Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 8770:2017 về Thực hành sử dụng hệ đo liều nhiệt lượng để đo chùm tia điện tử

• Số hiệu: TCVN8770:2017
• Loại văn bản: Tiêu chuẩn Việt Nam
• Nơi ban hành: ***
• Người ký: ***
• Ngày ban hành: Năm 2017

Năng lượng điện tử MeV	Dải điện tử Graphit^A tỷ trọng: 1,7 g.cm^-^3		Đĩa đo nhiệt lượng (đường kính 30 mm)
			Độ dày		Khối lượng, g
	g.cm^-^2	cm	g.cm^-2	cm
4	2,32	1,36	0,84	0,49	5,9
5	2,91	1,71	1,05	0,62	7,5
6	3,48	2,05	1,25	0,74	8,9
8	4,59	2,70	1,65	0,97	11,7
10	5,66	3,33	2,04	1,20	14,4
11	6,17	3,63	2,22	1,31	15,7
12	6,68	3,93	2,40	1,41	16,9
^A Đây là khoảng xấp xỉ chậm dần liên tục (CSDA) r0 của các điện tử đối với chùm tia tới rộng trên vật hấp phụ nửa vô hạn, được tính bằng công thức sau: Trong đó: E0 là năng lượng điện tử ban đầu; (S/ρ)tot là công suất dừng khối lượng tổng số ở năng lượng điện tử đã cho [1]. ^B Độ dày quy định bằng 0,36 r0.

6.2  Đĩa đo nhiệt lượng dùng nước điển hình: là một đĩa Petri polystyren đổ đầy nước được hàn kín và đặt trong nhựa xốp cách nhiệt [4]. Bộ cảm ứng nhiệt độ (điện trở nhiệt) đã hiệu chuẩn được đặt bên cạnh đĩa vào nước. Hình dạng và kích thước của đĩa đo nhiệt lượng dùng nước có thể tương tự với hình dạng và kích thước của đĩa đo nhiệt lượng dùng polystyren (xem 6.3).

6.3  Đĩa đo nhiệt lượng dùng polystyren điển hình: là một đĩa polystyren được đặt trong nhựa xốp cách nhiệt. Nhiệt điện trở hoặc cặp nhiệt điện đã hiệu chuẩn được lắp vào trong đĩa. Đường kính đĩa polystyren có thể giống với đường kính đĩa của đĩa đo nhiệt lượng dùng graphit và dùng nước [9]. Xem ví dụ ở Hình 1 về dụng cụ đo nhiệt lượng 10 MeV. Hình 2 là ví dụ về đĩa đo nhiệt lượng dùng polystyren được thiết kế cho máy gia tốc điện tử từ 1,5 MeV đến 4 MeV.

Kích thước tính bằng milimét

Hình 1 - Ví dụ về đĩa đo nhiệt lượng dùng polystyren trong phép đo thường xuyên ở máy gia tốc điện tử công nghiệp 10 MeV

Hình 2 -  Ví dụ về đĩa đo nhiệt lượng dùng polystyren trong máy gia tốc điện tử công nghiệp ở 1,5 MeV đến 4 MeV [13]

6.4  Độ dày của thân đo nhiệt lượng phải nhỏ hơn dải điện tử chiếu xạ, thường không vượt quá 1/3 dải điện tử. Điều này sẽ hạn chế sự thay đổi gradient liều trong thân đo nhiệt lượng.

6.5  Các thành phần bền bức xạ cần được dùng cho các bộ phận của dụng cụ đo nhiệt lượng tiếp xúc với chùm tia điện tử. Điều này cũng được áp dụng để cách nhiệt các dây điện.

...

...

...

6.7  Phép đo: Độ nhạy của các dụng cụ đo nhiệt lượng là sự tăng nhiệt độ của thân đo nhiệt lượng. Sự tăng nhiệt này được ghi lại bằng điện trở nhiệt hoặc cặp nhiệt điện.

6.7.1  Điện trở nhiệt: Dùng máy đo điện trở có độ chính xác cao để đo độ bền của nhiệt điện trở. Dụng cụ đo cần có độ tái lập lớn hơn ±0,1 % và độ chính xác lớn hơn ± 0,2 %. Tốt nhất là cần được trang bị cho các phép đo điện trở kiểu bốn dây, đặc biệt nếu điện trở của điện trở nhiệt nhỏ hơn 10 kΩ. Với kỹ thuật đo bốn dây, tác động của điện trở trong các dây đo và tiếp xúc điện sẽ được giảm tối thiểu.

6.7.2  Có thể sử dụng các thiết bị thích hợp khác để đo điện trở của nhiệt điện trở, ví dụ dùng cầu đo điện trở hoặc máy đọc nhiệt điện trở đã hiệu chuẩn có bán sẵn [5]. Điều quan trọng cho cả hai phép đo điện trở và cầu đo điện trở là để giảm tối thiểu nguồn tán xạ trong nhiệt điện trở, tốt nhất là thấp hơn 0,1 mW.

6.7.3  Cặp nhiệt điện: Có thể sử dụng vôn kế hiện số có độ chính xác cao hoặc máy đọc số có bán sẵn [2] để đo. Độ tái lặp của vôn kế phải lớn hơn 0,1 µV và có độ chính xác phải lớn hơn ± 0,2 %.

6.7.4  Nhà cung cấp: Một số nhà cung cấp hệ đo liều nhiệt lượng được liệt kê trong Phụ lục A2.

7  Quy trình hiệu chuẩn

7.1  Trước khi sử dụng, hệ đo liều nhiệt lượng (bao gồm dụng cụ đo nhiệt lượng và các thiết bị đo) phải được hiệu chuẩn theo các quy trình đã lập thành văn bản của người sử dụng, quy định chi tiết quá trình hiệu chuẩn và các yêu cầu đảm bảo chất lượng. Quy trình hiệu chuẩn này phải được lặp lại định kỳ để đảm bảo rằng độ chính xác của phép đo liều hấp thụ được duy trì trong các giới hạn quy định. Phương pháp hiệu chuẩn được mô tả trong ISO/ASTM 51261.

7.2  Các hệ đo nhiệt lượng dùng graphit, nước hoặc polystyren có thể được hiệu chuẩn bằng cách so sánh với các hệ đo liều truyền chuẩn từ các phòng thử nghiệm hiệu chuẩn đã được công nhận đối với dụng cụ đo nhiệt lượng dùng để chiếu xạ và các liều kế truyền chuẩn liên tiếp (hoặc đồng thời) ở máy gia tốc điện tử. Trường bức xạ trên vùng mặt cắt của thân đo nhiệt lượng sẽ phải đồng nhất trong thời gian yêu cầu để chiếu xạ các dụng cụ đo nhiệt lượng và các liều kế truyền chuẩn. Tất cả các trường bức xạ không đồng nhất cần được tính đến.

7.3  Phải đảm bảo rằng các liều kế truyền chuẩn và các dụng cụ đo nhiệt lượng được chiếu xạ ở liều giống nhau. Đặc biệt, cần có các chất hấp thụ được thiết kế đặc biệt để chiếu xạ các liều kế truyền chuẩn, xem ví dụ ở Hình 3.

...

...

...

CHÚ THÍCH: Các liều kế truyền chuẩn alanine trong cột chất béo hình trụ (đường kính 25 mm, độ dày 6 mm) được đặt trong các mạch ngắt tròn. Liều kế thường xuyên (liều kế màng mỏng) được đặt trong các mạch ngắt hình vuông. Tâm của cả hai liều kế được đặt trong bộ phận hấp thụ ở cùng một độ sâu.

Hình 3 - Chất hấp thụ chiếu xạ trong máy gia tốc điện tử 10 MeV của các liều kế đo thường xuyên và liều kế chuẩn truyền (10). Vật liệu: Polystyren

7.4  Nhiệt dung riêng của polystyren và graphit đều phụ thuộc vào nhiệt độ, trong khi nhiệt dung riêng của nước là một hằng số trong dải nhiệt độ thông thường sử dụng trong phép đo nhiệt lượng chùm tia điện tử. Do đó, đường chuẩn của hệ đo liều nhiệt lượng được đánh giá theo nhiệt độ trung bình của thân đo nhiệt lượng (xem Chú thích 3)

CHÚ THÍCH 3: Các phép đo lặp lại nhiệt dung riêng của các kiểu đĩa graphit khác nhau được tiến hành trên dải từ 0 °C đến 50 °C, cho biết giá trị đối với nhiệt dung riêng của đĩa graphit c_G (J.kg^-1. °C^-1) = 644,2 + 2,86 T, trong đó T là nhiệt độ trung bình (°C) của đĩa graphit. Tuy nhiên giá trị này không được coi là giá trị thông dụng [6].

7.4.1  Đối với hệ đo liều nhiệt lượng dùng graphit, đường chuẩn có thể tính theo Công thức sau:

Liều = (T₂ - T₁ - T_a) x c_G x (S_el/ρ)_w / (S_el/ρ)_G x k

Trong đó:

T₁ là nhiệt độ trước khi chiếu xạ;

...

...

...

T_a là nhiệt độ tăng trong các bộ phận thiết bị chiếu xạ;

c_G là nhiệt dung riêng của đĩa graphit;

(S_el/ρ)_w và (S_el/ρ)_G là công suất dừng khối lượng điện tử của nước và đĩa graphit, tương ứng;

k là hằng số hiệu chuẩn được xác định trong quá trình đánh giá xác nhận hiệu chuẩn.

7.4.2  Đối với hệ đo liều nhiệt lượng dùng polystyren, đường chuẩn có thể tính theo Công thức sau:

Liều = (T₂ - T₁ - T_a) x F(T) x k

Trong đó:

T₁ là nhiệt độ trước khi chiếu xạ;

T₂ là nhiệt độ sau khi chiếu xạ;

...

...

...

F(T) là hàm số tương ứng với nhiệt dung riêng của đĩa polystyren;

k là hằng số hiệu chuẩn được xác định trong quá trình đánh giá xác nhận hiệu chuẩn.

CHÚ THÍCH 4: Hàm số F(T) tính theo công thức F(T) = C1 + C2 x T. Trong đó C1 và C2 là hằng số và T là nhiệt độ trung bình (°C) của thân đo nhiệt lượng. Các giá trị C1 và C2 phụ thuộc vào loại đĩa polystyren được sử dụng làm bộ phận hấp thụ nhiệt lượng.

CHÚ THÍCH 5: T_a có thể được xác định bằng cách chuyển dụng cụ đo nhiệt lượng qua vùng chiếu xạ ngay sau khi chùm tia điện tử được tắt và đo nhiệt độ tăng lên của bộ phận hấp thụ nhiệt lượng.

CHÚ THÍCH 6: Độ nhạy của hệ đo liều nhiệt lượng dùng nước xấp xỉ bằng 3,4 kGy.°C^-1 và đối với hệ đo liều nhiệt lượng dùng polystyren thì độ nhạy xấp xỉ bằng 1,4 kGy.°C^-1. Đối với hệ đo liều nhiệt lượng dùng graphit, độ nhạy xấp xỉ bằng 0,75 kGy.°C^-1.

7.5  Việc hiệu chuẩn tất cả các loại hệ đo liều nhiệt lượng được sử dụng làm liều kế đo thường xuyên, phải được kiểm tra bằng cách so sánh với hệ đo liều chuẩn tham chiếu hoặc hệ đo liều truyền chuẩn ở tần suất do người sử dụng xác định.

7.6  Việc hiệu chuẩn hệ đo liều nhiệt lượng nên được tiến hành bằng cách chiếu xạ trong cơ sở chiếu xạ để giảm thiểu hiệu ứng của các đại lượng ảnh hưởng.

7.7  Các hệ đo liều nhiệt lượng có thể được hiệu chuẩn bằng cách chiếu xạ ở phòng thử nghiệm hiệu chuẩn. Việc hiệu chuẩn thu được bằng cách này phải được đánh giá xác nhận bằng cách chiếu xạ liên tục các dụng cụ đo nhiệt lượng và liều kế truyền chuẩn trong cơ sở chiếu xạ.

7.8  Ví dụ về việc đánh giá xác nhận hiệu chuẩn hệ đo liều nhiệt lượng nêu trong Phụ lục A1.

...

...

...

8  Quy trình đo liều

8.1  Phép đo không liên tục chiếu xạ trên băng chuyền: Đối với các dụng cụ đo nhiệt lượng được tiến hành trên băng chuyền qua chùm điện tử được quét, dụng cụ đo nhiệt lượng thường không được nối với hệ thống đo nhiệt độ trước khi chiếu xạ và được nối lại chỉ để đo sau khi chiếu xạ [7].

8.1.1  Trước khi chiếu xạ, đo nhiệt độ của thân đo nhiệt lượng và kiểm tra nhiệt độ duy trì ổn định cho giai đoạn trước ít nhất 10 min (thường chênh lệch nhỏ hơn 0,1 °C).

8.1.2  Ngắt các dây đo và đặt dụng cụ đo năng lượng trên băng chuyền khi vận chuyển qua vùng chiếu xạ.

8.1.3  Vận chuyển dụng cụ đo nhiệt lượng qua vùng chiếu xạ trên hệ thống băng chuyền.

8.1.4  Ghi lại thời gian chiếu và các thông số chiếu xạ (như năng lượng điện tử, dòng điện tử, độ rộng chùm tia quét và tốc độ băng chuyền).

8.1.5  Sau khi dụng cụ đo nhiệt lượng qua vùng chiếu xạ, nối lại dây để đo nhiệt độ và ghi lại thời gian từ điểm kết thúc chiếu xạ đến khi bắt đầu đo nhiệt độ.

8.1.6  Ghi lại nhiệt độ theo thời gian trong chu kỳ đủ dài để thiết lập các đặc tính phân hủy nhiệt của dụng cụ đo nhiệt lượng. Thông thường cần từ 10 min đến 20 min.

8.1.7  Vẽ đồ thị các giá trị nhiệt độ theo thời gian trước và sau chiếu xạ.

...

...

...

CHÚ THÍCH: ∆T là sự tăng nhiệt độ tính được bằng phép ngoại suy và dùng cho phép tính liều (xem 8.1.9). Không nối các dây điện trong suốt quá trình chiếu xạ.

Hình 4 - Ví dụ về phép đo nhiệt độ của đĩa đo nhiệt lượng dùng graphit trước và sau chiếu xạ [7]

8.1.9  Dựa trên sự chênh lệch nhiệt độ, T₂ - T₁, xác định liều hấp thụ trung bình trong thân đo nhiệt lượng từ đường chuẩn được thiết lập trong Điều 7.

8.1.10  Quy trình ngoại suy từ 8.1.6 đến 8.1.8 có thể không cần đến khi các điều kiện chiếu xạ được tái lặp tốt. Chì cần thực hiện một phép đo nhiệt độ trước chiếu xạ và một phép đo nhiệt độ sau chiếu xạ sau là đủ và ghi lại chênh lệch nhiệt độ ở thời điểm chiếu xạ bằng cách sử dụng hệ số hiệu chuẩn thu được trong suốt quá trình thiết lập các quy trình chiếu xạ [4], [5], [7], [8]. Cần quy định thời điểm đo.

8.1.11  Người sử dụng có thể xây dựng phần mềm để tính liều, khi đo bằng hệ đo liều nhiệt lượng. Các nhà cung cấp thường đưa ra các phần mềm này. Ví dụ: CALDOSE có được từ Phòng thử nghiệm Chuẩn liều cao RisØ (Đan Mạch).

8.2  Phép đo liên tục: Có thể đo nhiệt độ của thân đo nhiệt lượng trong suốt quá trình chiếu xạ vì dụng cụ đo nhiệt lượng được vận chuyển qua vùng chiếu xạ trên băng chuyền có dây đo được kết nối. Tốt nhất là dùng phép đo bốn dây (xem 6.7.1) để giảm độ không đảm bảo đo.

8.3  Chiếu xạ tĩnh: Các dụng cụ đo nhiệt lượng được mô tả trong tiêu chuẩn này cũng có thể được sử dụng trong cấu hình tĩnh thay vì được vận chuyển trên hệ thống băng chuyền qua chùm tia điện tử. Trong quá trình bố trí này chùm tia có thể đồng nhất (xem 8.3.2) trên vùng thân đo nhiệt lượng bằng cách sử dụng các lá phân tán bằng kim loại hoặc trường quét. Kiểm soát giai đoạn chiếu xạ từ khi bật và tắt chùm tia điện tử.

8.3.1  Phép đo nhiệt độ của dụng cụ đo nhiệt lượng trong cấu hình tĩnh có thể được tiến hành liên tục trước, trong và sau chiếu xạ, tốt hơn là chỉ đo trước và sau chiếu xạ như mô tả trong 8.1.

...

...

...

8.3.3  Đo nhiệt độ của thân đo nhiệt lượng theo thời gian để đảm bảo rằng tốc độ trôi ban đầu nhỏ hơn các giới hạn quy định (xem 8.1.1).

8.3.4  Trong khi nhiệt độ của thân đo nhiệt lượng được ghi lại liên tục, bật chùm tia điện tử trong thời gian chiếu xạ quy định. Sau khi ngắt chùm tia, tiếp tục ghi lại nhiệt độ trong một khoảng thời gian đủ để thiết lập các đặc tính phân hủy nhiệt của dụng cụ đo nhiệt lượng cụ thể được sử dụng. Nếu không tiến hành việc ghi dữ liệu liên tiếp, nhưng thay vào đó được ghi lại bằng thiết bị ghi điện tử không liên tục thì cần tính đến việc mất dữ liệu do khoảng thời gian giữa các lần ghi quá dài.

8.3.5  Ngoại suy thời gian theo đường cong nhiệt độ trước và sau chiếu xạ từ điểm giữa của thời gian chiếu xạ theo cùng một cách như trong 8.1.7. Liều hấp thụ trung bình trong thân đo nhiệt lượng được tính như trong 8.1.8 hoặc 8.1.9. Ví dụ về dữ liệu thu được bằng kỹ thuật đo này đưa ra trong Hình 5 [2], [5].

CHÚ THÍCH: Vùng I, II, và III là các vùng trước, trong và sau chiếu xạ tương ứng. Đường cong nhiệt độ ngoại suy theo T₀ và T_c tới điểm giữa của thời điểm chiếu xạ ở T₀' và T_c', tương ứng. ∆T = T_c' - T₀' được dùng để tính liều.

Hình 5 - Ví dụ về phép đo liên tục của đĩa đo nhiệt lượng dùng graphit [5]

9  Hiệu chuẩn các hệ đo liều khác

9.1  Liều hấp thụ đo được bằng hệ đo liều nhiệt lượng là liều trung bình trong thân đo nhiệt lượng.

9.2  Các hệ đo liều nhiệt lượng đã hiệu chuẩn có thể được sử dụng để hiệu chuẩn các hệ đo liều khác tại cùng một cơ sở chiếu xạ. Các liều kế này phải được chiếu xạ sao cho nhận được cùng liều hấp thụ trung bình, khi đặt dụng cụ đo nhiệt lượng ở độ sâu quy định trong bộ hấp thụ tương tự thân đo nhiệt lượng (xem Hình 3). Các liều kế để hiệu chuẩn phải đủ nhỏ để gắn vào bên trong phần dày nhất của bộ phận hấp thụ [1], [5].

...

...

...

9.4  Có thể thiết lập mối quan hệ giữa liều trung bình trong thân đo nhiệt lượng và liều được phân bố đến liều kế được hiệu chuẩn, nếu sự phân bố liều qua thân đo nhiệt lượng và liều kế được hiệu chuẩn là nhỏ. Sự phân bố liều này có thể đo được bằng cách chiếu xạ bộ phận hấp thụ nhiệt lượng giả chứa liều kế màng mỏng đã hiệu chuẩn được đặt ở góc trực tiếp với chùm tia và phân tích màng mỏng bằng cách đo mật độ quét [7], [14]. Nếu liều kế đã hiệu chuẩn không nhỏ so với lượng chất hấp thụ của dụng cụ đo nhiệt lượng thì liều trung bình được phân phối đến liều kế phải tương quan với liều trung bình được phân phối đến chất hấp thụ bằng cách đo sự phân bố liều trong cả liều kế và dụng cụ đo nhiệt lượng.

9.5  Cần phải xác định nhiệt độ trung bình của các liều kế trong suốt quá trình chiếu xạ để hiệu chuẩn [5]. Điều này là cần thiết nếu có hiệu chỉnh nhiệt độ.

10  Lập văn bản tài liệu

10.1  Đối với phép hiệu chuẩn và ứng dụng hệ đo liều nhiệt lượng, lưu hồ sơ hoặc viện dẫn dữ liệu hiệu chuẩn của bộ cảm ứng nhiệt độ và dữ liệu hiệu chuẩn đối với các hệ đo liều nhiệt lượng. Ghi lại tổng liều tích lũy của dụng cụ đo nhiệt lượng. Xem 5.3.

10.2  Lưu hồ sơ hoặc viện dẫn ngày chiếu xạ, dữ liệu nhiệt độ và thời gian chiếu xạ, thiết bị phân tích, liều thể hiện trên dữ liệu đo nhiệt lượng, các đặc tính của chùm tia điện tử và các thông số vận hành của máy gia tốc.

11  Độ không đảm bảo đo

11.1  Tất cả các phép đo liều cần kèm theo phép đánh giá độ không đảm bảo đo. Các quy trình thích hợp được nêu trong ISO/ASTM 51707 [xem thêm TCVN 9595-3:2015 [ISO/IEC Guide 98-3:2008 (GUM:1995)].

11.2  Tất cả các thành phần độ không đảm bảo đo cần bao gồm cả đánh giá, gồm sự tăng từ việc hiệu chuẩn, độ tái lập của liều kế, độ tái lập của thiết bị và hiệu ứng của các đại lượng ảnh hưởng. Các phép phân tích định lượng đầy đủ của các thành phần độ không đảm bảo được xem là bảng thành phần độ không đảm bảo đo và thường được thể hiện ở dạng bảng. Thông thường, bảng thành phần độ không đảm bảo đo sẽ xác định được tất cả các thành phần quan trọng của độ không đảm bảo đo, cùng với các phương pháp đánh giá, phân bố thống kê và kích thước của chúng

11.3  Việc đánh giá độ không đảm bảo đo có thể đạt được bằng phép đo sử dụng hệ đo liều thường xuyên làm dụng cụ đo nhiệt lượng thưởng là 4 % (k = 2) tương ứng xấp xỉ với độ tin cậy 95 % đối với các dữ liệu được phân bố thông thường. Bảng 2 [9] đưa ra các ví dụ về các thành phần của độ không đảm bảo đo đối với hệ thống đo nhiệt lượng cụ thể. Các giá trị trong bảng này không đánh giá được sự đại diện cho hệ thống đo nhiệt lượng khác hoặc các loại khác và chỉ có mục đích minh họa.

...

...

...

CHÚ THÍCH: Ở liều cao hơn 10 kGy, (2) và (3) được giảm đến 0,2 %.

Các nguồn của độ không đảm bảo đo

Loại B

Loại A

1

Phép hiệu chuẩn

3,2

...

...

...

Phép đo nhiệt độ của dụng cụ đo nhiệt lượng (ở 3 kGy)

1,0

3

Phép ngoại suy nhiệt độ của dụng cụ đo nhiệt lượng (ở 3 kGy)

1,0

4

Sự thay đổi độ nhạy nhiệt độ của nhiệt dung riêng của polystyren

...

...

...

0,5

5

Hiệu ứng nhiệt

0,5

Tổng bình phương

1,5

3.2

Tổ hợp

...

...

...

Phụ lục A

(Tham khảo)

A1  Các ví dụ về việc đánh giá xác nhận hiệu chuẩn hệ đo liều nhiệt lượng

A1.1  Quá trình chiếu xạ dụng cụ đo nhiệt lượng và hệ đo liều truyền chuẩn ở máy gia tốc điện tử dùng để đánh giá xác nhận hiệu chuẩn

A1.2  Dụng cụ đo nhiệt lượng: Dụng cụ đo nhiệt lượng 10 MeV của RisØ HDRL (xem Hình 1).

A1.3  Liều kế tham chiếu: Các viên analine trong các cột của RisØ HDRL. Liều kế tham chiếu analine được chiếu xạ trong các phantom chuẩn (xem Hình 3).

A1.4  Cấu hình chiếu xạ: chiếu xạ băng chuyền, trong các khay.

...

...

...

Liều

 = (T₂ - T₁ - T_a) x F(T) x k

 = (T₂ - T₁ - T_a) x (C₁ + C₂ x T) x k

Trong đó:

T_a = 0,05 °C

C₁ = 1,055

C₂ = 0,0108

k = 1,000

...

...

...

Bảng A1.1 - Các kết quả về phép đo liều analine và nhiệt lượng

Thứ tự lần đo nhiệt lượng

Số liều tham chiếu

Liều tham chiếu  (D_ref), kGy

Liều đo nhiệt lượng (D_cal), kGy

Liều đo nhiệt lượng (D_cal)/liều tham chiếu (D_ref)

2571

099-100

32,00

...

...

...

1,006

2572

099-100

32,00

32,05

1,002

2573

099-100

32,00

...

...

...

1,000

2577

097-098

21,58

21,23

0,984

2581

097-098

21,58

...

...

...

0,985

2582

097-098

21,58

21,33

0,989

2583

095-096

10,09

...

...

...

0,997

2584

095-096

10,09

10,19

1,010

2587

095-096

10,09

...

...

...

1,011

A1.7  Các kết quả cho thấy sự phù hợp giữa các liều đo được với các liều kế tham chiếu analine và dụng cụ đo nhiệt lượng có chênh lệch tối đa 1,6 %. Kết quả của việc đánh giá xác nhận hiệu chuẩn được chấp nhận.

A2  Các nhà cung cấp hệ đo liều nhiệt lượng

A2.1  Các nhà cung cấp hệ đo liều nhiệt lượng được liệt kê dưới đây. Các nhà cung cấp này cũng đưa ra công thức tính liều:

A2.1.1  Phòng thử nghiệm chuẩn liều cao RisØ, Trung tâm nghiên cứu hạt nhân, Trường Đại học Công nghệ Đan Mạch, DK 4000 Roskilde, Đan mạch.

A2.1.2  Hiệp hội GEX, 7330 S. Alton Way, Suite 12-I, Centennial CO 80112, Mỹ.

A2.1.3  Có thể tham khảo các nhà cung cấp này, nhưng tiêu chuẩn này không ấn định phải sử dụng các nhà cung cấp nêu trên.

Thư mục tài liệu tham khảo

...

...

...

[2] Burns. D. T., and Morris, W. T., "Recent Developments in Graphite and Water Calorimeters for Electron Beam Dosimetry at NPL,” NRC Workshop on Water Calorimetry, NRC Report 29637, National Research Council, Ottawa, Canada, 1988, p. 25.

[3] Miller. A., "Dosimetry for Electron Beam Applications," RisØ-M-2401, RisØ National Laboratory. DK-4000 Roskilde. Denmark, 1983.

[4] Miller, A., and Kovacs, A. "Calorimetry at Industrial Electron Accelerators," Applications of Accelerators in Research and Indus'try '84, Part II. Proceedings of 8th Conference, Denton, Texas. Nuclear Instruments and Methods. B10/11.1985, p. 994.

[5] Humphreys, J. C., and Mclaughlin, W. L., "Calorimetry of Electron Beams and the Calibration of Dosimeters at High Doses,” in Radiation Processing: State of the Art. Proceeding of 7th International Meeting. Noordwijkerhout. The Netherlands. 1989, Leemhorst J. G. and Miller. A., Eds., Radiation Physics and Chemistry, Vol 35. 1990, p. 744.

[6] Bums, D. T., and Morris. W. T., "A Graphite Calorimeter for Electron Beam Dosimetry." High Dose Dosimetry for Radiation Processing. IAEA, Vienna. 1991, p. 123.

[7] Miller. A., and Kovacs. A., "Calibration and Routine Dosimetry for Industrial Electron Accelerators." Proceedings of 4^th Conference on Applications of Radioisotopes and Radiation Processing in Industry, Leipzig, 1988.

[8] Miller. A., and Kovacs. A., "Application of Calorimeters for Routine and Reference Dosimetry at 4-10 MeV Industrial Electron Accelerators," Radiation Processing: State of the Art, Vol II. Proceeding of 7lh International Meeting, Noordwijkerhout. The Nethelands, 1989. Leemhors, J. G. and Miller, A., Eds., Radiation Physic and Chemistry, Vol 35.1990, p. 774.

[9] Miller. A., "A Polystyrene Calorimeter for Electron Beam Dose Measurements," Proceedings of the 9th International Meeting for Radiation Processing. Istanbul. Turkey. Sept. 12-16. 1994. Radiation Physics and Chemistry. Vol 46, No. 4-6,1995, p. 1243.

[10] Sharpe, P. H. G. and Miller, A., "Guidelines for the Calibration of Dosimeters for Use in Radiation Processing." CIRM-29, National Physical Laboratory. Teddington. UK. 2009.

...

...

...

[12] Domen, S R., "Advances in Calorimetry for Radiation Dosimetry." The Dosimetry of Ionizing Radiation, Vol II (eds. Kase. Bjărngard and Attix, 1987, p. 425.

[13] Miller, A., Kovacs. A., and Kuntz, F, "Development of Polystyrene Calorimeter for Application at Electron Energies Down to 1.5 MeV," Rad Phys Chem., Vol 63, 2002, p. 739.

[14] Miller. A., Kovacs. A., Wieser. A., and Regulla, D. F, "Measurement with Alanine and Film Dosimeters for Industrial 10 MeV Electron Reference Dosimetry." ESR Dosimetry and Applications, Proceedings of 2nd International Symposium. Munich. 1988, Regulla, D. F., Scharmann. A., and McLaughlin. W. L., Eds., Applied Radiation and Isotopes, Vol 40, 1989, p. 967.

[15] "Guide to the Expression of Uncertainty in Measurement," International Organization for Standardization, 1995. ISBN 92-67-1018-9. Availabe from The International Organization for Standardization, I rue de Varembé, Case Postale 56. CH-1211, Geneva 20, Switzerland.