Điện áp gia tăng
của chùm điện tử
|
Hệ đo liều kGy
(Mrad)
|
kGy m²/milliampe s
(KAfi)A
|
Mrad fut²/milliampe
min (KAfi)A
|
Kết quả từ phép
tính Monte Carlo TIGER, kGy (Mrad) B
|
Hiệu ứng sử dụng
cường độ chùm tia (fi)
|
100 kV
|
9,37 (0,937)
|
0,0722
|
4,69
|
13,6 (1,36)
|
0,69
|
125 kV
|
34,3 (3,43)
|
0,265
|
17,2
|
51,4 (5,15)
|
0,67
|
150 kV
|
46,2 (4,62)
|
0,355
|
23,1
|
66,8 (6,68)
|
0,69
|
175 kV
|
49,5 (4,95)
|
0,382
|
24,8
|
69,5 (6,95)
|
0,71
|
200 kV
|
47,3 (4,73)
|
0,365
|
23,7
|
66,1 (6,61)
|
0,72
|
225 kV
|
45,1 (4,51)
|
0,348
|
22,6
|
61,7 (6,17)
|
0,73
|
250 kV
|
41,2 (4,12)
|
0,317
|
20,6
|
55,8 (5,58)
|
0,74
|
275 kV
|
39,6 (3,96)
|
0,305
|
19,8
|
50,7 (5,07)
|
0,78
|
300 kV
|
35,8 (3,58)
|
0,275
|
17,9
|
46,7 (4,67)
|
0,77
|
A Phép tính dựa trên hệ đo liều (8).
Hệ số hiệu ứng sử dụng cường độ chùm tia (fi) là một phần không
thể thiếu của phép tính.
B Phép tính Monte Carlo TIGER 1-D không bao
gồm hệ số hiệu ứng dùng cường độ chùm tia (fi). Khi so sánh phép
tính với hệ đo liều, thì hệ số hiệu ứng dùng cường độ chùm tia (fi)
nhận được đối với mỗi điện áp (xem chú thích 7 trong 9.2)
|
4. Đặc điểm và ứng
dụng
4.1. Sự khác nhau về quá trình chiếu xạ hoặc xử
lý dùng máy gia tốc có năng lượng điện tử thấp để thay đổi các đặc tính của sản
phẩm. Các yêu cầu về đo liều, số lượng và tần suất của phép đo, các yêu cầu về
lưu giữ hồ sơ cũng sẽ khác nhau phụ thuộc vào loại và mục đích sử dụng cuối
cùng của sản phẩm cần xử lý. Phép đo liều thường được sử dụng cùng với các phép
thử vật lý, hóa học hoặc sinh học của sản phẩm, để giúp cho việc kiểm tra xác
nhận các thông số xử lý cụ thể.
CHÚ THÍCH 1: Trong một số trường hợp có thể
tiến hành xây dựng các dữ liệu đối chứng, so sánh các kết quả đo liều với phép
thử định lượng sản phẩm khác, ví dụ có thể sử dụng các phép thử phân đoạn của
gel, tốc độ nóng chảy, mô-đun, phân bố trọng lượng phân tử hoặc các phép thử phân
tích sự lưu hóa để đánh giá liều bức xạ trong các vật liệu có liên quan cụ thể.
4.2. Các quy định về xử lý bức xạ thường gồm các
giới hạn liều hấp thụ tối thiểu hoặc tối đa hoặc cả hai. Đối với ứng dụng nhất
định, các mức liều này có thể được quy định hoặc theo giới hạn của chính sản
phẩm.
4.3. Cần kiểm soát các thông số tới hạn của quá
trình để thu được độ lặp lại về sự phân bố liều trong các vật liệu chiếu xạ.
Năng lượng chùm tia điện tử (tính bằng eV hoặc keV), cường độ chùm tia (tính
bằng mA), sự phân bố chùm tia trong không gian và thời gian chiếu xạ hoặc tốc
độ vận chuyển ảnh hưởng liều hấp thụ.
CHÚ THÍCH 2: trong một số ứng dụng về polyme
hóa từ lỏng thành rắn (thường được hiểu là sự lưu hóa bức xạ), cần kiểm soát mức
oxy dư trong suốt quá trình chiếu xạ để đạt được kết quả ổn định. Mức oxy dưa cao
có thể ảnh hưởng đến tính năng của sản phẩm trong các ứng dụng về sự lưu hóa
này, nhưng không ảnh hưởng đến liều hấp thụ. Tuy nhiên, cần phải tính đến các
ảnh hưởng của oxy lên hàm đặc trưng độ nhạy của liều kế được sử dụng trong phép
đo liều.
4.4. Trước khi sử dụng bất kỳ hệ thống xử lý bức
xạ nào thì cũng cần phải đánh giá xác nhận để khẳng định tính hiệu lực của
chúng. Điều này kéo theo phép thử thiết bị, hiệu chuẩn dụng cụ đo và chứng minh
khả năng cung cấp liều yêu cầu trong dải liều yêu cầu đáng tin cậy và khả năng
tái lập.
5. Hệ đo liều
5.1. Mô tả các loại liều kế
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
5.1.1.1. Liều kế chuẩn đầu
Loại liều kế được thiết lập và duy trì bởi
các phòng thử nghiệm chuẩn quốc gia để hiệu chuẩn các trường bức xạ và các loại
liều kế khác. Hai loại liều kế chuẩn đầu thường dùng nhất là buồn ion hóa và
liều kế đo nhiệt lượng.
5.1.1.2. Liều kế chuẩn chính
Loại liều kế được dùng để hiệu chuẩn các
trường bức xạ và liều kế đo thường xuyên. Loại liều kế này cũng có thể được
dùng làm liều kế đo thường xuyên. Các ví dụ về các loại kế chuẩn chính và dải
liều kế sử dụng của chúng được đưa ra trong ISO/ASTM Guide 51261.
5.1.1.3. Liều kế truyền chuẩn
Loại liều kế được lựa chọn chuyên dùng để
truyền thông tin về liều từ phòng thử nghiệm chuẩn quốc gia hoặc được công nhận
tới một thiết bị chiếu xạ để xác nhận độ chính xác cho thiết bị đó. Những liều
kế này cần được dùng cẩn thận trong điều kiện quy định bởi phòng thử nghiệm phát
hành liều kế. Loại liều kế này có thể được chọn từ liều kế chuẩn chính hoặc
liều kế đo thường xuyên, được liệt kê trong ISO/ASTM Guide 51261.
5.1.1.4. Liều kế đo thường xuyên
Loại liều kế có thể được dùng để kiểm soát chất
lượng trong xử lý bức xạ, kiểm soát liều và phân bố liều. Kỹ thuật đo liều đúng
cách, bao gồm cả hiệu chuẩn được dùng để đảm bảo rằng phép đo có độ tin cậy và
chính xác. Ví dụ về các loại liều kế đo thường xuyên và dải liều sử dụng của
chúng được nêu trong ISO/ASTM Guide 51261.
5.2. Các tài liệu được liệt kê trong Điều 2 cung
cấp thông tin chi tiết về sự lựa chọn và cách sử dụng hệ đo liều thích hợp đối
với chiếu xạ chùm tia điện tử. Do bị giới hạn về độ đâm xuyên của chùm điện tử
năng lượng thấp và khe không khí hẹp nên thường được sử dụng các liều kế màng
mỏng đi cùng với thiết bị hơn là hệ liều kế dày (xem Tài liệu tham khảo 1-6[5],
TCVN 7910 (ISO/ASTM 51275), TCVN 8232 (ISO/ASTM 51607), TCVN 8233 (ISO/ASTM
51650) và ISO/ASTM Guide 51261).
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
6. Hiệu chuẩn hệ đo
liều
6.1. Hệ đo liều phải được hiệu chuẩn trước khi sử
dụng và được hiệu chuẩn định kỳ theo quy trình hướng dẫn sử dụng, trong đó quy
định chi tiết quá trình hiệu chuẩn và yêu cầu đảm bảo chất lượng. Phương pháp
hiệu chuẩn được nêu trong ISO/ASTM Guide 51261.
6.2. Chiếu xạ hiệu chuẩn
Chiếu xạ là một thành phần quan trọng của
phép hiệu chuẩn hệ đo liều. Cách thực hiện chiếu xạ hiệu chuẩn có thể chấp nhận
phụ thuộc vào liều kế được sử dụng là liều kế chuẩn chính, truyền chuẩn hoặc
liều kế đo thường xuyên.
6.2.1. Liều kế chuẩn chính hoặc liều kế
truyền chuẩn
Chiếu xạ hiệu chuẩn được thực hiện trong
phòng thử nghiệm quốc gia hoặc phòng thử nghiệm đã được công nhận theo quy định
trong ISO/ASTM Practice 51400.
6.2.2. Liều kế đo thường xuyên
Chiếu xạ hiệu chuẩn có thể thực hiện bằng
chiếu xạ các liều kế tại (a) phòng thử nghiệm quốc gia hoặc phòng thử nghiệm đã
được công nhận sử dụng các chuẩn quy định trong ISO/ASTM Practice 51400, (b)
tại thiết bị chiếu xạ cung cấp liều (hoặc suất liều) có liên kết quốc gia hoặc
quốc tế được công nhận, hoặc (c) ở điều kiện chiếu xạ thực tế, chiếu cùng với
liều kế chuẩn chính hoặc liều kế truyền chuẩn có liên kết với chuẩn quốc gia
hoặc quốc tế công nhận. Trong trường hợp chọn (a) hoặc (b), đường chuẩn tạo
thành phải được xác nhận cho các điều kiện sử dụng thực tế (xem ISO/ASTM Guide
51261).
CHÚ THÍCH 4: Trong khi 6.2.2 có hiệu lực đối
với hầu hết các phép hiệu chuẩn các liều kế, phải công nhận rằng việc chiếu xạ
nhiều liều kế với năng lượng điện tử thấp (nhỏ hơn 300 keV) sẽ tạo ra gradient
liều qua độ dày của liều kế. Khi các liều kế được đo sẽ cho liều biểu kiến liên
quan đến sự phân bố liều. Ở các điều kiện chiếu xạ xác định, liều biểu kiến sẽ
phụ thuộc vào độ dày của liều kế, nghĩa là các liều kế có độ dày khác nhau sẽ
cho các liều biểu kiến khác nhau (7). Biện pháp khắc phục vấn đề này là
tất cả các phép đo liều được tham chiếu theo liều trong nước trong vi kế đầu
tiên của vật liệu hấp thụ và được ký hiệu là Dµ và không phụ thuộc
vào độ dày của liều kế.
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
6.3. Hiệu chuẩn dụng cụ đo và xác nhận tính
năng hoạt động
Để hiệu chuẩn thiết bị và đánh giá xác nhận
tính năng của thiết bị giữa các lần hiệu chuẩn, xem ISO/ASTM Guide 51261, tiêu
chuẩn ISO/ASTM hoặc ASTM tương ứng về hệ số đo liều, và/hoặc sổ tay hướng dẫn vận
hành thiết bị cụ thể.
7. Đánh giá chất
lượng lắp đặt
7.1. Tiến hành đánh giá chất lượng lắp đặt để xác
định các hoạt động của thiết bị chiếu xạ phù hợp với các chi tiết kỹ thuật được
thiết kế. Quy trình này bao gồm phép thử cơ học và điện của máy gia tốc chùm
tia điện tử và các thiết bị chiếu xạ có lqn nhưng không bị giới hạn bao gồm:
7.1.1. Vận hành của tất cả các bộ phận kiểm tra
theo dõi bức xạ.
7.1.2. Vận hành của tất cả các hệ thống các khóa
liên động.
7.1.3. Khi chứng minh thêm về hiệu năng của hệ chùm
tia điện tử ở tốc độ quy định.
7.1.4. Vận hành hệ chùm tia điện tử trên toàn dải
liều của cường độ chùm tia và dòng điện áp.
7.1.5. Kiểm soát bức xạ ở dòng điện áp vận hành tối
đa.
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
7.1.7. Kiểm tra phần điện của hệ thống,
7.1.8. Hiệu suất của hệ thống xả khí trơ, nếu áp
dụng,
7.1.9. Hiệu suất của hệ thống khí ozon, nếu áp
dụng, và
7.1.10. Phép thử và hiệu chuẩn hệ thống vận
hành sản phẩm trên toàn dải vận hành.
7.2. Tiến hành đánh giá chất lượng vận hành để
thể hiện đặc tính của thông báo sử dụng hệ đo liều. Mục đích của phép đo này là
để xác nhận các đặc tính phân bố liều của thiết bị được chấp nhận và được dùng
để đối chứng tiếp sau. Quy trình này phải bao gồm nhưng không giới hạn các vấn
đề sau:
7.2.1. Phép đo hệ số tốc độ xử lý bề mặt: Sử
dụng tối thiểu năm phép đo trên dải điện áp quan tâm bằng ít nhất năm liều kế
hoặc phép đo liều cách đều ngang qua chiều rộng của chùm tia với mức liều thông
thường trên mặt phẳng sản phẩm. Các phép đo tốc độ xử lý bề mặt được lặp lại ở
mức điện áp vận hành điển hình tại các mức dòng chùm tia khác nhau để thiết lập
và kiểm tra độ tuyến tính giữa dòng chùm tia và liều bề mặt (xem Phụ lục A1).
7.2.2. Phép đo độ đồng đều của chùm tia: Sử dụng tối thiểu
một liều kế hoặc phép đo liều trên 2,5 cm trên toàn bộ độ rộng chùm tia (xem
Phụ lục A1).
7.2.3. Phép đo độ sâu của liều: Các phép đo
độ sâu liều phải được tiến hành trên dải điện áp quan tâm. Tiến hành tối thiểu
ba phép đo ở từng điện áp được lựa chọn để thử. Thực tế phép đo này là để đo độ
sâu của liều bằng một bộ các liều kế ở bề mặt sản phẩm (xem Phụ lục A1).
8. Đánh giá chất
lượng vận hành
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
CHÚ THÍCH 5: Các phép đo sự phân bố liều hấp
thụ có thể cần đối với các ứng dụng đã quy định. Đối với hệ thống xử lý bức xạ
và hướng dẫn biểu đồ phân bố liều trong sản phẩm xem ASTM E 2303.
8.2. Phải thực hiện các phép đo tốc độ xử lý bề
mặt trong suốt quy trình đánh giá xác nhận sản phẩm để so sánh với các kết quả
của phép thử nghiệm sản phẩm.
8.3. Tần suất của phép đo liều
8.3.1. Bảo dưỡng thường xuyên: Sau khi bảo
dưỡng thường xuyên vì có sự thay đổi cửa sổ máy gia tốc, do đó cần tiến hành tối
thiểu ba phép đo hệ số tốc độ xử lý bề mặt.
8.3.2. Bảo dưỡng hệ thống chính: Sau khi bảo
dưỡng hệ thống chính vì catot hoặc lớp lót cách điện được thay thế, do đó cần
tiến hành tối thiểu ba phép đo hệ số tốc độ xử lý bề mặt và thực hiện đo độ
đồng đều của chùm tia để đảm bảo rằng quang học chùm tia không bị tổn thất.
8.3.3. Kiểm soát quá trình thường xuyên: Có
thể thực hiện phép đo tốc độ xử lý bề mặt trong suốt quá trình vận hành sản
phẩm. Trong một số ứng dụng có thể yêu cầu luật định về kiểm soát phép đo liều
ở một thời điểm cụ thể hoặc một số điểm của lô hàng hoặc để lưu hồ sơ kiểm soát
chất lượng sản phẩm.
9. Tính toán về tốc
độ
9.1. Tốc độ xử lý khối lượng
Năng lượng chùm tia của máy gia tốc điện tử
có thể được tính bằng wat (W), là sản phẩm của gia tốc điện áp trung bình tính
bằng kilovol (kV) và cường độ chùm tia trung bình tính miliampe (mA) hoặc bằng
kilowat (kW), là sản phẩm tính bằng megavol (MV) và miliampe (mA). Liều hấp thụ
10 kGy (1 Mrad) tương ứng liều hấp thụ đồng đều 10 kilowat giây (10 kilojun)
của năng lượng trong 1 kilogam sản phẩm. Đối với máy có công suất 1 kilowat thì
có thể được chuyển đổi tốc độ xử lý khối lượng 360 kg (794 lb) sản phẩm trên 1
h với liều hấp thụ 10 kGy (1 Mrad) giả định ứng dụng 100% năng lượng chùm tia.
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
Tốc độ xử lý khối
lượng = (2)
Trong đó
Ccap là 3600 kGy kg/kW h hoặc 794
Mrad lb/kW h
P là năng lượng chùm tia, tính bằng kW,
fP là hiệu suất ứng dụng năng
lượng chùm tia, và
D là liều, tính bằng kGy hoặc Mrad
CHÚ THÍCH 6 Hệ số hiệu suất ứng dụng năng
lượng chùm tia, fP, là phần năng lượng chùm tia được hấp thụ vào sản
phẩm. Liều D, trong công thức này là liều trung bình trong toàn bộ sản phẩm.
9.2. Tốc độ xử lý bề mặt: Để tính tốc độ xử lý
bề mặt thì sử dụng hệ số tốc độ xử lý bề mặt, KA. Phương pháp này gồm
một công thức đơn giản dựa trên hệ số xử lý tốc độ bề mặt, KA, được
lấy để tính năng lượng chùm tia điện tử, cường độ chùm tia trung bình và tốc độ
đường truyền. Tốc độ xử lý bề mặt được tính bằng Công thức 3. Bảng 1 đưa ra
cách tính giá trị KAfi ở gia tốc điện áp cụ thể. Các kết
quả trong bảng 1 là đặc trưng cho phép đo liều đối với máy gia tốc điện áp cụ
thể. Các kết quả trong Bảng 1 là đặc trưng cho phép đo liều đối với máy gia tốc
điện áp thấp loại màn che có sự so sánh với công thức Monte Carlo dựa trên mô
hình ITS/TIGER. Xem Tài liệu tham khảo (8) mô tả chi tiết hơn nghiên cứu này.
Tốc độ xử lý bề mặt =
(3)
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
KA là hệ số tốc độ xử lý bề mặt,
tính bằng kGy m²/mA min (Mrad ft²/mA)) min,
D là liều, tính bằng kGy (Mrad),
Wb là độ rộng chùm tia,
m (ft),
Vl là tốc độ xử lý
tuyến tính hoặc tốc độ đường truyền, m/min (ft/min)
fi là hiệu suất ứng
dụng cường độ chùm tia, và
l là cường độ chùm tia trung bình, mA.
CHÚ THÍCH 7 Hiệu suất ứng dụng cường độ chùm
tia, fi là phần cường độ chùm tia bị chắn bởi sản phẩm/liều kế. Điều
này tính đến các thất thoát khác về cường độ chùm tia bị chắn bởi lưới đỡ cửa
sổ chân không của máy gia tốc và cường độ chùm tia có thể có như độ rộng chùm
tia lớn hơn độ rộng giữa các sản phẩm. Trong Bảng 1, fi là tỷ số
giữa kết quả của phép đo liều (các giá trị đo được) và kết quả theo công thức
Monte Carlo tương ứng. Các giá trị điển hình của fi nằm trong dải từ
0,7 đến 0,8 trong các máy xử lý bán sẵn trên thị trường. Trường hợp mô tả trong
bảng 1, các giá trị fi gần với hệ số chùm tia dừng đo được (có cấu
trúc giá đỡ) 0,78 và sự thay đổi nhỏ về điện áp. Mô hình ITS/ACCEPT 3-D được
dựng lên theo các yếu tố 3-D của lưới đỡ và nguồn. Các kết quả hầu hết hiệu
chỉnh theo mô tả chùm tia (8).
9.3. Tốc độ xử lý tuyến tính: Đây là phép thực
hành thông thường để chỉ rõ tính năng của máy gia tốc điện tử năng lượng thấp
liên quan đến tốc độ xử lý tuyến tính hoặc tốc độ đường truyền. Tốc độ này có
thể thu được từ công thức 3 theo cách sắp xếp lại như sau:
Tốc độ xử lý tuyến
tính = Vl = (4)
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
Tốc độ xử lý tuyến
tính = Vl = (5)
CHÚ THÍCH 8: Trong công thức 3 và 4, giá trị
KA phụ thuộc vào độ rộng chùm tia, nhưng giá trị KL trong
công thức 5 nghịch đảo với độ rộng chùm tia. Do đó, các máy xử lý có cùng giá
trị KA nhưng có độ rộng chùm tia khác nhau có thể có các giá trị KL
khác nhau. Các giá trị KL có thể được tính từ KA nêu
trong Bảng 1 đối với các giá trị độ rộng chùm tia, Wb, tương ứng với
máy xử lý được sử dụng đối với một ứng dụng cụ thể.
10. Độ không đảm bảo
đo
10.1. Phép đo liều cần phải kèm theo đánh giá độ
không đảm bảo đo mới có ý nghĩa.
10.2. Các thành phần độ không đảm bảo đo sẽ được
phân thành hai loại sau đây:
10.2.1. Loại A: Được đánh giá bằng phương
pháp thống kê, hoặc
10.2.2. Loại B: Được đánh giá bằng phương
pháp khác.
10.3. Các cách khác về phân loại độ không đảm bảo
đo đã được dùng rộng rãi và có thể có ích cho báo cáo về độ không đảm bảo đo.
Ví dụ, thuật ngữ độ chính xác và độ lệch, sai số ngẫu nhiên và sai số hệ thống
(không ngẫu nhiên) được dùng để mô tả các loại sai số khác nhau.
CHÚ THÍCH 9: Nhận biết độ không đảm bảo đo
loại A và loại B dựa trên phương pháp đánh giá độ không đảm bảo đo xuất bản năm
1995 bởi Tổ chức Tiêu chuẩn hóa quốc tế (ISO) trong tài liệu hướng dẫn về biểu
thức không đảm bảo đo trong phép đo (9). Mục đích dùng loại đặc trưng này là để
tăng sự hiểu biết về độ không đảm bảo đo và tạo cơ sở để so sánh với quốc tế về
các kết quả đo.
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
11. Chứng chỉ
11.1. Hồ sơ
11.1.1. Thiết lập dữ liệu thu được và xây
dựng lại hệ thống các tài liệu của tất cả dữ liệu hệ đo liều từ các quy trình
đảm bảo chất lượng lắp đặt, đánh giá quá trình, bảo dưỡng máy móc và các thay
đổi khác.
11.1.1.1. Lưu hồ sơ các phép đo hiệu suất đánh
giá các đặc tính phân bố liều của thiết bị. Báo cáo kiểm soát chiếu xạ phải
được ghi ngày tháng, thời gian, các thông số quá trình cụ thể và tên người vận
hành máy móc (xem 4.3)
11.1.1.2. Khi thích hợp, lưu hồ sơ các kết quả
đo liều và các giá trị thông số quá trình ảnh hưởng liều hấp thụ cùng với thông
tin đầy đủ về việc nhận biết các thông số này trong quy trình vận hành cụ thể.
11.1.1.3. Lưu hồ sơ hoặc viện dẫn việc hiệu
chuẩn và bảo dưỡng thiết bị và dụng cụ sử dụng để kiểm soát hoặc đo liều phân
bố trong sản phẩm (xem ISO/ASTM Guide 51261).
11.1.2. Nhật ký thiết bị
11.1.2.1. Ghi chép ngày tháng và thời gian của
bất kỳ quá trình bảo dưỡng thiết bị nào, bao gồm các thành phần cụ thể được
thay thế. Ghi lại tất cả các lỗi của thiết bị, nguồn gốc nguyên nhân gây ra lỗi
và các bất kỳ hoạt động hiệu chỉnh nào được thực hiện.
11.2. Xem xét lại và phê chuẩn
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
11.2.2. Định kỳ kiểm tra tất cả các tài liệu
để đảm bảo rằng hồ sơ là chính xác và đầy đủ.
11.3. Lưu giữ hồ sơ
11.3.1. Lưu giữ tất cả các hồ sơ ở cơ sở
chiếu xạ và sẵn sàng cho việc kiểm tra khi cần. Giữ các file tài liệu định kỳ
theo các luật định có liên quan (xem 4.1).
PHỤ
LỤC A
(Tham
khảo)
Α.1. Phương pháp đo
hệ số tốc độ xử lý bề mặt hiệu quả (KAfi), sự phân liều theo độ sâu và độ đồng
đều liều
Α.1.1. Phụ lục này mô tả phương pháp đo hệ số tốc
độ xử lý bề mặt hiệu quả (KAfi), sự phân bố liều
theo độ sâu và độ đồng đều liều.
Α1.2. Phương pháp đo hệ số tốc độ xử lý bề
mặt hiệu quả (KAfi);
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
Α1.2.2. Điều quan trọng là xác định giá trị KAfi
trên khắp dải điện áp bởi vì giá trị KAfi có thể thay đổi
nhiều theo điện áp. Nhìn chung, KAfi sẽ cao nhất ở điện
áp khoảng 175 kV. Ở điện áp thấp hơn, sự thay đổi giá trị KA là kết
quả của sự suy yếu tăng dần của liều gây ra do hao hụt năng lượng trong cửa sổ
và khe không khí. Ở các điện áp cao hơn, việc giảm KAfi
là kết quả của việc giảm pic năng lượng ra ngoài mặt phẳng liều kế.
A1.2.3. Giá trị KAfi
xác định được từ phép đo liều ở các điện áp khác nhau sử dụng công thức đơn
giản trong 9.2.
Α1.2.4. Bước đầu tiên trong việc xác định KAfi
là chuẩn bị các dãy liều kế hoặc dải màng mỏng được gắn trên vật liệu
mang thích hợp. Mỗi bộ liều kế hoặc các dải này sẽ có tối thiểu năm liều kế
riêng biệt. Các liều kế sẽ được đặt nối tiếp từ liều kế này đến liều kế khác
trên một dãy dọc theo tâm của vật mang. Các liều kế sẽ được đối xứng với vật
mang tại các mép liều kế. Khi rút các liều kế từ vật mang phải tiến hành cẩn
thận không để che phần giữa của liều kế khi tiến hành đọc.
A1.2.5. Điều quan trọng là giảm thiểu các
electron bị phân tán từ sự phân bố đến phép đo KAfi . Giá
trị KAfi sẽ liên quan trực tiếp đến công suất của chùm
tia ban đầu.
A1.2.6. Liều kế thường được sử dụng cho phép
đo loại này là liều kế màng mỏng nhuộm màu [xem TCVN 7910 (ISO/ASTM 51275)].
Α1.2.7. Thực hành cẩn thận trong khi chuẩn bị
các liều kế trên vật liệu mang sao cho để giảm sự phơi nhiễm của các liều kế
với ánh sáng môi trường như năng lượng UV, có thể cũng gây ra sự thay đổi mật
độ quang của hầu hết các liều kế bức xạ nhuộm màu. Việc xử lý và đọc dữ liệu
đối với liều kế đưa ra theo chỉ dẫn của nhà sản xuất liều kế.
A1.2.8. Mỗi khi liều kế được chuẩn bị, chúng
có thể được gắn lên một đĩa chuyển động để kiểm tra chúng qua chùm điện tử.
Α1.2.9. Mỗi khi cường độ chùm tia và tốc độ
đĩa được cài đặt trước khi lựa chọn điện áp chùm tia, thì bộ liều kế phải đi
qua chùm điện tử. Nếu các liều kế không được bọc lại trong suốt quá trình phơi
nhiễm thì cần phải thực hành cẩn thận để tránh sai số do phơi nhiễm ánh sáng
UV, phơi nhiễm với thay đổi độ ẩm và nhiễm bẩn. Nếu dùng các vật liệu mỏng được
bọc để bảo vệ liều kế thì phải áp dụng hệ số hiệu chỉnh đối với giá trị KAfi
để bù cho việc giảm đi của vật liệu bao bọc.
Α1.2.10. Điện áp tối thiểu, tối đa và một vài
điện áp trung gian sẽ được lựa chọn để đưa ra số lượng đầy đủ các phép đo xác
định chính xác các giá trị KAfi trong vùng điện áp quan
tâm.
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
Α1.3. Phương pháp đo sự phân bố liều theo độ
sâu
A1.3.1. xử lý các vật liệu đồng nhất bằng chùm
tia điện tử tạo ra sự phân bố liều hấp thụ, thay đổi theo độ sâu. Hình dạng của
đường cong liều theo độ sâu được xác định bởi sự va chạm của các điện tử sơ cấp
và thứ cấp với electron nguyên tử và hạt nhân trong vật liệu hấp thụ. Vì vậy,
hình dạng này phụ thuộc vào vị trí nguyên tử của vật liệu và năng lượng điện tử
đó.
Độ đâm xuyên (dải điện tử) phụ thuộc vào năng
lượng điện tử. Mối liên quan này được thể hiện trong họ đường cong liều theo độ
sâu nêu trong Hình A1.1.
Α1.3.2. Các đường cong liều theo độ sâu thường
được dựng bằng đơn vị đã chuẩn hóa. Độ đâm xuyên được biểu thị bằng khối lượng
trên đơn vị diện tích hoặc độ dày nhân với tỷ trọng.
Α1.3.3. Bước đầu tiên trong phép đo và vẽ sự
phân bố liều theo độ sâu của máy là để chuẩn bị bộ liều kế. Độ dày của bộ liều
kế phải lớn hơn dải điện tử thực tế của năng lượng quan tâm. Các liều kế màng
mỏng nhuộm màu thường được sử dụng cho mục đích này (1-6).
Α1.3.4. Cần thực hành cẩn thận khi chuẩn bị bộ
liều kế để giảm thiểu sự phơi nhiễm của các liều kế với ánh sáng môi trường vì
năng lượng UV cũng sẽ gây ra sự thay đổi về mật độ quang của hầu hết các liều
kế nhuộm màu. Xử lý và đọc liều đúng theo hướng dẫn của nhà sản xuất liều kế
đối với liều kế đã cho.
Α1.3.5. Mỗi khi bộ liều kế đã chuẩn bị, thì
nên đặt lên vật liệu lót có thành phần tương tự, có ít nhất 1/3 dải điện tử
thực tế của năng lượng quan tâm. Điều này sẽ ngăn cản sự phân tán các điện tử từ
các băng chuyền sản phẩm, trống (bể) làm nguội, hoặc các cấu trúc khác trong
khoang sản phẩm khỏi ảnh hưởng của các liều kế gần đáy của của bộ liều kế.
A1.3.6. Bộ liều kế sau đó đi qua cửa sổ chùm
tia điện tử và điều chỉnh chiếu xạ đến mức đủ để cho phép đo được sự phân bố
liều.
A1.3.7. Độ dày, liều và vị trí của mỗi liều
kế trong bộ liều kế sẽ được ghi lại và lưu hồ sơ.
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
A1.3.9. Bảng Α1.1 đưa ra ví dụ về các bước
thực hiện nói trên. Hình A1.1 là đồ thị điển hình theo dữ liệu trong Bảng Α1.1
Hình A1.1 Đường cong
liều theo độ sâu 300 kV (khe không khí 2,5 cm, cửa sổ lá Titan 13 µm). Khoảng
cách giá trị theo độ sâu dựa trên các phép đo độ sâu từ bề mặt sau của liều kế
Α1.4. Phương pháp đo độ đồng đều liều ngang
qua độ rộng của chùm tia điện tử
A1.4.1. Sự phân bố liều dọc theo độ rộng chùm
tia phụ thuộc vào độ đồng đều của nguồn điện tử và khoảng cách giữa nguồn và
sản phẩm. Để đo sự phân bố liều của chùm tia điện tử cần thực hiện các bước
sau:
A1.4.1.1. Các liều kế cần được đặt trên vật liệu
lót hơi rộng hơn độ rộng hoạt động của chùm tia được thử nghiệm. Tiếp theo, vật
liệu lót phải có thành phần giống với liều kế và có độ dày bằng với dải điện tử
thực tế để ngăn cản các điện tử phân tán từ băng chuyền sản phẩm, trống làm
nguội hoặc các cấu trúc khác trong khoang sản phẩm hơi vênh với phép đo liều.
A1.4.1.2. Các liều kế cần được đặt ở các khoảng
cách khoảng 2,5 cm dọc khắp độ rộng của chùm tia điện tử. Tiến hành cẩn thận
theo các khuyến cáo của nhà cung cấp liều kế về cách xử lý và đọc các liều kế
trước và sau phơi nhiễm. Nếu sử dụng các liều kế liên tiếp, ví dụ dưới dạng các
dải hoặc tấm bao trùm độ rộng của chùm tia thì cần đưa ra thông tin chi tiết
hơn.
Α1.4.1.3. Bước tiếp theo trong quá trình này là
gắn mảng liều kế vào bộ phận vận chuyển sản phẩm thích hợp sao cho các liều kế
có thể đi qua khoang chiếu xạ ở khoảng cách từ cửa sổ bằng với mặt phẳng thông
thường. Tiến hành cẩn thận để ghi chép và lưu lại đường tâm của chùm điện tử và
đường tâm của mảng liều kế, càng thẳng hàng với tâm của chùm tia càng tốt trong
suốt quá trình phơi nhiễm.
A1.4.1.4. Khi các liều kế bị phơi nhiễm với mức
liều cho phép đo mặt cắt của chùm tia, thì có thể lấy chúng ra để đọc.
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
Lớp
Độ dày riêng lẻ
µm
Vẽ đồ thị theo độ
sâu
µm
Liều
kGy
Độ sâu
(mg/cm²)
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
1
50
50
32,5
5,7
100%
2
50
100
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
11,4
104%
3
50
150
35,2
17,1
108%
4
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
200
34,4
22,8
106%
5
50
250
34,2
28,5
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
6
50
300
32,0
34,2
98%
7
50
350
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
39,9
84%
8
50
400
23,2
45,6
71%
9
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
450
17,8
51,3
55%
10
50
500
12,3
57
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
11
50
550
7,4
62,7
23%
12
50
600
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
68,4
11%
13
50
650
1,5
74,1
2%
14
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
700
0
79,8
0%
A1.4.1.5. Bước cuối cùng trong phép xác định độ
đồng đều liều của chùm điện tử là vẽ đồ thị dữ liệu thu được theo các bước ở
trên. Mặt cắt liều theo chiều ngang lưới có thể được dựng theo đơn vị liều hoặc
phần trăm của liều trung bình ngang qua độ rộng chùm tia. Hình A1.2 là đồ thị
điển hình của độ đồng đều liều ngang qua nguồn chùm tia điện tử rộng 60 cm. Sự
thay đổi liều cần nằm trong dải quy định của nhà sản xuất máy gia tốc. Sự thay
đổi nằm ngoài dải quy định có thể cho thấy sự sai về thành phần hoặc có vấn đề
về sự thẳng hàng chùm tia mà cần phải hiệu chỉnh.
Hình A1.2 Độ đồng đều
liều theo độ rộng chùm tia điện tử
A2. Phương pháp tính liều bề mặt từ các thông
số chùm tia điện tử
A2.1. Phụ lục này mô tả phương pháp tính liều bề
mặt từ chùm tia điện tử có sử dụng hàm Monte Carlo (xem ASTM guid E 2232). Các
quy phạm Monte Carlo chuẩn bao gồm ZTRAN, PENELOPE, ITS (TIGER), MCNP, EGS4 và
EDMULT.
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
A2.3. Liều D có thể tính được đối với các giá trị
dòng điện (I) đã chọn, tốc độ lưới (Vl), độ rộng chùm tia (Wb)
và hiệu suất ứng dụng dòng chùm tia (fi) theo công thức A2.1. Giá
trị thích hợp đối với E (xem A2.2) được lựa chọn từ Bảng A2.1. Cần lưu ý công
thức 3 trong điều 9.2 với 1000 E = KA, nhưng Wb và VI
được tính bằng đơn vị centimét phù hợp với đầu ra của Monte Carlo chuẩn:
(A2.1)
A2.4. Cần điều tra về chênh lệch lớn giữa liều đo
được và liều dự kiến từ phép tính này. Có thể kết quả của đầu vào không đúng
đối với công thức A2.1 nhung cũng có thể là không đồng nhất ngang qua độ rộng
chùm tia, trục trặc trong việc cung cấp nguồn hoặc quy trình đo liều không
đúng.
Bảng A2.1 – Năng
lượng tích tụ trên điện tử trong liều kế FWT tính được theo hàm Monte Carlo
(MeV/g-cm-²) (cửa sổ titan 12 µm, khe không khí có thể thay đổi)
Tăng điện áp (kV)
Khe không khí
1cm
Khe không khí
2 cm
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
3 cm
Khe không khí
4 cm
Khe không khí
5 cm
100
5,21
3,88
2,67
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
0,87
125
7,65
7,10
6,26
5,58
4,72
150
7,79
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
7,33
7,03
6,56
175
7,21
7,34
7,28
7,08
7,06
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
6,84
6,84
6,86
6,77
6,68
225
6,00
6,02
6,26
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
6,37
250
5,39
5,48
5,56
5,66
5,75
275
4,92
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
5,18
5,30
5,36
300
4,44
4,64
4,66
4,82
4,92
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
THƯ MỤC TÀI LIỆU THAM
KHẢO
(1) McLaughlin, W.L., Boyd. Α. W., Chadwick.
K. H., McDonald. J. G., and Miller, Α, Dosimetry For Radiation Processing,
Taylor & Francis, 1989.
(2) McLaughlin, W.L., “Dosimetry for Low-Energy
Electron Machine Performance and Process Control,” “Proceeding of RadTech 90
North America. Chicago. March 1990, Vol 2, Radtech International North America,
60 Revere Drive, Suite 500, Northbrook. IL 60062. 1990. pp 91-99.
(3) McLaughlin, W.L., “Low-Energy Electron
Dose-Distribution Measurements with Thin-Film Dosimeters.” Beta-Gamma, Vol 4,
No.2 & 3. 1991, pp. 20-29.
(4) McLaughlin, W.L., Humphreys, J.C, Hocken,
D., and Chappas, W.J., “Radiochromic Dosimeters for Validation and
Commissioning of Industrial Radiation Processes,” Radiat. Phys. Chem, 31, 1988.
pp.505-514.
(5) Menezes. T.J., “Developments in Electron
Beam Curing.” Radiat.
Phys. Chem., 31, 1990, pp. 52-58.
(6) Miller. Α., McLaughlin, W.L.,
“Evaluation of Radiochromic Dye Film and Other Plastic Dose Meters Under
Radiation Processing Coditions.” High-Dose Measurements in Indsutrial Radiation
Processing. Technical Report Series 205, International Atomic Energy Agency.
Vienna. 1981. pp. 119-138.
(7) Helt-Hansen, J., Miller. Α., McEwen. M.,
Sharpe, P., and Duane. S., “Calibration of Thin-film Dosimeters Irradiated with
80-120 keV Electrons,” Radiat. Phys. Chem., 71, 2004. pp. 353-357.
(8) Weiss. D.E., Kalweit, H.W., and Kensek.
R.P., “Low-voltage Electron-beam Simulation Using the Integrated Tiger Series
Monte Carlo Code and Calibration Through Radiochromic Dosimetry. “ in
Irradiation of Polymers, Fundamentals and Technological Applica-tions,
Clough.R.L., and Shalaby. S. W. (eds.), ACS Symposium Series 620 American
Chemical Society, Washington. 1994.
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
[1] Tiêu chuẩn này thuộc thẩm quyền của
Ban kỹ thuật ASTM E 10 Công nghệ và ứng dụng hạt nhân, thuộc trách nhiệm của
Tiểu ban kỹ thuật E10.01 Hệ đo liều và Ứng dụng và cũng thuộc thẩm quyền của
ISO/TC 85/WG 3.
Ấn bản hiện hành được thông qua vào
ngày 18 tháng 6 năm 2008, được xuất bản tháng 6 năm 2009, nguyên bản là ASTM E
1818-96. Bản soát xét gần đây nhất là ASTM E 1818-96. ASTM E 1818-96 được ISO
thông qua vào năm 1998 với số hiệu tiêu chuẩn là ISO 15573 : 1998 (E). Tiêu
chuẩn ASTM/ISO 51818 : 2008 (E) hiện hành là bản soát xét chính của ISO/ASTM
51818 : 2002 (E) và thay thế ISO 15573.
[2] Đối với các tiêu chuẩn của ASTM, xem
website của ASTM www.astm.org, hoặc liên hệ với Dịch vụ Khách hàng của ASTM
theo địa chỉ service@astm.org. Về sổ tay tiêu chuẩn của ASTM, xem bảng tổng hợp
tài liệu trên trang điện tử của ASTM.
[3] Ủy ban quốc tế về đơn vị và phép đo
bức xạ (ICRU). 7910 Woodmont Ave., Suite 800, Bethesda, MD 20814, Mỹ.
[4] Trung tâm Thông tin điện toán về an
toàn bức xạ (RSICC), Mỹ, Phòng thử nghiệm quốc gia Oak Ridge (ORNL), PO, Box
2008, Oak Ridge, TN 37831, Tel: 865-574-6176, Fax: 865-574-6182, Web:
www-rsicc.ornl.gov. Ở Châu Âu từ CERN hoặc địa chỉ web www.cern.ch/geant4, Năng
lượng bức xạ phân tử OECD, Le Seine Sait-Germain, 12 boulevard des lles, 92130
Issy-Ies-Moulineaux, Pháp. Tel: +33 (0) 1 4524 1110, địa chỉ web: www.nea.fr
[5] Các số in đậm là số liệt kê tài liệu
trong Thư mục tài liệu tham khảo ở trang cuối của tiêu chuẩn này.