Tiêu chuẩn 6748-9:2015 Hệ điện trở không đổi gắn kết bề mặt có điện trở đo riêng được Phần 9

• Số hiệu: TCVN6748-9:2015
• Loại văn bản: Tiêu chuẩn Việt Nam
• Nơi ban hành: ***
• Người ký: ***
• Ngày ban hành: Năm 2015

Mã hiệu	Chiều dài L	Chiều rộng W	Chiều dày T	Sơ đồ ^a)	Kết cấu đầu nối ^a^)
1005X2	1 ± 0,1	1 ± 0,1	0,35 ± 0,1	A	Lồi
1005X4	2 ± 0,1	1 ± 0,1	0,4 ± 0,15	A	Lồi	Lõm
1608X2	1,6 ± 0,2	1,6 ± 0,2	0,55 ± 0,15	A	Lồi	Lõm
1608X4	3,2 ± 0,2	1,6 ± 0,2	0,55 ± 0,15	A	Lồi	Lõm
3216X4	5,08 ± 0,2	3,1 ± 0,2	0,55 ± 0,15	A	Lồi	Lõm
3216	3,2 ± 0,2	1,6 ± 0,2	0,5 ± 0,15	B,C	Lồi
4021	4 ± 0,2	2,1 ± 0,2	0,6 ± 0,15	D		Lõm
6431	6,4 ± 0,2	3,1 ± 0,2	0,6 ± 0,15	B,C	Lồi	Lõm
^a) Các sơ đồ được trình bày ở Phụ lục A. Kết cấu các đầu nối được trình bày ở Phụ lục B.

1.4.4. Thông số đặc trưng và đặc tính

Các thông số đặc trưng và các đặc tính phải phù hợp với các điều liên quan của quy định kỹ thuật này cùng với nội dung sau đây:

Dải điện trở danh định

Xem 2.2.1. Các giá trị ưu tiên là các giá trị trong dãy E của IEC 60063.

CHÚ THÍCH: Khi các sản phẩm được chấp nhận theo quy định kỹ thuật chi tiết có các dải khác nhau, cần bổ sung nội dung sau:

"Dải các giá trị có trong mỗi kiểu loại được cho trong danh mục các sản phẩm phù hợp”.

1.4.5. Ghi nhãn

Quy định kỹ thuật chi tiết phải qui định nội dung ghi nhãn trên hệ các điện trở gắn kết bề mặt và trên bao bì.

Hệ các điện trở gắn kết bề mặt thường không được ghi nhãn trên thân. Nếu có thể in một số ghi nhãn, hệ các điện trở gắn kết bề mặt phải được ghi nhãn rõ ràng điện trở danh định và càng nhiều càng tốt các hạng mục còn lại trong 2.4 của IEC 60115-1.

...

...

...

2. Thông số đặc trưng, các đặc tính và mức khắc nghiệt thử nghiệm ưu tiên

2.1. Thông số đặc trưng và các đặc tính ưu tiên

Các giá trị đưa ra trong quy định kỹ thuật chi tiết phải ưu tiên được chọn theo dưới đây:

2.1.1. Loại khí hậu ưu tiên

Các hệ điện trở gắn kết bề mặt được đề cập trong quy định kỹ thuật này được phân loại theo các loại khí hậu phù hợp với các qui tắc chung đã nêu trong TCVN 7699-1 (IEC 60068-1).

Nhiệt độ mức thấp và mức cao và khoảng thời gian nóng ẩm, không đổi phải được chọn từ các giá trị dưới đây:

Nhiệt độ mức thấp

- 55 °C; - 40 °C; - 25 °C và -10 °C.

Nhiệt độ mức cao

...

...

...

Khoảng thời gian thử nghiệm nóng ẩm, không đổi: 4, 10, 21 và 56 ngày.

Mức khắc nghiệt của các thử nghiệm lạnh và nóng khô là các nhiệt độ mức thấp và mức cao tương ứng. Do kết cấu của một số hệ điện trở gắn kết bề mặt nên các nhiệt độ này sẽ xảy ra giữa hai trong số các nhiệt độ ưu tiên được đưa ra trong TCVN 7699-2-1 (IEC 60068-2-1) và TCVN 7699-2-2 (IEC 60068-2-2). Trong trường hợp này, nhiệt độ ưu tiên gần nhất trong dải nhiệt độ thực tế của hệ các điện trở gắn kết bề mặt phải được lựa chọn cho mức khắc nghiệt này.

2.1.2. Hệ số nhiệt và đặc tính nhiệt của điện trở

Các giới hạn ưu tiên của thay đổi điện trở đối với các đặc tính nhiệt của thử nghiệm điện trở được cho ở Bảng 2.

Mỗi dòng trong bảng này đưa ra hệ số nhiệt độ ưu tiên và đặc tính nhiệt tương ứng từ 20 °C đến 70 °C và các giới hạn thay đổi điện trở đối với phép đo đặc tính nhiệt của điện trở (xem IEC 60115-1, 4.8) trên cơ sở của các dải nhiệt độ mức của 2.1.1 của quy định kỹ thuật từng phần này.

Bảng 2 - Hệ số nhiệt độ và đặc tính nhiệt độ của điện trở

Hệ số nhiệt độ

Đặc tính nhiệt độ 20/70 °C

Đặc tính nhiệt độ của điện trở (giới hạn phần trăm thay đổi điện trở)

...

...

...

Nhiệt độ tham chiếu/nhiệt độ mức trên

10^-6/K

%

+20/-55

+20/-40

+20/-25

+20/-10

+20/+85

+20/ +100

...

...

...

+20/ +155

±500

±2,5

±3,75

±3

±2,25

1,500

±3,25

±4

...

...

...

±6,75

±250

±1,25

±1,88

±1,5

±1,13

0,750

±1,62

±2

...

...

...

±3,38

±100

±0,5

±0,75

±0,6

±0,45

0,300

±0,65

±0,8

...

...

...

±1,35

±50

±0,25

±0,375

±0,3

±0,23

0,150

±0,325

±0,4

...

...

...

±0,675

±25

±0,125

±0,188

±0,15

±0,113

0,075

±0,162

±0,2

...

...

...

±0,338

±15

±0,075

±0,113

±0,09

±0,068

0,045

±0,098

±0,12

...

...

...

±0,203

±10

±0,05

±0,075

±0,06

±0,045

0,030

±0,065

±0,08

...

...

...

±0,135

CHÚ THÍCH 1: Điện trở có nhiệt độ mức trên +85 °C không cần phải đo từ 20 °C đến 70 °C.

CHÚ THÍCH 2: Nếu yêu cầu đo ở các nhiệt độ bổ sung, chúng phải được qui định trong quy định kỹ thuật chi tiết.

2.1.3. Giới hạn thay đổi điện trở

Đối với mỗi cấp ổn định, các giới hạn ưu tiên của thay đổi điện trở đối với từng thử nghiệm được liệt kê trong tiêu đề của Bảng 3 như đã được nêu.

Bảng 3 - Giới hạn thay đổi điện trở

Cấp ổn định tính bằng %

Thử nghiệm dài hạn

4.23. Trình tự khí hậu

...

...

...

4.25.1. Độ bền ở 70 °C

4.25.3. Độ bền tại nhiệt độ mức trên

Thử nghiệm ngắn hạn

4.13. Quá tải

4.18. Khả năng chịu nhiệt hàn

4.19. Thay đổi nhiệt độ đột ngột

4.32. Ứng suất cắt

4.33. Thử nghiện uốn lớp nền

5

...

...

...

±(1 % + 0,05 Ω)

3

±(3 % + 0,1 Ω)

±(0,5 % + 0,05 Ω)

2

±(2 % + 0,1 Ω)

±(0,5 % + 0,05 Ω)

1

±(1 % + 0,05 Ω)

...

...

...

0,5

±(0,5% + 0,05 Ω)

±(0,1 % + 0,01 Ω)

0,25

±(0,25% +0,05 Ω)

±(0,05 % + 0,01 Ω)

0,1

±(0,1 % + 0,01 Ω)

±(0,02 % + 0,01 Ω)

...

...

...

2.2. Giá trị ưu tiên của các thông số danh định

2.2.1. Điện trở danh định

Xem 2.2.6 của IEC 60115-1.

2.2.2. Dung sai điện trở danh định

Các dung sai ưu tiên của điện trở danh định là:

± 5 %; ± 2 %; ± 1 %; ± 0,5 %; ± 0,25 %; và ± 0,1 %.

2.2.3. Công suất tiêu tán danh định (ở trạng thái đã gắn kết)

Các giá trị ưu tiên của tiêu tán danh định ở 70 °C, là:

Đối với hệ thống:

...

...

...

Đối với phần tử điện trở:

0,03 W; 0,05 W; 0,063 W; 0,1 W và 0,125 W.

Quy định kỹ thuật chi tiết phải qui định giá trị áp dụng của tiêu tán danh định đối với từng phần tử điện trở trong hệ thống cũng như tổng giá trị tiêu tán lớn nhất cho phép đối với hệ thống.

Các giá trị giảm công suất tiêu tán danh định ở nhiệt độ cao hơn 70 °C phải như được chỉ ra bằng đường đặc tuyến ở Hình 1:

Hình 1 - Đường tiêu tán danh định

Vùng làm việc rộng hơn có thể được đưa ra trong quy định kỹ thuật chi tiết, với điều kiện nó bao gồm tất cả các vùng được cho ở trên. Trong trường hợp này, quy định kỹ thuật chi tiết phải nêu công suất tiêu tán lớn nhất cho phép ở nhiệt độ khác với 70 °C. Tất cả các điểm gấp khúc trên đường cong này đều phải được xác nhận bằng thử nghiệm.

2.2.4. Điện áp giới hạn của phần tử

Các giá trị ưu tiên của điện áp giới hạn của phần tử là:

...

...

...

2.2.5. Điện trở cách điện (nếu áp dụng)

Điện trở cách điện không được nhỏ hơn 1 GΩ sau các thử nghiệm nóng khô.

2.2.6. Điện trở cách điện giữa các điện trở riêng (nếu áp dụng)

Giới hạn nhỏ nhất ưu tiên cho điện trở cách điện giữa các điện trở riêng phải là 100 MΩ trừ khi có qui định khác trong quy định kỹ thuật chi tiết.

2.2.7. Điện áp cách điện so với bề mặt gắn kết dẫn điện

Điện áp một chiều hoặc xoay chiều hiệu dụng lớn nhất có thể đặt vào ở điều kiện làm việc liên tục giữa các đầu nối của hệ các điện trở và bề mặt gắn kết dẫn điện bất kỳ phải được đưa ra trong quy định kỹ thuật chi tiết liên quan.

2.2.8. Điện áp cách điện giữa các điện trở riêng rẽ gần nhau

Điện áp một chiều hoặc xoay chiều hiệu dụng lớn nhất có thể đặt ở điều kiện làm việc liên tục giữa từng phần tử điện trở riêng rẽ như là một cực và tất các điện trở riêng rẽ khác được nối với nhau như là một cực còn lại phải được nêu trong quy định kỹ thuật cụ thể liên quan.

2.3. Mức khắc nghiệt thử nghiêm ưu tiên

...

...

...

2.3.1. Làm khô

Phải sử dụng qui trình I của 4.3 trong IEC 60115-1.

2.3.2. Quá tải (ở trạng thái đã được dán)

IEC 60115-1, 4.13 với các chi tiết như sau:

Điện áp đặt vào:

2,5 lần điện áp danh định hoặc 2 lần điện áp giới hạn của linh kiện, chọn giá trị nhỏ hơn.

Khoảng thời gian:

điện áp thử nghiệm một chiều phải được đặt trong 2 s cho từng điện trở trong hệ thống, mỗi lần một điện trở.

Vật liệu nền:

...

...

...

Khoảng cách giữa các hệ điện trở gắn kết bề mặt không được nhỏ hơn kích thước lớn nhất của hệ các điện trở gắn kết bề mặt. Quy định kỹ thuật chi tiết phải qui định thêm mọi chi tiết khác tùy theo sự cần thiết (xem 2.2.3).

3. Qui trình đánh giá chất lượng

3.1. Linh kiện tương tự về kết cấu

Hệ thống điện trở gắn kết bề mặt được coi là tương tự về kết cấu nếu chúng được chế tạo theo các qui trình và từ các nguyên liệu như nhau, và có cùng các kích thước danh định nhưng các giá trị điện trở và đặc tính nhiệt độ khác nhau.

3.2. Chấp nhận chất lượng

Qui trình thử nghiệm Chấp nhận chất lượng được cho ở 3.5 của IEC 60115-1.

Bảng kê được sử dụng cho thử nghiệm Chấp nhận Chất lượng trên cơ sở thử nghiệm theo lô và thử nghiệm định kỳ được cho trong 3.3 của quy định kỹ thuật này. Qui trình sử dụng một bảng kê cỡ mẫu không đổi được cho ở 3.2.1 và 3.2.2

3.2.1. Chấp nhận chất lượng trên cơ sở qui trình cỡ mẫu không đổi

Lấy mẫu

...

...

...

Trường hợp muốn được xác nhận phù hợp cho một dải các giá trị điện trở trong hệ thống, mẫu phải bao gồm các mẫu có chứa các giá trị điện trở cao nhất và thấp nhất cần được xác nhận. Cũng cần phải bao gồm các mẫu có các giá trị điện trở tới hạn, nếu giá trị này nằm trong phạm vi trong dải được giao. Đối với mỗi giá trị được giao, số lượng mẫu phải như qui định của Bảng 3. Trường hợp muốn được xác nhận nhiều hơn một hệ số nhiệt độ của điện trở, phải có các mẫu đại diện cho các hệ số nhiệt độ khác nhau. Cũng vậy, mẫu phải chứa một tỷ lệ các mẫu tại các giá trị điện trở khác nhau có dung sai gần nhất với yêu cầu xác nhận. Tỷ lệ các mẫu có những đặc tính khác này phải được cơ quan có thẩm quyền của nhà chế tạo đề xuất và phải được cơ quan có thẩm quyền chấp thuận.

Các mẫu dự phòng được phép như sau:

a) Một mẫu dự phòng cho mỗi giá trị điện trở và một mẫu dự phòng cho mỗi hệ số nhiệt độ hoặc giá trị đặc tính nhiệt độ, có thể được sử dụng để thay các mẫu khiếm khuyết cho phép ở Nhóm 0A và Nhóm 0B.

b) Một mẫu dự phòng cho mỗi giá trị điện trở và một mẫu dự phòng cho mỗi hệ số nhiệt độ hoặc giá trị đặc tính nhiệt độ, có thể được sử dụng để thay các mẫu khiếm khuyết do các sự cố không thể quy cho nhà chế tạo.

Khi các nhóm bổ sung được đưa vào bảng kê các thử nghiệm xác nhận phù hợp, số mẫu được yêu cầu đối với Nhóm 0A và Nhóm 0B phải được tăng lên một lượng bằng số mẫu yêu cầu đối với các nhóm bổ sung.

3.2.2. Thử nghiệm

Chuỗi đầy đủ các thử nghiệm qui định trong Bảng 4 được yêu cầu cho việc xác nhận các hệ các điện trở gắn kết bề mặt được đề cập trong một quy định kỹ thuật cụ thể. Các thử nghiệm của mỗi nhóm phải được thực hiện theo thứ tự đã cho.

Toàn bộ mẫu phải chịu các thử nghiệm của Nhóm 0A và Nhóm 0B, sau đó được chia cho các nhóm khác.

Các mẫu có khiếm khuyết trong quá trình thử nghiệm Nhóm 0A hoặc 0B không được sử dụng cho các nhóm khác.

...

...

...

Xác nhận được cấp khi số lượng khiếm khuyết không vượt quá số lượng qui định các khiếm khuyết cho phép đối với mỗi nhóm hoặc phân nhóm và tổng số các khiếm khuyết cho phép.

CHÚ THÍCH: Bảng kê các thử nghiệm cỡ mẫu không đổi được cho trong Bảng 4. Bảng kê này bao gồm các chi tiết về lấy mẫu và các khiếm khuyết cho phép đối với các thử nghiệm và nhóm các thử nghiệm khác nhau, cùng với các chi tiết về các thử nghiệm có trong Điều 4 của IEC 60115-1 và Điều 2 của quy định kỹ thuật này, một tóm tắt đầy đủ các điều kiện thử nghiệm và các yêu cầu tính năng.

Bảng 4 chỉ ra các trường hợp, đối với các phương pháp thử nghiệm, các điều kiện thử nghiệm và/hoặc các yêu cầu tính năng, cần phải lựa chọn quy định kỹ thuật chi tiết.

Các điều kiện thử nghiệm và các yêu cầu tính năng đối với bảng kê các thử nghiệm cỡ mẫu không đổi phải tương tự như đã được nêu trong quy định kỹ thuật chi tiết cho việc kiểm tra sự phù hợp về chất lượng.

Bảng 4 - Bảng kê các thử nghiệm cỡ mẫu không đổi dùng để đánh giá xác nhận phù hợp mức EZ

Số điều và thử nghiệm

D hoặc ND

Điều kiện thử nghiệm

Cỡ mẫu và tiêu chí chấp nhận

...

...

...

(xem CHÚ THÍCH 1)

(xem CHÚ THÍCH 1)

(xem CHÚ THÍCH 2)

(xem CHÚ THÍCH 1)

n

c

...

...

...

ND

165

0

4.4.1 Kiểm tra bằng mắt

...

...

...

Như ở 4.4.1

NHÓM 0B

ND

165

0

4.4.2 Kích thước (đo)

4.5 Điện trở

...

...

...

Như qui định trong quy định kỹ thuật chi tiết. Như ở 4.5.2

NHÓM 1A

D

20

0

...

...

...

4.18 Khả năng chịu nhiệt hàn

Kiểm tra bằng mắt

Điện trở

Như ở 4.18.

∆R ≤ ±(...%R +…Ω)

4.29 Khả năng chịu dung môi của linh kiện

...

...

...

Dung môi:...

Nhiệt độ dung môi: ...

Phương pháp 2

Phục hồi:...

Xem quy định kỹ thuật chi tiết

NHÓM 1B

D

...

...

...

20

0

4.17 Khả năng hàn

Lão hóa, nếu áp dụng

Như ở 4.17.5

...

...

...

Phương pháp:...

Điện áp cách điện: ...V

Như ở 4.7.3

Thử điện áp giữa các điện trở gần nhau

Điện áp: ...V

...

...

...

Như ở 4.7.3

4.13 Gắn kết

Vật liệu nền và khoảng cách, xem 2.3.2 của quy định kỹ thuật này

4.6 Điện trở cách điện (chỉ cho các điện trở được cách điện)

...

...

...

Phương pháp:...

Điện áp cách điện: ...V

≥100 MΩ

4.13 Quá tải (ở trạng thái đã gắn kết)

Điện áp đặt phải là 2,5 lần điện áp danh định hoặc 2 lần điện áp giới hạn của phần tử, chọn mức ít khắc nghiệt hơn

Khoảng thời gian: 2 s

...

...

...

Kiểm tra bằng mắt

Không có hư hại nhìn thấy được

...

...

...

Điện trở

∆R ≤ ±(...%R +…Ω)

4.30 Khả năng chịu được dung môi của nhãn (nếu áp dụng)

Dung môi: ...

Nhiệt độ dung môi: ...

Phương pháp 1

...

...

...

Phục hồi: ...

Ghi nhãn rõ ràng

Nhóm 2

...

...

...

4.33 Thử nghiệm uốn vật nền

Điện trở

4.33.6 Kiểm tra lần cuối

Kiểm tra bằng mắt

...

...

...

Không có hư hại nhìn thấy dược

Nhóm 3

D

100

0

4.31 Dán

...

...

...

Vật liệu nền:...
Kiểm tra bằng mắt

Không có hư hại nhìn thấy được

Điện trở

...

...

...

Nhóm 3.1

D

20

0

4.32 Ứng suất cắt

Kiểm tra bằng mắt

...

...

...

Không có hư hại nhìn thấy được

4.19 Thay đổi nhiệt độ đột ngột

T_A: Nhiệt độ mức dưới

T_B: Nhiệt độ mức trên

...

...

...

Kiểm tra bằng mắt

Không có hư hại nhìn thấy được

Điện trở

...

...

...

∆R ≤ ±(...%R +…Ω)

4.23 Trình tự khí hậu

- Nóng khô

- Nóng ẩm, chu kỳ, Thử nghiệm Db, chu kỳ tuần hoàn thứ nhất

- Lạnh

- Nóng ẩm, chu kỳ, Thử nghiệm Db, các chu kỳ còn lại

- Tải điện một chiều

...

...

...

Kiểm tra bằng mắt

Không có hư hại nhìn thấy được

...

...

...

Điện trở

∆R ≤ ±(...%R +…Ω)

Nhóm 3.2

D

20

0

...

...

...

4.24 Nóng ẩm, trạng thái ổn định

Không có điện áp phân cực

Kiểm tra bằng mắt

...

...

...

Không có hư hại nhìn thấy được

Nhãn dễ đọc

Điện trở

∆R ≤ ±(...%R +…Ω)

...

...

...

D

20

0

4.25.1 Khả năng chịu đựng ở 70°C

Khoảng cách như ở 2.3.2 của qui định kỹ thuật này

Khoảng thời gian: 1000 h

...

...

...

Kiểm tra bằng mắt

Không có hư hại nhìn thấy được

...

...

...

Điện trở

∆R ≤ ±(...%R +…Ω)

Nhóm 3.4

D

20

...

...

...

4.25.3 Khả năng chịu đựng nhiệt độ mức cao

Khoảng cách như ở 2.3.2 của quy định kỹ thuật này Khoảng thời gian: 1000 h Kiểm tra ở 48 h, 500 h và 1000 h

...

...

...

Không có hư hại nhìn thấy được

Điện trở

∆R ≤ ±(...%R +…Ω)

...

...

...

ND

20

0

4.8 Thay đổi điện trở theo nhiệt độ

Nhiệt độ mức thấp/20 °C

...

...

...

≤...% hoặc

α: ...10-6/°C

20 °C/nhiệt độ mức cao

≤...% hoặc

α: ...10-6/°C

...

...

...

CHÚ THÍCH 2: Trong bảng này:

n = cỡ mẫu

c = tiêu chí chấp nhận nhóm (số các khiếm khuyết cho phép trên mỗi nhóm hoặc phân nhóm)

D = phá hủy

ND = không phá hủy

3.3. Kiểm tra sự phù hợp về chất lượng

3.3.1. Hình thành lô kiểm tra

Một lô kiểm tra phải bao gồm các hệ các điện trở gắn kết bề mặt có cấu trúc tương tự (xem 3.1). Lô phải là đại diện của các giá trị cực trị của dãy điện trở được chế tạo trong giai đoạn kiểm tra. Các kiểu loại có các đặc điểm nhiệt độ khác nhau của trở kháng được chế tạo trong giai đoạn này có thể được tổng hợp, ngoại trừ đối với các phân nhóm có chứa một thử nghiệm về đặc tính nhiệt độ của điện trở. Các giá trị cực trị thấp và cao, hoặc bất kỳ giá trị quan trọng của dải điện trở và đặc tính nhiệt độ của điện trở mà đã được xác nhận phù hợp thì phải được kiểm tra trong thời kỳ được cơ quan có thẩm quyền chấp nhận (xem CHÚ THÍCH).

Các mẫu cho Nhóm C và Nhóm D phải được thu thập trong vòng 13 tuần cuối của thời kỳ kiểm tra.

...

...

...

3.3.2. Bảng kê các thử nghiệm

Bảng kê các thử nghiệm theo lô và thử nghiệm định kỳ đối với kiểm tra sự phù hợp về chất lượng được cho ở Điều 2, Bảng 2 của quy định kỹ thuật cụ thể còn để trống, tức là IEC 60115-1.

3.3.3. Mức đánh giá

Mức đánh giá đưa ra trong quy định kỹ thuật chi tiết chỗ trống phải phù hợp với Bảng 5 và Bảng 6.

Bảng 5 - Kiểm tra sự phù hợp về chất lượng dùng cho kiểm tra theo lô

Phân nhóm kiểm tra^d)

Mức đánh giá

EZ

...

...

...

IL^a)

n^a)

c^a)

A0

...

...

...

A1

S-4

^c)

0

B1

S-3

^c)

...

...

...

B2

S-3

^c)

0

B3

S-3

^c)

0

^a) IL là mức kiểm tra;

...

...

...

c là số lượng cho phép các hạng mục không phù hợp.

^b) 100 % thử nghiệm phải được tiếp tục kiểm tra lại bằng cách lấy mẫu để theo dõi mức chất lượng diễn ra, tính bằng số các hạng mục không phù hợp trên phần mỗi triệu (ppm). Mức lấy mẫu do nhà chế tạo xác định. Để tính toán các giá trị phần triệu, mọi trường hợp tham số không đạt nào đều được tính như là một hạng mục không phù hợp. Trường hợp một hoặc nhiều hạng mục không phù hợp xảy ra trên một mẫu, thì lô này phải bị loại bỏ.

^c) Số lượng cần thử nghiệm: cỡ mẫu được phân bổ trực tiếp cho mã chữ cái IL trong Bảng IIA của IEC 60410 (kế hoạch lấy mẫu duy nhất dùng cho kiểm tra bình thường).

^d^) Nội dung của các phân nhóm kiểm tra được mô tả trong Điều 2 của yêu cầu kỹ thuật cụ thể để trống liên quan.

Bảng 6 - Kiểm tra sự phù hợp về chất lượng dùng cho thử nghiệm định kỳ

Phân nhóm kiểm tra ^b)

Mức đánh giá

EZ

...

...

...

p^a)

n^a)

c^a)c)

C1

C2

C3

...

...

...

C5

D1

D2

3

3

3

3

3

12

...

...

...

20

20

20

20

20

20

20

0

0

...

...

...

0

0

0

0

^a) p là định kỳ theo tháng

n là cỡ mẫu

c là số lượng cho phép các hạng mục không phù hợp.

...

...

...

^c) Nếu có một hạng mục không phù hợp, tất cả các thử nghiệm của phân nhóm phải được lặp lại trên một mẫu mới và sau đó không cho phép có thêm các hạng mục không phù hợp. Được phép tiếp tục ra sản phẩm trong khi thử nghiệm lặp lại.

PHỤ LỤC A

(quy định)

Giản đồ tiêu chuẩn hóa và nhận dạng chân dùng cho hệ điện trở gắn kết bề mặt

Sơ đồ A

...

...

...

Sơ đồ B

Sơ đồ C

Sơ đồ C

Hình A.1 - Giản đồ tiêu chuẩn hóa và nhận dạng chân điện trở

PHỤ LỤC B

(quy định)

Kết cấu các chân

...

...

...

Chân lõm

CHÚ THÍCH 1: Các hình trên được đưa ra chỉ để cho thấy kết cấu chân, không để nhận dạng hình dạng cụ thể của điện trở.

CHÚ THÍCH 2: Kích thước A, B và P được ưu tiên để mô tả như là các giá trị tham chiếu trong mỗi quy định kỹ thuật chi tiết.

Hình B.1 - Kết cấu các chân

MỤC LỤC

Lời nói đầu

1. Yêu cầu chung

...

...

...

3. Qui trình đánh giá chất lượng

Phụ lục A (quy định) - Giản đồ tiêu chuẩn hóa và nhận dạng chân dùng cho hệ các điện trở gắn kết bề mặt

Phụ lục B (quy định) - Kết cấu các đầu nối

^[1] Hệ thống tiêu chuẩn Quốc gia đã có TCVN 6748-1:2009 hoàn toàn tương đương với IEC 60115-1:2008.