Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 10297: 2014 về Phiếu đấu dây CAT5/CAT5E – Yêu cầu kỹ thuật và phương pháp thử

• Số hiệu: TCVN10297:2014
• Loại văn bản: Tiêu chuẩn Việt Nam
• Nơi ban hành: ***
• Người ký: ***
• Ngày ban hành: Năm 2014

ANSI	Viện tiêu chuẩn Quốc gia Hoa Kỳ	America National Standard Institute
IDC	Kết nối trượt cắt cách điện	Insulation Displacement Connection
EIA	Hiệp hội công nghiệp điện tử	Electronic Industries Alliance
ELFEXT	Suy hao xuyên âm đầu xa cân bằng	Equal level Far End Crosstalk
FEXT	Suy hao xuyên âm đầu xa	Far End Crosstalk
IEC	Ủy ban điện - điện tử quốc tế	International Electrotechnical Commission
LCT	Nhiệt độ thấp tới hạn	Low Critical Temperature
NEXT	Suy hao xuyên âm đầu gần	Near End Crosstalk
PSELFEXT	Tổng công suất suy hao xuyên âm đầu xa mức cân bằng	Power Sum Equal level Far End crosstalk
PSNEXT	Tổng công suất suy hao xuyên âm đầu gần	Power Sum Near End Cross Talk
PVC	Hợp chất PVC	Polyvinyl clorua
TIA	Hiệp hội công nghiệp viễn thông	Telecommunications Industries Association
UCT	Nhiệt độ cao tới hạn	Upper Critical Temperature

4. Yêu cầu kỹ thuật

4.1. Yêu cầu chung

4.1.1. Tấm trượt cắt cách điện

4.1.1.1. Vật liệu

Sử dụng hợp kim đồng-thiếc, đồng-kẽm, đồng-berili hoặc đồng phốt pho.

4.1.1.2. Kích thước

Chất lượng của kết nối ID phụ thuộc vào kích thước của tấm ID, đặc biệt là khe nối, đỉnh của tấm và vật liệu sử dụng. Kích thước của khe nối phụ thuộc vào đường kính dây gài.

4.1.1.3. Bề mặt tiếp xúc

Vùng tiếp xúc của các tiếp điểm phải được mạ vàng, bạc, thiếc hoặc thiếc-chì, bạch kim hoặc hợp kim của chúng. Bề mặt phải không bị làm bẩn và không bị ăn mòn.

...

...

...

Các tấm ID được phân loại khác nhau theo đặc tính sử dụng và kích thước dây, bao gồm các loại sau:

- Tấm có thể sử dụng lại, được thiết kế cho trường hợp kết nối nhiều lần và cho một loại đường kính dây.

- Tấm có thể sử dụng lại, được thiết kế cho trường hợp kết nối nhiều lần và cho nhiều loại đường kính dây.

- Tấm không thể sử dụng lại, được thiết kế cho trường hợp kết nối một lần và cho một loại đường kính dây.

- Tấm không thể sử dụng lại, được thiết kế cho trường hợp kết nối một lần và cho nhiều loại đường kính dây.

Các cạnh của các đỉnh tấm ID phải trơn, không sắc để không gây ảnh hưởng đến dây dẫn hay cách điện.

4.1.2. Dây dẫn

Có thể sử dụng dây dẫn lõi đặc hoặc lõi bện.

4.1.2.1. Vật liệu

...

...

...

4.1.2.2. Kích thước

Dây sử dụng có đường kính từ 0,25 mm đến 1,22 mm đối với dây dẫn lõi đặc hoặc có tiết điện tử 0,075 mm^2 đến 1,17 mm^2 đối với dây dẫn lõi bện.

4.1.2.3. Bề mặt

Dây dẫn lõi đặc có thể mạ thiếc, thiếc-chì hoặc bạc. Dây dẫn lõi bện phải gồm các sợi mạ thiếc, thiếc- chì hoặc bạc.

Bề mặt dây phải không bị làm bẩn và không bị ăn mòn.

4.1.2.4. Cách điện dây dẫn

Chiều dày lớp cách điện phù hợp với kích thước của các tấm ID. Vật liệu cách điện có thể làm bằng PVC hoặc các vật liệu phù hợp với việc trượt cắt cách điện IDC.

4.1.3. Kết nối trượt cắt cách điện (IDC)

a) Dây dẫn, tấm ID và dụng cụ kết nối phải tương thích với nhau.

...

...

...

c) Dây dẫn sẽ được đặt vào vị trí quy định trong khe của tấm ID. Khoảng cách giữa tấm và đầu cuối dây phụ thuộc vào dây nối và được quy định chi tiết.

d) Chỉ sử dụng một dây ứng với một khe kết nối.

4.2. Yêu cầu đối với kết nối IDC

4.2.1. Yêu cầu cơ lý

Sau các phép thử cơ lý, điện trở tiếp xúc phải thỏa mãn giá trị quy định trong Điều 4.2.2.1.

4.2.1.1. Thử kéo

IDC phải chịu được lực kéo dây theo chiều ngang như quy định trong Bảng 1.

Bảng 1 - Lực kéo dây tối thiểu theo chiều ngang

Đường kính dây dẫn đặc, mm

...

...

...

Lực kéo tối thiểu

Dây dẫn đặc, N

Dây dẫn bện, N

0,25 ÷ 0,32

0,05 ÷ 0,08

2

1

0,32 ÷ 0,5

0,08 ÷ 0,2

...

...

...

2

0,5 ÷ 0,8

0,2 ÷ 0,5

5

3

0,8 ÷ 1,22

0,5 ÷ 1,17

8

5

...

...

...

Dây phải được uốn theo hai hướng so với phương thẳng đứng với góc 30° tạo thành một chu trình. Thực hiện ít nhất 10 chu trình trừ khi có quy định cụ thể khác.

Sau phép thử, tấm ID phải không bị hư hỏng và dây dẫn không bị đứt

4.2.1.3. Thử rung

Việc kiểm tra được thực hiện bằng cách gắn chặt mẫu cần kiểm tra lên bàn rung.

Các tham số thực hiện thử rung theo quy định ở Bảng 2.

Bảng 2 - Thử rung

Dải tần

10 Hz đến 55 Hz

10 Hz đến 500 Hz

...

...

...

Tần số cắt

---

57 Hz đến 62 Hz

57 Hz đến 62 Hz

Biên độ cắt phía dưới tần số cắt

0,35 mm

0,35 mm

1,5 mm

Sự gia tăng biên độ phía trên tần số cắt

...

...

...

50 m/s^2 (5 g)

200 m/s^2 (20 g)

Hướng

3 trục

3 trục

3 trục

Số chu trình quét theo từng hướng

5

5

...

...

...

4.2.1.4. Số lần đấu nối

Phần này chỉ áp dụng cho ID có thể đấu nối nhiều lần.

Thực hiện gài dây vào tấm ID, sau đó tháo dây ra. Quá trình này tạo thành một lần đấu nối. Thực hiện kiểm tra với số lần đấu tối thiểu là 50 lần.

4.2.2. Yêu cầu điện

4.2.2.1. Điện trở tiếp xúc

Điện trở tiếp xúc phải phù hợp với các giá trị quy định trong Bảng 3.

Bảng 3 - Điện trở tiếp xúc

Tấm ID

Dây dẫn

...

...

...

Chênh lệch điện trở tiếp xúc cực đại sau các phép thử cơ, thử môi trường, mΩ

Mạ

Dây dẫn lõi đặc

Mạ

2

1

Không mạ

5

1

...

...

...

Mạ

2

2

Không mạ

5

5

Không mạ

Dây dẫn lõi đặc

Mạ

...

...

...

1

Không mạ

5

1

Dây dẫn lõi bện

Mạ

5

2

Không mạ

...

...

...

5

4.2.2.2. Điện trở cách điện

Điện trở cách điện phải lớn hơn 500 MΩ và được đo theo IEC 60512-3-1. Điện áp thử 500 V_DC.

4.2.2.3. Thử nhiệt độ và tải

Phép thử thực hiện trong điều kiện:

+ Nhiệt độ hoạt động cực đại: 100 °C.

+ Thời gian thử: 1 000 h.

Phép thử thực hiện theo IEC 60512-5.

4.2.3. Thử môi trường

...

...

...

4.2.3.1. Thay đổi nhiệt độ nhanh

Phép thử thực hiện theo TCVN 7699-2-14 trong các điều kiện sau:

Nhiệt độ thấp: T_A

- 55 °C (LCT)

Nhiệt độ cao: T_B

+ 100 °C (UCT)

Thời gian t₁

30 min

Số lần thực hiện

...

...

...

4.2.3.2. Chu trình môi trường

Phép thử thực hiện theo IEC 60512-11 trong các điều kiện sau:

Nóng khô:

Theo IEC 60512-11-9

Nhiệt độ thử:

+ 100°C (UCT)

Chu trình nóng ẩm

Theo IEC 60512-11-12

+ Nhiệt độ thử

...

...

...

+ Số lần thử

6

+ Hệ số biến đổi

2

Chu trình lạnh

Theo IEC 60512-11-10

+ Nhiệt độ

- 55 °C (LCT)

4.2.3.3. Thử ăn mòn

...

...

...

SO₂

(0,5 ± 0,1) 10^-6 (vol/vol)

H₂S

(0,1 ±0,02) 10^-6 (vol/vol)

Nhiệt độ

(25 ± 2) °C

Độ ẩm tương đối:

(75 ± 3)%

Thời gian thử:

...

...

...

4.3. Yêu cầu truyền dẫn

4.3.1. Suy hao truyền dẫn

Suy hao truyền dẫn phải nhỏ hơn hoặc bằng các yêu cầu quy định trong Bảng 4.

Bảng 4 - Suy hao truyền dẫn

Tần số (MHz)

Cat5 (dB)

Cat5e (dB)

1,0

0,1

...

...

...

4,0

0,1

0,1

8,0

0,1

0,1

10,0

0,1

0,1

...

...

...

0,2

0,2

20,0

0,2

0,2

25,0

0,2

0,2

31,25

...

...

...

0,2

62,5

0,3

0,3

100

0,4

0,4

4.3.2. Suy hao xuyên âm đầu gần

Suy hao xuyên âm đầu gần phải lớn hơn hoặc bằng các yêu cầu quy định trong Bảng 5.

...

...

...

Tần số (MHz)

Cat5 (dB)

Cat5e (dB)

1,0

62

65

4,0

62

65

...

...

...

61,9

64,9

10,0

62

63

16,0

55,9

58,9

20,0

...

...

...

57,0

25,0

52,0

55,0

31,25

50,1

53,1

62,5

44,1

...

...

...

100

40,0

43,0

4.3.3. Suy hao phản xạ

Suy hao phản xạ phải lớn hơn hoặc bằng các yêu cầu quy định trong Bảng 6.

Bảng 6 - Suy hao phản xạ

Tần số (MHz)

Cat5 (dB)

Cat5e (dB)

...

...

...

Không quy định

30,0

4,0

Không quy định

30,0

8,0

Không quy định

30,0

10,0

...

...

...

30,0

16,0

Không quy định

30,0

20,0

Không quy định

30,0

25,0

Không quy định

...

...

...

31,25

Không quy định

30,0

62,5

Không quy định

24,1

100

Không quy đinh

20

...

...

...

5.1. Thử kéo

Mục đích của phép thử nhằm xác định khả năng giữ dây dẫn của kết nối khi được kéo theo phương dọc theo tấm ID.

Mẫu thử gồm một tấm ID đã gài dây.

Tấm ID được giữ chặt, nếu cần thiết tháo ra khỏi phiến.

Sơ đồ thực hiện như Hình 1. Lực kéo có tốc độ từ 25 mm/min đến 50 mm/min.

h

Hình 1 - Phương pháp thử kéo

5.2. Độ uốn cong

Mục đích của phép thử là xác định khả năng chịu lực uốn cong dây của kết nối ID.

...

...

...

Tấm ID được giữ chặt, nếu cần thiết tháo ra khỏi phiến.

Sơ đồ thực hiện như Hình 2.

Hình 2- Phương pháp thử uốn cong dây

Lực F có giá trị bằng 5 % đến 10 % độ cứng của dây dẫn.

Góc uốn cong có thể bằng 30°, 60° hoặc 90°.

Phép thử phải thỏa mãn các yêu cầu của IEC 60512-2-5.

5.3. Thử rung

Sơ đồ thử rung như Hình 3.

...

...

...

Hình 3 - Phương pháp thử rung

5.4. Điện trở tiếp xúc

Sơ đồ đo điện trở tiếp xúc như Hình 4.

Hình 4 - Sơ đồ đo điện trở tiếp xúc

Nguồn dòng sử dụng có giá trị 1 A/mm^2 tiết diện dây dẫn. Thời gian thử đủ ngắn để không làm nóng mẫu thử.

5.5. Suy hao truyền dẫn

Thiết bị cần đo kiểm cần được đấu nối và lắp đặt theo như hướng dẫn của nhà sản xuất. Sơ đồ đấu nối đo kiểm như Hình 5.

...

...

...

Hình 5 - Sơ đồ đấu nối đo kiểm suy hao truyền dẫn

Hình 6 - Sơ đồ đấu nối đo kiểm suy hao xuyên âm đầu gần

5.6. Suy hao xuyên âm đầu gần

Sơ đồ đấu nối đo kiểm như trong Hình 6.

Có hai cấu hình đo suy hao xuyên âm đầu gần:

a) Không có kết cuối đầu cuối (Điểm C trong Hình 6 để hở)

b) Có kết cuối ở đầu gần (Điểm C trong Hình 6 kết cuối tải 50 Ω, đầu xa để hở)

...

...

...

[1] ANSI/TIA/EIA 568B.2-2001 “Commercial Building Telecommunications Cabling Standard, Part 2: Balanced Twisted-Pair Cabling Components".

[2] IEC 60352-3, Solderless connections; Part 3: Solderless accessible insulation displacement connections - General requirements, test methods and practical guidance

MỤC LỤC

Lời nói đầu

1. Phạm vi áp dụng

2. Tài liệu viện dẫn

3. Thuật ngữ, định nghĩa và chữ viết tắt

3.1. Thuật ngữ và định nghĩa

...

...

...

4. Yêu cầu kỹ thuật

4.1. Yêu cầu chung

4.2. Yêu cầu đối với kết nối IDC

4.3. Yêu cầu truyền dẫn

5. Phương pháp đo

5.1. Thử kéo

5.2. Độ uốn cong

5.3. Thử rung

5.4. Điện trở tiếp xúc

...

...

...

5.6. Suy hao xuyên âm đầu gần

Thư mục tài liệu tham khảo