ISO/ASTM 51649:2015
|
TCVN 12532:2018
|
Phụ lục A1
|
Phụ lục A
|
Phụ lục A2
|
Phụ lục B
|
Phụ lục A3
|
Phụ lục C
|
Phụ lục A4
|
Phụ lục D
|
Phụ lục A5
|
Phụ lục E
|
Phụ lục A6
|
Phụ lục F
|
Phụ lục A7
|
Phụ lục G
|
Phụ lục A8
|
Phụ lục H
|
Phụ lục A9
|
Phụ lục I
|
Phụ lục A10
|
Phụ lục J
|
Phụ lục A11
|
Phụ lục K
|
THỰC HÀNH ĐO
LIỀU ÁP DỤNG CHO THIẾT BỊ CHIẾU XẠ CHÙM ĐIỆN TỬ Ở NĂNG LƯỢNG TỪ 300 KEV ĐẾN 25
MEV
Standard
practice for dosimetry in an electron beam facility for radiation processing at
energies between 300 keV and 25 MeV
1 Phạm vi áp dụng
1.1 Tiêu chuẩn
này đưa ra các quy trình đo liều để đánh giá chất lượng lắp đặt (IQ), đánh giá
chất lượng vận hành (OQ), đánh giá hiệu quả (PQ) và các quá trình xử lý thường
xuyên ở các thiết bị
chiếu xạ chùm điện tử.
1.2 Dải năng lượng
chùm điện tử nêu trong
tiêu chuẩn này từ 25 keV đến 300 keV, mặc dù có một số thảo luận về các nguồn
năng lượng khác.
1.3 Đo liều chỉ là một phần
của chương trình bảo đảm chất lượng tổng thể để tuân thủ các thực
hành sản xuất tốt được sử dụng trong các ứng dụng xử lý bằng bức xạ. Các phép
đo khác ngoài đo liều có thể được yêu cầu cho các ứng dụng cụ thể
như tiệt trùng các vật phẩm chăm sóc sức khỏe và bảo quản thực phẩm.
1.4 Hiện đã có
các tiêu chuẩn cụ thể dùng trong tiệt trùng các vật phẩm chăm sóc sức khỏe bằng
bức xạ và chiếu xạ thực phẩm. Đối với biện pháp tiệt trùng các vật phẩm y tế bằng bức xạ,
xem TCVN 7393-1 (ISO 11137-1) (Yêu cầu) và TCVN 7393-3 (ISO 11137-3) (Hướng dẫn
về các vấn đề đo liều). Đối với chiếu xạ thực phẩm, xem TCVN 12076 (ISO 14470).
Các đối tượng nằm trong phạm vi áp dụng của các tiêu chuẩn này, thì ưu tiên sử dụng
chúng. Thông tin về hiệu quả hoặc giới hạn liều quy định đối với các sản
phẩm thực phẩm không nằm trong phạm vi của tiêu chuẩn này [xem TCVN 7511 (ASTM
F 1355) và TCVN 7413 (ASTM F1356), TCVN 12079 (ASTM F1736) và TCVN 7415 (ASTM F
1885)).
1.5 Tiêu chuẩn
này nằm trong bộ các tiêu chuẩn đưa ra khuyến cáo về việc thực hiện và sử dụng
đúng phép đo liều trong xử lý bằng bức xạ. Tiêu chuẩn này thường được sử dụng
kết hợp với TCVN 12303 (ISO/ASTM 52628).
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
1.6 Tiêu chuẩn này không đề
cập đến tất cả các vấn
đề liên quan đến an toàn. Trách nhiệm của người sử dụng tiêu chuẩn này là phải
tự xác lập các tiêu chuẩn thích hợp về thực hành an toàn và sức khỏe và xác định khả
năng áp dụng các giới hạn quy định trước khi sử dụng.
2 Tài liệu viện dẫn
Các tài liệu viện dẫn sau là rất cần
thiết cho việc áp dụng tiêu chuẩn này. Đối với các tài liệu viện dẫn ghi năm công bố thì áp dụng
phiên bản được nêu. Đối với các tài liệu viện dẫn không ghi năm công bố thì áp dụng
phiên bản mới nhất, bao gồm cả các sửa đổi, bổ sung (nếu có).
2.1 Các tiêu chuẩn
ASTM
TCVN 7413 (ASTM F 1356), Hướng dẫn
chiếu xạ thịt gia súc và gia cầm tươi, đông lạnh hoặc chế biến để kiểm soát
các vi sinh vật gây bệnh và các
vi sinh vật khác.
TCVN 7415 (ASTM F 1885) Tiêu chuẩn
hướng dẫn chiếu xạ gia vị, thảo mộc, rau thơm dạng khô để kiểm soát vi sinh vật
gây bệnh và các
vi sinh vật khác.
TCVN 7511 (ASTM F 1355), Tiêu chuẩn
hướng dẫn chiếu xạ nông sản tươi như một biện
pháp xử lý kiểm dịch thực vật.
TCVN 12079 (ASTM F 1736) Hướng dẫn
chiếu xạ để kiểm soát vi sinh vật gây bệnh và vi sinh vật gây hư hỏng
trên cá và động vật không xương sống dùng làm thực phẩm.
TCVN 12534 (ASTM E 2232), Hướng dẫn
lựa chọn và sử dụng phương pháp toán học để tính liều hấp
thụ trong các ứng dụng xử
lý bằng bức xạ.
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
2.2 Các tiêu chuẩn
ISO/ASTM
TCVN 7910 (ISO/ASTM 51275), Bảo vệ
bức xạ - Thực hành sử dụng hệ đo liều phim nhuộm màu bức xạ.
TCVN 8230 (ISO/ASTM 51539), Hướng dẫn
sử dụng dụng cụ chỉ thị nhạy bức
xạ.
TCVN 8234 (ISO/ASTM 51702), Thực
hành đo liều áp dụng
cho thiết bị chiếu xạ gamma.
TCVN 8769 (ISO/ASTM 51818) Thực
hành đo liều áp dụng cho
thiết bị chùm điện tử để xử lý chiếu xạ ở
năng lượng từ
80 keV đến 300 keV.
TCVN 12019 (ISO/ASTM 51261), Bảo vệ
bức xạ - Thực hành hiệu chuẩn hệ đo liều thường quy cho xử lý bức xạ.
TCVN 12020 (ISO/ASTM 51608), Bảo vệ
bức xạ - Thực hành đo liều trong một cơ sở xử lý bức xạ bằng tia X (bức xạ hãm)
với năng lượng trong khoảng từ 50 keV đến 7,5 MeV.
TCVN 12021 (ISO/ASTM 51707), Bảo vệ
bức xạ - Hướng dẫn đánh giá độ không đảm bảo đo trong đo liều xử lý bức xạ.
TCVN 12303 (ISO/ASTM 52628), Bảo vệ
bức xạ - Thực hành đo liều trong xử lý bằng bức xạ.
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
ISO/ASTM 52701, Guide for
performance characterization of dosimeters and dosimetry systems for use in
radiation processing (Hướng dẫn đặc tính hiệu năng của liều kế và hệ đo liều để
dùng trong xử lý bằng bức xạ).
2.3 Tiêu chuẩn
ISO
TCVN 7393-1 (ISO 11137-1), Tiệt khuẩn
các sản phẩm chăm sóc sức
khỏe - Bức xạ - Phần 1: Yêu cầu triển khai, xác nhận giá trị sử dụng và kiểm
soát thường quy quá trình tiệt khuẩn đối với thiết bị y tế.
TCVN 7393-3 (ISO 11137-3), Tiệt khuẩn các sản phẩm chăm sóc sức
khỏe - Bức xạ - Phần 3: Hướng dẫn các vấn đề về đo liều.
TCVN 12076 (ISO 14470), Chiếu xạ thực phẩm
- Yêu cầu đối với việc xây dựng, xác nhận giá trị và kiểm soát thường xuyên đối
với quá trình chiếu
xạ bằng bức xạ ion hóa để xử lý thực phẩm.
TCVN ISO 10012:2007, Hệ thống quản
lý đo lường - Yêu cầu đối với quá trình đo và thiết bị đo.
TCVN ISO/IEC 17025:2007 (ISO/IEC
17025:2005), Yêu cầu chung về năng lực của phòng thử nghiệm và hiệu
chuẩn.
2.4 Báo cáo của Ủy
ban Quốc tế về đơn vị và các phép đo bức xạ (ICRU)
Báo cáo số 34 của ICRU, The
Dosimetry of Pulsed Radiation (Đo liều bức xạ dạng xung).
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
Báo cáo số 37 của ICRU, Stopping
Powers for Electrons and Positrons (Năng lượng hãm đối với electron và positron).
Báo cáo số 80 của ICRU, Dosimetry
Systems for Use in Radiation Processing (Hệ đo liều dùng trong xử lý bằng bức xạ).
Báo cáo số 85a của ICRU, Fundamental
units and quantites for ionizing radiation (Đơn vị và đại lượng cơ bản trong bức
xạ ion hóa).
2.5 Báo cáo của Ủy
ban phối hợp về hướng dẫn đo lường (JCGM)
JCGM 100:20081), Evaluation of
measurement data - Guide to the expression of uncertainty in measurement (Đánh
giá dữ liệu đo lường - Hướng dẫn trình bày độ không đảm bảo đo)
3 Thuật ngữ và định
nghĩa
Trong tiêu chuẩn này sử dụng các thuật
ngữ và định nghĩa sau:
3.1 Định
nghĩa
3.1.1
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
Lượng năng lượng bức xạ ion hóa truyền cho một
đơn vị khối lượng vật chất xác định.
3.1.1.1 Giải thích: (1) Đơn vị
đo liều hấp thụ trong đơn vị đo quốc tế SI là gray (Gy). 1 Gy tương đương với sự
hấp thụ 1 Jun trên 1 kilogam vật chất xác định (1 Gy = 1 J/kg). Biểu thức toán học
là tỷ số giữa và dm,
trong đó là năng lượng hấp
thụ trung bình mà bức xạ ion hóa truyền cho khối vật chất có khối lượng là dm.
(Xem Báo cáo số 85a của ICRU).
3.1.1.2 Giải thích: (2) liều hấp
thụ đôi khi còn được
gọi là liều.
3.1.2
Phòng thử nghiệm được
công nhận
(approved laboratory)
Phòng thử nghiệm được cơ quan có thẩm quyền
công nhận theo TCVN ISO/IEC 17025 (ISO/IEC 17025) hoặc có hệ thống chất lượng
phù hợp với các yêu cầu của TCVN ISO/IEC 17025 (ISO/IEC 17025).
3.1.2.1 Giải thích: sử dụng
phòng thử nghiệm được cơ quan có thẩm quyền công nhận hoặc phòng thử nghiệm hiệu
chuẩn khác được công nhận theo TCVN ISO/IEC 17025 (ISO/1EC 17025) hoặc theo các
tiêu chuẩn tương đương để đảm bảo liên kết chuẩn quốc gia hoặc chuẩn quốc tế.
Giấy chứng nhận hiệu chuẩn được cung cấp bởi phòng thử nghiệm không có chứng nhận hoặc
công nhận chính thức sẽ không được xem là có liên kết chuẩn quốc gia hoặc chuẩn quốc tế.
3.1.3
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
Cường độ chùm điện tử phát ra
trung bình theo thời
gian; đối với máy gia
tốc xung, giá trị trung bình này được lấy
trên một lượng lớn các xung (xem Hình 1).
3.1.4
Độ dài chùm (beam length)
Kích thước của vùng chiếu xạ dọc theo
hướng chuyển động của sản phẩm tại khoảng
cách quy định từ cửa sổ máy gia tốc (xem Hình 2).
3.1.4.1 Giải thích: Độ dài chùm
vuông góc với độ rộng chùm và với các trục của chùm điện tử. Trong trường hợp sản
phẩm đứng yên trong quá trình chiếu xạ, độ dài “chùm" và “độ rộng chùm” có
thể hoán đổi nhau.
Hình 1 - Ví dụ minh họa
cường độ chùm dạng xung (lpuise), cường độ
chùm trung bình (lavg), độ rộng xung (W) và tốc độ lặp
lại (f) đối với máy
gia tốc xung
3.1.5
Độ rộng chùm (beam width)
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
3.1.5.1 Giải thích: Đối với thiết
bị chiếu xạ có hệ
băng chuyền, độ rộng chùm thường vuông góc với hướng chuyển động của
băng chuyền (xem Hình 2). Độ rộng chùm được xác định là khoảng cách giữa hai điểm
dọc theo mặt cắt liều, tại mức xác định từ vùng liều cực đại trong mặt cắt liều
(xem Hình 3). Một số kỹ thuật khác nhau để tạo ra các chùm điện tử có độ rộng đủ
để bao phủ cả vùng sản
phẩm được xử lý, ví dụ: sử dụng
phương pháp quét điện tử chùm hẹp (trong
trường hợp đó độ rộng chùm cũng là độ rộng quét), các phần tử đặt cách xa tiêu
điểm, các lá tán xạ.
Hình 2 - Sơ đồ
biểu diễn độ dài chùm và độ rộng chùm đối với chùm dạng quét sử dụng hệ băng
chuyền
Hình 3 - Ví dụ
về sự phân bổ liều chùm điện tử dọc theo hướng quét khi độ rộng chùm được ghi lại
ở mức phân đoạn xác định
f của liều cực đại trung bình Dmax
3.1.6
Vật liệu thay thế (compensating
dummy)
Xem sản phẩm mô phỏng.
3.1.7
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
Sự thay đổi liều hấp thụ theo độ sâu
tính từ bề mặt tới của vật liệu được chiếu xạ.
3.1.7.1 Giải thích: Các phân bố
liều điển hình dọc theo trục của chùm trong các vật liệu đồng nhất được
tạo ra bởi chùm điện tử đơn năng tới
thông thường được nêu trong Phụ lục B.
3.1.8
Tỷ số đồng đều liều (dose
uniformity ratio)
Tỷ số giữa liều cực đại và
liều cực tiểu trong sản phẩm chiếu xạ.
3.1.8.1 Giải thích: Khái niệm này cũng được gọi
là tỷ số liều cực
đại/liều cực tiểu.
3.1.9
Hệ đo liều (dosimetry system)
Hệ được dùng để đo liều hấp thụ bao gồm
các liều kế, các dụng cụ đo liều và các chuẩn tham chiếu có liên quan cũng như các quy trình sử dụng
chúng.
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
Năng lượng chùm điện tử (electron
beam energy)
Động năng của điện tử được gia tốc
trong chùm. Đơn vị: Jun (J).
3.1.10.1 Giải thích: Đơn vị
electron vôn (eV) thường
được dùng làm đơn vị của năng lượng (chùm) điện tử, trong đó 1 eV=
1,602 x 10-19 J. Trong xử
lý bằng bức xạ, khi các chùm có phổ năng lượng điện tử rộng thường
được sử dụng, thì thuật ngữ năng lượng có thể xảy ra nhất (Ep) và năng
lượng trung bình (Ea) là các thuật
ngữ chung. Năng lượng này được liên kết với quãng chạy của chùm điện tử thực
tế Rp và độ sâu một nửa giá trị R50 theo công thức
thực nghiệm (xem Hình 4 và Phụ lục D).
De: là liều tại
bề mặt chùm đi vào;
Ropt: là độ sâu mà
tại đó liều ở phần
suy giảm của đồ thị bằng De;
R50: là độ sâu mà tại
đó liều giảm đến
50 % so với
giá trị cực đại;
R50e: là độ sâu mà tại đó liều
giảm đến 50 % liều De;
Rp: là độ sâu
khi đường thẳng ngoại suy của đồ thị suy giảm gặp trục độ sâu.
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
3.1.11
Thiết bị chùm điện tử (electron
beam facility)
Thiết lập sử dụng các điện tử mang
năng lượng được tạo ra bởi các máy gia
tốc hạt để chiếu
xạ sản phẩm.
3.1.12
Phổ năng lượng điện tử (electron
energy spectrum)
Hàm phân bố các điện tử theo năng lượng.
3.1.13
Đánh giá chất lượng
lắp đặt
(installation qualification)
IQ
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
3.1.14
Đánh giá chất lượng vận hành (operational
qualification)
OQ
Quá trình thu nhận và lập hồ sơ nhằm
chứng minh thiết bị, dụng cụ được lắp đặt hoạt động trong giới hạn đã định khi sử dụng
theo đúng quy trình vận hành.
3.1.15
Đánh giá hiệu quả (performance
qualification)
PQ
Quá trình thu nhận và lập hồ sơ nhằm
chứng minh rằng thiết bị, dụng cụ được lắp đặt hoạt động theo đúng quy trình vận hành,
thực hiện phù hợp với tiêu chí đã định và sản phẩm xử lý đáp ứng quy định kỹ thuật.
3.1.16
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
Thể tích vật liệu có cấu hình nạp hàng
xác định được chiếu xạ như một đơn vị độc lập.
3.1.17
Chu trình chiếu xạ (production
run)
Một loạt các đơn vị nạp hàng chứa cùng
một loại vật liệu hoặc sản phẩm có đặc tính hấp thu bức xạ giống nhau, được chiếu
xạ liên tiếp với cùng một dải liều hấp thụ quy định.
3.1.18
Vật liệu chuẩn (reference
material)
Vật liệu đồng nhất có
các đặc tính tán xạ và hấp thụ bức xạ
đã biết được sử dụng để thiết lập các đặc trưng của quá trình chiếu xạ, chẳng hạn
như độ đồng đều quét,
sự phân bố liều theo độ sâu và độ tái lập của liều đi vào.
3.1.19
Mặt phẳng tham chiếu (reference
plane)
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
3.1.20
Vị trí giám sát thường xuyên (routine
monitoring position)
Vị trí mà liều hấp thụ được theo dõi trong suốt
quá trình xử lý thường xuyên để đảm bảo sản
phẩm nhận được liều hấp thụ quy định đối với quá trình.
3.1.20.1 Giải thích: Vị trí này có thể
là vị trí liều cực tiểu hoặc cực đại trong đơn vị nạp hàng hoặc có thể là vị trí thay thế thuận tiện ở trong, trên
hoặc gần đơn vị nạp hàng mà tại vị trí này mối quan hệ của liều với liều cực tiểu
và cực đại được thiết lập.
3.1.21
Sản phẩm mô phỏng (simulated
product)
Vật liệu có các đặc tính hấp thụ và
tán xạ giống sản phẩm, vật liệu hoặc chất cần chiếu xạ.
3.1.21.1 Giải thích: Sản phẩm mô
phỏng được sử dụng để thay thế cho sản phẩm, vật liệu hoặc chất cần chiếu xa khi xác
định đặc tính của máy
chiếu xạ. Khi được
sử dụng trong các chu trình chiếu xạ thường xuyên để bù vào sự
thiếu hụt sản phẩm, sản phẩm mô phỏng đôi khi được gọi là vật liệu
thay thế. Khi được sử dụng để lập bản đồ liều, sản phẩm mô phỏng
đôi khi được gọi là vật liệu giả.
3.1.22
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
Độ dày của vật liệu hấp thụ được biểu
thị bằng khối lượng trên đơn vị diện tích, bằng tích của độ sâu trong vật liệu t
và mật độ ρ.
3.1.22.1 Giải thích: Nếu m là khối
lượng của vật liệu bên dưới diện tích A của vật liệu mà chùm đi qua thì:
Đơn vị đo quốc tế SI của z là kg/cm2,
tuy nhiên, thực tế thường biểu thị t bằng centimet (cm) và ρ bằng
gam trên centimet khối (g/cm3), nên z
được tính bằng gam trên centimet vuông (g/cm2). Độ sâu chuẩn hóa
cũng có thể được gọi là mật độ bề mặt, mật độ diện tích, độ sâu-khối lượng hoặc
độ dày-khối lượng.
3.2 Định
nghĩa về các thuật ngữ dùng riêng trong tiêu chuẩn này
3.2.1
Công suất chùm (beam power)
Tích của năng lượng chùm điện tử trung bình và
cường độ chùm
trung bình.
3.2.2
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
Hình dạng của chùm điện tử chưa quét
lên mặt phẳng tham chiếu.
3.2.3
Quãng chạy gần đúng giảm dần liên tục
[continuous-slowing-down-approximation (CSDA) range], r0
Chiều dài đường dịch chuyển trung bình của hạt tích điện khi hạt bị làm chậm dần
đến trạng thái nghỉ, được tính bằng
phương pháp gần đúng giảm dần liên tục.
3.2.3.1 Giải thích: Trong
phương pháp tính gần đúng này, tỷ số hao hụt năng
lượng tại mọi điểm dọc theo đường biên được giả định bằng tổng công suất
dừng. Sự biến thiên hao hụt năng lượng bị bỏ qua. Quãng CSDA thu được bằng
cách tích phân nghịch đảo tổng công
suất dừng đối với năng lượng. Giá trị của r0 cho dải rộng
các năng lượng điện tử và cho nhiều loại vật liệu có thể thu được từ
Báo cáo số 37 của ICRU.
3.2.4
Chu trình làm việc (đối với máy gia
tốc xung)
[duty cycle (for a pulsred accelerator)]
Khoảng thời gian chùm có hiệu quả.
3.2.4.1 Giải thích: Chu trình
làm việc bằng tích của độ rộng xung (w), tính bằng giây và tốc độ
xung (f), tính bằng số
xung trên giây.
3.2.5
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
Khoảng cách xuyên qua của chùm điện tử trong vật liệu
hấp thụ cụ thể dọc theo trục của chùm các điện tử tới trên vật liệu.
3.2.6
Quãng chạy của chùm điện tử ngoại suy (extrapolated
electron range),
Rex
Độ sâu trong vật liệu đồng nhất đến
điểm mà tại đó tiếp tuyến tại điểm dốc nhất (điểm uốn) trên phần giảm dần thẳng
đứng của đường phân bổ liều theo độ sâu cắt trục chiều sâu (xem Hình B.6 trong
Phụ lục B).
3.2.7
Độ sâu một nửa đầu vào (half-entrance
depth), R50e
Độ sâu trong vật liệu đồng nhất mà tại đó liều hấp
thụ giảm đi 50 % giá trị liều tại bề mặt đầu vào của vật liệu (xem Hình 4).
3.2.8
Độ sâu một nửa giá trị (half-value
depth), R50
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
3.2.9
Độ dày tối ưu (optimum
thickness), Ropt
Độ sâu trong vật liệu đồng nhất mà tại
đó liều hấp thụ bằng liều hấp thụ trên bề mặt vật liệu (xem Hình 4).
3.2.10
Quãng chạy của chùm điện tử thực tế (practical
electron range), Rp
Độ sâu trong vật liệu đồng nhất đến điểm mà
tại đó tiếp tuyến
tại điểm dốc nhất (điểm uốn) trên phần giảm dần gần thẳng đứng của đường phân bố
liều theo độ sâu cắt đường nền tia X (xem Hình B.6 trong Phụ lục B).
3.2.10.1 Giải thích: Độ xuyên
qua có thể được đo từ sự phân bố liều theo độ sâu trong vật liệu đã cho bằng thực nghiệm.
Các dạng khác của quãng chạy của chùm điện tử được tìm thấy trong
các tài liệu đo liều, ví dụ, quãng chạy
của chùm điện tử ngoại suy
thu được từ dữ liệu liều theo độ sâu và quãng chạy gần đúng giảm dần liên tục.
Quãng chạy của chùm điện tử thường được biểu thị theo khối lượng trên đơn vị diện
tích (kg/m2), nhưng đôi khi dưới dạng độ dày chùm (m) đối với vật liệu
quy định.
3.2.11
Cường độ chùm dạng xung, đối với máy gia
tốc xung
(pulse beam current, for a plused accelerator)
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
3.2.11.1 Giải thích: Giá trị của
cường độ chùm dạng xung có thể được tính bằng lavg/wf, trong đó lavg là cường độ
chùm trung bình, w là độ rộng xung
và l là tốc độ xung (xem
Hình 5).
3.2.12
Tốc độ xung (đối với máy gia tốc xung) [pulse rate (for
a pulsed accelerator)], f
Tần số xung lặp lại tính bằng Hz hoặc
số xung trên giây.
3.2.12 Giải thích: Đại lượng này liên quan đến
tần suất lặp lai.
Trục ngang: thời gian, tính bằng µs
Trục đứng: Cường độ chùm dạng xung, tính bằng
mA
Hình 5 - Sóng
dòng xung điển hình phát từ
máy gia tốc tuyến tính S-Band
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
Độ rộng xung (đối với máy gia tốc xung) [pulse width
(for a pulsed accelerator)], w
Khoảng thời gian giữa hai điểm đầu và
cuối các biên của sóng dòng xung mà ở đó cường độ dòng bằng 50 % giá trị đình của
nó (xem Hình 5).
3.2.14
Chùm dạng quét (scanned
beam)
Chùm điện tử được quét tới quét lui bằng
trường điện từ biến đổi.
3.2.14.1 Giải thích: Phổ biến nhất là
quét một chiều (độ rộng chùm), mặt dù quét hai chiều (độ rộng và độ dài chùm)
có thể được sử dụng cùng với các chùm điện tử cường độ lớn để tránh quá nhiệt chùm
thoát ra ở cửa sổ máy
gia tốc hoặc sản phẩm bên dưới đầu quét.
3.2.15
Tần số quét (scan
frequency)
Số chu trình quét trong
một giây.
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
Độ đồng đều quét (scan
uniformity)
Mức độ đồng đều của liều đo được
dọc theo hướng quét.
3.3 Định
nghĩa về các thuật ngữ khác dùng trong tiêu chuẩn này có liên quan đến phép đo
bức xạ và đo liều có thể tham khảo trong ASTM E 170. Định nghĩa trong ASTM E
170 phù hợp với Báo cáo số 85a của ICRU, do đó, Báo cáo số 85a của ICRU có thể
sử dụng làm tài liệu tham khảo thay thế.
4 Ý nghĩa và ứng dụng
4.1 Nhiều loại sản phẩm và vật
liệu được chiếu xạ thường xuyên tại
các liều đã định trong thiết bị chiếu xạ chùm điện tử để bảo quản hoặc
thay đổi các đặc tính của chúng. Các yêu cầu về đo liều có thể khác nhau phụ thuộc vào
quá trình xử lý bằng bức xạ và mục đích sử dụng cuối cùng của sản phẩm. Một số
các quá trình xử lý trong đó liều có thể được sử dụng được nêu dưới đây:
4.1.1 Polyme hóa các monome
và ghép các monome trên các polyme;
4.1.2 Khâu mạch hoặc phân hủy các
polyme;
4.1.3 Xử lý các
nguyên liệu phức hợp;
4.1.4 Tiệt trùng
các vật phẩm chăm sóc sức khỏe;
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
4.1.6 Chiếu xạ thực
phẩm (kiểm soát
ký sinh trùng và vi khuẩn gây bệnh, tiêu diệt sinh vật gây hại và kéo dài thời hạn
sử dụng);
4.1.7 Kiểm soát các
vi khuẩn gây bệnh và độc
tố trong nước uống;
4.1.8 Kiểm soát các
vi khuẩn gây bệnh và độc tố trong chất thải rắn hoặc lỏng;
4.1.9 Biến đổi các
đặc tính của các dụng cụ bán dẫn;
4.1.10 Tạo màu cho
đá quý và các vật
liệu khác; và
4.1.11 Nghiên cứu
các hiệu ứng bức xạ lên vật liệu.
4.2 Đo liều được
sử dụng như biện pháp giám sát quá trình chiếu xạ.
CHÚ THÍCH 2: Đo liều với liên kết
chuẩn phép đo và
độ không đảm bảo đo đã biết là cần thiết
cho các quá trình xử lý bằng bức
xạ quy định như tiệt trùng các vật
phẩm chăm sóc sức
khỏe (xem TCVN 7393-3 (ISO 11137-1) và Tài liệu tham khảo [1-3]) và bảo quản thực
phẩm (xem TCVN 12076 (ISO 14470) và Tài liệu tham khảo [4]). Đo liều có
thể ít quan trọng đối với các quá trình xử lý khác, như biến đổi polyme,
mà có thể được đánh giá bằng
các thay đổi về đặc tính vật lý và hóa học của
vật liệu chiếu xạ. Tuy nhiên, đo liều thường xuyên có thể được sử dụng để theo
dõi độ tái lập của
quá trình xử lý.
CHÚ THÍCH 3: Liều đã đo thường được mô tả
là liều hấp thụ trong nước.
Độ hấp thụ của các vật liệu trong các vật dụng y tế dùng một lần và thực phẩm là tương đương
với độ hấp thụ bức xạ ion hóa của nước. Liều hấp thụ trong các vật
liệu không phải là nước có thể được xác định
bằng cách sử dụng
các hệ số chuyển đổi[5,6].
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
4.4 Sự phân bố
liều trong sản phẩm phụ thuộc vào đặc tính của đơn vị nạp hàng, các điều kiện
chiếu xạ và các thông
số vận hành.
4.5 Hệ đo liều phải
được hiệu chuẩn bằng các
liên kết chuẩn quốc gia và quốc tế và độ không đảm bảo đo đã biết.
4.6 Trước khi sử
dụng thiết bị chiếu xạ, cần
xác định đặc
tính của thiết bị để xác định
hiệu quả của nó trong
việc lặp lại các liều phân phối đã biết mà có thể kiểm soát được. Điều
này liên quan đến việc kiểm tra và hiệu
chuẩn thiết bị xử lý và hệ đo liều.
4.7 Trước khi bắt
đầu quá trình xử lý bằng bức xạ, thiết bị phải được đánh giá xác nhận. Điều này
liên quan đến việc thực hiện các đánh giá chất lượng lắp đặt (IQ), đánh giá chất
lượng vận hành (OQ) và đánh giá hiệu quả (PQ), dựa trên các thông số của quá
trình đã được thiết lập để đảm bảo sản
phẩm được chiếu xạ trong giới hạn quy định.
4.8 Để đảm bảo sự
phân phối liều là đồng nhất và có
thể lặp lại trong quá trình đã đánh giá xác nhận, việc kiểm soát quá trình xử
lý thường xuyên đòi hỏi các quy
trình đã được lập
thành văn bản đối với các hoạt động được thực hiện trước, trong và sau chiếu xạ,
chẳng hạn như để đảm bảo cấu hình nạp sản phẩm phù hợp và để giám sát các thông số vận hành
quan trọng và đo liều thường xuyên.
5 Đặc tính nguồn bức
xạ
5.1 Các nguồn điện
tử được xem xét
trong tiêu chuẩn này là hoạt động trực
tiếp (làm sụt áp) hoặc hoạt động gián tiếp [tần số radio) (RF)] hoặc máy gia
tốc chạy bằng năng lượng vi sóng. Các nguồn này được nêu trong Phụ lục A.
6 Hồ sơ
6.1 Hồ sơ về thiết
bị chiếu xạ phải được lưu giữ phù hợp với yêu cầu của hệ thống quản lý chất lượng. Đặc biệt,
tất cả các tài
liệu có liên quan đến thiết bị phải được lưu giữ trong suốt quá trình
hoạt động của thiết bị và các hồ sơ có liên quan đến sản phẩm phải được lưu giữ
trong suốt thời hạn sử dụng của sản phẩm.
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
7.1 Lựa chọn hệ
đo liều
7.1 TCVN 12303 (ISO/ASTM
52628) quy định các yêu cầu đối với việc lựa chọn hệ đo liều, cần đặc biệt lưu
ý đến các quãng chạy của
điện tử đã giới hạn
có thể làm tăng
gradient liều thông qua độ dày của liều kế. Vấn đề này có thể được giảm
thiểu bằng cách
chọn các liều kế màng mỏng.
7.1.2 Khi lựa chọn
hệ đo liều, cần lưu ý đến hiệu ứng của các đại lượng ảnh hưởng lên độ nhạy của
liều kế (xem ISO/ASTM 52701)
7.1.3 Các hệ đo liều
khác nhau có thể được chọn cho các phép đo liều khác nhau do có các yêu
cầu khác nhau, ví dụ: hệ đo liều
dùng để lập bản đồ liều và hệ đo liều dùng để giám sát thường xuyên.
7.2 Hiệu chuẩn hệ
đo liều
7.2.1 Hệ đo liều
phải được hiệu chuẩn theo TCVN 12019 (ISO/ASTM 51261) và theo quy trình hướng dẫn
sử dụng, trong đó quy định chi tiết
quá trình hiệu chuẩn và các yêu cầu đảm
bảo chất lượng.
7.2.2 Hiệu chuẩn hệ
đo liều là một phần của hệ thống quản lý phép đo.
8 Đánh giá chất lượng
lắp đặt
8.1 Tiến hành
đánh giá chất lượng lắp đặt (IQ) để thu được các văn bản tài liệu chứng minh rằng
thiết bị chiếu xạ và các thiết bị phụ trợ đã được cung cấp và lắp đặt theo các
quy định kỹ thuật.
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
8.2.1 Các quy
trình vận hành đối với máy chiếu xạ và các hệ băng chuyền kết hợp.
8.2.2 Các quy trình thử nghiệm
và kiểm tra đánh giá chất lượng đối với quá trình xử lý và thiết bị phụ trợ, bao
gồm cả phần mềm kết hợp để chứng minh thiết bị hoạt động theo đúng quy định kỹ
thuật. Phương pháp kiểm tra phải được lập thành văn bản và các kết quả phải được
ghi lại.
8.2.3 Mọi thay đổi
của máy chiếu xạ trong suốt quá trình lắp đặt.
8.2.4 Các đặc tính của chùm
điện tử (như năng lượng điện tử, cường độ chùm trung bình, độ rộng và độ đồng đều chùm)
phải được xác định và ghi lại.
8.2.5 Các quy định
kỹ thuật đối với thiết bị trong quá trình sản phẩm di chuyển qua vùng chiếu xạ.
CHÚ THÍCH 4: Các phép đo liều được tiến hành trong
đánh giá chất lượng lắp đặt thường giống như phép đo được tiến hành trong đánh giá chất lượng vận
hành (OQ). Chi tiết về các phép đo
liều này được nêu trong
đánh giá chất lượng vận
hành.
8.2.6 Đánh giá chất
lượng lắp đặt thường liên quan đến các phép đo độ xuyên qua của chùm, độ rộng
và độ đồng đều chùm
có thể được sử dụng để đánh giá quá trình nhằm chứng minh các đặc tính hiệu
năng của thiết bị.
8.2.7 Đường cong
hiệu chuẩn của hệ đo liều thu được bằng cách chiếu xạ liều kế tại một thiết bị
khác có các đặc tính vận hành tương tự có thể được sử dụng cho các phép đo liều này, nhưng
để đảm bảo các phép đo liều là đáng tin cậy, đường cong hiệu chuẩn phải được kiểm
tra xác nhận trong các điều kiện thực tế sử dụng.
CHÚ THÍCH 5: Hiệu chuẩn trong các
điều kiện sử dụng gần đúng chỉ có thể được thực hiện sau đánh giá chất lượng lắp đặt
và sau khi thiết lập các cài đặt vận hành xử lý
và các quy trình kiểm soát quá
trình thích hợp.
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
9.1 Đánh giá chất
lượng vận hành (OQ) được thực hiện để mô tả đặc tính hiệu năng của thiết bị chiếu xạ có liên
quan đến độ tái lập liều đến sản phẩm.
CHÚ THÍCH 6: Có thể phải tiến hành phép đo liều
để đánh giá chất lượng vận hành sử dụng
đường cong hiệu chuẩn hệ đo liều thu được bằng cách chiếu xạ tại thiết bị khác.
Đường cong hiệu chuẩn này cần được kiểm tra xác nhận ngay và áp dụng các
hiệu chỉnh đối với phép đo liều
đánh giá chất lượng vận hành, khi cần.
CHÚ THÍCH 7: Các hệ đa chùm có thể được mô tả riêng hoặc
trong thiết bị kết hợp.
9.2 Các phép đo
liều đánh giá chất lượng vận hành liên quan được mô tả chi tiết
trong Phụ lục B đến Phụ lục I. Các phép đo này thường bao gồm các yếu tố dưới
đây:
9.2.1 Ước lượng sự
phân bố liều theo độ sâu và năng lượng chùm điện tử
Sự phân bổ liều theo độ sâu được đo bằng
liều kế chiếu xạ đặt
thành chồng các tấm trong vật
liệu đồng nhất hoặc
đặt các liều kế hoặc dải liều kế ở góc thẳng với chất hấp thụ đồng nhất. Xem
Phụ lục B và Phụ lục C. Năng lượng
chùm điện tử có thể được
xác định bằng cách sử dụng
các mối quan hệ đã
thiết lập giữa năng lượng chùm và các thông số phân bố liều
theo độ sâu. Phương pháp được sử dụng để tính năng lượng chùm phải được quy định. Xem Phụ
lục D.
9.2.2 Liều là hàm của
cường độ chùm trung bình, độ rộng chùm và tốc độ băng chuyền
Liều đến sản phẩm được
chiếu xạ trong thiết bị chiếu xạ chùm điện tử tỷ lệ thuận với cường độ chùm
trung bình (l) và tỷ lệ
nghịch với tốc độ băng chuyền (V), độ rộng chùm (Wb), đối với năng
lượng chùm điện tử đã cho. Mối quan hệ này có giá trị khi sản phẩm được chuyển
qua vùng bức xạ vuông góc với độ rộng chùm. Điều này được biểu thị bằng Công thức
(1):
(1)
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
D là liều hấp
thụ, tính bằng Gy;
l là cường độ chùm trung bình, tính bằng A;
V là tốc độ băng
chuyền, tính bằng m.s-1;
Wb là độ rộng
chùm, tính bằng m;
K là độ dốc của
đường thẳng mối quan hệ trong Công thức (1), tính bằng (Gy.m2)/(A.2).
Để xác định mối quan hệ
theo đường thẳng này, liều phải được đo tại vị trí cụ thể và đối với một
mô hình chiếu xạ cụ thể sử dụng một lượng các bộ thông số cường độ chùm, tốc độ
băng chuyền và độ rộng chùm đã chọn đến toàn bộ dài vận hành của thiết bị. Xem
Phụ lục E.
9.2.3 Độ rộng chùm
Độ rộng chùm được đo bằng cách đặt các
dải liều kế hoặc
các liều kế riêng biệt ở các khoảng
đã chọn trên toàn bộ độ rộng chùm và ở các khoảng cách xác định từ cửa sổ chùm. Xem Phụ
lục F
9.2.4 Độ đồng đều chùm
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
9.2.4.2 Đối với chùm
dạng quét và chùm dạng xung phải đảm bảo có đủ sự chồng lấn giữa các xung của
chùm theo hướng quét ở tần số quét
dự kiến cao nhất và tần số xung dự kiến thấp nhất.
9.2.4.3 Đối với chùm
quét và chùm xung, cần có thông tin về đường kính chùm, vì mức độ chồng lấn giữa các đường
quét và các xung có thể tính được nếu biết kích thước và hình dạng của điểm
chùm. Điểm chùm có
thể được đo bằng cách chiếu các liều kế
hoặc các tấm liều kế màng mỏng ở khoảng cách
xác định từ cửa sổ chùm.
Xem Phụ lục G.
9.2.5 Sự phân bố liều
trong vật liệu chuẩn
Sự phân bố liều trong vật liệu chuẩn đồng nhất phải
được đo bằng cách đặt các liều kế tại vị trí xác định trong vật liệu. Xem Phụ lục H.
9.2.6 Sự gián đoạn
quá trình
Sự gián đoạn quá trình có thể xảy ra,
ví dụ: do sự
phân bố cường độ chùm bị lỗi hoặc do băng chuyền dừng lại. Ảnh hưởng của sự
gián đoạn quá trình cần phải được xác định để có thể đưa ra các quyết
định về khả năng bố trí sản phẩm.
Xem Phụ lục I.
9.3 Các phép đo
trong 9.2 phải được lặp lại đủ số lần (ba lần hoặc nhiều hơn ba lần) để ước lượng
sự biến thiên của thông số vận hành dựa
trên việc đánh giá thống kê các phép đo liều.
CHÚ THÍCH 8: Có thể thu được một ước lượng về sự biến
thiên của thông số vận hành từ sự
phân tán giữa các phép đo liều lập lại được thực hiện tại các thời điểm khác nhau, sử
dụng các cài đặt thông số vận
hành giống hệt nhau.
Sự biến thiên liều đo được này gồm hai thành phần: độ không đảm bảo đo
và sự biến thiên thông
số vận hành và thường rất khó để
tách riêng hai
thành phần này. Do đó, sự biến
thiên liều đo được thường là sự kết hợp của cả hai thành phần.
9.3.1 Dựa vào sự biến
thiên đã ước lượng của các thông số vận hành, có thể xác định được sự biến
thiên liều nếu các thông số đáp ứng các quy định kỹ thuật của phép đo.
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
9.4 Đánh giá lại
chất lượng
Các phép đo đánh giá chất lượng vận
hành phải được lặp lại ở các khoảng
thời gian xác định bằng quy trình đã được người sử dụng lập thành văn bản và
theo các thay đổi tiếp theo mà có thể ảnh hưởng đến liều hoặc sự phân bố liều.
Các khoảng thời gian này phải được chọn để đảm bảo thiết bị chiếu xạ vận hành liên tục theo đúng quy định kỹ
thuật. Việc đánh giá lại chất lượng thường được tiến hành theo chu kỳ hằng năm
với các lần đánh giá lại chất lượng cụ thể ở các khoảng thời gian ngắn hơn trong chu kỳ
này. Nếu các phép đo đánh giá lại chất lượng cho thấy máy chiếu xạ đã thay đổi
trong các phép đo đánh chất lượng vận hành trước đó thì sau đó có thể
phải lặp lại đánh giá hiệu
quả (PQ).
9.4.1 Xem Phụ lục K
ví dụ về các thay đổi có thể dẫn đến lặp lại đánh giá chất lượng vận hành.
10 Đánh giá hiệu quả
10.1 Đánh giá hiệu
quả (PQ) sử dụng sản phẩm cụ thể để chứng minh thiết bị vận hành
liên tục theo các tiêu chí đã định trước
để đưa ra liều
quy định, từ đó thu được sản phẩm đáp ứng các yêu cầu cụ thể. Vì vậy, mục
đích của đánh giá hiệu quả là thiết lập tất cả các thông số quá trình đáp ứng
các yêu cầu về liều hấp thụ. Điều này được thực hiện bằng cách thiết lập sự phân
bố liều trong khắp đơn vị nạp hàng đối với một cách nạp sản phẩm cụ thể. Các thông số quá trình chính bao gồm
năng lượng chùm điện tử, cường độ chùm, các thông số hệ thống xử lý vật liệu (tốc
độ băng chuyền hoặc thời gian chiếu xạ), độ rộng chùm, các đặc tính của đơn vị
nạp hàng và điều kiện chiếu xạ.
10.2 Khi tiến
hành lập bản đồ liều đánh giá hiệu quả để chứng minh sản phẩm được chiếu xạ đến
các liều yêu cầu để đạt được hiệu quả mong muốn và liều cho phép cực đại. Đối với
hướng dẫn về lập bản đồ liều trong sản phẩm đánh giá hiệu quả, xem TCVN 12533 (ISO/ASTM
52303).
CHÚ THÍCH 10: Không tiến hành các bước
lập bản đồ liều ở liều giống như liều
được dùng để chiếu xạ sản
phẩm. Ví dụ, việc sử
dụng liều cao hơn có thể giúp cho hệ
đo liều được dùng trong dải vận hành chính xác hơn, qua đó nâng cao độ
chính xác chung
của lập bản đồ liều. Điều
này có thể được chấp nhận nếu chứng
minh được mối quan
hệ tuyến tính trong
9.2.2.
10.3 Trong một số
trường hợp lập bản đồ liều đánh giá chất lượng vận hành có thể được dùng
như lập bản đồ liều đánh giá hiệu quả. Ví dụ, trường hợp xử lý chiếu xạ các khe rộng
có chiều dài không xác định hoặc trong trường hợp không có nhiều hơn một
đơn vị nạp hàng được chiếu xạ trong thiết bị tại một thời điểm nhất định. Trong
hầu hết các trường hợp khác như tiệt trùng vật dụng y tế, cần tiến hành lập bản
đồ liều trong sản
phẩm đánh giá hiệu quả cụ thể.
10.4 Cách nạp hàng
để chiếu xạ sản
phẩm phải được thiết lập cho từng loại sản phẩm. Quy định kỹ thuật bao gồm:
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
10.4.2 Thành phần của sản
phẩm và tất cả các mức bao gói;
10.4.3 Hướng của sản
phẩm trong bao gói, và
10.4.4 Hướng của sản
phẩm với hệ thống xử lý vật liệu và hướng của chùm điện tử.
10.5 Các liều kế phải
được đặt trong toàn bộ thể tích của đơn vị nạp hàng [xem TCVN 12533 (ISO/ASTM
52303)]. Chọn các cách bố trí mà có thể xác định hầu
hết các vị trí cực trị liều. Các liều kế được đặt tập trung tại các vùng dự kiến
nhận được liều cực đại và cực tiểu nhiều hơn số liều kế được đặt tại các vùng có
thể nhận liều trung gian. Ngoài ra, đặt các liều kế tại vị trí giám
sát được sử dụng trong quá trình chiếu xạ thường xuyên.
10.6 Liều kế được
sử dụng để lập bản đồ liều phải phát hiện các liều và gradient liều có thể xuất
hiện trong các sản phẩm chiếu xạ. Các liều kế màng mỏng dạng tấm hoặc dạng dải
có thể hữu ích cho việc thu thập thông tin này.
CHÚ THÍCH 11: Chiếu xạ sản phẩm phức hợp, ví dụ: chiếu xạ nhiều vật dụng
y tế, thường tạo thành các
gradient liều khi liều
có thể thay đổi theo hệ số từ 10 hoặc lớn hơn 10 trong khoảng cách milimet, chẳng hạn như
đối với lập bản đồ liều các thành phần kim
loại nhỏ. Cần sử dụng các
hệ liều kế có thể đo liều chính xác trong
các điều kiện này. Điều này có thể liên quan đến việc sử dụng các liều kế màng
mỏng được phân tích trên các
thiết bị đo có độ phân giải không gian
cao.
10.7 Một số liều kế có
bao gói bảo vệ. Để lập bản đồ liều, có thể cần sử dụng các liều kế không có bao gói bảo vệ
để đặt các liều kế gần với bề mặt sản phẩm.
10.7.1 Sử dụng các
liều kế không có bao gói bảo vệ có thể dẫn đến việc chiếu xạ các liều kế trong
các điều kiện khác với các điều kiện hiệu chuẩn. Đối với các trường hợp như vậy,
cần kiểm tra tính hợp lệ của
đường cong hiệu chuẩn.
10.7.2 Có thể tiến
hành kiểm tra xác nhận đường cong hiệu chuẩn bằng cách chiếu xạ đồng thời các
liều kế không được bao gói như vậy và các liều kế chuẩn tham chiếu khi lập bản
đồ liều, cần đảm bảo rằng hai liều
kế nhận được cùng một liều khi sử dụng
các phantom chiếu xạ thích hợp.
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
10.8 Trong quá
trình lập bản đồ liều đánh giá hiệu quả, xác định các vị trí và độ lớn của
liều cực tiểu và liều cực đại, cũng như liều ở vị trí giám sát thường
xuyên.
10.9 Cần tính tỷ số
giữa liều cực đại và liều cực tiểu (tỷ số đồng đều liều, DUR). Nếu vị trí giám sát thường
xuyên được sử dụng để giám sát quá trình thì tỷ số giữa liều cực đại và cực tiểu
và liều ở vị trí giám sát cần
được tính và được lưu lại. Tỷ số này được sử dụng trong kiểm soát quá trình (xem
11.1.3).
10.10 Các phép đo
lập bản đồ liều
đánh giá hiệu quả phải được lặp lại với một lượng vừa đủ các đơn vị nạp hàng để cho
phép đánh giá thống kê và mô tả đặc tính của dữ liệu phân bố liều.
CHÚ THÍCH 12: “Một lượng đủ các đơn vị
nạp hàng” thường tối thiểu
là ba đơn vị.
Tuy nhiên, để thu được mức
độ tin cậy cao hơn
trong kết quả đo thì cần sử dụng số phép đo lớn hơn.
10.11 Đối với các
đơn vị nạp hàng không đầy hoàn toàn, thực hiện đánh giá hiệu năng giống
như đối với các đơn vị nạp hàng đầy.
10.11.1 Trong một số
trường hợp, các thay đổi về sự phân bổ liều do nạp không đầy có thể được giảm
thiểu bằng cách làm đầy đơn vị nạp hàng bằng sản phẩm mô phỏng.
CHÚ THÍCH 13: Nếu sản phẩm mô phỏng
được sử dụng thì các quy trình phải được
thực hiện để tách sản phẩm này ra khỏi
sản phẩm sau khi chiếu
xạ.
10.12 Đối với các
máy chiếu xạ được sử dụng ở chế độ chiếu xạ vật liệu dòng chảy rời, việc lập
bản đồ như mô tả ở trên có thể không khả
thi. Trong trường hợp này, các cực trị liều hấp thụ có
thể được ước lượng
bằng cách dùng một lượng các liều kế thích hợp và cho sản phẩm đi qua vùng chiếu
xạ. Phải sử dụng đủ số liều kế để
thu được kết quả có ý nghĩa thống
kê. Việc tính toán các cực
trị liều hấp thụ có thể là một lựa chọn
thích hợp[7,8].
CHÚ THÍCH 14: Trong trường hợp
các liều yêu cầu không đáp ứng
được các giá trị của các thông số vận hành được sử dụng trong nghiên cứu bản đồ liều, thì các thông số này có thể được thu nhỏ để đạt được nếu
yêu cầu với điều kiện chứng minh được
mối quan hệ tuyến tính trong
9.2.2. có thể có trường hợp các
giá trị của các thông số vận hành trong lập
bản đồ liều được
chọn cố ý để phù hợp với một
hệ đo liều cụ thể.
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
10.14 Lập bản đồ
liều khi chiếu xạ ở nhiệt độ cao
hoặc thấp
10.14.1 Một số ứng dụng
đòi hỏi chiếu xạ ở nhiệt độ
khác với nhiệt độ hiệu chuẩn liều kế, như chiếu xạ thực phẩm đông lạnh hoặc chiếu xạ các sản
phẩm dược phẩm trong nitơ lỏng để giảm các ảnh hưởng bất lợi của bức xạ lên sản phẩm.
10.14.2 Đối với các ứng
dụng này, lập bản đồ liều hấp thụ có thể được thực hiện với sản phẩm mô phỏng
hoặc sản phẩm thực ở nhiệt độ mà kết
quả đo liều không bị ảnh hưởng.
CHÚ THÍCH 15: Điều này đòi hỏi không có thay đổi
bất kỳ thông số
nào (ngoài nhiệt
độ) mà có thể ảnh hưởng đến liều hấp
thụ trong quá trình xử lý sản phẩm nóng hoặc lạnh.
10.14.3 Trong quá
trình xử lý thường xuyên trong đó sản phẩm được giữ ở nhiệt độ cao
hơn hoặc thấp hơn trong suốt quá trình chiếu xạ, các liều kế chỉ được đặt
ở vị trí giám
sát thường xuyên sao cho cách ly khỏi các ảnh hưởng của nhiệt độ sản phẩm.
10.14.4 Có thể thực
hiện lập bản đồ liều của sản phẩm ở nhiệt độ sản phẩm thực tế, sử dụng hệ do liều được hiệu chính ở nhiệt độ xử
lý đã định.
10.15 Tỷ số đồng đều liều
không được chấp nhận
10.15.1 Nếu lập bản đồ liều cho
thấy liều cực tiểu hoặc cực đại hoặc cả hai liều trong quá trình xử lý là không
thể chấp nhận được thì có thể thay đổi các thông số quá trình để giảm tỷ số đồng đều liều đến
mức chấp nhận được. Ngoài ra, có thể cần phải thay đổi cấu hình sản phẩm trong
đơn vị nạp hàng hoặc hình dạng, kích thước hoặc dạng dòng chảy của đơn vị nạp
hàng.
10.15.2 Thay đổi các
đặc tính của chùm, ví dụ bằng cách
tối ưu hóa năng lượng chùm điện tử, có thể thay đổi các cực trị liều.
Các phương pháp khác để thay đổi các cực trị tiểu có thể được sử dụng, như sử dụng bộ tiêu âm, chất tán xạ
và phản xạ.
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
10.15.4 Chiếu xạ từ
nhiều hơn hai mặt có thể được sử dụng để giảm tỷ số đồng đều liều.
10.15.5 Đối với một số
trường hợp, có thể cần thiết kế lại đơn vị nạp hàng để đạt được tỷ số đồng nhất liều
chấp nhận được.
11 Kiểm soát quá
trình thường xuyên
11.1 Đối với quá
trình xử lý sản phẩm thường xuyên, chọn các thông số quá trình đã được thiết lập
trong đánh giá hiệu năng. Cường độ chùm trung bình l và tốc độ băng chuyền
V có thể cài đặt theo cách sao cho tỷ số l/V có giá trị giống
như trong đánh giá hiệu quả và trong quá trình xử lý sản phẩm thường xuyên.
CHÚ THÍCH 16: Ví dụ, nếu cường
độ chùm điện tử dưới 20 % thì tốc
độ băng chuyền phải giảm số phần trăm như vậy để nhận được liều hấp thụ giống
nhau.
11.1.1 Các thông số
vận hành (năng lượng chùm, cường độ chùm, độ rộng chùm và tốc độ băng chuyền)
phải được giám sát và ghi lại liên tục trong suốt quá trình. Các khoảng thời
gian đo phải được chọn để đảm bảo thiết bị chiếu xạ vận hành liên tục theo đúng
quy định kỹ thuật.
11.1.2 Liều tại vị trí giám sát thường
xuyên phải được người vận hành thiết bị đo ở các khoảng thời gian quy định. Các khoảng thời
gian phải được chọn để kiểm tra xác nhận máy chiếu xạ vận hành trong giới hạn
quy định, do đó đảm bảo đạt được
các quy định kỹ thuật của sản phẩm.
CHÚ THÍCH 18: Thực hành thông thường là đặt các liều kế
ở mức tối thiểu - khi bắt đầu
và kết thúc một chu trình chiếu xạ.
Việc đặt liều kế thường xuyên hơn trong chu trình chiếu xạ có thể làm giảm
nguy cơ thải bỏ sản phẩm nếu có
một số lỗi vận hành.
CHÚ THÍCH 19: Một số quá trình, như biến
đổi các đặc tính của vật liệu
có thể không yêu cầu đo
liều.
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
11.2 Các quy trình
phải được thực hiện theo các mô tả trong trường hợp các thông số vận hành được
giám sát hoặc liều thường đo vượt quá các quy định kỹ thuật.
11.3 Đối với một số
máy chiếu xạ vật liệu dòng chảy rời (ví dụ: như chiếu xạ chất lỏng hoặc ngũ cốc
dạng rời), trong quá trình xử lý thường xuyên, không thể đặt các liều kế tại vị
trí có liều cực tiểu
và cực đại hoặc tại vị trí giám sát thường xuyên đã định. Trong các trường hợp
này, thêm một số liều kế vào dòng sản phẩm ở đoạn đầu, giữa và gần cuối của chu
trình chiếu xạ. Mỗi một
bộ phép đo liều hấp thụ cần vài liều kế để đảm bảo nằm trong mức độ tin cậy nhất
định, mà liều hấp thụ cực tiểu (và liều hấp thụ cực đại, nếu một giới hạn đã
quy định) được phân phối. Quy trình này đòi hỏi tốc độ dòng chảy và
dạng dòng liều kế phải giống như tốc độ và dạng dòng sản phẩm.
CHÚ THÍCH 20: Trong trường hợp không thực hiện được
đo liều khi xử lý thường xuyên vật liệu dạng rời,
cần dựa vào việc kiểm soát thông số vận hành hoặc phân tích điểm cuối
sản phẩm. Đối với một
số quá trình, có thể xác định liều trung bình, liều cực đại và cực tiểu trong các thí nghiệm dùng
mẫu vật liệu chiếu
xạ hoặc các sản phẩm thay thế. Tính toán các cực trị liều cũng có thể được chấp
nhận. Tính ổn định của sự
phân bố liều có thể được đảm bảo bằng cách giám sát tất cả các thông số
vận hành tới hạn và thực
hiện lặp lại quy trình đánh giá
hiệu quả ở các khoảng thời gian thích hợp.
11.4 Dụng cụ chỉ
thị nhạy bức xạ
Dụng cụ chỉ thị nhạy bức xạ có thể được
sử dụng để kiểm soát chất lượng và dùng cho các mục đích đánh giá, kiểm kê. Đối
với các quá trình chiếu xạ nhiều lần, một dụng cụ chỉ thị có thể được dán trước mỗi lần
đi qua trên mặt đối diện với
chùm điện tử để nhận biết số lần đơn vị nạp hàng đi qua. Tuy nhiên, sử dụng dụng
cụ chỉ thị nhạy bức xạ không thể thay cho đo liều. Đối với thông tin về việc sử
dụng các dụng cụ chỉ thị nhạy bức
xạ, xem TCVN 8230 (ISO/ASTM 51539).
11.5 Sự gián đoạn
quá trình
Nếu có sự gián đoạn quá trình
theo kế hoạch hoặc không theo kế hoạch, ví dụ: do mất điện, mà ảnh hưởng đến quá
trình (ví dụ: độ đồng đều liều)
và sản phẩm (ví dụ: ảnh hưởng của thời gian dừng) thì phải đánh giá.
12 Chứng nhận
12.1 Lập hồ sơ
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
12.1.2 Thông số quá
trình:
Ghi lại các giá trị về thông
số quá trình (xem 11.1) có ảnh hưởng đến liều hấp thụ cùng với đầy đủ thông
tin về việc nhận biết các thông số này đối với các chu trình chiếu xạ cụ
thể.
12.1.3 Dữ liệu đo liều: Ghi lại và
lập hồ sơ tài liệu tất cả các kết quả đo liều trong đánh giá chất lượng lắp đặt,
đánh giá chất lượng vận hành, đánh giá hiệu quả và quá trình xử lý sản phẩm thường
xuyên. Bao gồm: thời gian, ngày tháng, loại sản phẩm, cách nạp sản phẩm và liều
hấp thụ của tất cả các sản phẩm được xử
lý.
12.1.4 Độ không đảm bảo đo trong đo liều: Bao gồm các
ước lượng độ không đảm bảo đo của liều hấp thụ (xem Điều 13) trong các hồ sơ và
báo cáo, khi thích hợp.
12.1.5 Nhật ký thiết
bị:
Ghi lại ngày,
tháng lô sản phẩm được xử lý, thời gian bắt
đầu và kết thúc chu trình chiếu xạ.
Ghi tên người vận hành thiết bị, cũng như bất cứ điều kiện đặc biệt nào của máy
chiếu xạ hoặc thiết bị mà có ảnh hưởng
đến liều hấp thụ trong sản phẩm.
12.1.6 Nhận dạng sản
phẩm:
Đảm bảo rằng mỗi lô sản phẩm được chiếu xạ có dấu hiệu để phân biệt với tất cả các lô
sản phẩm khác trong
cơ sở chiếu xạ. Các dấu hiệu này sẽ được sử dụng trên tất cả các tài liệu
liên quan đến lô sản phẩm.
12.2 Xem xét lại
và cấp chứng chỉ
12.2.1 Trước khi đưa
sản phẩm chiếu
xạ ra bên ngoài để sử dụng, phải xem xét lại ghi lại các kết quả đo liều và các
giá trị thông số vận hành để chứng minh sự phù hợp với các quy định kỹ thuật.
12.2.2 Phê duyệt và
chứng nhận liều hấp thụ trong sản phẩm cho mỗi chu trình chiếu xạ, theo chương
trình bảo đảm chất lượng thiết bị đã thiết lập. Chứng chỉ phải do người có thẩm
quyền cấp, như đã được ghi trong chương trình bảo đảm chất lượng.
12.2.3 Kiểm tra tất
cả các hồ sơ ở các khoảng
thời gian quy định để đảm bảo rằng hồ sơ là chính xác và đầy đủ. Nếu có thiếu sót thì phải có hành
động khắc phục.
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
12.3.1 Sắp xếp tất cả tài liệu gắn
với mỗi chu trình chiếu xạ ví dụ: bản sao vận đơn, chứng chỉ chiếu xạ, hồ
sơ kiểm soát quá trình chiếu xạ. Lưu giữ hồ sơ trong khoảng thời gian quy định
theo chương trình đảm bảo chất lượng và phải có sẵn hồ sơ cho việc kiểm tra khi
có yêu cầu.
13 Độ không đảm bảo
đo
13.1 Tất cả các phép đo
liều cần kèm theo ước lượng độ
không đảm bảo đo (JCGM 100). Các quy trình thích hợp được nêu trong TCVN 12021 (ISO/ASTM
51707) và TCVN 12019 (ISO/ASTM 51261).
13.1.1 Tất cả các
thành phần của độ
không đảm bảo đo cần bao gồm trong đánh giá, gồm cả độ không đảm bảo đo sinh ra
khi hiệu chuẩn, sự biến thiên liều
kế, độ tái lập của thiết bị và hiệu ứng của
các đại lượng ảnh hưởng. Phép phân
tích định lượng đầy đủ các
thành phần của độ không đảm bảo được xem là bảng thành phần của độ không đảm bảo đo và
thường được thể hiện ở dạng bảng.
Thông thường, bảng thành phần
của độ không đảm bảo đo sẽ xác định
được tất cả các thành phần quan
trọng của độ không đảm bảo đo, cùng với
các phương pháp ước lượng, phân bố thống kê và độ lớn của chúng.
Phụ
lục A
(Tham
khảo)
Các loại thiết bị chiếu xạ chùm điện tử
A.1 Thiết kế thiết
bị chiếu xạ chùm điện tử
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
A.1.2 Thiết bị chiếu
xạ chùm điện tử bao gồm hệ thống máy gia tốc chùm điện tử; hệ thống xử lý sản
phẩm; hệ thống che chắn an toàn bức xạ cho nhân viên, vùng nạp hàng, dỡ hàng và
khu vực bảo quản; thiết bị phụ trợ để cấp điện, làm mát, thông gió, v.v...;
phòng kiểm soát thiết bị, phòng thử nghiệm đo liều, phòng thử nghiệm sản phẩm và phòng
cho nhân viên. Hệ thống
máy gia tốc chùm điện tử bao gồm nguồn
bức xạ, thiết bị để phân tán chùm điện tử trên sản phẩm, hệ thống
kiểm soát và các
thiết bị liên quan[1].
A.1.3 Loại máy gia
tốc:
A.1.3.1 Các máy gia tốc
điện tử công nghiệp thường được sử dụng có thể được phân loại là máy gia tốc hoạt
động trực tiếp hoặc máy gia tốc hoạt động gián tiếp. Các máy gia tốc hoạt động
trực tiếp (còn gọi là máy gia tốc sụt áp) có thể phân phối các chùm thường lên tới 5 MeV.
Máy gia tốc hoạt động gián tiếp, như
các máy gia tốc nguồn tần số vô tuyến hoặc vi sóng được nâng đến năng lượng cao
hơn.
A.1.4 Các đặc tính
của máy gia tốc nguồn vi sóng[9-15]
A.1.4.1 Các điện tử được đưa vào
bộ phận gia tốc (còn được gọi là “ống dẫn sóng gia tốc”) từ một bộ
phun. Các điện tử được gia tốc
đến năng lượng cuối cùng trong bộ phận gia tốc. Năng lượng gia tốc chùm được
cung cấp từ máy phát cao tần vi sóng dạng xung. Tần số cộng hưởng của bộ phận
gia tốc thường trong dải từ 1300 MHz đến 3000 MHz. Năng lượng vi sóng thường được
cung cấp bởi một bộ khuếch
đại klystron.
A.1.4.2 Bộ phận gia tốc
là một ống dẫn vi sóng năng lượng cao có các khoang cộng hưởng trong đó tốc
độ pha của vi sóng nhỏ hơn tốc độ ánh sáng.
A.1.4.3 Năng lượng
chùm điện tử phụ thuộc vào mức năng lượng vi sóng và cường độ chùm điện tử được
đưa vào.
A.1.4.4 Chùm điện tử
thường dạng xung.
CHÚ THÍCH A.1: Đối với các máy gia
tốc xung sử dụng chùm dạng quét, mối quan hệ giữa tần số xung, tần số quét của
chùm và tốc độ bảng
chuyền có thể ảnh hưởng đến sự phân bố liều được phân phối. Sự phối
hợp không đúng các thông
số này có thể gây ra biến
thiên liều không chấp nhận được (xem 9.2.4 và Phụ lục G).
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
A.1.5.1 Các điện tử
được đưa vào máy gia tốc từ bộ phun. Các điện tử được gia tốc đến
năng lượng cuối cùng sau khi đi qua bộ phận gia tốc. Năng lượng để gia tốc chùm
được cung cấp bởi một máy
phát tần số vô tuyến (rf) dạng sóng liên tục hoặc dạng xung (cw) sử dụng một ống
chân không loại ống ba cực (triôt) hoặc ống bốn cực (tetrôt).
A.1.5.2 Bộ phận gia tốc
thường là một khoang cộng hưởng nhưng có thể sử dụng nhiều hơn một khoang để đạt được
năng lượng điện tử cao hơn. Các điện tử cũng có thể đạt được năng lượng cao hơn
bằng cách đi qua lại liên tục trong cùng một khoang. Tần số cộng hưởng thường
trong dải từ 100 MHz đến 200 MHz.
A.1.5.3 Năng lượng chùm điện
tử phụ thuộc vào cường độ này của điện trường rf, mức năng lượng điện trường và
cường độ chùm điện tử được đưa vào. Năng lượng điện tử thường được tạo ra bởi
các máy gia tốc nguồn điện trường nằm trong dài từ 1 MeV đến 10 MeV.
A.1.6 Đặc tính của
các máy gia tốc sụt áp[14, 15]
A.1.6.1 Các điện tử
được đưa vào máy gia tốc từ bộ phun. Các điện tử được gia tốc đến năng lượng cuối cùng thông
qua hiệu điện thế (điện áp). Bộ phun được đặt trong một thiết bị đầu cuối được
giữ ở hiệu điện thế
âm tương ứng với
năng lượng điện tử cuối cùng. Các điện tử được gia tốc đến điện áp đất.
A.1.6.2 Chùm điện tử có thể có dạng
dòng một chiều (dc) không đổi hoặc dòng dạng xung.
A.1.6.3 Năng lượng của
các điện tử chủ yếu được kiểm soát bởi điện áp trên thiết bị đầu cuối được tạo ra
bởi các máy
phát cao áp một chiều hoặc dạng xung để tạo thành các vùng điện trường mạnh.
Năng lượng điện tử được tạo ra bởi các máy gia tốc sụt áp dùng cho quá trình
chiếu xạ hiện nay thường là 5 MeV và thấp hơn, mặc dù các máy gia tốc tĩnh điện có
thể tạo ra năng lượng lên đến 25 MeV.
A.1.6.4 Bộ phun, thiết
bị đầu cuối điện áp cao và thiết bị nạp điện đầu cuối được đặt trong bình áp suất
lớn, chứa đầy khí hoặc chất lỏng cách điện để ngăn sự cố về điện. Các hệ thống
mạnh nhất sử dụng các mạch chính lưu nhiều tầng để chuyển đổi dòng xoay chiều
điện áp thấp (ac) thành
suất dòng một chiều điện áp cao (dc).
A.1.7 Xử lý vật liệu
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
A.1.7.2 Băng chuyền hoặc giá
treo
Vật liệu được đặt trên giá treo hoặc
băng chuyền đi qua chùm điện tử. Tốc độ của băng chuyền hoặc giá treo được kiểm
soát kết hợp với cường độ chùm điện tử và độ rộng chùm sao cho đạt được liều yêu cầu.
Liều cũng phụ thuộc vào số lượng sản phẩm đi qua chùm.
A.1.7.3 Hệ cấp liệu
dạng quay cuộn (Roll-to-roll)
Hệ cấp liệu dạng quay cuộn (cũng được
gọi là dạng quay ống) được sử dụng cho các loại ống, dây, cáp điện và các sản
phẩm dạng tấm liền.
Tốc độ của hệ cấp liệu được kiểm soát kết hợp với cường độ chùm điện tử và độ rộng
chùm sao cho đạt được liều yêu cầu. Liều cũng tùy thuộc vào cách thức sản phẩm
được sắp xếp trong quá trình chiếu xạ và số lần sản phẩm đi qua chùm.
A.1.7.4 Hệ vật liệu
dòng chảy rời:
Để chiếu xạ chất lỏng hoặc vật
liệu dạng hạt như ngũ cốc hoặc các
viên chất dẻo có thể sử dụng hệ vận
chuyển dòng chảy rời đi qua vùng chiếu xạ. Vì vận tốc dòng các phần riêng lẻ của sản
phẩm không thể
được kiểm soát nên tốc độ trung
bình của sản phẩm kết hợp với các đặc tính chùm và các thông số phân tán chùm sẽ xác
định liều hấp thụ trung bình.
A.1.7.5 Quá trình chiếu
xạ tĩnh
Đối với các quá trình chiếu xạ ở liều cao, vật
liệu có thể được đặt dưới chùm và không di chuyển. Làm mát có thể được yêu cầu
để loại bỏ nhiệt được tích lũy bởi sản phẩm trong quá trình xử lý. Thời gian chiếu xạ được kiểm soát kết hợp
với cường độ chùm điện tử, độ dài và độ rộng chùm để đạt được liều yêu cầu.
A.1.7.6 Đối với các
thiết bị sử dụng băng chuyền di chuyển liên tục (ví dụ: hệ cấp
liệu dạng cuộn quay và hệ dòng chảy rời để vận chuyển sản phẩm đi qua vùng chiếu xạ),
băng chuyền hoặc tốc độ sản phẩm xác định thời gian chiếu xạ. Do đó, khi các
thông số vận hành khác được giữ cố định, tốc độ băng chuyền sẽ xác định liều hấp
thụ trong sản phẩm.
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
A.1.7.7 Đối với các
thiết bị chiếu xạ sản phẩm trong khi sản
phẩm đứng yên trong vùng chiếu xạ, thì thời gian chiếu xạ sẽ xác định liều hấp
thụ trong sản phẩm khi các thông số vận hành khác được giữ không đổi.
A.1.8 Các điều kiện
ảnh hưởng đến liều hấp thụ
Liều hấp thụ trong đơn vị nạp hàng phụ
thuộc một phần vào các thông số vận hành: đặc tính chùm, các thông số phân tán chùm, xử
lý vật liệu và mối
quan hệ bên trong giữa chúng. Liều hấp thụ cũng phụ thuộc vào đặc tính đơn vị nạp
hàng và điều kiện chiếu xạ. Các thông số vận hành này được kiểm soát bởi các máy gia
tốc khác nhau
và các thông số thiết bị khác.
A.1.9 Đặc tính chùm
A.1.9.1 Hai đặc tính chính của chùm
mà ảnh hưởng đến liều hấp thụ là phổ năng lượng điện tử và cường độ
chùm trung bình. Phổ năng
lượng điện tử ảnh hưởng
đến sự phân bố liều
theo độ sâu trong sản phẩm (xem Phụ lục B). Ngoài một số thông số vận hành
khác, cường độ chùm trung bình cũng ảnh hưởng đến suất liều trung bình.
A.1.9.2 Các đặc tính quan trọng
của chùm bao gồm:
(1) Năng lượng chùm điện
tử;
(2) Cường độ chùm trung
bình;
(3) Cường độ chùm tại đỉnh
(đối với máy gia tốc xung);
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
(5) Năng lượng chùm tại
đỉnh (đối với
máy gia tốc xung);
(6) Chu kỳ làm việc (đối
với máy gia tốc xung);
(7) Tốc độ xung (hoặc
lặp lại hoặc đại diện);
(8) Độ rộng xung (đối với
máy gia tốc xung) và
(9) Kích thước chùm.
CHÚ THÍCH A.3: Phổ năng lượng điện tử của
chùm điện tử tới có thể được đặc
trưng bởi năng lượng
chùm điện tử trung bình (Ea) và năng lượng
chùm điện tử có thể xảy ra nhất (Ep) (xem Phụ lục C). Một
nam châm phân tích năng lượng
có thể được sử dụng để phân tích chi tiết phổ năng lượng.
CHÚ THÍCH A.4: Phổ năng lượng của chùm được phân
phối đến sản phẩm có thể bị ảnh
hưởng nhiều hơn bởi một nam
châm điện uốn cong chùm ở một góc xác
định khi một dòng điện cụ thể được cung cấp cho nam châm điện. Các điện tử nằm ngoài dải
năng lượng có thể chấp nhận được hấp thụ bởi các ống chuẩn trực
trong hệ thống uốn.
A.1.10 Sự phân tán
chùm
A.1.10.1 Sự phân tán
điểm chùm điện tử để thu được chùm điện tử có độ rộng đủ để bao phủ toàn bộ vùng xử lý
sản phẩm có thể đạt được bằng các kỹ thuật khác nhau. Các kỹ thuật này bao gồm
phương pháp quét điện tử một chùm hẹp
hoặc sử dụng các phần tử đặt cách xa tiêu điểm hoặc các lá tán xạ.
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
(1) Độ rộng chùm;
(2) Độ dài chùm;
(3) Sự biến thiên liều dọc
theo độ rộng và độ dài chùm; và
(4) Chùm trung tâm đối với
vùng chiếu xạ.
CHÚ THÍCH A.5: Ngoài một số thông số vận hành khác thì độ rộng chùm
có ảnh hưởng đến suất liều. Đối với
một máy gia tốc xung, việc quét một chùm hẹp có thể tạo thành liều dạng xung tại các điểm dọc
theo độ rộng chùm. Điều này
có thể ảnh hưởng
đến hiệu quả của các liều
kế khi chúng nhạy với
các biến thiên về liều (xem Phụ lục B).
A.1.11 Mô tả thiết bị: Việc mô
tả các thiết bị
chùm điện tử cần bao gồm các điều dưới đây:
A.1.11.1 Quy định kỹ
thuật và đặc tính của máy gia
tốc;
A.1.11.2 Mô tả về cấu
trúc và cách vận
hành của tất cả thiết bị xử lý vật liệu kết hợp;
A.1.11.3 Mô tả hệ thống kiểm
soát quá trình và hệ thống che chắn an toàn cho nhân viên;
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
A.1.11.5 Mô tả các biện
pháp để tách riêng sản
phẩm chưa chiếu xạ và đã chiếu xạ, nếu cần;
A.1.11.6 Mô tả vật liệu
và kích thước vật chứa chiếu xạ được sử dụng để chứa đựng sản phẩm trong
quá trình chiếu, nếu sử dụng;
A.1.11.7 Quy trình vận
hành máy chiếu xạ.
A.1.12 Sự tăng nhiệt
độ
A.1.12.1 Chiếu xạ làm
cho nhiệt độ của vật liệu được xử lý tăng lên. Trong các quá trình chiếu xạ ở liều cao bằng
chùm điện tử năng lượng cao, sự tăng nhiệt độ có thể phải được kiểm soát bằng
cách làm mát vật liệu trong quá trình chiếu xạ liên tục hoặc bằng cách chiếu xạ nhiều lần
kết hợp với làm mát giữa mỗi lần chiếu.
A.1.12.2 Bỏ qua các
thay đổi năng lượng từ các phản ứng hóa học và mọi sự đối lưu, dẫn điện hoặc
làm lạnh bằng bức xạ, thì sự gia tăng
nhiệt độ đoạn nhiệt trong sản phẩm chiếu xạ ΔT được tính bằng Công
thức (A.1):
Trong đó:
Da là liều trung
bình trong vật liệu đã chiếu xạ, tính bằng Gy;
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
Hầu hết các chất dẻo và kim loại đều
có nhiệt dung riêng thấp hơn so với nước, do đó sự tăng nhiệt độ của
chất dẻo và kim loại sẽ lớn hơn so với nước khi nhận được cùng một liều chiếu.
Phụ
lục B
(Tham
khảo)
Sự phân bố liều theo độ sâu của chùm điện tử
B.1 Phạm vi áp dụng
B.1.1 Phụ lục này
mô tả sự phân bố liều theo độ sâu trong các vật liệu đồng nhất đối với
các năng lượng chùm điện tử khác nhau.
B.2 Sự phân bố liều
theo độ sâu
B.2.1 Sự phân bố liều
theo độ sâu nêu trong phụ lục này, được tính cho các chùm điện tử năng lượng thấp, trừ khi có ghi chú. Sự
phân bố liều được xác định bằng thực nghiệm có thể khác với sự phân bố liều được
tính toán, vì
chùm điện tử có thể không phải là chùm đơn năng. Ngoài ra, các chùm điện tử dạng quét có
thể có phổ năng lượng khác nhau theo hướng quét.
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
B.2.3 Độ xuyên sâu (quãng chạy
của điện tử) gần như tỷ lệ thuận với năng lượng chùm điện tử tới. Điều này được
thể hiện trong
Hình B.3 đến Hình B.5 biểu diễn sự phân bố liều theo độ sâu được tính theo
chương trình mô phỏng Monte
Carlo đối với polystyren được chiếu xạ bằng các điện tử đơn năng ở năng lượng từ 300 keV đến
12 MeV. Các trục thẳng đứng trong Hình B.1 đến Hình B.6 cho thấy sự tích tụ năng lượng trên
mỗi điện tử tới tính theo đơn vị
MeV trên đơn vị độ dày tính bằng g/cm2.
Đây là các đơn
vị được sử dụng trong hồ sơ dữ liệu đầu ra của chương trình Monte Carlo[19]. Khi đã biết
cường độ chùm điện tử và tốc độ xuyên qua bề mặt của quá trình chiếu xạ, các
đơn vị vật lý này có thể được
chuyển đổi thành các
đơn vị liều hấp thụ thực tế (Gy). Để biết chi tiết, xem Phụ lục 4.8 của TCVN
12534 (ASTM E2232). Độ dày tương đương của cửa sổ chùm và khoảng trống
ở giữa cũng được
biểu diễn trên
các hệ tọa độ độ sâu. Các ảnh hưởng của cửa sổ và khoảng trống là quan trọng
khi năng lượng dưới 1 MeV, nhưng không đáng kể khi năng lượng tăng lên.
CHÚ THÍCH B.1: Tính sự phân bố liều
theo độ sâu đối với các
điện tử đơn năng tới thông thường trên các tấm phẳng của vật liệu đồng nhất trong Hình
B.1 đến Hình B.6 sử dụng
Mã vận chuyển Monte Carlo
ITS 3[19]. Các chương
trình đơn giản hơn khác cũng có thể được sử dụng cho mục đích này[22, 23]. Việc sử dụng
và chọn các mô hình toán học
để tính liều hấp thụ trong
các ứng dụng xử lý
bằng bức xạ được
nêu trong TCVN 12534 (ASTM E2232).
CHÚ THÍCH 1: Cửa sổ được giả định là titan (mật độ 0.018 g/cm2) độ dày 4 x 10-5 m, sau đó là không khí (mật độ 0,018 g/cm2)
độ dày 0,15 m. Phương
pháp Monte Carlo tính được điểm dữ liệu
thứ nhất của từng đồ thị biểu diễn sự
tích tụ năng lượng
trong cửa sổ titan và điểm dữ liệu thứ
hai của từng đồ thị biểu diễn sự
tích tụ năng lượng trong khoảng không khí. Các điểm dữ liệu thứ ba tương ứng với sự
tích tụ năng lượng lại bề mật vật liệu chiếu xạ.
Hình B.1 - Sự
phân bố liều theo độ sâu tính được trong các polyme đồng nhất khác
nhau đối với điện tử (đơn năng) tới thông thường có năng lượng
5,0 MeV sử dụng Chương trình IST3[19,21]
CHÚ THÍCH 1: Cửa sổ được giả định là titan (mật độ 0,018 g/cm2) độ dày 4 x 10-5 m, sau đó là không khí (mật độ 0,018 g/cm2)
độ dày 0,15 m. Phương
pháp Monte Carlo tính được điểm dữ liệu
thứ nhất của từng đồ thị biểu diễn sự
tích tụ năng lượng
trong cửa sổ titan và điểm dữ liệu thứ
hai của từng đồ thị biểu diễn sự
tích tụ năng lượng trong khoảng trống. Các điểm dữ liệu thứ ba tương ứng với
sự tích tụ năng lượng lại bề mật vật liệu chiếu xạ.
Hình B.2 - Sự
phân bố liều theo độ
sâu tính được trong các vật liệu đồng nhất khác nhau đối
với điện tử (đơn hàng) tới
thông thường ở năng lượng
5,0 MeV sử dụng Chương trình IST3[19,21]
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
Hình B.3 - Sự
phân bố liều theo độ sâu tính được trong polystyren đối với điện tử đơn năng tới
thông thường ở năng lượng từ
300 keV đến 1000 keV sử dụng Chương trình IST3[19,20]
CHÚ THÍCH 1: Cửa sổ được giả định là titan (mật độ 0,018 g/cm2) độ dày 4 x 10-5 m, sau đó là không khí (mật độ 0,018 g/cm2)
độ dày 0,15 m. Phương
pháp Monte Carlo tính được điểm dữ liệu
thứ nhất của từng đồ thị biểu diễn sự
tích tụ năng lượng
trong cửa sổ titan và điểm dữ liệu thứ
hai của từng đồ thị biểu diễn sự
tích tụ năng lượng trong khoảng trống. Các điểm dữ liệu thứ ba tương ứng với
sự tích tụ năng lượng lại bề mật vật liệu chiếu xạ.
Hình B.4 - Sự
phân bố liều theo độ sâu tính được trong
polystyren đối với điện tử đơn năng tới thông
thường ở năng lượng từ
300 keV đến 1000 keV sử dụng Chương trình IST3[19,21]
CHÚ THÍCH 1: Cửa sổ được giả định là titan (mật độ 0,018 g/cm2) độ dày 4 x 10-5 m, sau đó là không khí (mật độ 0,018 g/cm2)
độ dày 0,15 m. Phương
pháp Monte Carlo tính được điểm dữ liệu
thứ nhất của từng đồ thị biểu diễn sự
tích tụ năng lượng
trong cửa sổ titan và điểm dữ liệu thứ
hai của từng đồ thị biểu diễn sự
tích tụ năng lượng trong khoảng trống. Các điểm dữ liệu thứ ba tương ứng với
sự tích tụ năng lượng lại bề mật vật liệu chiếu xạ.
Hình B.5 - Sự
phân bố liều theo độ sâu tính được trong polystyren đối với điện tử đơn năng tới
thông thường ở năng lượng từ
5,0 MeV đến 12 MeV sử dụng Chương trình IST3[19,20]
B.2.4 Bức xạ tia X (bức
xạ hãm) được tạo thành khi các điện tử bị giảm tốc trong vật liệu. Bức xạ này góp
phần vào sự phân bố liều theo độ sâu. Hình B.6 minh họa tia X nối tiếp vào đuôi
của đồ thị được tính bằng chương trình Monte Carlo[24]. Đối với các
điện tử có năng lượng dưới 10 MeV là điện tử tới vật liệu có số nguyên tử thấp, ví dụ: các hợp
chất hữu cơ, thì ảnh hưởng này thường không đáng kể. Trong các trường hợp như vậy
Rex và Rp về cơ bản là giống nhau và Rp thường
được sử dụng để biểu thị cả hai đại lượng.
B.2.5 Độ dày tối
đa của vật liệu đồng nhất có thể được
chiếu xạ ở năng lượng
điện tử nhất định phụ
thuộc vào giá trị tỷ số đồng đều liều
chấp nhận được trong vật liệu. Đối với việc chiếu xạ điện tử từ một mặt của vật
liệu, độ dày tối ưu Ropt sẽ cho liều đi ra bằng liều đi vào,
với điều kiện vật liệu lót có thành phần tương tự (xem B.2.8). Đối với việc chiếu
xạ từ mặt đối diện, độ dày tối đa có thể lớn hơn hai lần độ dày tối ưu Ropt đối với
cùng một tỷ số đồng đều liều vì đuôi của các
đồ thị liều theo độ sâu chồng lấn nhau (tham khảo Hình 29 đến Hình 31 của Tài liệu
tham khảo [4] để biết thêm thông tin).
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
CHÚ THÍCH B.3: Nếu độ dày vật liệu gấp đôi độ sâu
một nửa giá trị, R50 (Nếu đi ra bằng một nửa liều cực đại khi chiếu xạ một mặt),
khi đó tổng liều ở giữa vật liệu
khi chiếu hai mặt sẽ xấp xỉ bằng liều cực đại khi chiếu xạ một mặt (xem Hình B.7).
CHÚ THÍCH B.4: Nếu độ dày vật liệu gấp hai lần độ
sâu nửa đầu vào, R50c (liều
đi ra bằng một nửa liều
đi vào khi chiếu xạ
một mặt), thì tổng liều ở giữa khí chiếu
xạ hai mặt sẽ là gần bằng liều đi vào
(xem Hình B.7). Đối với độ dày lớn hơn hai lần R50e, tỷ số đồng đều liều sẽ tăng đáng kể
khi tăng độ dày vì vậy liều
trung tâm sẽ bị giảm dần.
CHÚ THÍCH 1: Đường nền tia X và các định
nghĩa về quãng chạy của điện tử Rex và Rp
sử dụng tiếp tuyến đi qua điểm uốn
được minh họa.
Hình B.6 - Sự
phân bổ liều theo độ sâu
tính được trong
nhôm (AI) và tantan (Ta) đối với các điện tử đơn năng tới thông thường ở năng lượng
25 MeV sử dụng chương trình IST3[19, 24]
Hình B.7 - Sự
chồng lấn của
phân bổ liều theo độ sâu đối với nhôm được chiếu xạ bằng điện tử đơn năng ở năng lượng 5
MeV từ hai mặt có độ dày khác nhau và từ một mặt sử dụng dữ liệu thực nghiệm
nêu trong Tài liệu tham khảo [18] và [25] (xem
chú thích B.2 đến B.4)
B.2.6 Sự tương quan
giữa năng lượng chùm điện tử tới và các thông số quãng chạy khác nhau, như độ
dày tối ưu Ropt, độ sâu một nửa giá
trị R50, độ sâu một
nửa đầu vào R50e, và quãng chạy
của chùm điện tử thực tế Rp được biểu diễn trong
Hình B.8 và Hình B.9[20]. Các giá trị
này thu được từ
các đồ thị sự phân bố liều theo độ sâu đối với polystyren được biểu diễn trong
Hình B.3 đến Hình B.5. Sự
phụ thuộc của các thông số độ dày này vào năng lượng gần như tuyến tính từ 1 MeV đến 12
MeV.
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
Hình B.8 - Tương
quan tính được giữa
năng lượng chùm điện tử tới và độ dày tối ưu Ropt.
độ sâu một nửa giá trị R50, độ sâu một
nửa đầu vào R50e và quãng chạy
của chùm điện tử thực
tế Rp đối với polystyren sử dụng dữ liệu từ Hình B.3 và Hình B.4 (xem Bảng
D.1)
Hình B.9 -
Tương quan tính được giữa năng lượng chùm điện tử tới và độ
dày tối ưu Ropt, độ sâu một nửa giá trị R50, độ sâu một nửa đầu
vào R50e và quãng chạy
thực tế của chùm điện tử Rp đối với
polystyren sử dụng dữ liệu từ Hình B.3 và Hình B.4 (xem Bảng D.1)
B.2.7 Hình B.10
cho thấy sự phân bố liều theo độ sâu đo được đối với hai chùm điện tử có
năng lượng 10 MeV danh nghĩa tới polystyren đồng nhất[26, 27]. Các đồ thị
này do các nhà
sản xuất máy
gia tốc và người vận hành thiết bị chùm điện tử cung cấp. Các thông số quan trọng
ảnh hưởng đến các đồ thị được nêu
trong Bảng B.1. Có sự
khác biệt rõ giữa các đồ thị đo được này và đồ thị ở năng lượng
10 MeV theo lý thuyết được biểu diễn trong Hình B.5. Điều này cho thấy cần cẩn
thận khi so sánh các đồ thị lý thuyết với đồ thị đo được. Đặc tính của các đồ
thị đo được bị ảnh hưởng
bởi, ví dụ: độ chính xác của hệ
thống đo liều được sử dụng, phổ năng lượng của chùm điện tử và độ chính xác của
năng lượng chùm điện tử danh nghĩa đã đánh giá. Phổ năng lượng điện tử rộng của các
máy gia tốc tuyến tính điển hình gây ra liều đỉnh và liều một nửa giá trị xuất
hiện ở độ sâu giảm
nhẹ so với chùm điện tử đơn năng. Tuy nhiên, các giá trị quãng chạy của chùm điện
tử thực tế hoặc
ngoại suy ít bị ảnh hưởng bởi phổ năng lượng rộng hơn. Xem Báo cáo số 35 của ICRU.
ĐỒ THỊ SỰ
PHÂN BỐ LIỀU THEO ĐỘ SÂU ĐO ĐƯỢC
Năng lượng 10
MeV danh nghĩa đối với
polystyren
□ Ví dụ về sự phân bố liều theo độ sâu sử dụng máy gia tốc
tuyến tính IMPELA 10
MeV
♦ Ví dụ về sự phân bố liều theo độ sâu đối với các
điện tử có năng lượng 10
MeV danh nghĩa tới polystyren
sử dụng máy gia tốc tuyến tính CIRCE tại Hiệp hội Công nghiệp Protein (SPI), Berric, Pháp
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
Hình B.10 - Sự
phân bố liều theo độ
sâu đo được đối với chùm điện tử 10 MeV danh nghĩa tới polystyren trong hai thiết
bị chùm điện tử
Bảng B.1 -
Các thông số chính đối với
đồ thị sự phân bố liều
theo độ sâu đo được biểu diễn trong Hình B.10
MeV
Industrie CIRCEA
AECL ImpelaB
Năng lượng
chùm danh nghĩa (MeV)
10
10
Phổ năng lượng
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
Chưa biết
Vật liệu của
cửa sổ
Ti
Ti
Độ dày cửa sổ (m)
1,0 x 10-4
1,3 x 10-4
Khoảng trống
từ cửa sổ đến
dụng cụ đo năng lượng (m)
0,463
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
A Được thiết lập tại Hiệp
hội Công nghiệp Protein, Berric, Pháp[26].
B Được thiết lập tại Cơ
quan năng lượng điện tử, Cranbury, NJ[27].
B.2.8 Nếu độ dày của
vật liệu nhỏ hơn quãng chạy tối đa của các điện tử thì liều gần bề mặt đi ra sẽ
bị ảnh hưởng bởi thành phần của vật liệu
lót. Điều này là do sự tán xạ ngược của các điện tử khỏi vật liệu lót. Ảnh hưởng này có thể được đo hoặc
có thể được đánh giá bằng chương trình EDMULT[22, 23] hoặc chương
trình Monte Carlo[19,
28, 29].
B.2.8.1 Với các vật
liệu lót có số nguyên tử hiệu dụng cao hơn so với số nguyên tử hiệu dụng của vật
liệu chiếu xạ, liều đi ra sẽ cao hơn liều xác định được từ đồ thị sự phân bố liều
theo độ sâu trong chất hấp thụ dày. Điều này được minh họa trong Hình B.11 biểu
diễn sự phân bố liều
theo độ sâu đo được đối với các điện tử có năng lượng 400 keV trong các chồng liều kế màng mỏng
xenlulose axetat được lót bằng gỗ, nhôm và sắt[30]. Các số
nguyên tử hiệu dụng của
gỗ (xenlulose), nhôm và sắt tương ứng là 6, 7, 13 và 26.
Hình B.11 - Sự
phân bổ liều theo độ sâu trong các chồng liều kế màng mỏng
xenlulose axetat được lót bằng gỗ, nhôm và sắt đối với các điện tử tới có năng lượng
400 keV[30]
B.2.8.2 Với vật liệu
lót có số nguyên tử hiệu dụng thấp hơn so với số nguyên tử hiệu dụng của vật liệu
chiếu xạ, liều đi ra sẽ thấp hơn liều được cho bởi đồ thị phân bố liều
theo độ sâu trong các chất hấp thụ dày[31].
B.2.9 Nếu góc tới của
chùm điện tử không phải
là đường vuông góc (vuông góc) với bề mặt của vật liệu thì hình dạng của
đồ thị phân bố liều theo độ sâu phải được thay đổi. Điều này được thể hiện
trong Hình B.12 biểu diễn các đồ thị phân bố liều theo độ sâu đo được đối với
các điện tử có năng lượng 2
MeV tới các chất hấp thụ polystyren ở các góc 0°, 15°, 30°, 45°, 60° và 75° theo
hướng vuông góc. Với mỗi góc tới, sự phân bố liều theo độ sâu được đo theo hướng
vuông góc với bề mặt đi vào của vật liệu[31].
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
B.2.10 Với các vật
liệu không đồng nhất, như
các vật dụng y tế hoặc các bộ phận đúc, sự phân bố liều sẽ bị ảnh
hưởng bởi hình dạng
và hướng của các vật thể và bởi các khoảng
trống giữa
chúng. Do đó, các mối quan hệ được
nêu ở trên đối với các vật liệu
đồng nhất không
được áp dụng trong các trường hợp như vậy và phải đo sự phân bố liều sử dụng
các quy trình được mô tả trong Điều
10 của tiêu chuẩn này.
Phụ
lục C
(Tham
khảo)
Phép đo sự phân bố liều theo độ sâu
C.1 Các lưu ý chung
C.1.1 Phụ lục này
mô tả các thiết bị
và các quy trình đo sự phân bố liều theo độ sâu trong các vật liệu đồng nhất đối với
các năng lượng điện tử khác nhau.
C.1.2 Hai kiểu dụng cụ đo
khác nhau, thường là kiểu xếp chồng và nêm, kết
hợp với hệ đo liều màng mỏng, có
thể được sử dụng để đo sự phân bố liều theo độ sâu trong vật liệu chuẩn đồng nhất. Chi tiết về
cấu tạo của các dụng cụ và các phương pháp nạp các liều kế được trình bày dưới
đây.
C.1.3 Nhôm cũng như
các vật liệu có mật độ thấp khác như polyetylen, polystyren, than chì,
polymetylemethacrylat (PMMA) và nylon có thể được dùng làm vật liệu chuẩn.
Các đặc tính liên quan
của một số vật liệu này được nêu trong Bảng C.1.
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
C.2 Xếp chồng
C.2.1 Đối với năng
lượng điện tử ở một vài MeV,
các phép đo sự phân bố liều theo độ sâu với một chồng các tấm
polystyren mỏng thường được
sử dụng để xác định năng lượng chùm điện tử. Đối với các năng lượng này, các liều
kế có thể là một
phần đáng kể của tổng độ dày chất hấp thụ. Do đó, có thể thuận tiện khi chọn
các vật liệu có thành phần tương tự với các liều kế để giảm thiếu ảnh hưởng của
chúng đến sự phân bổ liều theo độ sâu.
C.2.2 Trong dải
năng lượng trên một vài MeV, các vật liệu hấp thụ bằng nhôm có thể được sử dụng
để xác định năng lượng chùm điện tử, như được mô tả trong Phụ lục D. Trong dải năng lượng
này, độ dày của các liều kế có thể nhỏ hơn nhiều so với nhôm, vì vậy thành phần
của chúng có thể khác nhau không đáng kể.
C.2.3 Một chồng các tấm vật
liệu chuẩn thích hợp cần được xếp xen kẽ với các liều kế màng mỏng (hoặc một
chồng các liều kế
màng mỏng) (xem Hình
C.1).
CHÚ THÍCH 1: Độ dày tấm t ≤ Rp/12 và chiều cao chồng T ≥ 1,5 Rp, trong đó Rp là quãng chạy của
chùm điện tử thực tế dự kiến
trong vật liệu xếp chồng, cần đặt ít nhất hai liều kế màng mỏng lên tấm trên cùng (xem hình vẽ) và ở giữa các tấm dọc theo
tâm của chồng.
Hình C.1 - Dụng
cụ đo kiểu xếp chồng
C.2.4 Độ dày tấm
danh nghĩa phải bằng 1/12 quãng chạy của chùm điện tử thực tế Rp dự kiến hoặc
ít nhất phải đảm bảo đủ số điểm dữ liệu để thiết lập sự phân bố liều theo độ sâu. Các
kích thước bên của chồng phải ít nhất bằng 3
Rp để tránh ảnh hưởng của các hiệu ứng cạnh lên sự phân bố liều. Tổng độ
dày của chồng phải ít nhất
bằng 1,5 Rp. Độ dày các chồng bao gồm độ dày các liều kế màng mỏng xếp xen kẽ
nhau.
C.2.5 Các liều kế
mỏng, như các liều kế màng mỏng nhuộm màu [xem TCVN 7910 (ISO/ASTM 51275)] là phù hợp nhất
cho phép đo. Phải đặt ít nhất hai liều kế lên bề mặt của tấm trên cùng và đặt
ít nhất hai liều kế khác giữa
các tấm còn lại. Các liều kế cần được đặt gần nhau dọc theo giữa chồng cách xa cạnh
của chồng.
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
C.3.1 Nêm phải được
làm bằng vật liệu dẫn điện để tránh ảnh hưởng có thể có do sự tích
lũy điện tích lên sự phân bố liều theo độ sâu đo được[32, 33]. Các vật liệu
được sử dụng phổ biến nhất cho dụng cụ đo nêm là nhôm và than chì vì chúng sẵn
có. Dụng cụ này
có thể được tạo thành bằng cách xếp chồng hai nêm lại với nhau để tạo thành một khối
hình chữ nhật (xem Hình
C.2).
C.3.2 Nêm phải dày
ít nhất bằng 3 Rp để tránh ảnh hưởng của các hiệu ứng cạnh lên dải liều
kế có độ dày tối thiểu
ít nhất là 1,5 lần so với quãng
chạy của chùm điện tử thực tế Rp dự kiến. Ngoài ra, chiều rộng của
nêm phải mở rộng ít nhất
bằng Rp vượt quá sự nhô ra của dải liều kế, như trong Hình C.2, để cho
các điều kiện tán xạ thích hợp đối với liều kế. Góc của nêm không
được lớn hơn 30°.
CHÚ THÍCH C.2: Một mảng các
liều kế riêng lẻ có thể được sử
dụng thay cho dải liều kế
liên tục.
CHÚ THÍCH 1: Chiều cao T ≥ 1,5 Rp,
trong đó Rp là quãng chạy của chùm điện tử thực tế
dự kiến trong vật liệu nêm (ví dụ: nhôm). θ không lớn hơn 30°. Dải liều kế màng mỏng được đặt dọc
theo bề mặt nghiêng giữa hai nêm.
Hình C.2 - Dụng
cụ đo kiểu nêm
C.3.3 Dải liều kế phải
được đặt dọc theo tâm của
bề mặt nghiêng giữa hai nêm. Việc đặt dải liều kế này cần bao phủ toàn bộ chiều
dài bề mặt nghiêng với một đoạn ngắn nhỏ ra ở bề mặt điện tử đi vào. Cần đánh một dấu hẹp trên dải
liều kế tại điểm mà dải kiều kế đi vào phần nghiêng của nêm. Dấu này cũng có
thể được đặt ở vị trí đã biết khác trên dải
liều kế để kiểm tra tính nhất quán:
liều bề mặt phải không đổi trước khi dải liều kế đi vào phần nghiêng của nêm.
C.4 Quy trình đo
sự phân bố liều theo độ sâu
C.4.1 Các lưu ý
chung
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
CHÚ THÍCH C.3: Ảnh hưởng của độ dày
cửa sổ thoát và khoảng
trống trở nên rõ
hơn khi năng lượng điện
tử giảm đi. Đối với năng lượng điện tử lớn hơn một
vài MeV, các ảnh
hưởng này có thể
không đáng kể.
C.4.2 Dụng cụ đo
phải được chiếu xạ bằng cách di chuyển băng chuyền ở tốc độ không đổi qua vùng bức xạ. Độ rộng quét
phải lớn hơn thiết bị để đảm bảo rằng
liều bề mặt là đồng nhất. Độ rộng
quét cường độ chùm và tốc độ băng chuyền cần được chọn sao cho liều hấp thụ nằm trong dải có ích của hệ
đo liều.
CHÚ THÍCH C.4: Các liều hấp thụ cực đại
trong dụng cụ đo cần được giới hạn
để giảm thiểu các ảnh
hưởng của nhiệt độ lên độ nhạy của
liều kế.
CHÚ THÍCH C.5: Góc tới của chùm điện tử phải vuông góc với
bề mặt của dụng cụ, nếu không đồ
thị phân bố liều theo độ sâu trong dụng cụ sẽ bị ảnh hưởng bởi góc tới của
chùm điện tử (xem B.2.9).
C.4.3 Xếp chồng
C.4.3.1 Đo giá trị liều
trung bình đối với mỗi bộ các liều
kế tại bề mặt chồng và giữa
các tấm của chồng.
C.4.3.2 Sự phân bố liều
theo độ sâu được dựng thành đồ thị là hàm của khoảng cách từ bề mặt chồng. Để xác định khoảng
cách này, độ dày của mỗi tấm phải được đo và mật độ của nó là đã biết.
CHÚ THÍCH C.6: Ngoài ra, sự phân bổ liều theo độ sâu
có thể được dựng thành đồ thị là hàm của độ sâu chuẩn hóa (xem
3.1.22 định nghĩa về độ sâu chuẩn
hóa). Rp
trong Công thức D.9 và Công thức
D.13 phải được thay thế bằng zP = ρ x Rp.
CHÚ THÍCH C.7: độ dày của các liều
kế màng mỏng được đặt xen kẽ có thể ảnh hưởng đến phép đo. Các hiệu chính đối với ảnh hưởng này có thể được ước lượng
bằng cách bổ sung độ sâu chuẩn hóa của các
liều kế màng mỏng vào độ sâu chuẩn
hóa của vật liệu chồng.
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
C.4.4.1 Nêm phải được
đặt trên băng chuyền sao cho dải liều kế hoặc mảng các liều kế màng mỏng song song với
hướng di chuyển của sản phẩm (vuông góc với hướng quét).
C.4.4.2 Đo các giá trị
liều dọc theo toàn bộ chiều dài của dải liều kế. Độ sâu có thể tính được
bằng cách nhân khoảng cách
dọc theo dải liều kế từ lối vào của nêm
(được xác định bằng dấu trên màng mỏng) với sin của góc θ, góc giữa bề mặt tới của
nêm và mặt phẳng của liều kế màng mỏng (xem Hình C.2).
C.4.5 Tính năng lượng
chùm điện tử
C.4.5.1 Từ sự phân bố
liều theo độ sâu, xác định quãng chạy của chùm điện tử thực tế Rp,
quãng chạy của chùm điện tử ngoại suy Rex và độ sâu một nửa giá trị
R50 đối với
vật liệu chuẩn của dụng cụ đo năng lượng. Tùy thuộc vào vật liệu chuẩn được sử
dụng, năng lượng điện
tử được tính theo các hướng dẫn được nêu trong Phụ lục D.
CHÚ THÍCH C.8: Thực hành chung sử dụng
quãng chạy của chùm điện tử thực tế Rp
dùng cho mục đích xác định năng lượng
chùm điện tử.
Phụ
lục D
(Tham
khảo)
Tính năng lượng chùm điện tử dựa vào sự phân
bố liều theo độ sâu đo được
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
D.1.1 Mức độ các điện
tử đâm xuyên vào một
vật liệu nhất định
gần như tương ứng với năng
lượng ban đầu của chúng. Mối quan hệ này có thể được sử dụng để xác định năng
lượng của chùm điện tử.
D.1.2 Phụ lục này
mô tả các phương pháp sử dụng các phép đo sự phân bổ liều theo độ sâu trong các
vật liệu đồng nhất để
xác định năng lượng chùm điện tử. Lưu ý trong phụ lục này, có thể có sự khác nhau về
năng lượng được xác định thông qua việc sử dụng các công thức tính khác nhau
đã nêu. Các công thức tính và kỹ thuật
đo năng lượng này
có thể được sử dụng
để đảm bảo chất lượng và kiểm soát năng lượng chùm điện tử, với điều kiện công
thức tính và kỹ thuật
tương tự được sử dụng một cách nhất quán. Bằng cách này, có thể xác định được
hằng số năng lượng chùm điện tử tại thiết bị chiếu xạ theo thời gian.
D.1.3 Các công thức
tính năng lượng dựa trên các phép đo quãng chạy của điện tử được nêu
trong Báo cáo số 35 của ICRU. Các công thức này có được từ các phép đo
trên các máy gia tốc điện tử dùng trong y tế được sử dụng trong điều trị ung thư. Các
công thức khác được nêu trong Phụ lục này dựa trên các công thức tính Monte
Carlo. Người sử dụng cần xác định phương pháp được sử dụng để tính năng lượng
chùm điện tử và dải năng
lượng áp dụng của nó.
D.2 Các mối tương
quan về năng lượng và quãng chạy
D.2.1 Các công thức
tính năng lượng được nêu trong phụ lục này cho thấy các độ chính xác khác nhau.
Điều này là do sự khác biệt trong phổ năng lượng của các chùm đo được so với phổ thu được dựa
trên các phương trình (trong một số trường hợp, các phương trình này dựa trên
các điện tử đơn năng, như đã lưu ý). Ngoài ra, các chùm dạng quét không phải là đơn năng tạo
ra phổ năng lượng khác nhau trên độ rộng chùm.
D.2.2 Các mối tương quan
đối với nước và nhôm thu được từ thực nghiệm
D.2.2.1 Đối với nước,
mối tương quan thu được từ thực nghiệm (xem Báo cáo số 35 của ICRU) giữa năng
lượng chùm điện tử có thể xảy ra nhất Ep và năng lượng chùm
điện tử trung bình Ea
tại bề mặt chùm đi vào của nước và các thông số quãng chạy Rp
và R50 (xem
Hình 4) là:
Ep (MeV) = 0,22 + 1,98Rp
+ 0,0025 (D.1)
1 MeV < Ep < 50 MeV
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
5 MeV < Ea <
35 MeV
Trong đó Rp
và R50 tương ứng là quãng chạy thực tế
và độ sâu một nửa giá trị của chùm điện tử, trong nước [tính bằng centimet (cm)].
Nếu vật liệu trong đó các thông số quãng chạy được đo gần như tương đương với
nước (số nguyên tử hiệu dụng và trọng lượng nguyên tử gần giống như nước) thì khi đó quãng chạy thực
tế và độ sâu một nửa giá trị của
chùm điện tử có thể được điều chỉnh
theo Công thức (D.3):
Trong đó:
ρ là mật độ;
r0 là quãng chạy
gần đúng giảm dần liên tục CSDA.
w và m là các
chỉ số liên quan đến nước và vật liệu đang sử dụng (xem Bảng C.1 và Báo cáo số
35 và 37 của ICRU). Việc điều chỉnh này không thích hợp với các vật liệu khác,
như nhôm có số nguyên tử và trọng lượng
nguyên tử lớn hơn đáng kể so với nước.
D.2.2.2 Đối với nhôm,
các mối tương quan thu được từ thực nghiệm (xem Báo cáo số 35 của ICRU và Tài
liệu tham khảo [34]) giữa năng lượng điện tử có thể xảy ra nhất Ep và năng lượng
trung bình Ea tại bề mặt
chùm đi vào nhôm và các thông số Rp và R50 (xem
Hình 3) là:
Ep (MeV) = 0,20 + 5,09 Rp
(D.4)
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
Ea = 6,2 R50 (D.5)
10 MeV < Ea < 25 MeV
Trong đó Rp là quãng chạy
thực tế và R50 là độ sâu một nửa
giá trị tương ứng của chùm điện tử, trong nhôm [tính bằng centimet (cm)].
D.2.3 Mối tương
quan thu được từ công thức Monte Carlo đối với polystyren
D.2.3.1 Nếu chùm điện
tử là chùm đơn năng thì năng lượng
có thể xảy ra nhất và năng lượng trung bình tại bề mặt của vật liệu hấp thụ có
thể được coi là giống nhau.
Giá trị năng lượng E này có thể tương quan với
độ dày tối ưu Ropt và độ sâu một nửa giá trị R50, độ sâu một
nửa đầu vào R50e và quãng chạy
thực tế Rp của chùm điện tử (xem Hình 4). Đối với
polystyren, các mối tương quan này thu được từ sự phân bố
liều theo độ sâu Monte-Carlo được nêu trong Phụ lục B, B.2 và được cho bởi các công thức
tính đối với năng lượng điện tử từ 0,3 MeV đến 12 MeV[20] dưới đây:
0,3 MeV < E < 2,0 MeV
E = 2,347 Ropt + 0,420
(D.6)
E = 2,421 R50 + 0,278
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
E = 2,198 R50e + 0,295
(D.8)
E = 1,972 Rp + 0,245
(D.9)
2,0 MeV< E < 12 MeV
E = 2,415 Ropt + 0,343
(D.10)
E = 2,160 R50 + 0,475
(D.11)
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
(D.12)
E= 1,876 Rp + 0,298
(D.13)
Các giá trị quãng chạy đưa ra là độ
sâu chuẩn hóa (tính bằng g/cm2)
và E tính bằng MeV.
Các giá trị độ dày tối ưu Ropt, độ sâu một
nửa giá trị R50, độ sâu một
nửa đấu vào R50e và quãng chạy
thực tế Rp của chùm điện tử trong polystyren đối với các năng
lượng điện tử E khác nhau thu được từ sự phân bố liều theo độ sâu Monte
Carlo1201. Các giá trị này được liệt kê trong Bảng D.1.
Bảng D.1 - Độ sâu một
nửa giá trị R50, độ sâu một
nửa đầu vào R50e, độ dày tối
ưu Ropt và quãng chạy thực tế Rp của chùm
điện tử, trong polystyren đối với các năng lượng điện tử đơn năng ở năng lượng E từ 0,3 MeV đến
12 MeV thu được từ các toán tính Monte Carlo[20]
E (MeV)
R50 (g/cm2)
R50e (g/cm2)
Ropt (g/cm2)
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
Tỷ số Rp/R50
0,3
0,0254
0,0254
0,0000
0,0451
1,7774
0,4
0,0554
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
0,0000
0,0851
1,5360
0,5
0,0923
0,0924
0,0231
0,1310
1,4203
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
0,1290
0,1326
0,0754
0,1747
1,3544
0,7
0,1679
0,1762
0,1192
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
1,3339
0,8
0,2085
0,2218
0,1632
0,2746
1,3171
0,9
0,2501
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
0,2072
0,3258
1,3030
1
0,2888
0,3121
0,2491
0,3717
1,2873
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
0,5043
0,5477
0,4565
0,6357
1,2605
2
0,7217
0,7890
0,6738
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
1,2485
2,5
0,9454
1,0282
0,8833
1,1692
1,2367
3
1,1708
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
1,0920
1,4373
1,2276
3,5
1,4004
1,5079
1,3026
1,7069
1,2189
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
1,6283
1,7483
1,5125
1,9766
1,2139
4,5
1,8573
1,9871
1,7211
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
1,2085
5
2,0914
2,2270
1,9333
2,5091
1,1997
6
2,5549
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
2,3496
3,0494
1,1936
7
3,0215
3,1847
2,7677
3,5817
1,1854
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
3,4843
3,6579
3,1759
4,1123
1,1803
9
3,9505
4,1333
3,5915
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
1,1752
10
4,4146
4,6057
3,9967
5,1744
1,1721
11
4,8835
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
4,4008
5,7041
1,1680
12
5,3445
5,5470
4,7964
6,2336
1,1663
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
D.2.3.2 Công thức
tính từ D.6 đến D.13 là ít chính xác hơn đối
với các vật liệu có thành phần hóa học
khác với polystyren. Khi năng lượng giảm, cửa sổ chùm và khoảng trống
trở nên quan trọng
hơn (xem Hình B.3) và các ảnh hưởng của chúng lên sự phân bố liều theo độ sâu
trong vật liệu đã chiếu xạ cần được tính đến.
CHÚ THÍCH D.1: Khi sử dụng giá trị
quãng chạy của chùm điện tử thực tế
Rp, Công thức D.1 là phù hợp trong
khoảng 2 % cũng với Công thức D.13
dùng cho năng lượng cao
hơn từ 2,0 MeV đến 12
MeV, với điều kiện sử dụng Công
thức D.3 để chuyển đổi
các quãng chạy trong
polystyren thành các giá trị
trong nước tương đương. Tuy nhiên, sai lệch tăng khi năng
lượng giảm, ở năng tượng 1,0 MeV, Công thức D.1 cho các giá trị năng lượng
thấp hơn 4 % so với Công thức D.13.
Khi sử dụng độ sâu một nửa giá trị R50, Công thức D.2 là phù hợp trong khoảng
2 % cùng với Công thức D.11
dùng cho năng lượng cao
hơn từ 8,0 MeV đến
12 MeV, nhưng sự sai lệch tăng khi năng lượng giảm, ở năng lượng 5 MeV, Công thức
D.2 cho giá trị năng lượng thấp hơn 6 % so với Công thức D.11. Công thức D.1 và Công thức D.2 được xác định
từ thực nghiệm bằng cách sử dụng đồ thị phân bố liều theo độ sâu đo được trong nước.
Tính hiệu lực của
phương pháp Monte Carlo đối với năng lượng điện tử dưới 2,0 MeV đã được
chứng minh bằng dữ liệu nêu trong Tài liệu tham khảo [18]. Việc so sánh
các phương trình Monte
Carlo và ICRU chỉ ra rằng không nên
sử dụng Công thức D.1 cho chùm điện
tử ở năng lượng
nhỏ hơn 2,0 MeV
và không nên sử dụng Công thức
D.2 ở năng lượng nhỏ hơn 8,0 MeV.
Các công thức tính Monte
Carlo dùng cho polystyren đưa ra phương pháp chính xác để đo năng lượng
chùm điện tử dưới 2,0 MeV. Việc xác định năng lượng chùm điện tử từ đồ thị sự phân
bố liều theo độ sâu đo được bằng cách sử dụng Công thức
D.6 đến Công
thức D.13 có thể gây sai lệch
năng lượng thực tế nếu chùm điện tử có sự phân tán năng lượng rộng. Độ
chính xác của
các giá trị năng lượng từ các công thức này bị ảnh hưởng
bởi sự khác
nhau trong phổ năng lượng chùm điện tử trong chùm đã đo và các chùm đơn năng được sử dụng để đưa ra các
phương trình Monte
Carto[20,
35, 36].
D.2.4 Mối tương
quan thu được từ phương pháp Monte Carlo đối với nhôm
D.2.4.1 Sự phân bố liều
theo độ sâu trong nhôm có mật độ 2,7 g/cm3 được tính cho các mức
năng lượng từ 2,5 MeV đến 25 MeV. Các tính toán mô phỏng cấu hình
khối nhôm chuyển
động trong khoảng trống, cách cửa
sổ titan dày 50 cm là 15 cm. Các kết
quả sự phân bổ liều được ghi lại ở ba chiều và cần tính đến các ảnh hưởng phân
tán trong cửa sổ titan.
D.2.4.2 Các giá trị của
độ sâu một nửa giá trị R50, quãng chạy của chùm
điện tử thực tế Rp và quãng chạy của chùm điện tử ngoại suy Rex
trong nhôm đối với các năng lượng chùm điện tử có năng lượng E khác nhau
thu được từ dữ liệu Monte Carlo nêu trong Tài liệu tham khảo [25]. Các giá trị
này được liệt kê trong Bảng D.2.
D.2.4.3 Giá trị năng
lượng điện tử tới E (MeV) có thể tương quan với giá trị quãng chạy Rp
và R50 đối với nhôm
(tính bằng cm)
được nêu trong Bảng D.2 bằng phương trình bậc hai như sau (đối với năng lượng điện
tử từ 2,5 MeV và 25 MeV):
E = 0,423 + 4,69 x Rp + 0,0532 x
(D.14)
E = 0,394 + 4,77 x Rex + 0,0287 x
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
E = 0,734 + 5,78 x R50 + 0,0504 x
(D.16)
Bảng D.2 - Độ
sâu một nửa giá trị R50, quãng chạy của chùm
điện tử thực tế Rp và quãng chạy của chùm điện tử ngoại suy Rex trong nhôm đối
với các năng lượng điện tử đơn năng ở năng lượng E
từ 2,5 MeV đến 25 MeV thu được từ các tính toán Monte Carlo
E (MeV)
R50 (cm)
Rp (cm)
Rex (cm)
Tỷ Số Rp/R50
2,5
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
0,4386
0,4404
1,4398
3
0,3906
0,5440
0,5446
1,3928
4
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
0,7541
0,7526
1,3414
5
0,7333
0,9633
0,9601
1,3137
6
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
1,1714
1,1671
1,2961
7
1,0739
1,3787
1,3736
1,2838
7,5
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
1,4819
1,4767
1,2789
8
1,2435
1,5849
1,5796
1,2746
9
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
1,7903
1,7851
1,2674
10
1,5812
1,9947
1,9901
1,2615
12
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
2,4009
2,3986
1,2525
15
2,4171
3,0036
3,0077
1,2427
20
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
3,9913
4,0134
1,2313
25
4,0548
4,9591
5,0077
1,2230
CHÚ THÍCH 1: Cửa sổ được giả định
là titan (mật độ 0,018
g/cm2) độ dày 5 x 10-5 m, sau đó là
không khí (mật độ 0,018
g/cm2) độ dày 0,15 m.
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
R = Rmeasure x ρalloy/2,7 g.cm-3 (D.17)
CHÚ THÍCH D.2: Khi sử dụng
giá trị quãng chạy thực tế Rp, Công thức D.4
là phù hợp trong khoảng 2 % cùng với Công
thức D.14 dùng cho
năng lượng từ 2.5 MeV đến
25 MeV. Khi sử dụng độ sâu một nửa giá trị R50, Công thức
D.5 là phù hợp trong
khoảng 2 % cùng với Công thức D.16
dùng cho năng
lượng từ 10 MeV đến 25 MeV, nhưng sai lệch tăng khi năng lượng giảm,
ở năng lượng 7,5 MeV, Công thức D.5
cho các giá trị năng lượng
khoảng 4 % thấp hơn so với Công thức D.16, trong khi tại năng lượng 5,0 MeV
thì Công thức
D.5 cho giá trị năng lượng thấp hơn 9 % so
với Công thức D.16.
D.2.4.5 Tỷ số Rp/R50 trong nhôm
được nêu trong Bảng D.2 phụ thuộc vào năng lượng điện tử E. Trong tình
huống thực tế, nếu giá trị đo được của tỷ số này lớn hơn giá trị tính được
trong Bảng D.2 thì
chùm có thể không phải là chùm đơn năng. Phổ năng lượng rộng làm giảm R50 nhiều hơn Rp,
do đó, tỷ số này cho thấy sự phân tán
năng lượng trong chùm (xem Báo cáo số 35 của ICRU).
Phụ
lục E
(Tham
khảo)
Liều hấp thụ là hàm của cường độ chùm, độ rộng
chùm và tốc độ băng chuyền
E.1 Liều hấp thụ
trong sản phẩm phụ thuộc vào cường độ chùm trung bình, độ rộng
chùm, tốc độ băng chuyền về năng lượng chùm. Phép đo liều là hàm của các thông số này có ích cho
việc hiệu chuẩn thiết bị chiếu xạ
chùm điện tử. Không có mối quan hệ đơn giản giữa liều và năng lượng chùm
điện tử, phép đo liều là hàm của ba thông số khác nhau do đó cần thực hiện phép
đo cho từng mức năng lượng vận hành. Mối quan hệ được biểu thị như sau:
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
D là liều hấp thụ,
tính bằng Gy;
l là cường độ chùm trung bình, tính bằng
ampe (A);
V là tốc độ băng chuyền,
tính bằng (m.s-1);
Wb là độ rộng
chùm, tính bằng m;
K là độ dốc của
đường thẳng mối quan hệ
trong Công thức E.1, tính bằng (Gy.m2)/(A.s);
D là liều tại điểm
đo, có thể là liều bề mặt ở tâm chùm hoặc liều được đo tại vị trí giám sát thường
xuyên. Giá trị của K sẽ phụ thuộc vào điểm đo.
l là cường độ chùm trung bình được theo
dõi bằng thiết bị.
V là tốc độ của
sản phẩm đi qua vùng chiếu xạ.
Wb là độ rộng của
chùm tại một phần quy định của
liều ở giữa chùm,
xem Phụ lục F.
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
Hình E.1 - Ví
dụ về liều là hàm của cường độ chùm trung bình (l), tốc độ
băng chuyền (V) và độ rộng chùm (Wb)
E.2 Liều cũng phụ
thuộc vào độ dày cửa sổ thoát chùm, khoảng cách giữa cửa sổ chùm và điểm
đo.
E.3 Mối quan hệ
trong Công thức E.1 cần được thiết lập bằng phép đo liều với các tổ hợp khác nhau của
các thông số l, V và
Wb. Có thể thấy
rằng mối quan hệ này là đường thẳng đi qua gốc tọa độ - nằm trong độ không đảm
bảo đo - chứng minh rằng thiết bị vận hành như đã định và tại năng lượng chùm đã cho, liều
có thể được chọn bằng
cách lựa chọn đúng các thông
số này.
E.4 Cần đo liều đủ
số lần (ba lần hoặc nhiều hơn) đối với các giá trị giống nhau của các thông số
chính để xác định
độ tái lập của phép đo và tính ổn định của các thông số vận hành.
E.5 Thông tin về
tính biến thiên của máy σmach có thể thu được từ các giá trị còn lại đối với
đường thẳng thích hợp với phương trình D = f (l/(V x Wb)
E.6 Việc đánh giá
tốc độ xử lý
nguyên liệu có thể dựa vào Công thức E.1, xem Phụ lục J.
Phụ
lục F
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
Phép đo độ rộng chùm và độ đồng đều liều dọc
theo hướng quét
F.1 Phạm vi áp dụng
F.1.1 Có nhiều phương
pháp khác nhau dùng để xác định độ rộng chùm và độ đồng đều liều dọc
theo hướng quét. Phụ lục này mô tả các phương pháp sử dụng đo liều để đo độ phân tán và độ đồng đều liều đối
với thiết bị sử dụng băng chuyền hoặc hệ thống giá treo. Hình 2 cho thấy độ dài chùm và
độ rộng chùm đối với chùm dạng quét sử dụng hệ băng chuyền. Hình 3 là
ví dụ về sự phân bố liều được
đo dọc theo hướng quét.
F.1.2 Sự phân bố liều
dọc theo hướng
quét được đo bằng cách đặt các dải liều kế màng mỏng hoặc các màng của liều kế
đơn lẻ dọc theo hướng quét. Sử dụng các màng liều kế đơn lẻ, có thể đặt nhiều
liều kế hơn trong các vùng gradient liều cao được dự kiến (như tại các vị trí cực trị) và ít liều
kế hơn khi sự phân bố liều được dự kiến là đồng đều.
F.1.3 Độ rộng chùm
được đo ở một khoảng
cách xác định từ cửa sổ chùm.
F.1.4 Độ rộng chùm
được xác định tại một phần quy định của liều tại tâm chùm dạng quét (xem Hình 3).
F.1.5 Độ rộng chùm
phải được đo đủ số lần để xác định
độ tái lập của độ rộng chùm đo được.
F.2 Quy trình đo
F.2.1 Một mảng các liều kế
hoặc dải dài liều kế màng mỏng được
gắn trên một vật cố định có vật liệu lót đồng nhất (sử dụng các liều kế riêng rẽ sẽ giới
hạn độ phân giải không gian của phép đo).
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
F.2.2 Khi có thể đặt
các liều kế vượt quá độ
rộng chùm dự kiến để xác định giới hạn của toàn bộ độ rộng chùm. Các vật cố định
cần được gắn lặp lại vào băng chuyền hoặc giá treo tại khoảng cách xác định từ
cửa sổ thoát chùm.
F.2.3 Nên sử dụng vật
liệu lót như polystyren hoặc polyetylen. Không sử dụng kim loại có nhiệt dung
riêng thấp vì liều hấp thụ
làm nhiệt độ tăng quá mức.
F.2.4 Vật cố định
liều kế được chiếu xạ bằng cách cho đi qua chùm điện tử sử dụng một bộ thông số
vận hành đã biết. Đường trung tâm của mảng liều kế phải tương ứng với đường
trung tâm dự kiến của độ rộng chùm. Độ rộng tổng của mảng liều kế phải đủ lớn để
bù cho bất kỳ sự khác biệt nào có thể từ trung tâm. Độ đồng đều liều có thể bị ảnh hưởng
bởi sự tương
tác giữa các thông số sau:
F.2.4.1 Độ rộng chùm;
F.2.4.2 Tần số quét;
F.2.4.3 Kích thước
và hình dạng điểm
chùm;
F.2.4.4 Độ rộng xung
(đối với máy gia tốc xung);
F.2.4.5 Tốc độ lặp
xung (đối với máy gia tốc xung);
F.2.4.6 Tốc độ băng
chuyền; và
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
F.2.4.8 Ảnh hưởng của các
thông số này được xem
xét chi tiết hơn trong Phụ lục G.
F.2.5 Các giá trị
liều được dựng thành đồ thị là hàm của liều tại vị trí đo. Vị trí phải được
tham chiếu đến dòng sản phẩm thông thường đối với các thông số vận hành được sử
dụng, như tâm của dòng sản phẩm.
F.2.6 Xác định độ rộng
chùm và độ biến thiên của liều đo được theo hướng quét. Độ rộng chùm là khoảng
cách giữa các điểm dọc theo trường phân bố liều ở mức phân đoạn đã xác
định từ vùng liều cực đại trong trường phân bố (xem Hình 3). Mức phân đoạn cần được
quy định.
F.2.7 Độ rộng chùm
đo được phải bao chùm toàn bộ độ rộng đơn vị nạp hàng dự kiến.
Phụ
lục G
(Tham
khảo)
Sự phân bố liều đối với chùm quét hoặc chùm
xung
G.1 Đối với chùm
điện tử dạng quét cần đảm bảo rằng sản phẩm đi qua vùng chiếu xạ được chiếu xạ đồng đều. Do
đó, phải đảm bảo rằng hướng
quét không đi qua bất kỳ khu vực nào không được chiếu xạ. Hình G.1 cho thấy các
hướng quét khác nhau (cường độ từ trường quét so với thời gian) kiểu A là phổ
biến nhất.
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
CHÚ THÍCH 1: Bao gồm các kiểu quét
phức tạp, để tạo ra sự
phân bố liều tối ưu
tại bề mặt sản phẩm. (A) Hình
răng cưa tuyến tính, (B) Hình răng cưa tuyến tính đối với chùm dạng quét theo một hướng, có
“tia quét ngược” nhanh theo
hướng khác, (C) chùm quét theo hình sin làm tăng liều tại các cạnh quét, và (D) hàm số
quét nhiều nấc đôi khi được sử
dụng với các chùm dạng xung,
tần số xung và tần
số quét được đồng bộ hóa và
mỗi nấc có thể được điều chỉnh
để thu được sự phân bố liều tối ưu.
(Nguồn: Báo cáo số 80 của ICRU)
Hình G.1 -
Các đặc tính quét khác nhau được sử dụng cho các chùm điện tử
G.2 Phải đảm bảo
rằng sản phẩm không di chuyển quá xa trong suốt thời gian của một chu kỳ quét
khi chùm không chồng lấn lên bề mặt sản phẩm
trong một chu kỳ quét đến chu
kỳ quét tiếp theo.
G.3 Đối với chùm
dạng xung và chùm dạng quét, phải đảm bảo rằng một xung chùm chồng lấn với
xung chùm tiếp theo.
G.4 Điều quan trọng
là phải biết hình dạng và kích thước của điểm chùm. Kích thước thường được biểu
thị bằng độ rộng của toàn độ rộng ở nửa cực đại (FWHM) và thường có thể giả định
rằng điểm chùm là đối xứng theo chiều quay. Trong trường hợp đối xứng quay
không tồn tại, có thể cần phân tích thêm.
G.5 Tiến hành đo
kích thước và hình dạng điểm chùm bằng cách chiếu một tấm liều kế màng mỏng mà không cần
quét chùm và không di chuyển băng chuyền.
CHÚ THÍCH G.1: Phải cẩn thận khi thực
hiện phép đo này, vì nguy cơ cửa
sổ chùm gây tổn thương khi máy quét không hoạt động.
G.6 Cần biết các
thông số dưới đây:
Độ rộng điểm chùm (FWHM):
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
(đo được)
Độ rộng quét = Độ rộng chùm:
Wb
(đo được)
Tần số quét:
fscan
(thông số đã chọn)
Tần số xung:
fpulse
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
Từ fpulse tính được tpulse, khoảng thời
gian giữa các xung.
Từ fscan tính được tscan, thời gian đối
với một chu kỳ quét.
G.6.1 Công thức tính đối với Kiểu
quét A được đưa ra dưới đây. Giả định rằng các yêu cầu dưới đây phải đáp ứng:
(1) Khoảng cách giữa hai
tâm điểm chùm phải không được vượt quá đường kính điểm chùm
(FWHM).
(2) Khoảng cách giữa các tâm điểm cuối của
hai lần quét liên tiếp không được vượt quá đường kính điểm chùm
(FWHM). Có thể tính được tần số xung cực
tiểu fpulse (tính bằng min)
thỏa mãn yêu cầu (1). Từ Hình G.2 có thể đưa ra mối quan hệ sau đây:
được viết lại thành:
và
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
(3) Có thể tính được tốc độ
băng chuyền cực đại (tương ứng với liều cực tiểu) đáp ứng yêu cầu (2):
Hình G.2 - Ví
dụ về chùm dạng quét và chùm dạng xung có thông số cần cho các công thức tính
điểm chùm đã nêu
Phụ
lục H
(Tham
khảo)
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
H.1 Mục đích của
phép đo sự phân bố liều
trong vật liệu chuẩn là để thu được phép đo độ tái lập sự phân phối liều bằng
thiết bị chiếu xạ điện tử. Các phép đo sự phân bố liều trong các vật liệu chuẩn
thường không được sử dụng để xác định các điều kiện chiếu xạ đối với các sản phẩm
thực tế.
H.2 Đối với chiếu xạ
chùm điện tử trong dải năng lượng
của tiêu chuẩn này thì nên
sử dụng vật liệu polyme đồng nhất làm vật
liệu chuẩn, như bọt
polystyren giãn nở hoặc bọt nhựa
polyetylen giãn nó (Ethafoam).
Mật độ riêng của vật liệu chuẩn cần được chọn giống với hầu hết các sản phẩm được
xử lý tại thiết bị
chiếu xạ. Đối với quá trình tiệt trùng vật dụng y tế, cần sử dụng vật liệu chuẩn
có mật độ riêng khoảng 0,1 g.cm-3. Vật liệu chuẩn có thể được
làm từ nhiều lớp, độ dày của các lớp phải được chọn để phù hợp với độ phân giải
đo được yêu cầu.
H.3 Không chiếu xạ
vật liệu chuẩn theo cách tạo ra sự phân bổ liều đồng nhất trong vật liệu
chuẩn vật liệu chuẩn
tốt nhất cần được chiếu xạ sao cho chùm được dừng lại hoàn toàn để có thể đo được
quãng chạy của các điện tử đã được gia tốc và độ rộng của vật liệu chuẩn phải
luôn rộng hơn độ rộng của chùm, khi đo.
H.4 Chỉ nên chiếu
xạ một mặt. Chiếu một mặt được ưu tiên cho việc lập bản đồ liều đánh giá chất
lượng vận hành của vật liệu chuẩn để thu được nhiều thông tin nhất về sự phù hợp và sự ổn định trong
quá trình vận hành thiết bị chiếu xạ. Đối với các thiết bị đa chùm, cần đo sự
phân bố liều cho
từng chùm riêng lẻ.
H.5 Các liều kế
riêng lẻ cần được đặt trong một mảng liều kế để bao phủ toàn bộ mặt cắt ngang của
vật liệu chuẩn. Có thể đặt
nhiều liều kế hơn trong các vùng có
gradient liều cao được dự kiến. Ngoài ra, có thể sử dụng các tấm liều
kế hoặc các dải liều kế. Có
thể thu được sự phân bố liều ở dạng đồ thị đồng liều từ các phép đo các liều kế đã
được chiếu xạ, xem Hình H.1.
H.6 Phép đo liều
bổ sung có thể được thực
hiện tại các cạnh của vật liệu chuẩn (đôi khi được gọi là phép đo “hiệu ứng cạnh”).
Kết quả từ các liều kế này có thể được sử dụng để dự đoán các khu vực
đặc biệt cần thiết cho lập bản đồ liều đánh giá hiệu quả.
Hình H.1 - Ví
dụ về đồ thị độ đồng đều liều
thu được bằng cách chiếu xạ bọt nhựa polystyren giãn nở (có mật độ
riêng khoảng 0,1 g/cm3)
tại máy gia tốc điện tử có năng lượng 10 MeV
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
(Tham
khảo)
Sự gián đoạn quá trình
I.1 Cần đánh giá ảnh
hưởng của sự gián đoạn quá trình chiếu xạ đối với sản phẩm.
I.2 Quá trình chiếu
xạ có thể bị gián đoạn vì một số lý
do, lỗi của máy gia tốc điện tử hoặc trong hệ băng chuyền. Các lỗi trong các hệ
thống phụ trợ (ví dụ: hệ thống làm mát hoặc thông gió) cũng có thể dẫn đến sự
gián đoạn quá trình chiếu xạ.
CHÚ THÍCH I.1: Cần đánh giá
các loại ảnh hưởng khác nhau hoặc các nguyên nhân gây gián đoạn quá trình đến liều
được phân phối để xác
định đúng các hành động về quy trình cần thiết
để xử lý các nguyên nhân gây gián đoạn khác nhau.
Mức độ kiểm soát quá
trình liên quan đến việc dừng quá trình có ảnh hưởng đến các hoạt động gián đoạn quá
trình. Một số thiết kế và kiểm soát hoạt động của thiết bị có thể cần loại bỏ
hoặc xử lý lại tất cả các sản phẩm có khả năng bị ảnh
hưởng trong khi các hệ thống xử
lý khác có thể chứng
minh rằng sự gián đoạn quá trình không ảnh hưởng đến nguyên nhân gây ra sự gián đoạn. Các ảnh hưởng tiềm ẩn có thể xảy ra do sự
gián đoạn quá trình và độ dài thời gian dừng liên quan
đến sự gián đoạn có thể phải được khảo
sát.
I.3 Các biến thiên liều
do sự gián đoạn quá trình có thể được đo bằng cách chiếu xạ một mảng các liều kế
hoặc một dải liều kế
màng mỏng được đặt trên vật liệu chuẩn theo hướng chuyển động của sản phẩm và
làm gián đoạn quá trình chiếu xạ theo cách thủ công bằng cách khởi động lại.
I.3.1 Thử nghiệm sự
gián đoạn quá
trình cần được tiến hành trong các điều kiện có thể dự kiến có ảnh hưởng
cực đại đến liều trong sản phẩm. Điều này có thể bao gồm việc thử nghiệm ở, ví dụ: tốc độ băng
chuyền tối đa, khối lượng đơn vị nạp hàng tối đa hoặc thử nghiệm đối với
sự gián đoạn nhiều lần.
I.3.2 Các liều kế
cần được đặt trên bề mặt vật liệu chuẩn đối diện với chùm ở khoảng cách
tối thiểu từ cửa sổ đến sản phẩm
thường được sử dụng để xử lý, mà ảnh hưởng đến liều được dự kiến là rõ nhất.
I.3.3 Các liều kế
đã chiếu xạ được đo
và liều được dựng thành đồ thị là hàm của độ dài sản phẩm. Việc phân tích các kết
quả đo liều cần liên quan đến việc so sánh dựa vào các giới hạn biến thiên của
quá trình xử lý không bị gián đoạn thông thường. Các kết quả sự đồng đều liều
thu được trong lập bản đồ liều đánh giá chất lượng vận hành có thể hữu ích cho mục
đích đánh giá. Điều A.4.3 của TCVN 12533 (ISO/ASTM 52303) mô tả phương pháp thống
kê có thể được sử dụng
trong việc xác định chênh lệch tối thiểu có thể phát hiện được.
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
Phụ
lục J
(Tham khảo)
Tốc độ xử lý vật liệu
J.1 Phụ lục này
mô tả các phương pháp tính tốc độ.
J.1.1 Tốc độ xử lý
được nêu trong phụ lục này là thích hợp nhất đối với các vật liệu đồng nhất, mặc
dù chúng có thể được sử dụng để đánh giá tốc độ
xử lý đối với các sản phẩm không
đồng nhất, với
điều kiện liều được quy định tại các bề mặt thông thường cho chùm điện
tử tới.
J.2 Tốc độ xử lý
tuyến tính
J.2.1 Tốc độ xử lý
tuyến tính là tốc độ băng chuyền V mà tại đó liều bề mặt quy định D có thể được
phân phối tới sản phẩm.
J.2.2 Tốc độ xử lý
tuyến tính V có thể tính được từ Công thức E.1:
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
J.3 Tốc độ xử lý
bề mặt
J.3.1 Tốc độ xử lý
bề mặt là diện tích bề mặt sản phẩm có thể được chiếu xạ trên một đơn vị thời gian để
phân phối liều quy định.
J.3.2 Tốc độ xử lý
bề mặt có thể được tính bằng cách
nhân tốc độ xử
lý tuyến tính với độ rộng
chùm:
Tốc độ xử lý bề mặt = V x Wb = (K x l)/D (tính bằng (m2.s-1) (J.2)
J.3.3 Tốc độ xử lý
bề mặt còn gọi là diện tích tối đa của sản phẩm có thể được chiếu xạ. Diện tích
thực tế được chiếu xạ tại một liều đã cho trên một đơn vị thời gian sẽ giảm xuống nếu độ rộng
đơn vị nạp hàng nhỏ hơn độ rộng chùm.
CHÚ THÍCH J.1: Sự tích tụ năng lượng điện
tử tại bề mặt chùm đi vào là gần
như như độc lập với năng lượng
điện tử trên 2 MeV. Ví dụ: với
polystyren và các vật liệu
hydrocacbon có thành phần
nguyên tử tương tự khác, giá trị
liều bề mặt là khoảng 0,17 MeV.m2/kg hoặc 1,7 MeV.m2/kg. Do đó, giá
trị bề mặt của K là khoảng 170 kGy.m2/(A.s) hoặc 10 kGy.m2/(mA.min). Giá trị còn lại liều bề mặt sẽ là khoảng 10
kGy đối với cường độ chùm 1 mA và
tốc độ xử lý bề
mặt là 1 m2/min.
Hình J.1. Hình J.2 và Bảng J.1 cho thấy sự tích tự năng lượng tại bề mặt chùm đi vào của
bộ hấp thụ potystyren là hàm của năng lượng điện tử tới.
CHÚ THÍCH 1: Cửa sổ chùm được giả định là titan (mật độ
0,018 g/cm2) độ dày 4 x 10-5 m, sau đó là không khí (mật độ
0,018 g/cm2) độ dày 0,15 m.
Hình J.1 - Sự
tích tụ năng lượng điện tử tại bề mặt chùm đi vào của bộ hấp
thụ polystyren là hàm của năng lượng điện tử tới từ 0,3 MeV đến 12 MeV tương ứng
với dữ liệu tính được theo phương pháp Monte Carlo nêu trong Hình B.3 đến Hình
B.5
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
CHÚ THÍCH 1: Cửa sổ chùm được
giả định là
titan (mật độ 0,018 g/cm2) độ dày 4 x 10-5 m sau đó là không khí (mật độ 0,018 g/cm2)
độ dày 0,15 m.
Hình J.2 - Sự
tích tụ năng lượng điện tử tại
bề mặt chùm đi
vào của bộ hấp thụ polystyren là hàm của năng lượng điện tử tới từ 0,3 MeV đến 2,0
MeV tương ứng với dữ liệu tính được theo phương pháp Monte Carlo nêu trong Hình
B.3 và Hình B.4
Bảng J.1 - Sự tích tụ năng lượng
điện tử tại bề mặt chùm đi vào của bộ hấp thụ polystyren là hàm của năng lượng
điện tử tới từ 0,3 MeV đến
2,0 MeV tương ứng với dữ liệu tính được theo phương pháp Monte Carlo nêu trong
Hình B.3 đến Hình B.5
Năng lượng
chùm MeV
Năng lượng
tích tụ MeV.cm2/g
Năng lượng
chùm MeV
Năng lượng
tích tụ MeV.cm2/g
0,3
4,627
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
1,776
0,4
4,640
4
1,763
0,5
4,144
4,5
1,762
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
3,591
5
1,761
0,7
3,174
6
1,763
0,8
2,852
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
1,767
0,9
2,612
8
1,777
1
2,432
9
1,777
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
2,009
10
1,786
2
1,866
11
1,790
2,5
1,813
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
1,793
3
1,789
CHÚ THÍCH 1: Các mối quan hệ tương đương gần nhất có thể
được dự kiến đối với nước.
J.4 Tốc độ xử lý
khối lượng
J.4.1 Tốc độ xử lý khối
lượng là khối lượng sản phẩm có thể được chiếu xạ trên một
đơn vị thời gian để phân phối liều quy định.
J.4.2 Tốc độ xử lý
khối lượng có thể được tính bằng cách nhân tốc độ xử lý bề mặt với mật độ riêng
ρ (tính bằng kg.m-3) của sản phẩm và độ dày T (tính bằng m) của
sản phẩm đã ước
lượng được từ sự phân bố liều
theo độ sâu đo được (Phụ lục B). Liều là liều trung bình xuyên qua
độ dày của sản phẩm.
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
= T x ρ x (K x l)/D (tính bằng
kg.s-1) (J.3)
J.4.3 Tốc độ xử lý
khối lượng còn gọi là khối lượng tối
đa có thể chiếu xạ ở liều đã cho.
Khối lượng thực
tế được chiếu xạ tại một liều đã cho trên một đơn vị thời gian sẽ giảm nếu độ rộng
sản phẩm nhỏ hơn độ rộng của chùm, hoặc nếu độ dày sản phẩm nhỏ hơn độ xuyên
sâu của chùm điện tử.
J.4.4 Ước lượng lý
thuyết về tốc độ xử lý khối lượng tối đa có thể thu được từ công suất P của máy gia
tốc chùm điện tử chia cho liều D:
Tốc độ xử lý khối lượng (tối đa) = P/D
(tính bằng kg.s-1) (J.4)
Công suất P (tính bằng W) là
tích của cường độ chùm trung bình l (tính bằng A) và gia tốc điện áp trung bình E (tính bằng
V). Đơn vị liều D là Gy = J.kg-1 = W.s.kg-1
J.4.5 Cường độ chùm
được giám sát bằng dụng cụ của thiết bị máy gia tốc điện tử trong thực tế luôn
thấp hơn cường độ chùm thực tế đến sản phẩm. Điều này có thể được biểu thị bằng hiệu quả sử dụng
cường độ fi, thường ở mức từ 60 %
đến 80 %. Công thức J.4 sau đó thay đổi thành:
Tốc độ xử lý khối lượng (tối đa) = (P x fi)/D (tinh bằng
kg.s-1) (J.5)
Phụ
lục K
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
Bảng B trong TCVN 7393-1 (ISO 11137-1)
Bảng K.1 - Hướng
dẫn đánh giá lại chất lượng sau các thay đổi đối với máy chiếu
xạ chùm điện tử
Sự thay đổi nguồn chiếu xạ
Đánh giá chất lượng lắp
đặt
Đánh giá chất
lượng vận hành
Thử nghiệm
lắp đặt và tài liệu về thiết bị
Thử nghiệm
thiết bị
Hiệu chuẩn
thiết bị
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
Liểu lập bản đồ liều
Máy gia tốc cơ học sắp
thẳng hàng
✓
✓
Quét thống nhất theo hướng quét của
chùm và khả
năng xuyên sâu của liều
theo hướng di chuyển của chùm
Hệ thống nam châm định hướng hoặc hội
tụ
✓
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
✓
Quét thống nhất theo hướng quét của
chùm và khả nâng xuyên sâu của liều
theo hướng di chuyển của
chùm
Hệ thống nam châm lái hướng
✓
✓
✓
Quét thống nhất
theo hướng quét của chùm và khả năng xuyên sâu của liều theo hướng
di chuyển của chùm
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
✓
✓
✓
Quét thống nhất theo hướng
di chuyển của sản
phẩm
Hệ thống nam châm quét
✓
✓
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
Quét thống nhất theo hướng quét của
chùm
Hệ thống theo dõi và/hoặc
kiểm soát tốc độ băng tải chạy vòng
✓
✓
✓
Quét thống nhất theo hướng di chuyển
của sản phẩm
Thử nghiệm sự gián đoạn quá trình
Dây curoa của động cơ và bánh răng của hệ băng chuyền
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
✓
Quét thống nhất theo hướng di chuyển
của sản phẩm
Thử nghiệm sự gián đoạn
quá trình
CHÚ THÍCH: Các kết quả lập bản đồ
liều OQ có thể dẫn tới
sự lặp lại của PQ.
Phạm vi đánh giá chất lượng vận hành lặp
lại theo các thay đổi có thể ảnh hưởng đến liều hoặc sự phân bố liều sẽ phụ thuộc vào loại và
mức độ thay đổi trong thiết bị chiếu xạ (xem Bảng K.1). Ví dụ: việc
tăng tối đa kích thước được thiết kế của đơn vị nạp hàng sẽ cần đánh giá lại chất lượng toàn
bộ, trong khi việc thay thế một phần băng chuyền có thể chỉ yêu cầu xác
thực về tính năng làm
việc phù hợp của băng
chuyền bao gồm hướng đã định (đối với việc quét qua) của sản phẩm khi di
chuyển qua chùm.
Thư mục tài liệu
tham khảo
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
[2] Mehta, K., Kovacs, A., and Miller,
A., “Dosimetry for Quality Assurance m Electron Beam Sterilization of Medical
Devices,” Med. Device Technol., 4, 1993, pp. 24-29.
[3] Mehta, K., “Process Qualification
for Electron-Beam Sterilization,”
Medical Device and Diagnostic Industry, June, 1992, pp. 122-134.
[4] Dosimetryfor Food Irradiation,
!AEA, Vienna,
2002, Techn. Reports Series No. 409.
[5Ị Mcl.aughlin, W. L., Boyd, A. W.,
Chadwick, K. H.. McDonald, J. C., and Miller, A., Dosimetry for Radiation
Processing, Taylor and Francis, New York, NY, 1989.
[6] Attix, F., H .. Introduction of
Radiological Physics and Radiation Dosimetry, A Wiley-Science Publication,
John Wiley and Sons, 1986.
[7] Saylor, M. C., “Development in
Radiation Equipment Including the Application of Machine- Generated X-Rays to
Medical Product Sterilization,”
Sterilization
of Medical Products, Vol 5. Polyscience Publications Inc., Morin Heights,
Canada, 1991, pp. 327-344.
[8] McLaughlin, w. L., Jarrett, Sr.,
R. D., and Olejnik, T. A., Chapter 8, “Dosimetry,” Preservation of Food by
Ionizing Radiation, Vol I, CRC Press, Boca Raton, FL, 1983.
[9] Ehlermann, D. A. E., “Dose
Distribution and Methods for its Determination in Bulk Particulate Food
Materials,” Health
Impact, Identification, and Dosimetry of Irradiated Food, Bogl, K. W., Regulla, D. F., and Seuss, M. J., Eds., A World Health
Organization Report, Institut fi.ir Strahlenhygiene des Bundesgesundheitsamtes, M
imchen, Germany, 1988, pp. 415-419.
[10] Lapostolle, Pierre M., and
Septier, Albert L., eds., Linear Accelerators, N01th Holland Publishing
Co. (Amsterdam), 1970.
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
[12] McKeown, J., and Sherman, N. K., “Linac
Based Irradiators,” Radiation Physics and Chemistry, Vol 25, 1985, pp.
103-109.
[13] McKeown, J., Labrie, J.-P., and
Funk, L. W., “An Intense
Radiation Source,” Nuclear Instruments and Methods in Physics Research,
Vol B10/11,1985, pp. 846-850.
[14] Sadat, T., “Progress Report on
Linear Accelerators,” Radiation Physics and Chemistry, Vol 35, 1990, pp.
616-619.
[15] Scharf, Waldemar, Particle
Accelerators and Their Uses, Harwood Academic Publishers, (New York), 1986.
[16] Abramyan, E. A., Industrial
Electron Accelerators and Applications, Hemisphere
Publishing Corporation
(Washington), 1988.
[17] Aus lender, V. L., and
Meshkov, I. N ., “Powerful Single-Cavity RF Accelerators and Their Use in the
Industrial Radiation Chemical Processing Lines,” Radiation Physics and
Chemistry, Vol. 35 (4- 6), 1990, pp. 627-631.
[18] Jongen, Y., Abs, M.,
Genin, F., Nguyen, A., Capdevila, J. M., and Defrise, D., “The Rhodotron, a New
10 MeV, 100 kW, CW Metric Wave Electron Accelerator,” Nuclear Instruments
and Methods in Physics Research, 879,1993, pp. 865-870.
[19] Andreo, P., Ito, R., and Tabata,
T., “Tables of
Charge- and EnergyDeposition Distributions in Elemental Materials Irradiated by
PlaneParallel Electron Beams with Energies Between 0.1 and 100 MeV,” Technical
Report No. 1, ISSN 0917-8015, Research Institute for Advanced Science and
Technology, University of Osaka Prefecture, Japan, 1992.
[20] CCC-467/ITS Code Package,
Integrated TIGER Series of Coupled Electron/Photon Monte Carlo Transport Codes.
These codes are available from the Radiation Safety Information Computational
Center (RSICC), P.O. Box 2008, Oak Ridge, TN 37831-6362 and also from NEA,
France.
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
[22] Cleland, M., Galloway, R., Genin,
F. and Lindholm, M., “The use of dose and charge distributions in electron beam
processing,” Radiation Physics and Chemistry, Vol 63, I 985, 2002,
pp. 729-833.
[23] Tabata, T., Ito, R., Kuriyama,
I., and Moriuchi, Y., “Simple Method of Evaluating Absorbed Dose in Electron
Beam Processing,” Radiation Physics and Chemistry, Vol 33 (5), 1989,
pp.411-416.
[24] Tabata, T., Ito, R., and Tsukui,
S., “Semiempirical Algorithms for Dose Evaluation in Electron Beam Processing,”
Radiation Physics and Chemistry, Vol 35 (4-6), 1990, pp. 821-825.
[25] Vargas-Aburto, C., and Uribe, R.,
“Monte Carlo Simulation of 25 MeV electrons on aluminum and tantalum,” Technical
Report. PEBT-03-01, 2003.
[26] Meissner, J., “Monte Carlo
Simulation for the Measurement of Electron Energy by Dosimetry,” private communication,
I 999.
[27] Morrisseau, D., Ross, A., and
Sadat, T., MeV Industrie, S.A., private communication, 1993.
[28] McKeown, J., AECL Accelerators,
private communication, 1993.
[29] Seltzer, S. M., and Berger, M.
J., “Energy Deposition by Electron, Bremsstrahlung and Co-60 Beams in
Multi-Layer Media,” International
Journal of Applied Radiation and Isotopes, Vol 38,
1987, pp. 349-364.
[30] CCC-33 I/EGS4 Code, Monte Carlo
Simulation of the Coupled Transport of Electrons and Photons. This code is
available from the Radiation Safety Information Computational Center (RSICC),
P.O. Box 2008, Oak Ridge, TN 37831-6362.
...
...
...
Bạn phải
đăng nhập hoặc
đăng ký Thành Viên
TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.
Mọi chi tiết xin liên hệ:
ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66
[32] Rosenstein, M., Eisen, H., and
Silverman, J., “Electron Depth-Dose Distribution Measurements in Finite
Polystyrene Slabs,” Journal of Applied Physics, Vol 43, 1972, pp. 3191-3202.
[33] Mehta, K., et al, “Dose
Distribution in electron-irradiated PMMA: effect of dose and geometry,” Radiation
Physics Chemistry, Vol 55, 1999, pp.
773-779.
[34] Mehta, K., et al, “Behavior of
non-conducting plastics under e-beam irradiation,” Radiation Physics Chemistry, Vol 63, 2002, pp. 745-749.
[35] Miller, A., Private
communication, Risoe National Laboratory, DK-4000 Roskilde, Denmark.
[36] Lisanti, T. F., RDI-IBA Technical
Information Series, TIS 1552, “Calculating Electron Range Values Mathematically,”
RDI IBATechnology Group, 151 Heartland Boulevard, Edgewood, NY 117 I 7, 2003.