Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 5116:1990 về Thép tấm - Phương pháp kiểm tra tính liên tục bằng siêu âm

• Số hiệu: TCVN5116:1990
• Loại văn bản: Tiêu chuẩn Việt Nam
• Nơi ban hành: Ủy ban Khoa học và Kỹ thuật Nhà nước
• Người ký: ***
• Ngày ban hành: Năm 1990

Dạng xung khuyết tật	Ảnh hưởng lên xung đáy	Đánh giá loại khuyết tật
Xung khuyết tật có biên độ lớn luôn xuất hiện với sự dịch chuyển của đầu dò	Mất xung đáy ở mọi tần số	Khuyết tật là loại xếp lớp có kích thước lớn hơn đầu dò
Xung khuyết tật từ nhỏ đến trung bình luôn xuất hiện với sự dịch chuyển của đầu dò và dịch chuyển một ít trên trục thời gian	Xung đáy giảm dần và biến mất ở mọi tần số	Khuyết tật là các lỗ hổng có bề mặt nằm nghiêng so với mặt kiểm tra
Xung khuyết tật từ trung bình đến lớn không luôn luôn xuất hiện với sự dịch chuyển đầu dò	Xung đáy giảm dần sau lại tăng	Khuyết tật là các xếp lớp nhỏ hơn chiều rộng của chùm âm
Xung khuyết tật từ trung bình đến lớn thay đổi với sự dịch chuyển đầu dò không thay đổi vị trí trên trục thời gian	Biên độ xung đáy thay đổi với sự dịch chuyển của đầu dò	Khuyết tật gồm nhiều xếp lớp nhỏ
Nhiều xung khuyết tật nhỏ có biên độ tăng giảm và kéo dài theo chiều sâu của tấm	Xung đáy giảm theo tần số	Khuyết tật là các vùng tạp chất