang của góc tổn hao

...

...

...

Tang δ tăng lên

≤ 0,003 với C ≤ 1 μF Cấp 1

...

...

...

≤ 0,008 với C ≤ 1 μF Cấp 2

≤ 0,003 với C > 1 μF Cấp 2

so với các giá trị đo được ở 4.12.1

Điện trở cách điện

...

...

...

≥ 50% các giá trị ở 4.2.4.2

Phân nhóm C4

D

3

9

1

...

...

...

10

0

4.13  Nạp điện và phóng điện

...

...

...

4.13.1  Phép đo ban đầu

...

...

...

Điện dung

Tang của góc tổn hao:

Đối với C_R> 1 μF: ở 1 kHz

        C_R≤ 1 μF: ở 10 kHz

Thời gian nạp điện:... s

Thời gian phóng điện:... s

...

...

...

...

...

...

Điện dung

ΔC/C ≤ 3 % đối với Cấp 1,
ΔC/C ≤ 5 % đối với Cấp 2, của giá trị đo được ở 4.13.1

...

...

...

Tang δ tăng lên

≤ 0,003 với C ≤ 1 μF Cấp 1

≤ 0,002 với C > 1 μF Cấp1

...

...

...

≤ 0,003 với C > 1 μF Cấp 2

so với các giá trị đo được ở 4.13.1

Điện trở cách điện

...

...

...

^a) Số điều của các thử nghiệm và của các yêu cầu tính năng là số điều của quy định kỹ thuật từng phần TCVN 6749-2 (IEC 60384-2) và Điều 1 của quy định kỹ thuật này.

^b^) Số lượng cần được thử nghiệm: Cỡ mẫu được đành riêng trực tiếp cho chữ cái mã đối với IL trong Bảng 2A của IEC 60410 (Phương án lấy mẫu duy nhất đối với kiểm tra bình thường)

^c) Trong bảng này:

p = định kỳ (tính bằng tháng);

n = cỡ mẫu;

c = tiêu chí chấp nhận (số lượng cho phép các hạng mục không phù hợp);

D = phá hủy;

ND = không phá hủy;

IL = mức kiểm tra;

...

...

...

IEC 60410

^d) Thử nghiệm 100 % phải được tiếp tục bằng cách kiểm tra lại bằng cách lấy mẫu để theo dõi mức chất lượng đầu ra, tính bằng số các hạng mục không phù hợp trên một triệu (ppm). Mức lấy mẫu do nhà chế tạo xác định. Để tính toán các giá trị ppm, bất kỳ trường hợp tham số không đạt nào đều được tính như là một hạng mục không phù hợp. Trường hợp một hoặc nhiều hạng mục không phù hợp xảy ra trên một bộ mẫu, thì lô này phải bị loại bỏ.