Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 9852:2013 Chất dẻo - Xác định sự phơi nhiễm bức xạ - Hướng dẫn chung

• Số hiệu: TCVN9852:2013
• Loại văn bản: Tiêu chuẩn Việt Nam
• Nơi ban hành: ***
• Người ký: ***
• Ngày ban hành: Năm 2013

Loại thiết bị	Độ phân giải W.m^-2	Độ ổn định (trên năm) %	Nhiệt độ phản ứng^a %	Độ nhạy quang phổ %	Không tuyến tính %	Thời gian phản ứng s	Phản ứng định hướng^b %	Phản ứng độ nghiêng %
Trực xạ kế loại một	± 4	± 1	± 2	± 1	± 0,5	< 20	-	± 0,5
Nhật xạ kế loại một	± 5	± 1,5	± 2	± 5	± 1	< 30	± 2	± 2
Nhật xạ kế loại hai	± 10	± 5	± 4	± 10	± 3	< 60	± 3	± 3
^a trong khoảng 50 °C. ^b dành cho thành phần trực tiếp (ví dụ chùm sáng)

Bảng 2 - Quy định kỹ thuật đối với các thiết bị đo bức xạ chọn lọc quang phổ

Đặc điểm thiết bị

Loại thiết bị chọn lọc

Dải hẹp

Dải rộng

Dải rất rộng

Thiết bị đo phổ bức xạ

Dãy quang phổ, nm

^a

...

...

...

^a

^a

Chiều rộng toàn phần tại bán cực đại (FWHM), nm

< 20

20 đến 70

> 70

-

Chặn bức xạ ngoài dải

^a

...

...

...

^a

^a

Độ nhạy cosin (0° đến 60° từ điểm cao nhất), % độ lệch so với lý tưởng

± 4

± 4

± 4

± 6

Độ nhạy cosin (60° đến 80° từ điểm cao nhất), % độ lệch so với lý tưởng

± 7

...

...

...

± 7

± 8

Độ phân giải

0,05 W.m^-2 trên độ rộng dải

0,10 W.m^-2 trên độ rộng dải

0,20 W.m^-2 trên độ rộng dải

0,05
W.m^-^2.nm^-^1b

Dải nhiệt độ thành phần phơi nhiễm, ngoài trời, °C

-30 đến +50^c

...

...

...

-30 đến +50^c

-30 đến +50^c

Dải nhiệt độ thành phần không phơi nhiễm, trong nhà, °C

25 đến 60

25 đến 60

25 đến 60

25 đến 60

Hệ số nhiệt độ tối đa, % trên °C

0,1

...

...

...

0,1

2

Không tuyến tính, tất cả các dãy, %

2

2

2

2

Dải độ ẩm tương đối hoạt động, %

0 đến 100

...

...

...

0 đến 100

0 đến 100

CHÚ THÍCH: Thông tin bổ sung về hiệu chính cosin được đưa ra trong EN 13032-1. Hiệu chính cosin là cần thiết nếu bức xạ xảy ra trên mẫu đến từ các hướng khác nhau.

^a Điều này sẽ được xác định bằng các yêu cầu ứng dụng hoặc các yêu cầu thử nghiệm phơi nhiễm. Tham vấn với đại diện về kỹ thuật của nhà sản xuất thiết bị hoặc người có kiến thức về phép đo bức xạ quang học. Xem 5.3.4 đối với các chi tiết về các yêu cầu chặn bức xạ ngoài dải. Khi các thiết bị đo bức xạ chọn lọc quang phổ được sử dụng, bộ lọc của chúng sẽ ngăn chặn tất cả bức xạ bên ngoài phép đo dải phổ để tránh xuất hiện các lỗi nghiêm trọng. Tuy nhiên, rò rỉ ngoài dải có thể chấp nhận được nếu nguồn sáng phòng thử nghiệm được đo không tạo ra bức xạ trong các bước sóng khi rò rỉ xảy ra.

^b Đối với thiết bị đo bức xạ quang học, thuật ngữ này thường được gọi một cách thích hợp hơn là độ phân dải quang học. Các phép đo bức xạ kế quang học đáng tin cậy của UVB mặt trời dưới 303 nm đòi hỏi độ phân dải quang học hơn 3 mW.m^-2.nm^-1.

^c Đối với nhiều thiết bị đo bức xạ, hệ số phản ứng nhiệt (COT) không được nhà sản xuất bảo đảm khi dụng cụ được sử dụng tại nhiệt độ trên 50 °C. Nhiệt điện trở/điện trở phải được thay thế để đạt được mức thời gian sử dụng hữu ích tại nhiệt độ hoạt động lớn hơn 50 °C (thông thường đạt đến 60 °C).

5.2. Các thiết bị đo bức xạ không chọn lọc (xem Bảng 1)

5.2.1. Nhật xạ kế: nên sử dụng nhật xạ kế phù hợp với Hướng dẫn của WMO hoặc nhật xạ kế loại hai quy định tại ISO 9060 hoặc loại tốt hơn.

5.2.1.1. Khi phơi nhiễm bức xạ mặt trời được yêu cầu phải đo tại góc phơi nhiễm nhất định, điều quan trọng là mặt phẳng của bộ nhận ảnh phải được duy trì tại cùng góc nghiêng như mặt phẳng của giá phơi nhiễm (ví dụ tại 45°, tại góc vĩ độ, tại 5°, nằm ngang hoặc theo hướng mặt trời sun-following). Để đánh giá chính xác bức xạ tới trên giá phơi nhiễm, góc nghiêng của thiết bị đo bức xạ phải là ± 2° của góc giá phơi nhiễm. Đồng thời, để đo chính xác tổng bức xạ mặt trời, điều quan trọng là góc tiếp nhận hoặc trường quan sát của bộ thu quang của thiết bị là 2p steradian (nghĩa là 180°) và được hiệu chính cosin để đạt được hoặc vượt các yêu cầu đối với thiết bị loại hai ISO 9060.

...

...

...

5.2.2. Trực xạ kế: nên sử dụng trực xạ kế quy định tại ISO 9060 hoặc trực xạ kế loại một của WMO.

5.2.2.1. Khi các phép đo bức xạ được thực hiện bằng trực xạ kế, điều rất quan trọng là thiết bị có trường quan sát giữa 5° và 7° và phù hợp với các yêu cầu đối với dụng cụ loại một WMO hoặc ISO 9060. Loại thiết bị này được yêu cầu để thực hiện phép đo bức xạ tới trên các thiết bị phong hóa tăng tốc bên ngoài hệ gương hội tụ phản chiếu Fresnel (xem TCVN 9849-3 (ISO 877-3) và ASTM G 90).

5.2.2.2. Các giá trị phơi nhiễm phải được biểu thị bằng oát trên mét vuông đối với chiếu xạ và bằng jun trên mét vuông đối với tổng phơi nhiễm bức xạ. Cần thiết đối với các trực xạ kế không chọn lọc quang phổ được hiệu chuẩn sao cho sự hiệu chuẩn có thể liên kết đến chuẩn bức xạ kế thế giới (WRR).

5.3. Các thiết bị đo bức xạ chọn lọc (UV) (xem Bảng 2)

5.3.1. Detector bao gồm một bộ cảm biến, bộ lọc thích hợp và nếu được yêu cầu, một bộ phận thu nhận cosin.

5.3.2. Các bộ lọc dải rộng có FWHM lớn hơn 20 nm nhưng thường không vượt quá 70 nm.

5.3.3. Các bộ lọc dải hẹp được nhận dạng bởi CW của chúng và có FWHM nhỏ hơn 20 nm.

5.3.4. Tổng phản hồi của detector là hàm số của chiếu xạ quang phổ nhận được từ nguồn, cùng với việc truyền quang phổ của bộ lọc và phản hồi quang phổ của detector. Vì vậy, điều rất quan trọng là bức xạ không mong muốn phải bị chặn bức xạ hoàn toàn. Sự truyền của bộ lọc dải hẹp trong vùng chặn bức xạ (trong 40 nm của bước sóng cận trên và bước sóng cận dưới) không được vượt quá 0,001 % đối với các phép đo UVB dải hẹp và 0,01 % đối với các thiết bị đo bức xạ UVA dải rộng.

5.3.5. Dải phổ cũng có thể được kiểm soát bằng cách sử dụng việc kết hợp các bộ lọc. Điều này có thể thực hiện được bằng cách kết hợp các bộ lọc cho sóng ngắn và sóng dài qua, nghĩa là các bộ lọc cận dưới và cận trên. FWHM và chặn bức xạ được xác định bằng việc kết hợp các bộ lọc được chọn lọc.

...

...

...

5.4.1. Năng lượng bức xạ được chuyển đổi bởi detector thành tín hiệu điện sẽ được khuếch đại, nếu cần thiết, và hiển thị trên thiết bị đo thích hợp mà đã được hiệu chuẩn để chỉ ra tín hiệu tức thời (chiếu xạ) và tín hiệu tích hợp (phơi nhiễm bức xạ) mà có thể được hiển thị không bắt buộc bằng biểu đồ trong đồ thị. Thông thường, tín hiệu mạnh thích hợp được thu sử dụng máy ghi dữ liệu có số kênh cần thiết. Phụ thuộc vào máy ghi dữ liệu, tín hiệu có thể được xử lý bằng máy ghi dữ liệu nhằm cung cấp chiếu xạ và phơi nhiễm bức xạ theo yêu cầu hoặc nó có thể được lưu giữ và xử lý cho sử dụng bên ngoài, ví dụ, ứng dụng bảng tính.

5.4.2. Trong trường hợp thiết bị đo bức xạ bị nghiêng lệch, phải cung cấp các phương tiện để điều chỉnh “zero” và khoảng chênh.

6. Hiệu chuẩn

6.1. Yêu cầu chung

6.1.1. Người vận hành phải thực hiện thường xuyên kiểm tra hiệu chuẩn thiết bị đo bức xạ. Đối với các thiết bị đo bức xạ UV, thiết bị đo bức xạ phải được nhà sản xuất hoặc phòng thử nghiệm hiệu chuẩn có năng lực hiệu chuẩn ít nhất một lần mỗi năm, hoặc có thể tình trạng hiệu chuẩn của thiết bị phải được kiểm tra theo định kỳ so với thiết bị đo bức xạ chuẩn hiệu chuẩn mà chức năng duy nhất của thiết bị này là dùng để tham chiếu. Đối với các trực xạ kế và nhật xạ kế loại hai và loại một WMO, hiệu chuẩn lại được thực hiện bởi nhà sản xuất, phòng thử nghiệm hiệu chuẩn có năng lực hoặc sử dụng nội bộ thiết bị đo bức xạ tiêu chuẩn phòng thử nghiệm phù hợp với ISO 9847 hoặc ASTM E 816 hoặc ASTM E 824 phải được thực hiện tại các khoảng thời gian thích hợp.

CHÚ THÍCH: Trừ khi đòi hỏi việc hiệu chuẩn lại thường xuyên hơn theo yêu cầu kiểm tra, các trực xạ kế và nhật xạ kế loại một WMO và ISO 9060 thường không yêu cầu hiệu chuẩn lại thường xuyên quá hai năm một lần.

6.1.2. Đối với nhiều loại thiết bị đo bức xạ được sử dụng đo các phơi nhiễm tự nhiên (ví dụ nhật xạ kế pin nhiệt điện ISO loại hai), hiệu chuẩn tại góc nghiêng mà tại đó dụng cụ được sử dụng là tốt hơn. Hiệu chuẩn tại góc nghiêng không quan trọng đối với các nhật xạ kế toàn cầu loại một WMO (hoặc tốt hơn) và ISO hoặc đối với nhiều thiết bị đo bức xạ có bộ lọc nhạy quang có độ chính xác hơn 2 %. Đối với các thiết bị đo bức xạ UV, độ nhạy cosin tốt là rất quan trọng vì ngay cả khi sai lệch nhỏ so với định luật cosin có thể gây ra sai số hiệu chuẩn. Hiệu chuẩn thiết bị đo bức xạ UV tại góc nghiêng được khuyến nghị nhằm đạt được các phép đo chính xác nhất. Điều này đặc biệt quan trọng khi chúng được sử dụng trong điều kiện khí hậu mà ở đó có tỷ lệ tia tử ngoại khuếch tán cao đối với bức xạ tia tử ngoại chùm.

6.1.3. Đối với việc hiệu chuẩn các thiết bị đo bức xạ được sử dụng cho các thử nghiệm phơi nhiễm phòng thử nghiệm, thiết bị đo bức xạ phải được lắp đặt sao cho bề mặt bộ nhận ảnh vuông góc với trục quang học của nguồn bức xạ. Thiết bị đo bức xạ tốt nhất nên được hiệu chuẩn theo các điều kiện xấp xỉ, gần nhất có thể với các điều kiện các phép đo phạm vi được thực hiện. Có thể cần thiết sử dụng hệ số chuyển đổi phù hợp với các khuyến nghị của nhà sản xuất.

6.2. Thiết bị đo bức xạ trường và chuẩn

...

...

...

6.2.2. Hiệu chuẩn các trực xạ kế theo ISO 9059. Hiệu chuẩn các nhật xạ kế theo ISO 9846. Việc truyền hiệu chuẩn từ các thiết bị đo bức xạ chuẩn sang các thiết bị đo bức xạ được sử dụng trong trường phải phù hợp với ISO 9847.

CHÚ THÍCH: ASTM E 816, ASTM E 824 và ASTM G 67 có quy trình hiệu chuẩn tương tự như ISO 9059 và ISO 9846, nhưng bao gồm thông tin bổ sung về độ không đảm bảo đo của hiệu chuẩn và phép đo.

6.3. Thiết bị đo bức xạ chuẩn chọn lọc

6.3.1. Trừ khi được quy định khác, các thiết bị đo bức xạ chuẩn chọn lọc quang phổ phải được hiệu chuẩn phù hợp với ASTM G 130 bằng cách so sánh tín hiệu của chúng với các phép đo chiếu xạ quang phổ tích hợp được thực hiện bởi thiết bị đo bức xạ phổ. Trừ khi được quy định khác, thiết bị đo bức xạ phổ phải được hiệu chuẩn phù hợp với ASTM G 138. Tích hợp dữ liệu thiết bị đo bức xạ phổ đối với dải phổ của thiết bị đo bức xạ bộ lọc. Đối với các thiết bị đo bức xạ có bộ lọc được sử dụng để đo bức xạ mặt trời, sử dụng mặt trời làm nguồn sáng. Đối với các thiết bị đo bức xạ có bộ lọc được sử dụng để đo các nguồn sáng thử nghiệm, sử dụng cùng loại và cùng kiểu nguồn sáng như được sử dụng trong thử nghiệm phơi nhiễm.

6.3.2. Đối với các thiết bị phong hóa tăng tốc phòng thử nghiệm, thiết bị đo bức xạ chuẩn được sử dụng để hiệu chuẩn thiết bị đo bức xạ trường phải được hiệu chuẩn trong vùng phát xạ của nguồn sáng được sử dụng. Trừ khi có quy định khác, hiệu chuẩn các thiết bị đo bức xạ tia tử ngoại chuẩn dải hẹp hoặc rộng có thiết bị đo bức xạ phổ phải được tiến hành phù hợp với ASTM G 130. Thiết bị đo bức xạ chuẩn phải được hiệu chuẩn sử dụng nguồn sáng cùng loại với nguồn sáng sẽ được sử dụng để thử nghiệm, và hiệu chuẩn phải được tiến hành sử dụng buồng thử nghiệm có hình dạng tương tự (nghĩa là đèn đến cùng hướng và khoảng cách mặt phẳng mẫu) như được sử dụng đối với thiết bị đo bức xạ trường. Hiệu chuẩn phải được kiểm tra phù hợp với các chỉ dẫn của nhà sản xuất về thiết bị đo bức xạ.

6.3.3. Các quy trình hiệu chuẩn khác có thể được sử dụng nếu nó có thể chỉ ra rằng chúng mang lại độ không đảm bảo nhỏ hơn ± 10 % (tại mức độ tin cậy 95 %) trong vùng UV từ 300 nm đến 400 nm.

6.3.4. Khi được sử dụng với các nguồn có sự phân bố bức xạ phổ khác, thiết bị đo bức xạ phải được điều chỉnh đối với nguồn đó.

6.3.5. Để tính toán hằng số hiệu chuẩn (hoặc hằng số độ nhạy), dữ liệu chiếu xạ quang phổ nhận được bởi thiết bị đo phổ bức xạ phải được tích hợp đối với dải bước sóng thích hợp.

6.3.6. Hiệu chuẩn toàn bộ thiết bị đo bức xạ mà có thể liên kết đến cơ quan tiêu chuẩn về bức xạ được công nhận phải được tiến hành ít nhất mỗi năm một lần. Nên thực hiện các hiệu chuẩn thường xuyên hơn.

...

...

...

6.4. Thiết bị đo bức xạ trường chọn lọc

6.4.1. Đối với phép đo bức xạ mặt trời, việc truyền hiệu chuẩn từ các thiết bị đo bức xạ chuẩn chọn lọc quang phổ sang các thiết bị đo bức xạ trường chọn lọc quang phổ phải được thực hiện phù hợp với ISO 9847 hoặc ASTM E 824. Khi hiệu chuẩn truyền sang các thiết bị đo bức xạ trường, tốt nhất là sử dụng thiết bị đo bức xạ chuẩn của cùng nhà sản xuất, cùng loại và mẫu mã như thiết bị đo bức xạ trường được hiệu chuẩn và điều quan trọng là thiết bị đo bức xạ chuẩn có chức năng phân loại độ nhạy quang phổ và độ nhạy cosin đồng nhất đối với chức năng của thiết bị đo bức xạ trường được hiệu chuẩn. Đối với mục đích này, hàm độ nhạy quang phổ do nhà sản xuất cung cấp sẽ luôn thích hợp.

6.4.2. Độ rộng dải quang phổ và đặc tính độ nhạy của thiết bị đo bức xạ phải được xác định và báo cáo.

6.5. Các yêu cầu khác

6.5.1. Bằng quy trình hiệu chuẩn, thiết bị đo bức xạ phải biểu thị các giá trị tuyệt đối của chiếu xạ, tính bằng W.m^-2, đối với tổng bức xạ bán cầu được đo bằng các thiết bị đo bức xạ không chọn lọc quang phổ. Đối với các thiết bị đo bức xạ chọn lọc quang phổ, giá trị tuyệt đối của chiếu xạ, tính bằng W.m^-2, phải được đưa ra trong dải phổ quy định. Hằng số hiệu chuẩn của dạng W.m^-2.V^-1 đối với các dải quang phổ được chỉ ra ở trên có thể được sử dụng.

6.5.2. Độ nhạy cosin và độ nhạy nhiệt độ của tất cả các thiết bị đo bức xạ được sử dụng phải được người sử dụng xác định (hoặc được biết đến và được ghi lại). Các yêu cầu kỹ thuật của nhà sản xuất luôn luôn phù hợp với mục đích này.

7. Cách tiến hành

7.1. Phong hóa tự nhiên - Phơi nhiễm theo hướng xích đạo hoặc góc cố định

7.1.1. Lắp detector chắc chắn và cố định trên giá hoặc bàn, có mặt phẳng bộ thu quang được lắp trong mặt phẳng song song với mặt phẳng của mẫu thử đang được phơi nhiễm, ví dụ tại 0° (nằm ngang đường chân trời), tại 45°, tại góc vĩ độ hoặc tại một số hướng như đã thỏa thuận khác, với dung sai ± 2°. Đảm bảo rằng thiết bị đo bức xạ được lắp tại độ cao trên mặt đất mà không ít hơn khoảng cách từ mặt đất đến nửa độ cao của giá phơi nhiễm ± 5 %.

...

...

...

7.1.3. Ghi lại và cộng dồn tổng chiếu xạ hàng ngày để thiết lập các mức phơi nhiễm theo yêu cầu.

7.2. Phong hóa tự nhiên tăng tốc - Hệ gương hội tụ phản chiếu Fresnel sử dụng các phơi nhiễm mặt trời tập trung

7.2.1. Thành phần trực tiếp của tổng bức xạ mặt trời phải được đo sử dụng trực xạ kế loại một đã được hiệu chuẩn phù hợp với các tiêu chuẩn được công nhận. Các quy trình hiệu chuẩn được nêu tại ISO 9059 và ASTM E 816. Đo thành phần trực tiếp của bức xạ tia tử ngoại mặt trời theo ASTM G 90 sử dụng một cặp theo dõi các thiết bị đo bức xạ tia tử ngoại, một trong số đó liên tục được che bóng để loại trừ thành phần trực tiếp. Tính toán thành phần trực tiếp là sự chênh lệch số liệu giữa thiết bị đo bức xạ tia tử ngoại che bóng và không che. Hiệu chuẩn các thiết bị đo bức xạ tia tử ngoại theo ASTM G 130, có sự truyền hiệu chuẩn từ thiết bị đo bức xạ chuẩn đến thiết bị đo bức xạ trường phù hợp với ISO 9847 hoặc ASTM E 824.

Ống so sánh nhật xạ kế có trường quan sát 6° có thể được sử dụng làm phần gắn kết với thiết bị đo bức xạ UV để hút giữ bức xạ khuếch tán (bầu trời), miễn là nó có thể được chỉ ra là tương đương hoặc tốt hơn phương pháp dùng đĩa che.

7.2.2. Điều quan trọng là hai thiết bị đo bức xạ tia tử ngoại cung cấp cùng giá trị chiếu xạ khi cùng được lắp trên cùng bệ. Vì vậy, chúng phải được so sánh với nhau trên cơ sở ít nhất là hàng tháng và phải được hiệu chuẩn lại bất kỳ khi nào độ nhạy của chúng chênh nhau hơn ± 2 %.

7.2.3. Kiểm tra cơ chế đồng chỉnh khung của nhật xạ kế ít nhất hàng tuần nhằm đảm bảo rằng trường quan sát của thiết bị đo bức xạ đối diện chính xác với đĩa bức xạ mặt trời.

7.3. Phong hóa tăng tốc nhân tạo hoặc chiếu xạ tăng tốc nhân tạo

7.3.1. Detector có thể được lắp bên cạnh các mẫu thử nếu nó được thiết kế để hoạt động trong môi trường như vậy, trong trường hợp này cần phải lắp sao cho mặt phẳng bộ phận tiếp nhận của detector đồng phẳng với bề mặt mẫu thử nghiệm. Nếu mặt phẳng của bộ phận thu nhận không nằm trong mặt phẳng song song với mặt phẳng mẫu thử nghiệm, độ nhạy của thiết bị đo bức xạ phải được điều chỉnh để chỉ báo chiếu xạ tại khoảng cách mẫu và trong mặt phẳng của mẫu.

7.3.2. Cặn của các chất rắn bay hơi hoặc hơi ẩm trên bộ lọc đèn, bề mặt phản chiếu và bề mặt ngoài của bộ phận thu nhận sẽ ảnh hưởng phép đo bức xạ. Có thể cần thiết, đặc biệt khi thực hiện tại nhiệt độ cao và độ ẩm cao, làm sạch những bề mặt này hàng ngày. Làm sạch bề mặt kính của bộ phận thu nhận bằng một miếng vải mềm (ví dụ vải muxơlin) được làm ẩm bằng cồn. Đối với các bề mặt khác (ví dụ những bề mặt có tiêu chuẩn phản chiếu), sử dụng chất làm sạch và quy trình làm sạch do nhà sản xuất thiết bị khuyến nghị.

...

...

...

8. Báo cáo phơi nhiễm

Báo cáo phơi nhiễm phải bao gồm những thông tin sau:

a) Phơi nhiễm bức xạ phổ, tính bằng jun trên mét vuông trên nano mét của dải phổ (J.m^-2.nm^-1), hoặc phơi nhiễm bức xạ, tính bằng jun trên mét vuông (J.m^-2), đối với dải bước sóng dài xác định;

b) Chiếu xạ quang phổ, tính bằng oát trên mét vuông trên nano mét của dải phổ (W.m^-2.nm^-1), hoặc chiếu xạ, tính bằng oát trên mét vuông (W.m^-2), đối với dãy bước sóng dài xác định khi được sử dụng để điều khiển phơi nhiễm trong các thử nghiệm phòng thử nghiệm;

c) Thời gian trôi qua cần thiết để cộng dồn phơi nhiễm bức xạ;

d) Ngày phơi nhiễm nếu phong hóa tự nhiên hoặc phơi nhiễm tập trung mặt trời được thực hiện;

e) Nhà sản xuất thiết bị đo bức xạ được sử dụng và kiểu mẫu;

f) Nếu được yêu cầu, quy trình được sử dụng để hiệu chuẩn thiết bị đo bức xạ chuẩn chọn lọc;

g) Nếu được yêu cầu, quy trình được sử dụng để hiệu chuẩn Thiết bị đo phổ bức xạ;

...

...

...

Phụ lục A

(Tham khảo)

So sánh các thiết bị đo bức xạ UV dải rất rộng điển hình

Đối với các mục đích thực tiễn, thiết bị đo bức xạ có phản hồi giống gauss có tính phản xạ thấp đáng kể tại bước sóng 295 nm không có khả năng phát hiện thay đổi trong chiếu xạ quang phổ tại các bước sóng dưới 305 nm. Tuy nhiên, các thiết bị đo bức xạ được hiệu chuẩn đến cận trên bước sóng dài 385 nm đo xấp xỉ 10 W.m^-2 ít năng lượng tia tử ngoại hơn thiết bị đo bức xạ có cận trên tại 400 nm dưới các điều kiện bầu trời quang vĩ độ trung bình, thời gian ban trưa tại tia tới vuông góc đối với mặt trời. Bảng A.1 chỉ ra tổng các chiếu xạ UV được đo như thế nào được ghi lại trên cơ sở ngày có thể dao động tùy thuộc vào bước sóng hiệu chuẩn của thiết bị đo bức xạ được sử dụng. Bảng A.2 chỉ ra tổng chiếu xạ UV được đo như thế nào trong một năm tại một địa điểm có thể dao động phụ thuộc vào bước sóng hiệu chuẩn của thiết bị đo bức xạ được sử dụng.

Bảng A.1 - Các phép đo chiếu xạ bán cầu, tính bằng W.m^-2, gần buổi trưa mặt trời sử dụng các thiết bị đo bức xạ UV dải rộng khác nhau

Thời gian mặt trời (ngày Julian) và địa điểm

Chiếu xạ (W.m^-^2)

Tỷ lệ

...

...

...

Tỷ lệ

Z/Y

Tỷ lệ

Z/X

X

(295 nm đến 385 nm)

Y

(315 nm đến 400 nm)

Z

...

...

...

12:58 (J51), New River, Arizona

41,95

52,86

53,97

1,260

1,021

1,287

11:00 (J52), West Phoenix, Arizona

39,97

...

...

...

51,61

1,263

1,022

1,291

13:11 (J176), New River, Arizona

49,35

60,46

62,29

1,225

...

...

...

1,258

Bảng A.2 - Phơi nhiễm bức xạ được đo trong một năm

Địa điểm và thời gian đo

Phơi nhiễm bức xạ (MJ/m^2)

Tỷ lệ

X

(xấp xỉ 295 nm đến 385 nm)

Y

(xấp xỉ 315 nm đến 400 nm)

...

...

...

(xấp xỉ 300 nm đến 400 nm)

Choshi (Nhật Bản), 30° Nam, 1992

229,37

-

287,01

1,251 (Z/X)

Choshi (Nhật Bản), đường chân trời, 2001

-

294,88

...

...

...

1,046 (Z/Y)

CHÚ THÍCH: Các tín hiệu quang phổ khác nhau của thiết bị đo bức xạ dải rộng đo trong cùng dải phổ cũng có thể sản sinh các kết quả khác nhau.

THƯ MỤC TÀI LIỆU THAM KHẢO

[1] EN 13032-1, Light and lighting - Measurement and presentation of photometric data of lamps and luminaires - Measurement and file format (Ánh sáng và chiếu sáng - Phép đo và trình bày dữ liệu đo sáng của đèn và nguồn phát sáng - Phép đo và định dạng tài liệu)

[2] ASTM E816, Standard Test Method for Calibration of Pyrheliometers by Comparison to Reference Pyrheliometers (Phương pháp thử tiêu chuẩn đối với hiệu chuẩn các trực xạ kế bằng so sánh với các trực xạ kế chuẩn)

[3] ASTM E824, Standard Test Method for Transfer of Calibration From Reference to Field Radiometers (Phương pháp thử tiêu chuẩn đối với hiệu chuẩn từ tham chiếu đến các thiết bị đo bức xạ trường phạm vi)

[4] ASTM G7, Standard Practice for Atmospheric Environmental Exposure Testing of Nonmetallic Materials (Tiêu chuẩn thực hành đối với thử nghiệm phơi nhiễm môi trường khí quyển của vật liệu phi kim loại)

[5] ASTM G24, Standard Practice for Conducting Exposures to Daylight Filtered Through Glass (Tiêu chuẩn thực hành đối với việc thực hiện các phơi nhiễm qua kính lọc ánh sáng ban ngày)

...

...

...

[7] ASTM G151, Standard Practice for Exposing Nonmetallic Materials in Accelerated Test Devices that Use Laboratory Light Sources (Tiêu chuẩn thực hành đối với việc phơi nhiễm vật liệu phi kim loại trong thiết bị thử nghiệm tăng tốc sử dụng các nguồn sáng phòng thử nghiệm)

[8] ASTM G152, Standard Practice for Operating Open Flame Carbon Arc Light Apparatus for Exposure of Nonmetallic Materials (Tiêu chuẩn thực hành đối với việc thao tác các dụng cụ ánh sáng hình cung cácbon lửa mở đối với phơi nhiễm vật liệu phi kim loại)

[9] ASTM G153, Standard Practice for Operating Enclosed Carbon Arc Light Apparatus for Exposure of Nonmetallic Materials (Tiêu chuẩn thực hành đối với việc thao tác các dụng cụ ánh sáng hình cung cácbon đóng đối với phơi nhiễm vật liệu phi kim loại)

[10] ASTM G154, Standard Practice for Operating Fluorescent Ultraviolet (UV) Lamp Apparatus for Exposure of Nonmetallic Materials (Tiêu chuẩn thực hành đối với việc thao tác các dụng cụ ánh sáng huỳnh quang đối với phơi nhiễm UV các vật liệu phi kim loại)

[11] ASTM G155, Standard Practice for Operating Xenon Arc Light Apparatus for Exposure of Non-Metallic Materials (Tiêu chuẩn thực hành đối với việc thao tác các dụng cụ ánh sáng hình cung đối với phơi nhiễm vật liệu phi kim loại)

[12] ASTM G167, Standard Test Method for Calibration of a Pyranometer Using a Pyrheliometer (Phương pháp thử tiêu chuẩn đối với hiệu chuẩn nhật xạ kế sử dụng trực xạ kế)

[13] ISO 4892-1, Plastics - Methods of exposure to laboratory light sources - Part 1: General guidance (Chất dẻo - Phương pháp phơi nhiễm đối với nguồn sáng phòng thử nghiệm - Phần 1: Hướng dẫn chung)

[14] ISO 4892-2, Plastics - Methods of exposure to laboratory light sources - Part 2: Xenon-arc lamps (Chất dẻo - Phương pháp phơi nhiễm đối với nguồn sáng phòng thử nghiệm – Phần 2: Đèn cung xenon)

[15] ISO 4892-3, Plastics - Methods of exposure to laboratory light sources - Part 3: Fluorescent UV lamps (Chất dẻo - Phương pháp phơi nhiễm đối với nguồn sáng phòng thử nghiệm - Phần 3: Đèn UV huỳnh quang)

...

...

...

[17] ISO 11341, Paints and varnishes - Artificial weathering and exposure to artificial radiation - Exposure to tiltered xenon-arc radiation (Sơn và vécni - Phong hóa nhân tạo và phơi nhiễm đối với bức xạ nhân tạo - Phơi nhiễm với bức xạ hình cung xenon lọc)

[18] ISO 11507, Paints and varnishes - Exposure of coatings to artificial weathering - Exposure to fluorescent UV lamps and water (Sơn và vécni - Phơi nhiễm lớp phủ ngoài đối với phong hóa nhân tạo - Phơi nhiễm với nước và đèn UV huỳnh quang)

[19] Woolliams, E.R., Fox, N.P., Cox, M.G., Harris, P.M. và Harrison, N.J., Final report on CCPR K1-a: Spectral irradiance from 250 nm to 2 500 nm (Báo cáo cuối cùng về CCPR K1-a: Chiếu xạ quang phổ từ 250 nm đến 2500 nm), Metrologia, 43 (2006), Tech. Suppl., 02003

MỤC LỤC

Lời nói đầu

Lời giới thiệu

1. Phạm vi áp dụng

2. Tài liệu viện dẫn

...

...

...

4. Ý nghĩa và sử dụng

4.1. Các chú ý chung

4.2. Sự phong hóa tự nhiên - Phơi nhiễm góc cố định hoặc hướng xích đạo

4.3. Sự phong hóa tự nhiên tăng tốc - Các phơi nhiễm tập trung mặt trời sử dụng hệ gương hội tụ phản chiếu Fresnel

4.4. Sự phong hóa tăng tốc nhân tạo và chiếu xạ tăng tốc nhân tạo

5. Thiết bị, dụng cụ

5.1. Yêu cầu chung

5.2. Các thiết bị đo bức xạ không chọn lọc (xem Bảng 1)

5.3. Các thiết bị đo bức xạ chọn lọc (UV) (xem Bảng 2)

...

...

...

6. Hiệu chuẩn

6.1. Yêu cầu chung

6.2. Thiết bị đo bức xạ trường và chuẩn

6.3. Thiết bị đo bức xạ chuẩn chọn lọc

6.4. Thiết bị đo bức xạ trường chọn lọc

6.5. Các yêu cầu khác

7. Cách tiến hành

7.1. Phong hóa tự nhiên - Phơi nhiễm theo hướng xích đạo hoặc góc cố định

7.2. Phong hóa tự nhiên tăng tốc - Hệ gương hội tụ phản chiếu Fresnel sử dụng các phơi nhiễm mặt trời tập trung

...

...

...

8. Báo cáo phơi nhiễm

Phụ lục A (Tham khảo) So sánh các thiết bị đo bức xạ UV dải rất rộng điển hình

Thư mục tài liệu tham khảo