Loại thiết
bị
|
Độ phân giải
W.m-2
|
Độ ổn định (trên
năm)
%
|
Nhiệt độ phản
ứnga
%
|
Độ nhạy quang phổ
%
|
Không tuyến tính
%
|
Thời gian phản ứng
s
|
Phản ứng định hướngb
%
|
Phản ứng độ
nghiêng
%
|
Trực xạ kế loại một
|
± 4
|
± 1
|
± 2
|
± 1
|
± 0,5
|
< 20
|
-
|
± 0,5
|
Nhật xạ kế loại một
|
± 5
|
± 1,5
|
± 2
|
± 5
|
± 1
|
< 30
|
± 2
|
± 2
|
Nhật xạ kế loại hai
|
± 10
|
± 5
|
± 4
|
± 10
|
± 3
|
< 60
|
± 3
|
± 3
|
a trong khoảng
50 °C.
b dành cho
thành phần trực tiếp (ví dụ chùm sáng)
|
Bảng 2 - Quy
định kỹ thuật đối
với các thiết bị đo bức xạ chọn lọc quang phổ
Đặc điểm
thiết bị
Loại thiết
bị chọn lọc
Dải hẹp
Dải rộng
Dải rất rộng
Thiết bị đo
phổ bức xạ
Dãy quang phổ, nm
a
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
a
a
Chiều rộng toàn phần tại bán cực đại
(FWHM), nm
< 20
20 đến 70
> 70
-
Chặn bức xạ ngoài dải
a
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
a
a
Độ nhạy cosin (0° đến 60° từ điểm
cao nhất), % độ lệch so với lý tưởng
± 4
± 4
± 4
± 6
Độ nhạy cosin (60° đến 80° từ điểm
cao nhất), % độ lệch so với lý tưởng
± 7
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
± 7
± 8
Độ phân giải
0,05 W.m-2
trên độ rộng dải
0,10 W.m-2
trên độ rộng dải
0,20 W.m-2
trên độ rộng dải
0,05
W.m-2.nm-1b
Dải nhiệt độ thành phần phơi nhiễm,
ngoài trời, °C
-30 đến +50c
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
-30 đến +50c
-30 đến +50c
Dải nhiệt độ thành phần không phơi
nhiễm, trong nhà, °C
25 đến 60
25 đến 60
25 đến 60
25 đến 60
Hệ số nhiệt độ tối đa, % trên °C
0,1
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
0,1
2
Không tuyến tính, tất cả các dãy, %
2
2
2
2
Dải độ ẩm tương đối hoạt động, %
0 đến 100
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
0 đến 100
0 đến 100
CHÚ THÍCH: Thông tin bổ sung về hiệu
chính cosin được đưa ra trong EN 13032-1. Hiệu chính cosin là cần thiết nếu bức
xạ xảy ra trên mẫu đến từ các hướng khác nhau.
a Điều này sẽ
được xác định bằng các yêu cầu ứng dụng hoặc các yêu cầu thử nghiệm phơi nhiễm.
Tham vấn với đại diện về kỹ thuật của nhà sản xuất thiết bị hoặc người có kiến
thức về phép đo bức xạ quang học. Xem 5.3.4 đối với các chi tiết về các yêu cầu
chặn bức xạ ngoài dải. Khi các thiết bị đo bức xạ chọn lọc quang phổ được sử
dụng, bộ lọc của chúng sẽ ngăn chặn tất cả bức xạ bên ngoài phép đo dải phổ để
tránh xuất hiện các lỗi nghiêm trọng. Tuy nhiên, rò rỉ ngoài dải có thể chấp
nhận được nếu nguồn sáng phòng thử nghiệm được đo không tạo ra bức xạ trong
các bước sóng khi rò rỉ xảy ra.
b Đối với
thiết bị đo bức xạ quang học, thuật ngữ này thường được gọi một cách thích hợp
hơn là độ phân dải quang học. Các phép đo bức xạ kế quang học đáng tin cậy của
UVB mặt trời dưới 303 nm đòi hỏi độ phân dải quang học hơn 3 mW.m-2.nm-1.
c Đối với
nhiều thiết bị đo bức xạ, hệ số phản ứng nhiệt (COT) không được nhà sản xuất
bảo đảm khi dụng cụ được sử dụng tại nhiệt độ trên 50 °C. Nhiệt điện trở/điện
trở phải được thay thế để đạt được mức thời gian sử dụng hữu ích tại nhiệt độ
hoạt động lớn hơn 50 °C (thông thường đạt đến 60 °C).
5.2. Các thiết bị đo bức xạ không chọn
lọc
(xem Bảng 1)
5.2.1. Nhật xạ kế: nên sử dụng
nhật xạ kế phù hợp với Hướng dẫn của WMO hoặc nhật xạ kế loại hai quy định tại
ISO 9060 hoặc loại tốt hơn.
5.2.1.1. Khi phơi nhiễm bức xạ
mặt trời được yêu cầu phải đo tại góc phơi nhiễm nhất định, điều quan trọng là
mặt phẳng của bộ nhận ảnh phải được duy trì tại cùng góc nghiêng như mặt phẳng
của giá phơi nhiễm (ví dụ tại 45°, tại góc vĩ độ, tại 5°, nằm ngang hoặc theo
hướng mặt trời sun-following). Để đánh giá chính xác bức xạ tới trên giá phơi
nhiễm, góc nghiêng của thiết bị đo bức xạ phải là ± 2° của góc giá phơi nhiễm.
Đồng thời, để đo chính xác tổng bức xạ mặt trời, điều quan trọng là góc tiếp nhận
hoặc trường quan sát của bộ thu quang của thiết bị là 2p steradian (nghĩa là
180°) và được hiệu chính cosin để đạt được hoặc vượt các yêu cầu đối với thiết
bị loại hai ISO 9060.
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
5.2.2. Trực xạ kế: nên sử dụng
trực xạ kế quy định tại ISO 9060 hoặc trực xạ kế loại một của WMO.
5.2.2.1. Khi các phép
đo bức xạ được thực hiện bằng trực xạ kế, điều rất quan trọng là thiết bị có
trường quan sát giữa 5° và 7° và phù hợp với các yêu cầu đối với dụng cụ loại một
WMO hoặc ISO 9060. Loại thiết bị này được yêu cầu để thực hiện phép đo bức xạ tới
trên các thiết bị phong hóa tăng tốc bên ngoài hệ gương hội tụ phản chiếu
Fresnel (xem TCVN 9849-3 (ISO 877-3) và ASTM G 90).
5.2.2.2. Các giá trị phơi nhiễm
phải được biểu thị bằng oát trên mét vuông đối với chiếu xạ và bằng jun trên
mét vuông đối với tổng phơi nhiễm bức xạ. Cần thiết đối với các trực xạ kế
không chọn lọc quang phổ được hiệu chuẩn sao cho sự hiệu chuẩn có thể liên kết
đến chuẩn bức xạ kế thế giới (WRR).
5.3. Các thiết bị đo bức xạ chọn lọc (UV)
(xem Bảng 2)
5.3.1. Detector bao gồm một
bộ cảm biến, bộ lọc thích hợp và nếu được yêu cầu, một bộ phận thu nhận cosin.
5.3.2. Các bộ lọc dải rộng
có FWHM lớn hơn 20 nm nhưng thường không vượt quá 70 nm.
5.3.3. Các bộ lọc dải hẹp
được nhận dạng bởi CW của chúng và có FWHM nhỏ hơn 20 nm.
5.3.4. Tổng phản hồi của
detector là hàm số của chiếu xạ quang phổ nhận được từ nguồn, cùng với việc
truyền quang phổ của bộ lọc và phản hồi quang phổ của detector. Vì vậy, điều rất
quan trọng là bức xạ không mong muốn phải bị chặn bức xạ hoàn toàn. Sự truyền của
bộ lọc dải hẹp trong vùng chặn bức xạ (trong 40 nm của bước sóng cận trên và bước
sóng cận dưới) không được vượt quá 0,001 % đối với các phép đo UVB dải hẹp và
0,01 % đối với các thiết bị đo bức xạ UVA dải rộng.
5.3.5. Dải phổ cũng có thể
được kiểm soát bằng cách sử dụng việc kết hợp các bộ lọc. Điều này có thể thực
hiện được bằng cách kết hợp các bộ lọc cho sóng ngắn và sóng dài qua, nghĩa là
các bộ lọc cận dưới và cận trên. FWHM và chặn bức xạ được xác định bằng việc kết
hợp các bộ lọc được chọn lọc.
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
5.4.1. Năng lượng bức xạ được
chuyển đổi bởi detector thành tín hiệu điện sẽ được khuếch đại, nếu cần thiết,
và hiển thị trên thiết bị đo thích hợp mà đã được hiệu chuẩn để chỉ ra tín hiệu
tức thời (chiếu xạ) và tín hiệu tích hợp (phơi nhiễm bức xạ) mà có thể được hiển
thị không bắt buộc bằng biểu đồ trong đồ thị. Thông thường, tín hiệu mạnh thích
hợp được thu sử dụng máy ghi dữ liệu có số kênh cần thiết. Phụ thuộc vào máy
ghi dữ liệu, tín hiệu có thể được xử lý bằng máy ghi dữ liệu nhằm cung cấp chiếu
xạ và phơi nhiễm bức xạ theo yêu cầu hoặc nó có thể được lưu giữ và xử lý cho sử
dụng bên ngoài, ví dụ, ứng dụng bảng tính.
5.4.2. Trong trường hợp thiết
bị đo bức xạ bị nghiêng lệch, phải cung cấp các phương tiện để điều chỉnh “zero”
và khoảng chênh.
6. Hiệu chuẩn
6.1. Yêu cầu chung
6.1.1. Người vận hành phải
thực hiện thường xuyên kiểm tra hiệu chuẩn thiết bị đo bức xạ. Đối với các thiết
bị đo bức xạ UV, thiết bị đo bức xạ phải được nhà sản xuất hoặc phòng thử nghiệm
hiệu chuẩn có năng lực hiệu chuẩn ít nhất một lần mỗi năm, hoặc có thể tình trạng
hiệu chuẩn của thiết bị phải được kiểm tra theo định kỳ so với thiết bị đo bức
xạ chuẩn hiệu chuẩn mà chức năng duy nhất của thiết bị này là dùng để tham chiếu.
Đối với các trực xạ kế và nhật xạ kế loại hai và loại một WMO, hiệu chuẩn lại
được thực hiện bởi nhà sản xuất, phòng thử nghiệm hiệu chuẩn có năng lực hoặc sử
dụng nội bộ thiết bị đo bức xạ tiêu chuẩn phòng thử nghiệm phù hợp với ISO 9847
hoặc ASTM E 816 hoặc ASTM E 824 phải được thực hiện tại các khoảng thời gian
thích hợp.
CHÚ THÍCH: Trừ khi đòi hỏi việc hiệu
chuẩn lại thường xuyên hơn theo yêu cầu kiểm tra, các trực xạ kế và nhật xạ kế
loại một WMO và ISO 9060 thường không yêu cầu hiệu chuẩn lại thường xuyên quá
hai năm một lần.
6.1.2. Đối với nhiều loại
thiết bị đo bức xạ được sử dụng đo các phơi nhiễm tự nhiên (ví dụ nhật xạ kế
pin nhiệt điện ISO loại hai), hiệu chuẩn tại góc nghiêng mà tại đó dụng cụ được
sử dụng là tốt hơn. Hiệu chuẩn tại góc nghiêng không quan trọng đối với các nhật
xạ kế toàn cầu loại một WMO (hoặc tốt hơn) và ISO hoặc đối với nhiều thiết bị
đo bức xạ có bộ lọc nhạy quang có độ chính xác hơn 2 %. Đối với các thiết bị đo
bức xạ UV, độ nhạy cosin tốt là rất quan trọng vì ngay cả khi sai lệch nhỏ so với
định luật cosin có thể gây ra sai số hiệu chuẩn. Hiệu chuẩn thiết bị đo bức xạ UV
tại góc nghiêng được khuyến nghị nhằm đạt được các phép đo chính xác nhất. Điều
này đặc biệt quan trọng khi chúng được sử dụng trong điều kiện khí hậu mà ở đó
có tỷ lệ tia tử ngoại khuếch tán cao đối với bức xạ tia tử ngoại chùm.
6.1.3. Đối với việc hiệu
chuẩn các thiết bị đo bức xạ được sử dụng cho các thử nghiệm phơi nhiễm phòng
thử nghiệm, thiết bị đo bức xạ phải được lắp đặt sao cho bề mặt bộ nhận ảnh
vuông góc với trục quang học của nguồn bức xạ. Thiết bị đo bức xạ tốt nhất nên
được hiệu chuẩn theo các điều kiện xấp xỉ, gần nhất có thể với các điều kiện
các phép đo phạm vi được thực hiện. Có thể cần thiết sử dụng hệ số chuyển đổi
phù hợp với các khuyến nghị của nhà sản xuất.
6.2. Thiết bị đo bức xạ trường và chuẩn
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
6.2.2. Hiệu chuẩn các trực
xạ kế theo ISO 9059. Hiệu chuẩn các nhật xạ kế theo ISO 9846. Việc truyền hiệu
chuẩn từ các thiết bị đo bức xạ chuẩn sang các thiết bị đo bức xạ được sử dụng
trong trường phải phù hợp với ISO 9847.
CHÚ THÍCH: ASTM E 816, ASTM E 824 và
ASTM G 67 có quy trình hiệu chuẩn tương tự như ISO 9059 và ISO 9846, nhưng bao
gồm thông tin bổ sung về độ không đảm bảo đo của hiệu chuẩn và phép đo.
6.3. Thiết bị đo bức xạ chuẩn chọn lọc
6.3.1. Trừ khi được quy định
khác, các thiết bị đo bức xạ chuẩn chọn lọc quang phổ phải được hiệu chuẩn phù
hợp với ASTM G 130 bằng cách so sánh tín hiệu của chúng với các phép đo chiếu xạ
quang phổ tích hợp được thực hiện bởi thiết bị đo bức xạ phổ. Trừ khi được quy
định khác, thiết bị đo bức xạ phổ phải được hiệu chuẩn phù hợp với ASTM G 138.
Tích hợp dữ liệu thiết bị đo bức xạ phổ đối với dải phổ của thiết bị đo bức xạ
bộ lọc. Đối với các thiết bị đo bức xạ có bộ lọc được sử dụng để đo bức xạ mặt
trời, sử dụng mặt trời làm nguồn sáng. Đối với các thiết bị đo bức xạ có bộ lọc
được sử dụng để đo các nguồn sáng thử nghiệm, sử dụng cùng loại và cùng kiểu
nguồn sáng như được sử dụng trong thử nghiệm phơi nhiễm.
6.3.2. Đối với các thiết bị
phong hóa tăng tốc phòng thử nghiệm, thiết bị đo bức xạ chuẩn được sử dụng để
hiệu chuẩn thiết bị đo bức xạ trường phải được hiệu chuẩn trong vùng phát xạ của
nguồn sáng được sử dụng. Trừ khi có quy định khác, hiệu chuẩn các thiết bị đo bức
xạ tia tử ngoại chuẩn dải hẹp hoặc rộng có thiết bị đo bức xạ phổ phải được tiến
hành phù hợp với ASTM G 130. Thiết bị đo bức xạ chuẩn phải được hiệu chuẩn sử dụng
nguồn sáng cùng loại với nguồn sáng sẽ được sử dụng để thử nghiệm, và hiệu chuẩn
phải được tiến hành sử dụng buồng thử nghiệm có hình dạng tương tự (nghĩa là
đèn đến cùng hướng và khoảng cách mặt phẳng mẫu) như được sử dụng đối với thiết
bị đo bức xạ trường. Hiệu chuẩn phải được kiểm tra phù hợp với các chỉ dẫn của
nhà sản xuất về thiết bị đo bức xạ.
6.3.3. Các quy trình hiệu
chuẩn khác có thể được sử dụng nếu nó có thể chỉ ra rằng chúng mang lại độ
không đảm bảo nhỏ hơn ± 10 % (tại mức độ tin cậy 95 %) trong vùng UV từ 300 nm
đến 400 nm.
6.3.4. Khi được sử dụng với
các nguồn có sự phân bố bức xạ phổ khác, thiết bị đo bức xạ phải được điều chỉnh
đối với nguồn đó.
6.3.5. Để tính toán hằng số
hiệu chuẩn (hoặc hằng số độ nhạy), dữ liệu chiếu xạ quang phổ nhận được bởi thiết
bị đo phổ bức xạ phải được tích hợp đối với dải bước sóng thích hợp.
6.3.6. Hiệu chuẩn toàn bộ
thiết bị đo bức xạ mà có thể liên kết đến cơ quan tiêu chuẩn về bức xạ được
công nhận phải được tiến hành ít nhất mỗi năm một lần. Nên thực hiện các hiệu
chuẩn thường xuyên hơn.
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
6.4. Thiết bị đo bức xạ trường chọn lọc
6.4.1. Đối với phép đo bức
xạ mặt trời, việc truyền hiệu chuẩn từ các thiết bị đo bức xạ chuẩn chọn lọc
quang phổ sang các thiết bị đo bức xạ trường chọn lọc quang phổ phải được thực hiện
phù hợp với ISO 9847 hoặc ASTM E 824. Khi hiệu chuẩn truyền sang các thiết bị
đo bức xạ trường, tốt nhất là sử dụng thiết bị đo bức xạ chuẩn của cùng nhà sản
xuất, cùng loại và mẫu mã như thiết bị đo bức xạ trường được hiệu chuẩn và điều
quan trọng là thiết bị đo bức xạ chuẩn có chức năng phân loại độ nhạy quang phổ
và độ nhạy cosin đồng nhất đối với chức năng của thiết bị đo bức xạ trường được
hiệu chuẩn. Đối với mục đích này, hàm độ nhạy quang phổ do nhà sản xuất cung cấp
sẽ luôn thích hợp.
6.4.2. Độ rộng dải quang phổ
và đặc tính độ nhạy của thiết bị đo bức xạ phải được xác định và báo cáo.
6.5. Các yêu cầu khác
6.5.1. Bằng quy trình hiệu
chuẩn, thiết bị đo bức xạ phải biểu thị các giá trị tuyệt đối của chiếu xạ,
tính bằng W.m-2, đối với tổng bức xạ bán cầu được đo bằng các thiết
bị đo bức xạ không chọn lọc quang phổ. Đối với các thiết bị đo bức xạ chọn lọc
quang phổ, giá trị tuyệt đối của chiếu xạ, tính bằng W.m-2, phải được
đưa ra trong dải phổ quy định. Hằng số hiệu chuẩn của dạng W.m-2.V-1
đối với các dải quang phổ được chỉ ra ở trên có thể được sử dụng.
6.5.2. Độ nhạy cosin và độ
nhạy nhiệt độ của tất cả các thiết bị đo bức xạ được sử dụng phải được người sử
dụng xác định (hoặc được biết đến và được ghi lại). Các yêu cầu kỹ thuật của
nhà sản xuất luôn luôn phù hợp với mục đích này.
7. Cách tiến hành
7.1. Phong hóa tự nhiên - Phơi nhiễm
theo hướng xích đạo hoặc góc cố định
7.1.1. Lắp detector chắc chắn
và cố định trên giá hoặc bàn, có mặt phẳng bộ thu quang được lắp trong mặt phẳng
song song với mặt phẳng của mẫu thử đang được phơi nhiễm, ví dụ tại 0° (nằm
ngang đường chân trời), tại 45°, tại góc vĩ độ hoặc tại một số hướng như đã thỏa
thuận khác, với dung sai ± 2°. Đảm bảo rằng thiết bị đo bức xạ được lắp tại độ
cao trên mặt đất mà không ít hơn khoảng cách từ mặt đất đến nửa độ cao của giá
phơi nhiễm ± 5 %.
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
7.1.3. Ghi lại và cộng dồn
tổng chiếu xạ hàng ngày để thiết lập các mức phơi nhiễm theo yêu cầu.
7.2. Phong hóa tự nhiên tăng tốc - Hệ
gương hội tụ phản chiếu Fresnel sử dụng các phơi nhiễm mặt trời tập trung
7.2.1. Thành phần trực tiếp
của tổng bức xạ mặt trời phải được đo sử dụng trực xạ kế loại một đã được hiệu
chuẩn phù hợp với các tiêu chuẩn được công nhận. Các quy trình hiệu chuẩn được
nêu tại ISO 9059 và ASTM E 816. Đo thành phần trực tiếp của bức xạ tia tử ngoại
mặt trời theo ASTM G 90 sử dụng một cặp theo dõi các thiết bị đo bức xạ tia tử
ngoại, một trong số đó liên tục được che bóng để loại trừ thành phần trực tiếp.
Tính toán thành phần trực tiếp là sự chênh lệch số liệu giữa thiết bị đo bức xạ
tia tử ngoại che bóng và không che. Hiệu chuẩn các thiết bị đo bức xạ tia tử
ngoại theo ASTM G 130, có sự truyền hiệu chuẩn từ thiết bị đo bức xạ chuẩn đến
thiết bị đo bức xạ trường phù hợp với ISO 9847 hoặc ASTM E 824.
Ống so sánh nhật xạ kế có trường quan
sát 6° có thể được sử dụng làm phần gắn kết với thiết bị đo bức xạ UV để hút giữ
bức xạ khuếch tán (bầu trời), miễn là nó có thể được chỉ ra là tương đương hoặc
tốt hơn phương pháp dùng đĩa che.
7.2.2. Điều quan trọng là
hai thiết bị đo bức xạ tia tử ngoại cung cấp cùng giá trị chiếu xạ khi cùng được
lắp trên cùng bệ. Vì vậy, chúng phải được so sánh với nhau trên cơ sở ít nhất
là hàng tháng và phải được hiệu chuẩn lại bất kỳ khi nào độ nhạy của chúng
chênh nhau hơn ± 2 %.
7.2.3. Kiểm tra cơ chế đồng
chỉnh khung của nhật xạ kế ít nhất hàng tuần nhằm đảm bảo rằng trường quan sát của
thiết bị đo bức xạ đối diện chính xác với đĩa bức xạ mặt trời.
7.3. Phong hóa tăng tốc nhân tạo hoặc
chiếu xạ tăng tốc nhân tạo
7.3.1. Detector có thể được
lắp bên cạnh các mẫu thử nếu nó được thiết kế để hoạt động trong môi trường như
vậy, trong trường hợp này cần phải lắp sao cho mặt phẳng bộ phận tiếp nhận của
detector đồng phẳng với bề mặt mẫu thử nghiệm. Nếu mặt phẳng của bộ phận thu nhận
không nằm trong mặt phẳng song song với mặt phẳng mẫu thử nghiệm, độ nhạy của
thiết bị đo bức xạ phải được điều chỉnh để chỉ báo chiếu xạ tại khoảng cách mẫu
và trong mặt phẳng của mẫu.
7.3.2. Cặn của các chất rắn
bay hơi hoặc hơi ẩm trên bộ lọc đèn, bề mặt phản chiếu và bề mặt ngoài của bộ
phận thu nhận sẽ ảnh hưởng phép đo bức xạ. Có thể cần thiết, đặc biệt khi thực
hiện tại nhiệt độ cao và độ ẩm cao, làm sạch những bề mặt này hàng ngày. Làm sạch
bề mặt kính của bộ phận thu nhận bằng một miếng vải mềm (ví dụ vải muxơlin) được
làm ẩm bằng cồn. Đối với các bề mặt khác (ví dụ những bề mặt có tiêu chuẩn phản
chiếu), sử dụng chất làm sạch và quy trình làm sạch do nhà sản xuất thiết bị
khuyến nghị.
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
8. Báo cáo phơi nhiễm
Báo cáo phơi nhiễm phải bao gồm những
thông tin sau:
a) Phơi nhiễm bức xạ phổ, tính bằng
jun trên mét vuông trên nano mét của dải phổ (J.m-2.nm-1),
hoặc phơi nhiễm bức xạ, tính bằng jun trên mét vuông (J.m-2), đối với
dải bước sóng dài xác định;
b) Chiếu xạ quang phổ, tính bằng oát
trên mét vuông trên nano mét của dải phổ (W.m-2.nm-1), hoặc
chiếu xạ, tính bằng oát trên mét vuông (W.m-2), đối với dãy bước
sóng dài xác định khi được sử dụng để điều khiển phơi nhiễm trong các thử nghiệm
phòng thử nghiệm;
c) Thời gian trôi qua cần thiết để cộng
dồn phơi nhiễm bức xạ;
d) Ngày phơi nhiễm nếu phong hóa tự
nhiên hoặc phơi nhiễm tập trung mặt trời được thực hiện;
e) Nhà sản xuất thiết bị đo bức xạ được
sử dụng và kiểu mẫu;
f) Nếu được yêu cầu, quy trình được sử
dụng để hiệu chuẩn thiết bị đo bức xạ chuẩn chọn lọc;
g) Nếu được yêu cầu, quy trình được sử
dụng để hiệu chuẩn Thiết bị đo phổ bức xạ;
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
Phụ lục A
(Tham khảo)
So sánh các thiết bị đo bức xạ UV dải rất rộng
điển hình
Đối với các mục đích thực tiễn, thiết
bị đo bức xạ có phản hồi giống gauss có tính phản xạ thấp đáng kể tại bước sóng
295 nm không có khả năng phát hiện thay đổi trong chiếu xạ quang phổ tại các bước
sóng dưới 305 nm. Tuy nhiên, các thiết bị đo bức xạ được hiệu chuẩn đến cận
trên bước sóng dài 385 nm đo xấp xỉ 10 W.m-2 ít năng lượng tia tử
ngoại hơn thiết bị đo bức xạ có cận trên tại 400 nm dưới các điều kiện bầu trời
quang vĩ độ trung bình, thời gian ban trưa tại tia tới vuông góc đối với mặt trời.
Bảng A.1 chỉ ra tổng các
chiếu xạ UV được đo như thế nào được ghi lại trên cơ sở ngày có thể dao động
tùy thuộc vào bước sóng hiệu chuẩn của thiết bị đo bức xạ được sử dụng. Bảng
A.2 chỉ ra tổng chiếu xạ UV được đo như thế nào trong một năm tại một địa điểm
có thể dao động phụ thuộc vào bước sóng hiệu chuẩn của thiết bị đo bức xạ được
sử dụng.
Bảng A.1 -
Các phép đo chiếu xạ bán cầu, tính bằng W.m-2, gần buổi trưa mặt trời
sử dụng các thiết bị đo bức xạ UV dải rộng khác nhau
Thời gian mặt
trời (ngày Julian) và địa điểm
Chiếu xạ (W.m-2)
Tỷ lệ
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
Tỷ lệ
Z/Y
Tỷ lệ
Z/X
X
(295 nm đến
385 nm)
Y
(315 nm đến
400 nm)
Z
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
12:58 (J51), New River, Arizona
41,95
52,86
53,97
1,260
1,021
1,287
11:00 (J52), West Phoenix, Arizona
39,97
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
51,61
1,263
1,022
1,291
13:11 (J176), New River, Arizona
49,35
60,46
62,29
1,225
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
1,258
Bảng A.2 - Phơi nhiễm bức xạ
được
đo
trong một năm
Địa điểm và
thời gian đo
Phơi nhiễm
bức xạ
(MJ/m2)
Tỷ lệ
X
(xấp xỉ 295
nm đến 385 nm)
Y
(xấp xỉ 315
nm đến 400 nm)
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
(xấp xỉ 300
nm đến 400 nm)
Choshi (Nhật Bản), 30° Nam, 1992
229,37
-
287,01
1,251 (Z/X)
Choshi (Nhật Bản), đường chân trời,
2001
-
294,88
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
1,046 (Z/Y)
CHÚ THÍCH: Các tín hiệu quang phổ khác
nhau của thiết bị đo bức xạ dải rộng đo trong cùng dải phổ cũng có thể sản sinh
các kết quả khác nhau.
THƯ MỤC TÀI
LIỆU THAM KHẢO
[1] EN 13032-1, Light and lighting
- Measurement and presentation of photometric data of lamps and luminaires -
Measurement and file format (Ánh sáng và chiếu sáng - Phép đo và trình bày dữ
liệu đo sáng của đèn và nguồn phát sáng - Phép đo và định dạng tài liệu)
[2] ASTM E816, Standard Test Method
for Calibration of Pyrheliometers by Comparison to Reference Pyrheliometers
(Phương pháp thử tiêu chuẩn đối với hiệu chuẩn các trực xạ kế bằng so sánh với
các trực xạ kế chuẩn)
[3] ASTM E824, Standard Test Method
for Transfer of
Calibration From Reference to Field Radiometers (Phương pháp thử
tiêu chuẩn đối với hiệu chuẩn từ tham chiếu đến các thiết bị đo bức xạ trường
phạm vi)
[4] ASTM G7, Standard Practice for
Atmospheric Environmental Exposure Testing of Nonmetallic Materials (Tiêu chuẩn
thực hành đối với thử nghiệm phơi nhiễm môi trường khí quyển của vật liệu phi
kim loại)
[5] ASTM G24, Standard Practice for
Conducting Exposures to Daylight Filtered Through Glass
(Tiêu chuẩn thực hành đối với việc thực hiện các phơi nhiễm qua kính lọc ánh
sáng ban ngày)
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
[7] ASTM G151, Standard Practice
for Exposing Nonmetallic Materials in Accelerated Test Devices that Use
Laboratory Light Sources (Tiêu chuẩn thực hành đối với việc phơi nhiễm vật liệu
phi kim loại trong thiết bị thử nghiệm tăng tốc sử dụng các nguồn sáng phòng thử
nghiệm)
[8] ASTM G152, Standard Practice
for Operating Open Flame Carbon Arc Light Apparatus for Exposure of Nonmetallic
Materials (Tiêu chuẩn thực hành đối với việc thao tác các dụng cụ ánh sáng hình
cung cácbon lửa mở đối với phơi nhiễm vật liệu phi kim loại)
[9] ASTM G153, Standard Practice
for Operating Enclosed Carbon Arc Light Apparatus for Exposure of Nonmetallic
Materials (Tiêu chuẩn thực hành đối với việc thao tác các dụng cụ ánh sáng hình
cung cácbon đóng đối với phơi nhiễm vật liệu phi kim loại)
[10] ASTM G154, Standard Practice
for Operating Fluorescent Ultraviolet (UV) Lamp Apparatus for Exposure of Nonmetallic
Materials (Tiêu chuẩn thực hành đối với việc thao tác các dụng cụ ánh sáng huỳnh
quang đối với phơi nhiễm UV các vật liệu phi kim loại)
[11] ASTM G155, Standard Practice
for Operating Xenon Arc Light Apparatus for Exposure of Non-Metallic Materials
(Tiêu chuẩn thực hành đối với việc thao tác các dụng cụ ánh sáng hình cung đối
với phơi nhiễm vật liệu phi kim loại)
[12] ASTM G167, Standard Test
Method for Calibration of a Pyranometer Using a Pyrheliometer (Phương pháp thử
tiêu chuẩn đối với hiệu chuẩn nhật xạ kế sử dụng trực xạ kế)
[13] ISO 4892-1, Plastics - Methods of
exposure to laboratory light sources - Part 1: General guidance (Chất dẻo -
Phương pháp phơi nhiễm đối với nguồn sáng phòng thử nghiệm - Phần
1: Hướng dẫn chung)
[14] ISO 4892-2, Plastics - Methods
of exposure to laboratory light sources - Part 2: Xenon-arc lamps (Chất dẻo -
Phương pháp phơi nhiễm đối với nguồn sáng phòng thử nghiệm – Phần 2: Đèn cung
xenon)
[15] ISO 4892-3, Plastics - Methods
of exposure to laboratory light sources - Part 3: Fluorescent UV lamps (Chất dẻo
- Phương pháp phơi nhiễm đối với nguồn sáng phòng thử nghiệm - Phần 3: Đèn UV huỳnh
quang)
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
[17] ISO 11341, Paints and
varnishes - Artificial weathering and exposure to artificial radiation -
Exposure to tiltered xenon-arc radiation (Sơn và vécni - Phong hóa nhân tạo và
phơi nhiễm đối với bức xạ nhân tạo - Phơi nhiễm với bức xạ hình cung xenon lọc)
[18] ISO 11507, Paints and varnishes - Exposure
of coatings to artificial weathering - Exposure to fluorescent UV lamps and
water (Sơn và vécni - Phơi nhiễm lớp phủ ngoài đối với phong hóa nhân tạo -
Phơi nhiễm với nước và đèn UV huỳnh quang)
[19] Woolliams, E.R., Fox, N.P., Cox,
M.G., Harris, P.M. và Harrison, N.J., Final report on CCPR K1-a: Spectral
irradiance from 250 nm to 2 500 nm (Báo cáo cuối cùng về CCPR K1-a: Chiếu xạ
quang phổ từ 250 nm đến 2500 nm), Metrologia, 43 (2006), Tech. Suppl.,
02003
MỤC LỤC
Lời
nói đầu
Lời
giới thiệu
1. Phạm vi áp dụng
2. Tài liệu viện dẫn
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
4. Ý nghĩa và sử dụng
4.1. Các chú ý chung
4.2. Sự phong hóa tự nhiên - Phơi nhiễm góc cố định hoặc hướng
xích đạo
4.3. Sự phong hóa tự nhiên tăng tốc -
Các phơi nhiễm tập trung mặt trời sử dụng hệ gương hội tụ phản chiếu Fresnel
4.4. Sự
phong hóa tăng tốc nhân tạo và chiếu xạ tăng tốc nhân tạo
5. Thiết bị, dụng cụ
5.1. Yêu cầu chung
5.2. Các thiết bị đo bức xạ không chọn
lọc (xem Bảng 1)
5.3. Các thiết bị đo bức xạ chọn lọc
(UV) (xem Bảng 2)
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
6. Hiệu chuẩn
6.1. Yêu cầu chung
6.2. Thiết bị đo bức xạ trường và chuẩn
6.3. Thiết bị đo bức xạ chuẩn chọn lọc
6.4. Thiết bị đo bức xạ trường chọn lọc
6.5. Các yêu cầu khác
7. Cách tiến hành
7.1. Phong hóa tự nhiên - Phơi nhiễm
theo hướng xích đạo hoặc góc cố định
7.2. Phong hóa tự nhiên tăng tốc - Hệ
gương hội tụ phản chiếu Fresnel sử dụng các phơi nhiễm mặt trời tập trung
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
8. Báo cáo phơi nhiễm
Phụ
lục A (Tham khảo) So sánh các thiết bị đo bức xạ UV dải rất rộng điển hình
Thư mục tài liệu tham khảo