5 Đặc tính cần
đo và phương pháp đo
5.1 Yêu cầu chung
Các đặc tính của mẫu hạt nano cần đo đạc
được liệt kê trong Bảng 1. Các phương pháp đo liệt kê trong Bảng 1 được chấp nhận
để xác định các đặc tính.
Khi biểu thị kết quả đo, các đơn vị phải
là đơn vị SI hoặc bội hoặc là ước số của chúng theo TCVN 7870-1 (ISO 80000-1).
Các ký hiệu đơn vị “nm” và “g” có thể được sử dụng thay cho “10-9 m” và “10-3 kg”
Tiêu chuẩn này áp dụng cho các hạt
nano nêu trong Phụ lục A.
Bảng 1 - Đặc
tính và phương pháp đo
Đặc tính
Phương pháp
đo
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
Thành phần hoá học
Phân tích hoá học (xem 5.2)
Hàm lượng các thành phần pha tinh thể
Phương pháp XRD (xem 5.3)
Diện tích bề mặt
Diện tích bề mặt riêng
Phương pháp hấp phụ khí (xem 5.4
Cỡ hạt
Đường kính của hạt sơ cấp
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
Cỡ tinh thể
Phương pháp XRD (xem 5.6)
5.2 Thành phần
hóa học
Mẫu có thể bao gồm các hợp chất hóa học nhất
định. Hàm lượng của các hợp chất cấu thành là tỷ lệ giữa khối lượng của hợp chất
hóa học trong mẫu bột so với khối lượng khô của toàn bộ mẫu. Hàm lượng của hợp
chất chính trong mẫu phải được đo và kết quả thường được biểu thị dưới dạng %
khối lượng.
Từng phương pháp đo thích hợp sẽ được
áp dụng để xác định hàm lượng. Các phương pháp đo có thể được lấy từ danh mục
các phương pháp đo sau đây. Những tiêu chuẩn được liệt kê cung cấp các quy
trình đo hữu ích cho các phương pháp đo:
- Phương pháp chuẩn độ;
- Phương pháp phân tích khối lượng;
- XRF: ISO 9516-1:2003 và ISO/TS
80004-6:2013;
- ICP-OES: ISO/TS 80004-6:2013;
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
- XPS: ISO 10810:2019 và ISO/TS
80004-6:2013;
- SIMS: ISO/TS 80004-6:2013;
- EDX: ISO/TS 80004-6:2013;
- UV/Vis/NIR: ISO/TS 10868:2017 và
ISO/TS 80004-6:2013;
- TG, xem ISO/TS 11308:2020 và ISO/TS
80004-6:2013.
Các tiêu chuẩn quy định riêng cho các
quy trình đo lường đối với thành phần hóa học của vật liệu liên quan và phương
pháp đo liên quan được nêu trong Thư mục tài liệu tham khảo. Các tài liệu khác
mô tả các phương pháp đo cũng được nêu trong Thư mục tài liệu tham khảo.
Các phép đo phải sử dụng vật liệu chuẩn
được chứng nhận liên quan, nếu có.
5.3 Hàm lượng các
thành phần pha tinh thể
Mẫu có thể bao gồm các thành phần pha tinh thể
khác nhau của hợp chất hóa học. Hàm lượng các thành phần tinh thể của hợp chất
hóa học là tỷ lệ giữa khối lượng của các thành phần và khối lượng của toàn bộ hợp
chất hóa học. Hàm lượng các thành phần pha tinh thể phải được đo khi mẫu bao gồm
các thành phần pha tinh thể khác nhau và kết quả của hàm lượng thành phần riêng
lẻ được biểu thị bằng cùng một đơn vị hoặc kg/kg.
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
Khi mẫu không hiển thị vạch nhiễu xạ
rõ ràng, ví dụ, trong trường hợp vô định hình và cấu trúc đa tinh thể, hàm lượng
các thành phần pha tinh thể nằm ngoài phạm vi của các đặc tính được đo.
5.4 Diện tích bề
mặt riêng
Diện tích bề mặt của mẫu tương quan với
cỡ của các hạt tạo thành. Diện tích bề mặt riêng của mẫu phải được đo và kết quả
được biểu thị bằng đơn vị m2/g hoặc tương đương.
Diện tích bề mặt riêng của mẫu phải được
đo bằng phương pháp hấp phụ khí sử dụng phương pháp BET. Đối với phương pháp
BET, phải sử dụng các vật liệu chuẩn đã chứng nhận và sẵn có. ISO 9277 có
thể áp dụng cho phép đo diện tích bề mặt riêng. ISO 18757 cung cấp một số thông
tin chi tiết hữu ích cho các vật liệu cụ thể.
5.5 Đường kính hạt
sơ cấp
Đường kính hạt sơ cấp hoặc là giá trị
trung bình của đường kính Feret dài nhất và ngắn nhất hoặc đường kính tương
đương diện tích của hạt sơ cấp dựa trên kích thước ngoài cùng được xác định
trên một ảnh hai chiều được
chụp bởi TEM, SEM hoặc
STEM. Phải báo cáo đường kính áp dụng.
Đường kính hạt sơ cấp có thể thu được
bằng cách đo các hạt đơn lẻ rời rạc ở trạng thái không kết tụ hoặc các hạt có cấu trúc
trong kết tập hoặc kết tụ. Quy trình được sử dụng phải được lập thành văn bản
như yêu cầu trong Điều 7.
Kết quả của phép đo phân bố cỡ hạt của
các hạt phải được biểu thị dưới dạng biểu đồ hoặc bảng trong đó số lượng hạt với
đường kính nằm trong phạm vi nhất định trên trục tung và đường kính hạt được biểu
thị trên trục hoành như quy định trong ISO 9276-1. Phải nêu rõ giá trị nào được
sử dụng: đường kính Feret hay đường kính tương đương diện tích. Ngoài ra, đường
kính trung bình của các hạt phải được lấy làm giá trị trung vị của tập dữ liệu.
Đường kính hạt phải được biểu thị bằng đơn vị m hoặc nm.
Đường kính hạt sơ cấp phải được đo bằng
TEM, SEM hoặc STEM có thể được sử dụng khi độ chụm của phép đo các hạt là đủ.
ISO 14488, ISO 14887 và bộ ISO 2859 áp dụng cho việc chuẩn bị hoặc lấy mẫu và
ISO 13322-1 áp dụng cho xử lý hình ảnh. Các hạt sơ cấp cần được xác định thông
qua quá trình xử lý hình ảnh. Việc hiệu chuẩn của phạm vi của ảnh TEM và SEM phải
được thực hiện bằng cách sử dụng các vật liệu chuẩn đã được chứng nhận hoặc từ
các cơ sở dữ liệu hình ảnh đã được phổ biến có thông tin về kích thước như khoảng
cách mạng tinh thể hoặc kích thước của các vật liệu thu được từ hình ảnh vi hiển
thị. Số lượng và cỡ của các hạt đếm được phải được lập thành văn bản. Số lượng
được chọn sẽ phụ thuộc vào khoảng cỡ hạt và độ chụm mong muốn.
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
Trên thực tế, việc giải thích định
nghĩa của hạt sơ cấp trong 3.8 để áp dụng phương pháp đo có thể phụ thuộc vào hợp
chất hóa học cụ thể và việc chuẩn bị mẫu thông qua quá trình phân tán cụ thể được
áp dụng. Báo cáo bằng văn bản về việc chuẩn bị mẫu là cần thiết.
Khi ảnh của hạt sơ cấp không thể nhìn
thấy trong vật liệu bằng kính hiển vi, ví dụ: trong trường hợp các hạt được kết
tụ ở mật độ cao trong kết tập, phép đo bằng kính hiển vi phải được tiến hành đối
với các kết tập hoặc kết tụ.
5.6 Cỡ tinh thể
Chiều rộng pic của XRD từ các hạt tinh
thể phụ thuộc vào cỡ trung bình của các hạt theo công thức Scherrer. Đường kính
trung bình của các hạt phải được đo bằng XRD và kết quả được biểu thị bằng đơn
vị m hoặc nm.
Khi mẫu bột không thể hiện vạch nhiễu
xạ rõ ràng, trong trường hợp chất vô định hình hoặc cấu trúc đa tinh thể, thì việc đo
cỡ tinh thể là không thể áp dụng được và có thể bị loại trừ khỏi các đặc điểm cần
đo. Ngoài ra, đối với mẫu vật liệu dạng bột, khi cỡ hạt sơ cấp đã được đo với mức
chính xác có thể chấp nhận, thì không cần thiết phải đo cỡ tinh thể.
Các quy trình đo áp dụng cho cỡ tinh
thể được mô tả trong EN
13925-1:2003 và JIS K 0131:1996. Thông thường, việc chuẩn bị mẫu và thiết bị đo
giống nhau có thể được sử dụng cho cả hai các phép đo cỡ tinh thể và hàm lượng
các thành phần pha tinh thể.
6 Lấy mẫu và
chuẩn bị mẫu
Mẫu đo phải là mẫu đại diện cho tập hợp gốc của
các hạt dạng bột. Lấy mẫu và quy trình tách mẫu áp dụng ISO 14488.
Phải dự kiến ảnh hưởng bất kỳ của quá
trình lấy mẫu đến các đặc tính đo của các hạt nano. Áp dụng các hiệu chỉnh đối
với các ảnh hưởng như vậy hoặc tích hợp vào các thành phần thích hợp của độ
không đảm bảo.
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
Trong quá trình xử lý mẫu, cần áp dụng
phương pháp phân tán đã thiết lập, ví dụ: ISO 14887.
7 Báo cáo thử
nghiệm
Báo cáo thử nghiệm phải bao gồm các
thông tin sau:
a) thông tin cần thiết để xác định mẫu
được đo (tên sản phẩm, tên hóa chất và tên của nhà sản xuất và các thông tin
khác, nếu có);
b) thông tin định tính về sự có mặt của vật
liệu phủ trên bề mặt vật liệu lõi;
c) viện dẫn tiêu chuẩn này, tức là
TCVN 13871:2023 (ISO 17200:2020);
d) kết quả của các phép đo;
e) tài liệu về quy trình chuẩn bị mẫu
và các phương pháp đo được sử dụng đối với từng đặc tính;
f) ngày đo, tên phòng thử nghiệm và
các công bố về hệ thống chất lượng của phòng thử nghiệm;
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
h) thông tin bất kỳ khác chứng minh độ
tin cậy của kết quả đo;
i) sai lệch bất kỳ so với các phương
pháp đo; nếu có sai lệch so với tiêu chuẩn này, tên và thông tin chi tiết về
các phương pháp đo được sử dụng và giải thích những sai lệch này.
Phụ lục A
(tham khảo)
Khả năng áp dụng
đối với các hợp chất hóa học và kim loại
Tiêu chuẩn này có thể áp dụng cho các
hạt nano dạng bột của các hợp chất hóa học và kim loại sau:
- oxit kim loại (AI2O3,
Bi2O3,
CeO2, CoO, CuO,
Fe2O3, Fe3O4, Ho2O3,
InO,
TiO2,
ZnO, ZrO2, SnO2, Mn3O4, Y2O3,
SiO2, SmO3, La2O3, Ta2O5, Tb2O3, Eu2O3,
Nd2O3);
- các muối cacbonat (CaCO3, Ag2CO3, CoCO3,
ZrCO3, SrCO3, NiCO3,
BaCO3, MgCO3);
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
- nitrit (Si3N4,
AIN, CrN, ZrN, TaN, TiN, NbN, VN,
BN);
- vật liệu cacbon (fulleren, các dẫn
xuất của fulleren);
- polyme (polystyrene);
- florua (MgF2);
- muối oxit kim loại (BaTiO3);
- kim loại (Ni, Au, Ag, AI, Cu, Si).
Thư mục tài
liệu tham khảo
[1] ISO 2859 (All parts) Sampling
procedures for inspection by attributes [(tất cả các phần), Quy
trình lấy mẫu để kiểm tra theo các thuộc tính]
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
[3] ISO 9516-1:2003, Iron ores -
Determination of various elements by X-ray fluorescence spectrometry - Part 1:
Comprehensive procedure (Quặng sắt - Xác định các nguyên tố khác nhau bằng phép
đo phổ huỳnh quang tia X - Phần 1: Quy trình toàn diện)
[4] ISO 10810:2019, Surface
Chemical analysis -X-rayphotoelectron spectroscopy -Guidelines for analysis
(Phân tích hóa học bề mặt - Quang phổ quang điện tử tia X - Hướng dẫn phân
tích)
[5] ISO/TS 10868: 2017, Nanotechnologies
- Characterization of single-wall carbon nanotubes using ultraviolet - visible
- near infrared (UV-Vis-NIR) absorption spectroscopy [Công nghệ nano - Đặc tính
của ống nano cacbon một thành sử dụng quang phổ hấp thụ tia tử ngoại - phổ kiến
- hồng ngoại gần (UV-Vis-NIR)]
[6] ISO/TS 11931, Nanotechnologies
- Nanoscale calcium carbonate in powder form - Characteristics and measurement
(Công nghệ nano - Canxi cacbonat thang nano dạng bột - Đặc tính và phép đo)
[7] ISO/TS 11937, Nanotechnologies
- Nanoscale titanium dioxide in powder form - Characteristics and measurement
(Công nghệ nano - Titan dioxit thang nano dạng bột - Đặc tính và phép đo)
[8] ISO/TS 11308:2020, Nanotechnologies
- Characterization of carbon nanotube samples using thermogravimetric analysis
(Công nghệ nano - Đặc tính của các mẫu ống nano cacbon sử dụng phân tích nhiệt
lượng)
[9] ISO 13322-1:2014, Particle size
analysis - Image analysis methods - Part 1: Static image analysis methods (Phân
tích cỡ hạt - Phương pháp phân tích ảnh - Phần 1: Phương pháp phân tích ảnh
tĩnh)
[10] ISO 14887, Sample preparation
- Dispersing procedures for powders in liquids (Kế hoạch lấy mẫu tuần tự để kiểm
tra theo thuộc tính) (Chuẩn bị mẫu - Quy trình phân tán bột trong chất lỏng)
[11] ISO 14488, Particulate
materials - Sampling and sample splitting for the determination of particulate
properties (Vật liệu dạng hạt - Lấy mẫu và tách mẫu để xác định đặc tính hạt)
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
[13] TCVN 13782 (ISO 19749) Công
nghệ nano - Phép đo phân bố cỡ hạt và hình dạng bằng hiển vi điện tử quét
[14] TCVN 13874 (ISO 21363) Công
nghệ nano - Phép đo phân bố cỡ hạt và hình dạng bằng hiển vi điện tử truyền qua
[15] ISO 28591, Sequential sampling
plans for inspection by attributes
[16] TCVN 7870-1 (ISO 80000-1), Đại
lượng và đơn vị - Phần 1: Tổng quan
[17] ISO/TS 80004-6:2013, Nanotechnologies
- Vocabulary - Part 6: Nano-object characterization (Công nghệ
nano - Từ vựng - Phần 6: Đặc điểm vật thể nano)
[18] EN 13925-1:2003, Non-destructive
testing - X-ray diffraction from polycrystallite and amorphous
materials - Part 1: General principles (Thử
nghiệm không phá hủy - Nhiễu xã tia X từ đa tinh thể
và vật liệu vô định hình - Phần 1: Nguyên tắc chung)
[19] JIS K 0131:1996, General rules
forX-ray diffractometric analysis (Quy tắc chung về phân tích nhiễu xạ tia X)